JPH08153923A - レ−ザ再生増幅装置 - Google Patents

レ−ザ再生増幅装置

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JPH08153923A
JPH08153923A JP29437294A JP29437294A JPH08153923A JP H08153923 A JPH08153923 A JP H08153923A JP 29437294 A JP29437294 A JP 29437294A JP 29437294 A JP29437294 A JP 29437294A JP H08153923 A JPH08153923 A JP H08153923A
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JP
Japan
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laser light
pulse
amplification
optical resonator
light
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JP29437294A
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English (en)
Inventor
Shinichi Imai
信一 今井
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 この発明はパルスレ−ザ光の再生増幅を自動
制御できるようにしたレ−ザ再生増幅装置を提供するこ
とにある。 【構成】 パルスレ−ザ光を再生増幅するレ−ザ再生増
幅装置において、レ−ザ媒質4aを挟んで対向配置され
た一対の高反射ミラ−2からなる光共振器1と、上記パ
ルスレ−ザ光を発生するパルス光源15と、このパルス
光源で発生したパルスレ−ザ光を上記光共振器内に入射
させるとともにこの光共振器内で再生増幅された上記パ
ルスレ−ザ光を出射させる入出射光学系5、7、17
と、上記光共振器内におけるパルスレ−ザ光の再生増幅
の状態を検出するセンサ8と、このセンサが検出する検
出信号によって上記パルスレ−ザ光の再生増幅の状態を
判別しその判別結果に基づいて上記パルスレ−ザ光の再
生増幅を制御する制御装置11とを具備したことを特徴
とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は超短パルスレ−ザ光を
再生増幅するためのレ−ザ再生増幅装置に関する。
【0002】
【従来の技術】最近、計測分野においては、たとえば生
体反応、化学反応、半導体の荷電粒子の挙動などを測定
することが要求され、その測定をレ−ザ光で行うことが
検討されている。
【0003】上述した現象は、反応時間がns(ナノ秒)
以下の極めて短い時間であるため、その現象を測定する
ためのレ−ザ光は、理論上、その現象の反応時間よりも
1桁から2桁以上短い、時間パルス幅が1ns以下の超短
パルスであることが要求される。
【0004】しかも、各種の現象を精度よく測定するた
めには、パルス幅が上述したごとく非常に短いというこ
とだけでなく、その短パルスレ−ザ光が所定以上の出力
(エネルギ)を有することが要求される。
【0005】そこで、レ−ザ再生増幅装置によってパル
ス光源から出力された超短パルスのパルスレ−ザ光を増
幅するということが行われている。この再生増幅装置
は、光共振器内にレ−ザ媒質が配置されているととも
に、上記パルス光源から出力されたパルスレ−ザ光を上
記光共振器に入出射させるための光学系を有する。
【0006】上記光学系を通過して光共振器内に入射し
たパルスレ−ザ光は上記レ−ザ媒質によって再生増幅さ
れ、所定の値に再生増幅されると、上記光学系から光共
振器の外部に取り出されるようになっている。
【0007】ところで、このようなレ−ザ再生増幅装置
によってパルスレ−ザ光を再生増幅する場合、その再生
増幅が確実に行われているかどうかを確認する必要があ
る。パルスレ−ザ光の再生増幅を確認する従来の方法と
しては、光共振器から取り出されたパルスレ−ザ光をセ
ンサで検出し、その波形をオシロスコ−プに表示し、そ
の画面からパルスレ−ザ光の再生増幅状態が良好である
か否やかを目視によって判断する。そして、その判断結
果に基づいて増幅されたパルスレ−ザ光を光共振器の外
部に取り出したり、増幅状態が正常でない場合には装置
の運転を停止させるなどのことが行われていた。
【0008】図3(a)〜(c)はオシロスコ−プに表
示される代表的なパルスレ−ザ光の波形を示す。同図
(a)は適正な再生増幅が行われた場合にオシロスコ−
プに表示される波形である。この場合の波形は信号0レ
ベルに対して出力が急俊なパルスとなる。
【0009】同図(b)は再生増幅が全く行われずにジ
ャイアントパルス発振に至った場合で、(a)の場合に
比べて波形のパルス幅が広くなっている。(a)のパル
スの時間幅tp1 はシ−ドパルスのパルス幅を反映し、
(b)のパルスの時間幅tp2 は共振器長で決まる共振
器往復時間によって定まる。
【0010】同図(c)は、再生増幅不良の場合の波形
を示し、この場合は再生増幅が不完全なため、波形はほ
ぼ(a)と(b)との波形が合成された形状となる。そ
して、上述したごとく、オシロスコ−プに表示されるこ
れらの波形に基づいてパルスレ−ザ光の再生増幅状態を
目視によって判断していたので、その判断に誤差が生じ
たり、再生増幅されたパルスレ−ザ光を出射させるタイ
ミングが一定せず、安定した出力が得られないなどのこ
とがあった。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来はパ
ルスレ−ザ光の再生増幅状態を目視によって確認してい
たので、その確認に基づく判断に誤差が生じたり、正常
に再生増幅されたパルスレ−ザ光を出射させるタイミン
グが一定しないなどのことがあった。
【0012】この発明は上記事情に基づきなされたもの
で、その目的とするところは、パルスレ−ザ光の再生増
幅状態を自動的に判別することができるようにしたレ−
ザ再生増幅装置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に請求項1に記載された発明は、パルスレ−ザ光を再生
増幅するレ−ザ再生増幅装置において、レ−ザ媒質を挟
んで対向配置された一対の高反射ミラ−からなる光共振
器と、上記パルスレ−ザ光を発生するパルス光源と、こ
のパルス光源で発生したパルスレ−ザ光を上記光共振器
内に入射させるとともにこの光共振器内で再生増幅され
た上記パルスレ−ザ光を出射させる入出射光学系と、上
記光共振器内におけるパルスレ−ザ光の再生増幅の状態
を検出するセンサと、このセンサが検出する検出信号に
よって上記パルスレ−ザ光の再生増幅の状態を判別しそ
の判別結果に基づいて上記パルスレ−ザ光の再生増幅を
制御する制御手段とを具備したことを特徴とする。
【0014】請求項2に記載された発明は、請求項1に
記載された発明において、上記制御手段は、再生増幅に
よるパルスレ−ザ光の成長が止まったことを判別したな
らば、上記入出射光学系を制御してそのパルスレ−ザ光
を上記光共振器から出射させる機能を有することを特徴
とする。
【0015】請求項3に記載された発明は、請求項1に
記載された発明において、上記制御手段は、パルスレ−
ザ光の再生増幅が適正に行われていないことを判別した
ならば、上記レ−ザ媒質によるパルスレ−ザ光の再生増
幅を停止させる機能を有することを特徴とする。
【0016】
【作用】請求項1に記載された発明によれば、センサに
よって光共振器内におけるパルスレ−ザ光の再生増幅の
状態を検出し、その検出信号によってパルスレ−ザ光の
再生増幅状態を自動的に判別するため、一定の基準のも
とに正確な判別が行える。
【0017】請求項2に記載された発明によれば、再生
増幅されたパルスレ−ザ光を一定の状態でタイミングよ
く取り出すことができる。請求項3に記載された発明に
よれば、パルスレ−ザ光の再生増幅が適正に行われてい
ない場合には、直ちにその再生増幅を停止することがで
きる。
【0018】
【実施例】以下、この発明の実施例を図面を参照して説
明する。図1はこの発明のレ−ザ再生増幅装置を示し、
図中1は光共振器である。この光共振器1は一対の高反
射ミラ−2を平行に離間対向させて配置してなる。この
光共振器1内にはレ−ザヘッド3が設けられている。こ
のレ−ザヘッド3は、たとえばレ−ザ媒質としてのアレ
キサンドライト4aと、このアレキサンドライト4aを
光励起する励起ランプ4bとからなる。上記アレキサン
ドライト4aはロッド状をなし、その軸線を上記光共振
器1の光軸に一致させて配置されている。
【0019】一方の高反射ミラ−2と上記アレキサンド
ライト4aの一方の端面との間には、プリズム式の第1
のビ−ムスプリッタ5、1/4波長板6および1/4波
長板6と同じ機能を持つ、たとえばポッケルスセルなど
の電気光学素子7が順次配設されている。
【0020】光共振器1の他方の高反射ミラ−2と上記
アレキサンドライト4aの他方の端面との間の、上記光
共振器1の光軸から外れた部位、つまり光軸近傍にはセ
ンサ8が配設されている。このセンサ8を光共振器1の
光軸近傍に配置することで、光共振器1内の光学部品か
らの微弱な散乱光をモニタすることができ、その散乱光
は後述するようにパルスレ−ザ光Lの再生増幅状態、つ
まり成長の状態を示していることが確認された。
【0021】上記センサ8が検出する検出信号の波形は
デジタルオシロスコ−プ9および制御装置11に入力さ
れる。上記検出信号がデジタルオシロスコ−プ9に入力
されることでその波形が表示され、制御装置11に入力
されることで、その波形に応じた制御が後述するごとく
行われる。
【0022】図2(a)〜(c)に示す上記デジタルオ
シロスコ−プ9に表示されるセンサ8からの検出信号の
波形は、図3(a)〜(c)に示す、再生増幅されて光
共振器1から取り出されたパルスレ−ザ光Lの波形と対
応している。つまり、図2(a)は図3(a)に対応
し、パルスレ−ザ光Lの再生増幅が適正に行われた場合
で、パルストレインPの成長の様子がモニタされる。パ
ルストレンPの発生間隔は同一で、その間隔は光共振器
1を往復するパルスレ−ザ光Lの往復時間を示してい
る。
【0023】図2(b)は図3(b)に対応し、図2
(c)は図3(c)に対応しており、それぞれパルスレ
−ザ光Lが適正に増幅されていないため、パルストレイ
ンPが規則的に成長する様子を認めることができない波
形となっている。
【0024】上記光共振器1内には再生増幅される超短
パルスのパルスレ−ザ光Ls が入射される。このパルス
レ−ザ光Ls をシ−ドパルスLs とする。シ−ドパルス
Lsはパルス光源15から出力される。このパルス光源
15はたとえばモ−ドロックArレ−ザ励起色素レ−ザ
などが用いられており、このパルス光源15から出力さ
れたシ−ドパルスLs は第2のビ−ムスプリッタ16に
入射する。この第2のビ−ムスプリッタ16は上記パル
ス光源15から出力された偏光面が紙面に対して垂直な
シ−ドパルスLs を反射し、その偏光面に対して90度
回転した偏光面の光を透過する構成となっている。紙面
に対して垂直な偏光面をS偏光とし、平行な偏光をP偏
光とする。
【0025】上記第2のビ−ムスプリッタ16で反射し
たシ−ドパルスLs は偏光光学系としてのファラデロ−
テ−タ17に入射する。ファラデロ−テ−タ17に磁界
が印加されていると、シ−ドパルスLs は偏光面がSか
らPに回転させられる。
【0026】ファラデロ−テ−タ17でP偏光に回転さ
せられたシ−ドパルスLs は、上記第1のビ−ムスプリ
ッタ5に入射する。この第1のビ−ムスプリッタ5はP
偏光の光を反射し、S偏光の光を透過する構成となって
いる。したがって、第1のビ−ムスプリッタ5に入射し
たシ−ドパルスLs は光共振器1の光軸方向に反射し、
その反射方向に配置された1/4波長板6、電気光学素
子7を順次通過し、偏光面が45度回転させられて一方
の高反射ミラ−2で反射する。
【0027】一方の高反射ミラ−2で反射したシ−ドパ
ルスLs は上記電気光学素子7、1/4波長板6を再度
通過する。このとき、電気光学素子7には通電されてい
ない。それによって、シ−ドパルスLs の偏光面はさら
に45度回転させられるから、偏光となり、上記第1の
ビ−ムスプリッタ5を透過してアレキサンドライト4に
入射する。このアレキサンドライト4aが励起ランプ4
bによって光励起されていれば、シ−ドパルスLs はア
レキサンドライト4aを通過することで再生増幅される
ことになる。
【0028】上記電気光学素子7は、通電されることで
1/4波長板6と同様、シ−ドパルスLs の偏光面を4
5度回転させる。したがって、シ−ドパルスLs が1/
4波長板6と通電された電気光学素子7とを往復すれ
ば、上記シ−ドパルスLs の偏光面は180度回転させ
られることになる。
【0029】上記レ−ザヘッド3の励起ランプ4bを駆
動するスイッチ回路21、電気光学素子7およびパルス
光源15は、上記制御装置11からの制御信号によって
駆動されるようになっている。この制御装置11からの
制御信号は、上記センサ8から入力される図2(a)〜
(c)に示す検出信号に応じて出力されるようになって
いる。
【0030】つぎに、上記構成のレ−ザ再生増幅装置の
動作について説明する。制御装置11に設けられた図示
しないスタ−トスイッチをオンすると、パルス光源15
が作動してシ−ドパルスLs が出力されるとともに、励
起ランプ4bに通電されてアレキサンドライト4aが光
励起される。パルス光源15から出力された偏光方向が
紙面に垂直なS偏光のシ−ドパルスLs は第2のビ−ム
スプリッタ16で反射してファラデロ−テ−タ17に入
射し、偏光面が90度回転させられてP偏光となり、第
1のビ−ムスプリッタ5に入射する。
【0031】P偏光のシ−ドパルスLs は上記第1のビ
−ムスプリッタ5で反射し、1/4波長板6、電気光学
素子7を経て一方の高反射ミラ−2で反射して上記第1
のビ−ムスプリッタ5へ戻る。このとき、上記電気光学
素子7には通電されていないから、P偏光のシ−ドパル
スLs は1/4波長板6を1往復することで偏光面が9
0度回転させられ、S偏光となる。したがって、S偏光
のシ−ドパルスLs は上記第1のビ−ムスプリッタ5お
よびアレキサンドライト4aを通過して増幅され、つい
で他方の高反射ミラ−2で反射し、上記アレキサンドラ
イト4aを再度通過することで増幅されたのち、第1の
ビ−ムスプリッタ5、電気光学素子7を往復する。
【0032】S偏光のシ−ドパルスLs が1/4波長板
6を往復すると、偏光面がP偏光に回転し、第1のビ−
ムスプリッタ5で反射して光共振器1から出射するか
ら、その前に上記制御装置11からの制御信号によって
上記電気光学素子7に通電る。それによって、電気光学
素子7は1/4波長板6と同じ機能を持つことになるか
ら、偏光面がS偏光のシ−ドパルスLs は、1/4波長
板6と電気光学素子7とを往復することで偏光面が18
0度回転されてS偏光となる。
【0033】したがって、シ−ドパルスLs は第1のビ
−ムスプリッタ5で反射することなく透過し、アレキサ
ンドライト4aを往復して励起される。以後、一対の高
反射ミラ−2間で反射するシ−ドパルスLs は第1のビ
−ムスプリッタ5を透過するときには偏光面がS偏光で
あるから、上記第1のビ−ムスプリッタ5で反射して外
部に出射することなく光共振器1内に閉じ込められ、上
記アレキサンドライト4aでの再生増幅が繰り返される
ことになる。
【0034】上記シ−ドパルスLs の再生増幅の様子
は、光共振器1内の散乱光を検出するセンサ8によって
検出され、その再生増幅の波形がデジタルオシロスコ−
プ9に表示されるとともに、検出信号が制御装置11に
入力される。
【0035】この制御装置11は、センサ8からの検出
信号の出力値が図2(a)に示すように1パルスごとに
単調増加する場合には制御装置11から励起ランプ4b
および電気光学素子7にシ−ドパルスLs を再生増幅す
る制御信号が出力されるが、パルスの出力値がその前の
パルスの出力値よりも下がった場合には再生増幅が飽和
状態となったと判断される。
【0036】その結果、制御装置11は電気光学素子7
への制御信号をオフとし、その偏光素子としての機能を
喪失させる。それによって、光共振器1内をS偏光で往
復しているシ−ドパルスLs は偏光面がP偏光に回転さ
せられるから、第1のビ−ムスプリッタ5で反射して光
共振器1外に出射する。
【0037】光共振器1から出射したP偏光のシ−ドパ
ルスLs はファラデロ−テ−タ17に入射する。ここ
で、ファラデロ−テ−タ17に印加されている磁界を解
除すれば、シ−ドパルスLs は偏光面がP偏光のままで
第2のビ−ムスプリッタ16に入射するから、このビ−
ムスプリッタ16を透過して取り出されることになる。
【0038】一方、上記センサ8からの検出信号が図2
(b)、(c)に示す波形の場合、光共振器1内におけ
るシ−ドパルスLs の再生増幅が異常であるので、その
ような検出信号が制御装置11に入力されると、この制
御装置11から励起ランプ4bへ出力される制御信号が
停止され、たとえばブザ−などの警報が出力される。そ
れによって、シ−ドパルスLs の異常な再生増幅状態が
早期に停止されるから、装置の点検を行うことができ
る。
【0039】
【発明の効果】以上述べたように請求項1の発明によれ
ば、パルスレ−ザ光の再生増幅の状態をセンサで検出
し、その検出信号に基づいてパルスレ−ザ光の再生増幅
状態を判別し、その判別結果に応じて上記パルスレ−ザ
光の再生増幅を制御するようにした。
【0040】したがって、パルスレ−ザ光の再生増幅を
自動で制御できるから、上記パルスレ−ザ光の出力の安
定化を計ることができる。請求項2の発明によれば、パ
ルスレ−ザ光が所定の強度に再生増幅されたならば、そ
のパルスレ−ザ光を光共振器内からタイミングよく取り
出すことが可能となる。請求項3の発明によれば、光共
振器内での再生増幅が適正な状態で行われていない場合
には、その再生増幅を直に停止させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例を示す全体構成図。
【図2】(a)〜(c)は同じく光共振器内に設けられ
たセンサが検出する散乱光の波形の説明図。
【図3】(a)〜(c)は光共振器の外部に設けられた
センサが検出するパルスレ−ザ光の波形の説明図。
【符号の説明】
1…光共振器、 2…高反射ミラ−、 4a…アレキサンドライト(レ−ザ媒質)、 4b…励起ランプ、 6…1/4波長板(入出射光学系)、 7…電気光学素子(入出射光学系)、 8…センサ、 9…デジタルオシロスコ−プ、 11…制御装置、 15…パルス光源、 17…ファラデロ−テ−タ(入出射光学系)。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パルスレ−ザ光を再生増幅するレ−ザ再
    生増幅装置において、 レ−ザ媒質を挟んで対向配置された一対の高反射ミラ−
    からなる光共振器と、 上記パルスレ−ザ光を発生するパルス光源と、 このパルス光源で発生したパルスレ−ザ光を上記光共振
    器内に入射させるとともにこの光共振器内で再生増幅さ
    れた上記パルスレ−ザ光を出射させる入出射光学系と、 上記光共振器内におけるパルスレ−ザ光の再生増幅の状
    態を検出するセンサと、 このセンサが検出する検出信号によって上記パルスレ−
    ザ光の再生増幅の状態を判別しその判別結果に基づいて
    上記パルスレ−ザ光の再生増幅を制御する制御手段とを
    具備したことを特徴とするレ−ザ再生増幅装置。
  2. 【請求項2】 上記制御手段は、再生増幅によるパルス
    レ−ザ光の成長が止まったことを判別したならば、上記
    入出射光学系を制御してそのパルスレ−ザ光を上記光共
    振器から出射させる機能を有することを特徴とする請求
    項1記載のレ−ザ再生増幅装置。
  3. 【請求項3】 上記制御手段は、パルスレ−ザ光の再生
    増幅が適正に行われていないことを判別したならば、上
    記レ−ザ媒質によるパルスレ−ザ光の再生増幅を停止さ
    せる機能を有することを特徴とする請求項1記載のレ−
    ザ増幅装置。
JP29437294A 1994-11-29 1994-11-29 レ−ザ再生増幅装置 Pending JPH08153923A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1447891A1 (en) * 2003-02-14 2004-08-18 Universität Heidelberg Laser system, controller and a method of generation of at least one pulse and/or a pulse sequence with controllable parameters
CN112313487A (zh) * 2018-07-30 2021-02-02 株式会社V技术 激光能量测定装置及激光能量测定方法
CN113783094A (zh) * 2021-08-23 2021-12-10 安徽光智科技有限公司 一种端面泵浦激光多级再生放大系统

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