JPH08148529A - Icチップ実装装置及び実装方法 - Google Patents

Icチップ実装装置及び実装方法

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JPH08148529A
JPH08148529A JP29118094A JP29118094A JPH08148529A JP H08148529 A JPH08148529 A JP H08148529A JP 29118094 A JP29118094 A JP 29118094A JP 29118094 A JP29118094 A JP 29118094A JP H08148529 A JPH08148529 A JP H08148529A
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JP
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wafer
chip
mounting
stage
take
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Application number
JP29118094A
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English (en)
Inventor
Takahiko Murata
崇彦 村田
Wataru Hirai
弥 平井
Takeo Ando
健男 安藤
Kunio Sakurai
邦男 櫻井
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ウェハの交換時にその交換・エキスパンドの
ための待機時間を無くして実装動作を継続し、生産効率
を向上する。 【構成】 エキスパンド機構15を内蔵した一対のウェ
ハ支持部4を有するとともに何れか一方のウェハ支持部
4を所定のチップ取出位置に位置決めするように2位置
間を移動可能なウェハテーブル2と、チップ取出位置に
位置決めされたウェハ5の任意のICチップ1を取り出
して所定位置のステージ24上に移載する移載アーム2
3と、ステージ24上のICチップ1をテープキャリア
28に実装する実装ツール31と、待機位置にあるウェ
ハ支持部4とそれに隣接して配設されたウェハ収納マガ
ジン3との間でウェハを受け渡すウェハ移載手段6とを
備えている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ウェハからICチップ
を取り出してキャリアフィルムや基板等に実装するIC
チップ実装装置及び実装方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のICチップ実装装置においては、
図10に示すように、ロボット41にてX方向とY方向
の2方向に位置決め可能なウェハテーブル42にエキス
パンド機構を内蔵した単一のウェハ支持部43が配設さ
れ、所定のICチップ取出位置44の直上に認識カメラ
45が配設されるとともに直下にICチップ46の突上
手段47が配設され、ICチップ取出位置44で突き上
げられたICチップ46を吸着して所定位置のステージ
(図示せず)に移載する移載手段48が設けられてい
る。ステージ上に載置されたICチップ46は高温の実
装ツール(図示せず)にてテープキャリアや基板に熱圧
着して実装される。また、ウェハテーブル42の一側に
ウェハ収納マガジン49が配設され、ウェハ移載手段
(図示せず)にてウェハ支持部43との間でウェハ50
を受け渡すように構成されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ようなICチップ実装装置では、ウェハ支持部43上の
ウェハ50のICチップ46が無くなると、ウェハ移載
手段にてウェハ収納マガジン49との間でウェハ50を
交換し、エキスパンド機構を作動させてエキスパンドす
るまで、ICチップ46の実装動作を中断して待機しな
ければならず、生産効率が悪いという問題があった。
【0004】また、実装ツールは実装位置における基準
面に対して高い平行度を有していないと適正に実装でき
ないが、その実装ツールの平行度は作業者がダイヤルゲ
ージ等を用いて測定しているため、温度の影響を受けて
適正な測定ができなかったり、測定作業に手間取るとい
う問題があった。
【0005】また、一つのICチップ実装装置では一種
類のICチップしか実装できず、複数種のICチップを
備えたテープキャリアパッケージを製造したり、複数種
のICチップを単一の基板に実装する場合などには、複
数回の実装工程を経る必要があり、生産性が低いという
問題があった。
【0006】本発明は、上記従来の問題点に鑑み、ウェ
ハの交換・エキスパンドの間も待機することなく、実装
動作を継続できて生産効率を向上でき、また実装ツール
の平行度も自動的に高精度に測定でき、また複数種のI
Cチップを一度に実装できるICチップ実装装置及び実
装方法を提供することを目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明のICチップ実装
装置は、エキスパンド機構を内蔵した一対のウェハ支持
部を有するとともに何れか一方のウェハ支持部を所定の
チップ取出位置に位置決めするように2位置間を移動可
能なウェハテーブルと、チップ取出位置に位置決めされ
たウェハの任意のICチップを取り出して所定位置のス
テージ上に移載する移載手段と、ステージ上のICチッ
プを実装する実装ツールと、待機位置にあるウェハ支持
部とそれに隣接して配設されたウェハ収納マガジンとの
間でウェハを受け渡すウェハ移載手段とを備えたことを
特徴とする。
【0008】好適には、ウェハ支持部が回転機構を有
し、また実装ツールの平行度を測定するため、断熱材か
ら成る検出端を有するリニアスケールを配設した平行度
測定ステーションが設けられる。
【0009】また、本発明のICチップ実装方法は、複
数のウェハ支持部を有するウェハテーブルの各ウェハ支
持部に種類の異なるウェハを支持させる工程と、ウェハ
テーブルを移動させて複数種のウェハを交互又は所定の
順序で所定のチップ取出位置に位置決めする工程と、チ
ップ取出位置に位置決めされたウェハの任意のICチッ
プを取り出して所定位置のステージ上に移載する工程
と、ステージ上のICチップを実装する工程とを有する
ことを特徴とする。
【0010】
【作用】本発明によれば、いずれか一方のウェハ支持部
がチップ取出位置に位置し、このウェハ支持部上のウェ
ハからICチップを取り出して実装している間に、他方
のウェハ支持部とそれに隣接して配設されているウェハ
収納マガジンとの間でウェハ移載手段にてウェハの受け
渡しを行い、ウェハのエキスパンドを行っておくことに
より、上記一方のウェハ支持部上のウェハのICチップ
が無くなったときに、ウェハテーブルを移動させて他方
のウェハ支持部をチップ取出位置に位置決めするだけで
ウェハを交換でき、ウェハの交換とエキスパンドの間の
待機時間なしにICチップの実装を継続することがで
き、生産効率を向上できる。
【0011】また、ウェハ支持部にエキスパンド機構と
共に回転機構を設けておくと、ICチップの実装姿勢に
応じてウェハの全体を回転させておくことができ、IC
チップ移載時の姿勢変更動作が不要であり、移載手段の
構成・動作を簡単にすることができる。
【0012】また、実装ツールの平行度測定ステーショ
ンを設けておくと、自動的に平行度の測定を行うことが
できるとともに、断熱材から成る検出端を備えたリニア
スケールを用いて測定するので実装ツールが高温でも熱
による測定精度の低下を来さず、高精度の測定ができる
ため信頼性の高い実装を実現できる。
【0013】また、ウェハテーブルの複数のウェハ支持
部に種類の異なるウェハを支持させ、複数種のウェハを
交互又は所定の順序でチップ取出位置に位置決めし、チ
ップ取出位置に位置決めされたウェハのICチップを取
り出し、ステージ上に移載して実装することにより、複
数種のICチップを一度に実装でき、複数種のICチッ
プを備えたテープキャリアパッケージを製造したり、複
数種のICチップを単一の基板に実装する場合などに大
幅に生産性を向上できる。
【0014】
【実施例】以下、本発明のICチップ実装装置の一実施
例について、図1〜図7を参照して説明する。
【0015】図1において、本体の前部にウェハテーブ
ル2が左右に移動駆動可能に配設され、このウェハテー
ブル2の移動範囲の左右両側にそれぞれウェハテーブル
2側に向けて開口するとともに複数のウェハ5を上下に
複数段収納しているウェハ収納マガジン3が上下位置調
整可能に配設されている。ウェハテーブル2にはその左
右両側部にそれぞれウェハ支持部4が配設され、ウェハ
テーブル2はいずれか一方のウェハ支持部4が所定のチ
ップ取出位置に位置するように2位置間で移動される。
ウェハテーブル2の前部には、ウェハ収納マガジン3と
ウェハ支持部4との間でウェハ5を受け渡すウェハ移載
手段6の駆動部6aが配設されている。
【0016】ウェハ移載手段6は、その駆動部6aから
ウェハ支持部4の中心位置まで移載腕6bが延出され、
その先端部にウェハ5を把持するチャック6cが設けら
れている。
【0017】ウェハ支持部4は、図2〜図4に示すよう
に、回転筒体7の外周に上下動可能に保持リング8が配
設され、この保持リング8の厚さ方向の中間部にウェハ
保持溝9が左右方向に貫通して形成されている。ウェハ
5は、フレームリング5a上に張られた「エレクトロン
シート」と呼ばれる伸縮シート5b上に貼り付けられた
状態で各ICチップ1に分割されており、そのフレーム
リング5aがウェハ保持溝9内に挿入されて支持されて
いる。保持リング8は、図4に示すように、ガイドピン
10にて上下移動自在に案内されるとともにばね11に
て図3に仮想線で示す上昇位置に向けて付勢されてい
る。この保持リング8の上面に上下揺動可能な押下げア
ーム12の先端に設けられたローラ13が係合され、シ
リンダ装置14にて押下げアーム12を揺動駆動してロ
ーラ13を下降させることによって図3、図4に実線で
示すように保持リング8を押し下げるように構成されて
いる。こうして保持リング8を下降させると、伸縮シー
ト5bが回転筒体7の上端に当接しているので伸縮シー
ト5bがエキスパンドされ、ウェハ5の各ICチップ
1、1間に隙間が形成され、ICチップ1を1つづ取り
出し可能となる。これら回転筒体7と保持リング8と押
下げアーム12とローラ13とシリンダ装置14にてエ
キスパンド機構15が構成されている。なお、保持リン
グ8には、ウェハ5の移載時にウェハ移載手段6のチャ
ック6cが通過する切欠8aが形成されている。
【0018】回転筒体7の下端部にはプーリ部16が形
成され、このプーリ部16と駆動モータ19にて駆動さ
れる駆動プーリ18間にベルト17が巻回され、回転筒
体7を介してウェハ5を任意の回転位置に位置決めでき
るように構成されている。これら回転筒体7とプーリ部
16とベルト17と駆動プーリ18と駆動モータ19に
て回転機構20が構成されている。
【0019】ウェハテーブル2の後部には、図1及び図
5に示すように、X−Yテーブル21が配設されるとと
もに、その上にウェハ5を認識する認識カメラ22と先
端に吸着ヘッドを有する揺動駆動可能な移載アーム23
が配設され、ウェハ5の任意の位置のICチップ1を吸
着して取り出せるように構成されている。また、移載ア
ーム23によるICチップ1の取り出し位置の直下に
は、ICチップ1を伸縮シート5bから突き上げるため
の突き上げユニット(図示せず)が配設されている。こ
の突き上げユニットもX−Yテーブル21に装着されて
おり、移載アーム23や認識カメラ22と連動して移動
するように構成されている。
【0020】X−Yテーブル21の一側には、移載アー
ム23で取り出されたICチップ1を載置するステージ
24が配設されている。ステージ24は前後左右と上下
及び回転位置を調整可能に構成されている。また、ステ
ージ24の側部には、図5に示すように、平行度測定ス
テーション25が配設されている。この平行度測定ステ
ーション25には、図6に示すように、断熱材27から
成る検出端を有するリニアスケール26が配設されてい
る。
【0021】X−Yテーブル21の後部にはテープキャ
リア28の移送手段29と、ステージ24上のICチッ
プ1をテープキャリア28に実装する実装手段30が配
設され、ステージ24は移載アーム23からICチップ
1を受け取る位置とテープキャリア28直下の実装位置
との間で移動可能に構成されている。実装手段30は、
ICチップ1をテープキャリア28のインナーリードに
熱圧着する実装ツール31と認識用カメラ32を備えた
実装ヘッド33と、実装ヘッド33を移動させるロボッ
ト34にて構成されている。
【0022】次に、テープキャリア28にICチップ1
を実装する動作について、図7のフロー図を参照して説
明する。
【0023】ウェハテーブル2が、例えば図1に示すよ
うに左側位置に移動した状態では、右側のウェハ支持部
4がチップ取出位置に位置しており、この状態で右側の
ウェハ支持部4上のウェハ5において、次に取り出すべ
きICチップ1を認識カメラ22で認識し、それに基づ
いてX−Yテーブル21を調整移動させて突き上げユニ
ットを移動補正し(ステップ#2)、突き上げユニット
にてICチップ1を突き上げて移載アーム23にて吸着
し、ICチップ1をステージ24上に移載する(ステッ
プ#3)。それと並行して移送手段29にてテープキャ
リア28をピッチ送りして位置決めする(ステップ#
4)。次に、ステージ24を実装位置に移動させ(ステ
ップ#5)、実装ヘッド33の認識用カメラ32にてテ
ープキャリア28のインナーリードとICチップ1のバ
ンプを認識し(ステップ#6)、両者が合致するように
ステージ24を移動させるとともにその直上に実装ツー
ル31が位置するようにステージ24と実装ヘッド33
の補正移動を行い(ステップ#7)、次に実装ツール3
1を下降させてICチップ1とインナーリードを加圧接
合して実装する(ステップ#8)。次に、その実装動作
がX回目であるか否かを判定し(ステップ#9)、そう
でない場合は実装回数に1を加えた後(ステップ#1
0)実装動作を繰り返し、X回目になると実装ツール3
1のクリーニングを適宜行った後(ステップ#11)実
装動作を繰り返す。
【0024】一方、ステップ#3で移載アーム23にて
ICチップ1をステージ24上に移載した後、ウェハテ
ーブル2側ではチップ取出位置のウェハ支持部4上のウ
ェハ5にICチップ1が有るか否かを判定し(ステップ
#12)、ICチップ1が有る場合はそのままステップ
#1に戻り、ICチップ1が無くなった場合にはウェハ
5の交換を行った後(ステップ#13)、ステップ#1
に戻る。以上の動作を繰り返すことによりテープキャリ
ア28にICチップ1が順次実装される。
【0025】そして、上記ステップ#13におけるウェ
ハ5の交換は、ウェハテーブル2を右側に移動させて左
側のウェハ支持部4をチップ取出位置に位置させるだけ
で行われ、ICチップ1の実装を殆ど中断することなく
継続して行うことができ、したがってICチップ1の実
装を生産性良く行うことができる。
【0026】そのために、チップ取出位置にある右側の
ウェハ支持部4からICチップ1を取り出して実装して
いる間に、左側のウェハ支持部4とそれに隣接して配設
されているウェハ収納マガジン3との間でウェハ移載手
段6にてウェハ5の受け渡しを行い、次いでシリンダ装
置14にて保持リング8を押し下げてウェハ5のエキス
パンドを行うとともに必要に応じて駆動モータ19にて
回転筒体7を原点位置からICチップ1が所望の回転姿
勢になるように回転させている。このように、ICチッ
プ1の実装姿勢に応じてウェハ5の全体を回転させてお
くことにより、ICチップ1移載時の姿勢変更動作が不
要であり、移載アーム23手段の構成・動作ガ簡単で済
む。
【0027】また、実装ツール31の平行度測定ステー
ション25がステージ24に隣接して設けられているの
で、実装ヘッド33にて実装ツール31をこの平行度測
定ステーション25上に位置させて測定移動させること
によって実装ツール31の平行度を自動的に測定するこ
とができ、かつ断熱材27から成る検出端を備えたリニ
アスケール26を用いているので実装ツール31が高温
でも熱による測定精度の低下を来さず、高精度の測定が
できて信頼性の高い実装を実現できる。
【0028】次に、本発明の他の実施例について、図
8、図9を参照して説明する。
【0029】本実施例では、図8に示すように、複数の
ウェハ支持部4を有するウェハテーブル2の各ウェハ支
持部4、4に種類の異なるウェハ35a、35bを支持
させている。そして、これら種類の異なるウェハ35
a、35bが交互にチップ取出位置に位置にするように
ウェハテーブル2を移動させ、チップ取出位置に位置決
めされたウェハ35a又は35bの任意のICチップ1
a又は1bを取り出してステージ24上に移載し、この
ICチップ1a又は1bをステージ24と実装ツール3
1にてテープキャリア28に実装することにより、例え
ば図9に示すように、2種類のICチップ1aと1bが
実装されているテープキャリアパッケージを効率的に製
造することができる。
【0030】なお、この実施例ではウェハテーブル2に
一対のウェハ支持部4を設けた例を示したが、3つ以上
のウェハ支持部4を設けてそれぞれに種類の異なるウェ
ハ5を支持させ、所定の順序でチップ取出位置に位置決
めして実装するようにしてもよい。
【0031】
【発明の効果】本発明のICチップ実装装置によれば、
以上の説明から明らかなように、エキスパンド機構を内
蔵した一対のウェハ支持部を有するとともに何れか一方
のウェハ支持部を所定のチップ取出位置に位置決めする
ように2位置間を移動可能なウェハテーブルを備えてい
るので、いずれか一方のウェハ支持部がチップ取出位置
に位置し、このウェハ支持部上のウェハからICチップ
を取り出して実装している間に、他方のウェハ支持部と
ウェハ収納マガジンとの間でウェハ移載手段にてウェハ
の受け渡し及びウェハのエキスパンドを行っておくこと
ができ、ウェハテーブルを移動させて他方のウェハ支持
部をチップ取出位置に位置決めするだけでICチップの
実装を継続することができ、生産効率を向上できる。
【0032】また、ウェハ支持部にエキスパンド機構と
共に回転機構を設けておくと、ICチップの実装姿勢に
応じてウェハの全体を回転させておくことができ、IC
チップ移載時の姿勢変更動作が不要であり、移載手段の
構成・動作を簡単にすることができる。
【0033】また、実装ツールの平行度測定ステーショ
ンを設けておくと、自動的に平行度の測定を行うことが
できるとともに、断熱材から成る検出端を備えたリニア
スケールを用いて測定するので実装ツールが高温でも熱
による測定精度の低下を来さず、高精度の測定ができる
ため信頼性の高い実装を実現できる。
【0034】また、本発明のICチップ実装方法によれ
ば、ウェハテーブルの複数のウェハ支持部に種類の異な
るウェハを支持させ、複数種のウェハを交互又は所定の
順序でチップ取出位置に位置決めし、チップ取出位置に
位置決めされたウェハのICチップを取り出し、ステー
ジ上に移載して実装することにより、複数種のICチッ
プを一度に実装でき、複数種のICチップを備えたテー
プキャリアパッケージを製造したり、複数種のICチッ
プを単一の基板に実装する場合などに大幅に生産性を向
上できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のICチップ実装装置の全体
斜視図である。
【図2】同実施例のウェハ支持部の概略構成を示す平面
図である。
【図3】図2のA−A矢視断面図である。
【図4】図2のB−B矢視断面図である。
【図5】同実施例における要部の動作説明図である。
【図6】同実施例における実装ツールの平行度測定ステ
ーションの斜視図である。
【図7】同実施例におけるIC部品実装動作フロー図で
ある。
【図8】本発明の他の実施例におけるウェハテーブルの
平面図である。
【図9】同実施例により実装されるテープキャリアパッ
ケージの平面図である。
【図10】従来例のICチップ実装装置の要部の概略構
成を示す斜視図である。
【符号の説明】
1 ICチップ 1a ICチップ 1b ICチップ 2 ウェハテーブル 3 ウェハ収納マガジン 4 ウェハ支持部 5 ウェハ 6 ウェハ移載手段 15 エキスパンド機構 20 回転機構 23 移載アーム(移載手段) 24 ステージ 25 平行度測定ステーション 26 リニアスケール 27 断熱材 31 実装ツール 35a ウェハ 35b ウェハ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 櫻井 邦男 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 エキスパンド機構を内蔵した一対のウェ
    ハ支持部を有するとともに何れか一方のウェハ支持部を
    所定のチップ取出位置に位置決めするように2位置間を
    移動可能なウェハテーブルと、チップ取出位置に位置決
    めされたウェハの任意のICチップを取り出して所定位
    置のステージ上に移載する移載手段と、ステージ上のI
    Cチップを実装する実装ツールと、待機位置にあるウェ
    ハ支持部とそれに隣接して配設されたウェハ収納マガジ
    ンとの間でウェハを受け渡すウェハ移載手段とを備えた
    ことを特徴とするICチップ実装装置。
  2. 【請求項2】 ウェハ支持部が回転機構を有しているこ
    とを特徴とする請求項1に記載のICチップ実装装置。
  3. 【請求項3】 実装ツールの平行度を測定する平行度測
    定ステーションを設け、この測定ステーションには断熱
    材から成る検出端を有するリニアスケールを配設したこ
    とを特徴とする請求項1に記載のICチップ実装装置。
  4. 【請求項4】 複数のウェハ支持部を有するウェハテー
    ブルの各ウェハ支持部に種類の異なるウェハを支持させ
    る工程と、ウェハテーブルを移動させて複数種のウェハ
    を交互又は所定の順序で所定のチップ取出位置に位置決
    めする工程と、チップ取出位置に位置決めされたウェハ
    の任意のICチップを取り出して所定位置のステージ上
    に移載する工程と、ステージ上のICチップを実装する
    工程とを有することを特徴とするICチップ実装方法。
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