JPH081460Y2 - 放射温度計 - Google Patents

放射温度計

Info

Publication number
JPH081460Y2
JPH081460Y2 JP1990053942U JP5394290U JPH081460Y2 JP H081460 Y2 JPH081460 Y2 JP H081460Y2 JP 1990053942 U JP1990053942 U JP 1990053942U JP 5394290 U JP5394290 U JP 5394290U JP H081460 Y2 JPH081460 Y2 JP H081460Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
aiming
lens
condenser lens
optical axis
light source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP1990053942U
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0415024U (ja
Inventor
俊行 野村
直博 大須賀
唯二 辻岡
直之 松本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Horiba Ltd
Original Assignee
Horiba Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Horiba Ltd filed Critical Horiba Ltd
Priority to JP1990053942U priority Critical patent/JPH081460Y2/ja
Priority to DE69102941T priority patent/DE69102941T2/de
Priority to EP91107987A priority patent/EP0458200B1/en
Priority to US07/703,181 priority patent/US5172978A/en
Publication of JPH0415024U publication Critical patent/JPH0415024U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH081460Y2 publication Critical patent/JPH081460Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02—Constructional details
    • G01J5/08—Optical arrangements
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02—Constructional details
    • G01J5/07—Arrangements for adjusting the solid angle of collected radiation, e.g. adjusting or orienting field of view, tracking position or encoding angular position
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02—Constructional details
    • G01J5/08—Optical arrangements
    • G01J5/0806—Focusing or collimating elements, e.g. lenses or concave mirrors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02—Constructional details
    • G01J5/08—Optical arrangements
    • G01J5/0808—Convex mirrors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02—Constructional details
    • G01J5/08—Optical arrangements
    • G01J5/0814—Particular reflectors, e.g. faceted or dichroic mirrors
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02—Constructional details
    • G01J5/08—Optical arrangements
    • G01J5/084—Adjustable or slidable
    • G01J5/0843—Manually adjustable
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02—Constructional details
    • G01J5/08—Optical arrangements
    • G01J5/0859—Sighting arrangements, e.g. cameras
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02—Constructional details
    • G01J5/08—Optical arrangements
    • G01J5/0896—Optical arrangements using a light source, e.g. for illuminating a surface
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02—Constructional details
    • G01J5/0205—Mechanical elements; Supports for optical elements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 ｛産業上の利用分野｝ 本考案は、被測定物から放射される赤外線を検出し、
その赤外線量に基づいて被測定物の温度を測定する放射
温度計において、とくに微小な測定点を表示するための
照準機能を備えた放射温度計に関するものである。
｛従来の技術｝ 放射温度計は、被測定物から放射される赤外線を検出
するものであって、被測定物には接触しない。したがっ
て、小部分などの温度を測定する放射温度計は、その測
定位置に示す照準機能を備えている。
被測定部に照準を合わせることが可能な放射温度計と
して、例えば、実開昭55-175835号公報第１図に開示さ
れた放射温度計が知られている。
この放射温度計は、赤外線を集光レンズで集光して検
出器に入射させるものであって、前記集光レンズの前側
で光軸上に、照準光源と、その照準光を測定点に結像さ
せる照準レンズとが設けられたものである。そして、前
記照準光源の像を、被測定物の測定位置に鮮明に結像、
すなわちピント合わせをして測定点を表示するものであ
る。
｛考案が解決しようとする課題｝ 前記従来の放射温度計は、その測定点に照準光源を照
準レンズで結像させているから、被測定物または被測定
部が微小な場合でも、それに照準光のピントを合わせる
ことによって、照準レンズの径方向における照準位置の
ずれをなくすることは比較的容易である。
しかし、集光レンズの前側で、その光軸上に照準光源
と照準レンズとが配置されているから、被測定物から放
射された赤外線において、前記照準光源と照準レンズと
に重なる部分の赤外線は集光レンズに入射不能であるか
ら、この部分の赤外線がロスになる問題がある。
そして、前記測定点から集光レンズへの開口角より
も、測定点から照準レンズへの開口角の方がかなり小さ
くなる。したがって、照準レンズの光軸方向におけるピ
ントずれが判明しにくく、ピントをシビアに合わせるこ
とが困難な問題がある。しかも、照準レンズの光軸方向
に照準光のピントずれが生じると、そのピントずれに比
して、測定点の変位による測定径の差の方がかなり大き
くなるから、微小な被測定部に測定点を精度よく位置さ
せることが困難な問題もある。
本考案は、上記のような課題を解決するものであっ
て、微小な被測定部に対しても、測定点を精度よく一致
させることが可能な照準機構を備えた放射温度計をうる
ことを目的とする。
｛課題を解決するための手段｝ 本考案の放射温度計は、測定点から放射された赤外線
を鏡筒内の集光レンズで検出器の受光面に結像させる放
射温度計において、前記検出器の受光面と反対側で前記
集光レンズの光軸上に可視光の照準光源が配置されると
ともに、前記集光レンズを前記鏡筒の測定点側における
端部内に配置する一方、前記検出器を前記鏡筒の照準光
源側における端部内に配置し、前記鏡筒の外側に、集光
レンズの光軸に光軸を一致させた照準レンズが配置され
て、前記照準光源の照準光を照準レンズで前記測定点に
結像させたことを特徴とするものである。
前記照準レンズとしては、リング状または非リング状
のいずれのものも使用可能である。そして、照準レンズ
としては、照準光源の照準光を測定点に結像させること
が可能な任意の構成のものを使用することが可能であ
る。また、集光レンズの光軸方向における照準レンズの
個数は、１個または複数個にするなど任意であって、照
準レンズの構成などに対応して決定する。そして、照準
光源としては、LEDなどの任意のものが使用可能であ
る。
｛作用｝ 前記本考案の放射温度計は、照準光源の照準光を照準
レンズで導いて集光レンズの光軸上に結像させるもので
あり、かつこの照準光の結像位置が放射温度計に定めら
れた測定点に一致している。そして、被測定物の温度を
測定するときに、その被測定部に前記照準光を照準し、
かつピントを合わせることによって、前記被測定部に測
定点を一致させるものである。
そして、照準光源を検出器の背部に配置しているか
ら、被測定部から放射された赤外線の全量が集光レンズ
に入射される。また、鏡筒の外側に、集光レンズの光軸
に光軸を一致させた照準レンズを配置しており、前記測
定点から集光レンズに対する開口角に比して、測定点か
ら照準レンズに対する開口角の方が大きくなるから、集
光レンズの光軸方向における照準光のピントずれの確認
が容易であり、前記ピントをシビアに合わせることが可
能である。特に、本願考案は、鏡筒の外側に、集光レン
ズの光軸に光軸を一致させた照準レンズを配置するの
で、集光レンズの光軸上で鏡筒の前後に照準レンズを配
置する場合に比して、装置をコンパクト化できる。
｛実施例｝ 本考案の放射温度計の第１実施例を第１〜３図につい
て説明する。
第１〜３図において、１はケースで、その中心部に鏡
筒２が配置されている。３は測定点から放射された赤外
線を集光する集光レンズで、これが鏡筒２の端部内に配
置され、この集光レンズ３を透過した赤外線を結像させ
る検出器４が、鏡筒２の他端内部に配置されている。前
記集光レンズ３としては、赤外線を透過させるSi、Ge、
BaF2などからなるものを使用する。
５は検出器４の受光面と反対側において、集光レンズ
３の光軸上に配置されたLEDEからなる照準光源で、これ
らその光軸調整のためにホルダ６に移動可能に配置され
ている（第３図参照）。7a,7bは照準光源５を支持する
ためにホルダ６に設けられたばねで、このばね7a,7bと
相対して調整ねじ8a,8bがホルダ６に取付けられてい
る。したがって、調整ねじ8a,8bの一方または両方を回
転させると、それに対応してばね7a,7bが伸縮し照準光
源５を移動させる。
9,10は鏡筒２の外側に配置されたリング状で非球面
（双曲面）の照準レンズで、それらの光軸を前記集光レ
ンズ３の光軸に一致させて、前記照準光源５から射出さ
れた可視光である照準光を、前記集光レンズ３と検出器
４との間隔などから設定された測定点11に結像させるよ
うに構成されている。12はプリント基板、13は照準レン
ズ9,10をケース１に固定した小ねじ（第２図参照）で、
相対した位置に設けられている。14は検出器４や補償用
温度センサ（図示省略）などのリード線で、これは集光
レンズ３の光軸方向で、前記小ねじ13とほぼ重なる位置
に配置されている。15は照準光源５から射出された照準
光の光路、16は前記測定点11に位置した被測定物から射
出された赤外線の光路、17は被測定物である。
この放射温度計は、前記のように、照準光源５の照準
光を照準レンズ9,10で測定点11に結像させている。な
お、照準光源５の光軸調整が必要なときは、前記のよう
に、調整ねじ8a,8bの一方または両方の回転で照準光源
５を移動させる。
したがって、被測定物の温度を測定するときに、前記
照準光源５から射出され、照準レンズ9,10を透過して結
像した照準光を被測定物17の表面に照射し、かつ測定位
置にピントを合わせることによって、測定点11を被測定
物の測定位置に精度よく位置させることが可能である。
そして、前記照準レンズ9,10を鏡筒２の外側に配置し
ているから、前記測定点11から集光レンズ３への開口角
に比して、測定点11から照準レンズ９への開口角の方が
明らかに大きくなる。
したがって、集光レンズ３の光軸方向における照準光
のピントずれ（像のぼけ）の確認が容易であって、照準
光のピントをシビアに合わせることが可能である。しか
も、照準光に前記のピントずれが生じても、そのずれに
比して、測定点11の変位による測定径の差の方が小さく
なる。このため、被測定物が小さいまたは被測定部が微
小である場合にも、それに照準光のピントを合わせれ
ば、前記微小な被測定物または被測定部に測定点11を精
度よく位置させることができ、微小な被測定物または被
測定部の温度も精度よく測定することが可能である。
また、照準レンズ9,10をリング状に構成しているか
ら、固定用の小ねじ13などによる影響も小さく、照準光
量を多くして、そのピントを鮮明に合わせることがより
容易である。
そして、前記照準光源５は、検出器４の受光面と反対
側に配置しているから、被測定物の測定位置から放射さ
れた赤外線の全量を集光レンズ３を経て検出器４に入射
することが可能であって、赤外線のロスをなくすること
ができる。
第４図は第２実施例を示すものである。
この実施例では、それぞれ独立した照準レンズ9a,9b
が、鏡筒２の径方向に相対して配置されている。したが
って、照準光の透過光量が、前記第１実施例に比して少
なくなるから、それに対応可能な光量の照準光源（図示
省略）を使用する。例えば、輝度の大きなLEDを使用す
る。19a,19bは照準レンズ9a,9bを固定する支持部材であ
る。
他の構成は、前記第１実施例と同じであるから、同符
号を付して示した。
第５図は第３実施例を示し、照準レンズに関するもの
である。
この実施例では、非球面（双曲面）の両凸レンズ１枚
で照準レンズ９を構成したものであって、照準レンズ９
を成形レンズで構成することも可能であって、コストを
大巾にダウンすることができる。
第６図は第４実施例であって、一対のフレネルレンズ
で照準レンズ9,10を構成したものである。このフレネル
レンズは、その溝の切り方で非球面相当のレンズをうる
ことが可能であって、コストダウンが可能である。
第７図は第５実施例を示すものである。
この実施例は、球面レンズの収差を逆利用したもので
あって、一対の球面レンズで照準レンズ9,10を構成して
いる。このように、照準レンズ9,10として球面レンズを
使用しているから、少量生産に対応することが容易であ
る。
第８図は第６実施例である。
この実施例は、照準光源５の照準光を反射ミラー20で
反射し照準レンズ９に入射して、測定点11に結像させる
ものであって、反射ミラー20の角度調整で、照準光の光
軸調整をすることが可能である。
前記第５〜８図に示した各実施例の他の構成は、前記
第１実施例と同じであるから、同符号を付して示した。
｛考案の効果｝ 本考案の放射温度計は、上記のように、被測定物から
放射された赤外線を鏡筒内の集光レンズで検出器の受光
面に結像させる放射温度計において、前記検出器の受光
面と反対側で前記集光レンズの光軸上に可視光の照準光
源が配置されるとともに、前記集光レンズを前記鏡筒の
測定点側における端部内に配置する一方、前記検出器を
前記鏡筒の照準光源側における端部内に配置し、前記鏡
筒の外側に、集光レンズの光軸に光軸を一致させた照準
レンズが配置している。
したがって、被測定物から放射された赤外線のすべて
を集光レンズに入射させることが可能であって、集光ロ
スがないから被測定物の温度を精度よく測定することが
できる。
そして、前記測定点から集光レンズに対する開口角に
比して、測定点から照準レンズに対する開口角の方が大
きくなるから、集光レンズの光軸方向における照準光の
ピントずれの確認が容易であって、照準光のピントをシ
ビアに合わせることが可能である。しかも、照準光に前
記のピントずれが生じても、そのピントずれに比して、
測定点の変位による測定径の差の方が小さくなる。この
ため、照準光のピントを合わせることによって、微小な
被測定物または測定位置にも測定点を精度よく位置させ
て、その被測定物または測定位置の温度を精度よく測定
することが可能である。特に、本願考案は、鏡筒の外側
に、集光レンズの光軸に光軸を一致させた照準レンズを
配置するので、集光レンズの光軸上で鏡筒の前後に照準
レンズを配置する場合に比して、装置をコンパクト化で
きる利点を有する。
【図面の簡単な説明】
第１〜３図は第１実施例を示し、第１図は断正面図、第
２図は断側面図、第３図は照準光源ホルダの断面図、第
４図は第２実施例の断側面図、第５図は第３実施例の概
略図、第６図は第４実施例の概略図、第７図は第５実施
例の概略図、第８図は第６実施例の概略図である。 2:鏡筒、3:集光レンズ、4:検出器、5:照準光源、９・1
0:照準レンズ、11:測定点。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 松本 直之 京都府京都市南区吉祥院宮の東町２番地 株式会社堀場製作所内 (56)参考文献 特開 昭63−255630（ＪＰ，Ａ) 実公 昭60−25559（ＪＰ，Ｙ２)

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】測定点から放射された赤外線を鏡筒内の集
    光レンズで検出器の受光面に結像させる放射温度計にお
    いて、前記検出器の受光面と反対側で前記集光レンズの
    光軸上に可視光の照準光源が配置されるとともに、前記
    集光レンズの前記鏡筒の測定点側における端部内に配置
    する一方、前記検出器を前記鏡筒の照準光源側における
    端部内に配置し、前記鏡筒の外側に、集光レンズの光軸
    に光軸を一致させた照準レンズが配置されて、前記照準
    光源の照準光を照準レンズで前記測定点に結像させたこ
    とを特徴とする放射温度計。
JP1990053942U 1990-05-23 1990-05-23 放射温度計 Expired - Fee Related JPH081460Y2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1990053942U JPH081460Y2 (ja) 1990-05-23 1990-05-23 放射温度計
DE69102941T DE69102941T2 (de) 1990-05-23 1991-05-16 Strahlungsthermometer.
EP91107987A EP0458200B1 (en) 1990-05-23 1991-05-16 Radiant thermometer
US07/703,181 US5172978A (en) 1990-05-23 1991-05-20 Radiant thermometer with aiming system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1990053942U JPH081460Y2 (ja) 1990-05-23 1990-05-23 放射温度計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0415024U JPH0415024U (ja) 1992-02-06
JPH081460Y2 true JPH081460Y2 (ja) 1996-01-17

Family

ID=12956785

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1990053942U Expired - Fee Related JPH081460Y2 (ja) 1990-05-23 1990-05-23 放射温度計

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5172978A (ja)
EP (1) EP0458200B1 (ja)
JP (1) JPH081460Y2 (ja)
DE (1) DE69102941T2 (ja)

Families Citing this family (52)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2665533B1 (fr) * 1990-08-06 1994-03-25 Ortomedic Dispositif de mesure a distance de temperature et/ou de differences de temperature.
PL171994B1 (pl) * 1992-09-10 1997-07-31 Pont A Mousson Urzadzenie do kontroli wyplywu strugi plynnego metalu z kadzi PL
FR2707756B1 (fr) * 1993-06-30 1995-10-06 Pont A Mousson Procédé de détection de passage d'objets lumineux tels que du métal liquide, dispositif de détection correspondant.
US5323005A (en) * 1993-05-12 1994-06-21 Nordson Corporation Method and apparatus for monitoring energy radiant from a dispensed heated material
US5727880A (en) * 1993-09-17 1998-03-17 Omega Engineering, Inc. Method and apparatus for measuring temperature using infrared techniques
US5823679A (en) * 1993-09-17 1998-10-20 Omega Engineering, Inc. Method and apparatus for measuring temperature including aiming light
US5368392B1 (en) * 1993-09-17 1998-11-03 Omega Engineering Method and apparatus for measuring temperature using infrared techniques
US5823678A (en) * 1993-09-17 1998-10-20 Omega Engineering, Inc. Light source aiming system and method for hand-held temperature measuring unit
US20030185273A1 (en) * 1993-09-17 2003-10-02 Hollander Milton Bernard Laser directed temperature measurement
GB9411160D0 (en) * 1994-06-03 1994-07-27 Land Infrared Ltd Improvements relating to radiation thermometers
JP2842227B2 (ja) * 1994-06-14 1998-12-24 住友電気工業株式会社 発光素子モジュールとその製造方法
DE4421065A1 (de) * 1994-06-16 1995-12-21 Raytek Sensorik Gmbh Vorrichtung zur Temperaturmessung
US5626424A (en) * 1994-07-21 1997-05-06 Raytek Subsidiary, Inc. Dual light source aiming mechanism and improved actuation system for hand-held temperature measuring unit
SE9403519D0 (sv) * 1994-10-14 1994-10-14 Electrolux Ab Temperaturinställningsanordning för spis eller motsvarande
DE19528590C3 (de) 1995-08-03 2003-11-27 Raytek Gmbh Vorrichtung zur Temperaturmessung
US6290389B2 (en) 1995-08-03 2001-09-18 Raytek Gmbh Device for temperature measurement
JP3277776B2 (ja) * 1995-11-20 2002-04-22 ミノルタ株式会社 放射温度計の照準装置
US6030117A (en) 1996-11-12 2000-02-29 Trutek, Inc. Tympanic thermometer probe cover
US5833367A (en) 1996-11-12 1998-11-10 Trutek, Inc. Tympanic thermometer probe cover
FR2773213B1 (fr) * 1996-12-11 2001-08-24 Omega Engineering Procede et dispositif pour la mesure par infrarouge de la temperature d'une surface
WO1998055841A2 (en) 1997-06-03 1998-12-10 Trutek Inc. Tympanic thermometer with modular sensing probe
IT1298515B1 (it) * 1998-01-30 2000-01-12 Tecnica S R L Termometro ad infrarossi
ATE248356T1 (de) 1998-01-30 2003-09-15 Tecnimed Srl Infrarot thermometer
DE19815927A1 (de) * 1998-04-09 1999-10-14 Braun Gmbh Infrarot-Strahlungsthermometer mit Otoskop-Funktion
US5967992A (en) 1998-06-03 1999-10-19 Trutex, Inc. Radiometric temperature measurement based on empirical measurements and linear functions
US6467952B2 (en) * 1999-03-19 2002-10-22 Tokyo Electron Limited Virtual blackbody radiation system and radiation temperature measuring system
US6123454A (en) 1999-06-11 2000-09-26 Trutek, Inc. Tympanic thermometer disposable probe cover with further stretching prevention structure
US6377400B1 (en) * 1999-07-02 2002-04-23 Milton Bernard Hollander Laser sighting beam modification for measuring or treatment instrument
DE10036720A1 (de) * 2000-07-27 2002-02-07 Raytek Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Infrarot-Temperaturmessung
US7550725B2 (en) * 2003-06-16 2009-06-23 White Box, Inc. Multi-laser system
DE10335207A1 (de) * 2003-07-03 2005-02-03 Optris Gmbh Visiereinrichtung und Vorrichtung mit einer kontaktlos oder kontaktbehaftet einsetzbaren Mess-, Arbeits- und/oder Wirkeinrichtung
WO2005012859A1 (de) * 2003-07-30 2005-02-10 Optris Gmbh Vorrichtung zur berührungslosen temperaturmessung
DE10336097B3 (de) 2003-08-06 2005-03-10 Testo Ag Visiereinrichtung für ein Radiometer sowie Verfahren
US7355178B2 (en) * 2004-06-22 2008-04-08 Everest Charles E Infrared thermometer with through-the-lens visible targeting system
US20060215728A1 (en) * 2005-03-28 2006-09-28 Chen-Chang Jang Forehead thermometer for hygienic measurement
DE102005016414B3 (de) * 2005-04-08 2006-07-13 Keller Hcw Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Temperaturstrahlung einer Meßfläche
US20090061752A1 (en) * 2007-08-28 2009-03-05 Current Energy Controls, Lp Autonomous Ventilation System
US8240912B2 (en) * 2008-08-15 2012-08-14 Fluke Corporation Multi-zone non-contact spot thermometer
JP2012507007A (ja) * 2008-10-23 2012-03-22 カズ ヨーロッパ エスエー 迷放射線遮蔽体を有する非接触医療用温度計
JP2012177560A (ja) * 2011-02-25 2012-09-13 Chino Corp 放射温度計
US9357930B2 (en) * 2012-03-19 2016-06-07 Welch Allyn, Inc. Temperature measurement system
US9063003B2 (en) 2012-06-11 2015-06-23 David M. Bergstein Radiation compensated thermometer
CN105051507B (zh) 2012-11-19 2018-02-16 卡兹欧洲公司 具有改进的光学系统的医用温度计
WO2014185024A1 (ja) * 2013-05-17 2014-11-20 パナソニック インテレクチュアル プロパティ コーポレーション オブ アメリカ 温度測定装置および温度測定方法
CN103776548A (zh) * 2014-02-14 2014-05-07 丹纳赫（上海）工业仪器技术研发有限公司 红外测温仪以及用于测量能量区域的温度的方法
CN107289470B (zh) * 2016-04-11 2019-06-14 众智光电科技股份有限公司 具有温度感测功能的瓦斯炉
CN108731812B (zh) * 2017-04-14 2020-05-29 热映光电股份有限公司 非接触式温度测量装置
US10753806B2 (en) * 2017-07-12 2020-08-25 Radiant Innovation Inc. Non-contact temperature measuring device
US20190017878A1 (en) * 2017-07-12 2019-01-17 Radiant Innovation Inc. Non-contact temperature measuring device
US11022496B2 (en) 2018-06-29 2021-06-01 Tecnimed S.R.L. Infrared thermometer
KR102661827B1 (ko) * 2018-10-30 2024-04-26 엘지전자 주식회사 의류처리장치
CN111273455A (zh) * 2019-12-12 2020-06-12 河北汉光重工有限责任公司 一种可见光/红外复合镜头的装调方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2761072A (en) * 1951-06-30 1956-08-28 Servo Corp Of America Total-radiation pyrometer
US2844992A (en) * 1953-06-13 1958-07-29 Zeiss Carl Microscope objectives for epi-microscopes
US3081632A (en) * 1957-02-12 1963-03-19 Servo Corp Of America Direct-reading pyrometer microscope
NL7017658A (ja) * 1970-12-03 1972-06-06
US4081678A (en) * 1976-03-01 1978-03-28 Macall Thomas F Through-the-lens thermometer apparatus
US4315150A (en) * 1980-07-24 1982-02-09 Telatemp Corporation Targeted infrared thermometer
US4494881A (en) * 1982-03-10 1985-01-22 Everest Charles E Intra-optical light beam sighting system for an infrared thermometer
JPS6025559U (ja) * 1983-07-29 1985-02-21 エヌエスケ−・ワ−ナ−株式会社 リトラクタ
JPS6027825A (ja) * 1983-07-26 1985-02-12 Minolta Camera Co Ltd 放射温度計用光学系
US4588253A (en) * 1984-05-23 1986-05-13 Brunson Instrument Company Infrared collimator
DE3710486C1 (de) * 1987-03-30 1988-08-04 Testoterm Messtechnik Gmbh Co Vorrichtung zur Messfleckmarkierung bei einem Strahlungsmessgeraet

Also Published As

Publication number Publication date
EP0458200A3 (en) 1992-02-12
DE69102941D1 (de) 1994-08-25
JPH0415024U (ja) 1992-02-06
EP0458200A2 (en) 1991-11-27
US5172978A (en) 1992-12-22
DE69102941T2 (de) 1995-03-23
EP0458200B1 (en) 1994-07-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH081460Y2 (ja) 放射温度計
US3721827A (en) Arrangement for automatically focussing an optical instrument
US6480266B2 (en) Autofocus distance-measuring optical system
JP2913984B2 (ja) 傾斜角測定装置
US7390124B2 (en) Device for contact-free measurement of temperature
US4664515A (en) Optical system of a radiation thermometer
US4348108A (en) Automatic lens meter
CN109506570B (zh) 位移传感器
US4279484A (en) Apparatus for measuring a range to a subject
JPS60178415A (ja) カメラのピント補正装置
JPH0714835Y2 (ja) 放射温度計
TWI836749B (zh) 光學檢測裝置
JPS63263412A (ja) 非接触変位計
KR200238887Y1 (ko) 적외선 필터 기능을 가지는 렌즈가 장착된 적외선 센서패키지
JPH0337529A (ja) 放射温度計
JPS63229439A (ja) 自動焦点整合装置
JP2643453B2 (ja) 自動焦点検出用の投光系
JP2815808B2 (ja) 放射温度計
JP2999799B2 (ja) 放射温度計
JPS6247613A (ja) 測距装置の光学系
JPS60178413A (ja) カメラのピント補正装置
JPH0378230U (ja)
JPH0411811B2 (ja)
JPS6298212A (ja) 位置検知方法
JP2003166900A (ja) 偏芯測定器

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees