JP3277776B2 - 放射温度計の照準装置 - Google Patents

放射温度計の照準装置

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、測定対象の表面温
度を遠隔測定する放射温度計に係り、特にその測定領域
を表示する照準装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、測定対象の表面温度を遠隔測定す
る放射温度計において、測定対象からの放射エネルギー
を集束する測定光学系の主光軸から分岐した光軸上にレ
ーザ光源を配設し、このレーザ光源によって測定対象上
にスポット状の照射像を形成することにより測定点を示
すようにした照準装置が提案されている(実開昭55−
36327号公報、特公昭60−51654号公報参
照)。
【0003】また、上記放射温度計において、測定対象
上に測定領域の輪郭を示すリング状の照射像を形成する
ようにした照準装置が提案されている(米国特許第5,
368,392号参照)。この照準装置では、上記リン
グ状の照射像を形成するために、レーザ光を反射して測
定対象に照射する反射ミラーを機械的に回転させるもの
や、レーザ光源を光軸の回りに機械的に旋回させるもの
等が開示されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記実
開昭55−36327号公報又は特公昭60−5165
4号公報記載の照準装置は、測定領域の中心を表示する
に過ぎないため、種々の測定対象に対して、常に照射像
を得られるものではない。また、測定領域の輪郭を表示
するものではないため、測定領域の正確な視認が困難で
ある。
【0005】一方、上記米国特許第5,368,392
号記載の照準装置は、リング状の照射像によって測定領
域の輪郭を表示するのみであるので、微妙な光軸合わせ
を必要とする場合には不向きである。
【0006】本発明は、上記問題を解決するもので、簡
易な構成でありながら測定対象に対する測定領域の指示
を的確に行え、操作性を向上した放射温度計の照準装置
を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、測定対象から
その温度に応じて放射される放射エネルギーを集束する
測定光学系と、集束された上記放射エネルギーを検出す
る検出手段とを備え、上記測定対象の表面温度を測定す
る放射温度計において、集束された可視光を出力する発
光手段と、この発光手段からの上記集束可視光を上記測
定光学系の光軸に沿って上記測定対象に導く照準用光学
系と、この照準用光学系の光軸近傍に配置された回転軸
を有する回転駆動手段と、上記照準用光学系の光軸に臨
んで配置され、回転中心が上記回転軸に取り付けられ、
回転によって上記集束可視光の方向を上記照準用光学系
の光軸を中心にして連続的に屈曲させる光学素子とを備
え、上記光学素子は、上記照準用光学系の光軸が通過す
る領域の一部に形成された非屈曲部を有し、この非屈曲
部は、上記集束可視光を上記照準用光学系の光軸に沿っ
て進行させるものである(請求項1)。
【0008】この構成によれば、測定対象上に、測定領
域の輪郭を示すリング状の照射像と測定中心を示すスポ
ット状の照射像とが形成され、これによって測定領域全
体及びその中心が同時に確認可能になる。
【0009】また、請求項1記載の放射温度計の照準装
置において、上記非屈曲部が上記照準用光学系の光軸上
に位置する状態で上記光学素子の回転を停止させる駆動
制御手段と、上記光学素子を回転させる回転モードと上
記位置で上記光学素子の回転を停止させる停止モードと
を切り換えるモード切換手段とを備えたものである(請
求項2)。
【0010】この構成によれば、測定対象上に、測定領
域の輪郭を示すリング状の照射像及び測定中心を示すス
ポット状の照射像を形成するモードと、測定中心を示す
スポット状の照射像のみを形成するモードとが選択的に
切り換え可能になる。これによって、例えば測定対象が
近距離にある場合には両方の照射像を形成してより正確
に測定領域を確認すればよく、遠距離にある場合にはス
ポット状の照射像のみを形成して集束可視光が測定対象
まで到達させるようにすればよい。
【0011】また、測定対象からその温度に応じて放射
される放射エネルギーを集束する測定光学系と、集束さ
れた上記放射エネルギーを検出する検出手段とを備え、
上記測定対象の表面温度を測定する放射温度計におい
て、集束された可視光を出力する発光手段と、この発光
手段からの上記集束可視光を上記測定光学系の光軸に沿
って上記測定対象に導く照準用光学系と、この照準用光
学系の光軸近傍に配置された回転軸を有する回転駆動手
段と、上記照準用光学系の光軸に臨んで配置され、回転
中心が上記回転軸に取り付けられ、回転によって上記集
束可視光の方向を上記照準用光学系の光軸を中心にして
連続的に第1の角度で屈曲させる光学素子とを備え、上
記光学素子は、上記照準用光学系の光軸が通過する領域
の一部に形成された屈曲部を有し、この屈曲部は、上記
集束可視光の方向を上記第1の角度と異なる第2の角度
で屈曲させるものである(請求項3)。
【0012】この構成によれば、測定対象上にリング状
の照射像が同心状に形成され、これによって、照射像の
確認が容易に行われることとなる。
【0013】また、上記回転軸は、上記照準用光学系の
光軸と平行に配置され、上記光学素子は、互いに対向す
る主面を有し、両主面が相対的に一方向に傾斜してなる
光学プリズムからなるものである(請求項4)。
【0014】また、上記光学素子は、上記回転軸の直交
面に対して傾斜した反射面を有する反射ミラーからなる
ものである(請求項5)。
【0015】また、測定対象からその温度に応じて放射
される放射エネルギーを集束する測定光学系と、集束さ
れた上記放射エネルギーを検出する検出手段とを備え、
上記測定対象の表面温度を測定する放射温度計におい
て、集束された可視光を出力する発光手段と、この発光
手段からの上記集束可視光を上記測定光学系の光軸に沿
って上記測定対象に導く照準用光学系と、この照準用光
学系の光軸近傍に配置された当該光軸に平行な回転軸を
有する回転駆動手段と、上記照準用光学系の光軸に臨ん
で配置され、回転中心が上記回転軸に取り付けられ、一
体的に回転することによって上記集束可視光の方向を上
記照準用光学系の光軸を中心にして連続的に屈曲させる
第1、第2の光学プリズムと、この第1の光学プリズム
と第2の光学プリズムとの相対的な回転位置を変更する
相対回転位置変更手段とを備え、上記第1、第2の光学
プリズムは、それぞれ、互いに対向する主面を有し、両
主面は相対的に一方向に傾斜してなるものである(請求
項6)。
【0016】この構成によれば、第1の光学プリズムと
第2の光学プリズムとの相対的な回転位置が変更される
と、測定対象上に形成するリング状の照射像の大きさが
変更され、これによって異なる大きさの測定領域に対応
可能になる。
【0017】また、上記測定光学系は、上記集束する放
射エネルギーの放射面積を変更するズーミング機能を有
するものである(請求項7)。
【0018】この構成によれば、測定光学系のズーミン
グによる測定領域の大きさの変化に応じて、第1の光学
プリズムと第2の光学プリズムとの相対的な回転位置を
変更することにより、測定対象上に形成するリング状の
照射像の大きさが測定領域の大きさに対応可能になる。
【0019】
【発明の実施の形態】図8〜図10は、本発明が適用さ
れる放射温度計の計測器本体の外観図で、図8は側面
図、図9は前面図、図10は背面図である。
【0020】この放射温度計の計測器本体は、図8に示
すように、上部の計測部側と、下部の把握部側とからな
る全体構成を有し、計測部側には、その側面の中央部に
電源オン、オフ用のメインスイッチ1が、その上方にモ
ード設定スイッチ2、放射率設定スイッチ3及び操作ス
イッチ4,5が配設されている。また、図9に示すよう
に、前面の上部に測定窓6が形成されている。把握部側
には、前面側に、押し込み可能にされた測定ボタン7
が、背面に、図10に示すように、測定結果などを表示
する表示部8が設けられている。
【0021】上記モード設定スイッチ2は後述する測定
モードを設定するもので、放射率設定スイッチ3は測定
対象に応じた放射率を設定するものである。操作スイッ
チ4,5はそれぞれアップキー及びダウンキーで、測定
モードを選択する際のモードの切り換えと、設定すべき
放射率の数値の増減を行うものである。
【0022】上記測定窓6は、赤外光を通すガラス材や
フィルム材等からなり、測定対象から放射される放射エ
ネルギーを入射させるものである。上記測定ボタン7
は、測定対象に放射温度計を向けた状態でオンすること
により測定を開始させるためのものである。上記表示部
8は、液晶表示装置等からなり、測定値、設定された放
射率や測定モードなどの測定に関する情報を表示するも
のである。
【0023】図1は上記放射温度計の基本構成を説明す
るための構成図である。図2は光学素子の形状を示す図
1の一部拡大図、図3は光学素子の形状を示す斜視図で
ある。図4は上記測定器本体の内部構成を示す図8の一
部破断図である。図5はこの放射温度計から出射される
ビーム光を模式的に示す図である。
【0024】この放射温度計は、測定系を構成する凹面
鏡11及び赤外線センサ12を備えるとともに、照準系
を構成する発光部13、集光レンズ14、光学素子1
5、モータ16及び反射ミラー17,18を備えてい
る。
【0025】上記凹面鏡11は、測定対象から光軸L1
に沿って放射される放射エネルギーを集光するもので、
測定光学系を構成している。上記赤外線センサ12は、
受光面が上記凹面鏡11の焦点に配置され、サーモパイ
ル等からなる赤外線を受光するものである。赤外線セン
サ12は、受光光量に比例したレベルの電圧信号を発生
するもので、図略の演算手段に接続され、検出レベルか
ら上記測定対象の表面温度が算出されるようになってい
る。
【0026】上記発光部13は、レーザダイオード等か
らなり、可視波長帯のレーザビーム光を光軸L2に沿っ
て出力するものである。上記集光レンズ14は、上記発
光部13から出力された上記可視光を光軸L2と平行に
するものである。上記モータ16は、光軸L2の近傍に
配設されたパルスモータなどで、回転軸16aが光軸L
2と平行になる向きに設定されている。
【0027】上記光学素子15は、図2、図3に示すよ
うに、円板形状の透明な光学プリズムで、円板中心が上
記回転軸16aに固定されている。光学素子15の両主
面は、互いに不平行な交差する平面で形成されている。
すなわち、主面15aは光軸L2に直交し、他方、主面
15bは光軸L2に対して角度iだけ傾斜している。従
って、光学素子15は、両主面間の厚さが、一方向に連
続(一定傾斜で)して変化している。
【0028】図2は、上記光学素子15の最も厚い部分
(以下、最厚部という)が上端に、最も薄い部分(以
下、最薄部という)が下端に配置された状態を側面方向
から見たものである。
【0029】図2に示す状態で、光学素子15が回転軸
16aを中心に回転すると、主面15bが光軸L2の直
交面となす角度は、−i〜iの間を連続的に変化する。
【0030】図1に戻って、上記反射ミラー17,18
は、光学素子15を透過した上記ビーム光を反射して光
軸L2を上記光軸L1に一致させるもので、この反射ミ
ラー17,18によってビーム光が、図4に示すように
測定窓7から放射される。
【0031】次に、ビーム光の光路について説明する。
発光部13から出力されたビーム光13aは、集光レン
ズ14によって平行光にされ、図2に示すように、光軸
L2に沿って光学素子15に入射する。このとき、ビー
ム光13aは、光学素子15の主面15a、すなわち入
射面に対して法線方向に入射するので、入射面では屈折
せずに直進する。そして、光学素子15の主面15b、
すなわち出射面は、光軸L2の直交面に対して角度iだ
け傾斜しているので、ビーム光13aは、出射点Aで傾
斜方向であって厚さの増加する方向に屈折し、光学素子
15の主面15bの法線150に対して角度i'で出射
する。
【0032】ここで、光学素子15の屈折率をnとする
と、iとi'の関係は、スネルの法則より、
【0033】
【数1】n×sini=sini' すなわち、
【0034】
【数2】i'=sin-1(n×sini) となる。
【0035】モータ16を駆動して光学素子15を回転
させると、主面15bの傾斜方向も回転するので、光学
素子15から出射したビーム光13aは、光軸L2に対
して角度(i'−i)を保持した状態で回転する。これ
によって、図5に示すように、ビーム光13aは、光軸
L1に対して円錐の側面を形成するように旋回される。
このときの旋回光の照射角θ1は、2×(i'−i)と
なる。そして、測定対象上に対して、リング状に照射さ
れる。
【0036】このように、光学素子15を回転させるこ
とによって測定対象にリング光を照射することができ
る。従って、光学素子15の傾斜角度iを適切に設定す
ることによって、測定対象の測定領域の輪郭を表示する
ことができる。
【0037】なお、光学素子15は、可逆的であること
から、主面15aと15bとを入れ替えて形成しても、
同様の効果が得られる。
【0038】次に、発光部13のレーザ光の輝度変調に
ついて説明する。発光部13としてレーザダイオード等
の半導体レーザを使用する場合には、以下の2点に留意
する必要がある。
【0039】(1)駆動電流が大きいので電源容量を大
きくしなければならない。 (2)人体、特に眼を保護するためにレーザ光の照射量
を規定値に抑える必要があるが、汎用されている赤色レ
ーザでは視感度が低いので、上記規定値では充分な明る
さを得るのが困難である。
【0040】そこで、本実施形態では、以下の,の
手法によって、これらの点を改善している。
【0041】発光部13を間欠的にパルス駆動するこ
とによって、眼が応答しない臨界融合周波数以上の周波
数でパルス発光させる。例えばこのパルス駆動のオン、
オフのデューティ比を50%にすると、消費電流を約半
分に低減することができる。
【0042】上記モータ16の回転周波数と上記の
パルス駆動周波数とを適正化することによって、測定対
象に照射されるリング光の輝度を変調させることができ
る。このとき、人間の眼は輝度の高いレベルをよく感じ
ることができる。上記照射量の規定値はある一定の時間
内での平均照射量と考えられるが、上記輝度変調によっ
て平均照射量を上記規定値以下に抑制しながら、上記リ
ング光を明るくすることができる。
【0043】ここで、上記,を行うための構成につ
いて説明する。図6は発光部13及びモータ16の制御
系を示すブロック図である。図7はモータ16の駆動信
号、光学素子15の回転検出信号及び発光部13の駆動
信号を示すタイミングチャートである。
【0044】この制御系は、回転センサ21、回転量検
出部22、モータ駆動部23、発光駆動部24及び制御
部25を備えている。
【0045】回転センサ21は、フォトインタラプタ等
からなり、回転量検出部22は、回転センサ21からの
信号を用いて光学素子15の回転を検出し、1回転毎に
検出信号22aを制御部25に出力するものである。
【0046】モータ駆動部23及び発光駆動部24は、
それぞれモータ16及び発光部13に駆動電流を供給す
るものである。
【0047】制御部25は、CPU等からなり、回転量
検出部22からの検出信号22aを用いてモータ16の
回転が一定となるように、パルス制御信号25aをモー
タ駆動部23に出力してフィードバック制御を行うもの
である。また、制御部25は、発光駆動部24にパルス
制御信号25bを出力して、モータ16の回転周波数の
整数倍の周波数で発光部13を発光させるものである。
【0048】ここで、発光部13をパルス発光させたと
きに、発光パルス周波数と光学素子15の回転周波数の
位相がずれると、輝度変調されて測定対象上に照射され
たリング光が、安定せずにゆらいで見えたり、所定方向
に回転して見えるような現象が生じる。
【0049】しかしながら、ここでは、モータ16の回
転周波数の整数倍の周波数で発光部13を発光させて発
光部13の発光パルス周波数と光学素子15の回転周波
数の位相を一致させることによって、上記現象が生じる
のを防止し、安定したリング光を得るようにしている。
【0050】なお、モータ駆動部23に出力する制御信
号25aと、発光駆動部24に出力する制御信号25b
のパルスの立ち上がりタイミングを同期させると、更に
安定したリング光を得ることができる。
【0051】このように、上記,を行うことによっ
て、消費電流を低減するとともに、リング光の明るさを
増大させることができる。
【0052】次に、本発明が適用される放射温度計の第
1実施形態について説明する。図11は同第1実施形態
の光学素子15の形状を示す斜視図、図12は同第1実
施形態のモータ16の制御系を示すブロック図である。
なお、上述の基本構成と同一構成要素には同一符号を付
し、相違点についてのみ説明する。
【0053】第1実施形態では、光学素子15は、図1
1に示すように、上記図2に示す光学プリズムにおい
て、上記ビーム光13aが通過する領域の一部、すなわ
ち回転軸16aを中心として回転軸16aと光軸L2間
の距離に等しい半径の円周上の一部に穿設された貫通孔
151を備えるとともに、外周に突設された遮断部15
2を備えている。
【0054】また、LED31及びフォトダイオード3
2は、光学素子15の前後位置であって、上記遮断部1
52の回転軌跡上に互いに対向するように配設されると
ともに、光学素子15が回転して上記貫通孔151が光
軸L2上にきた時に、上記遮断部152によってLED
31からフォトダイオード32への光が遮断される位置
に設けられている。
【0055】第1実施形態の制御系は、図12に示すよ
うに、モード設定スイッチ2、LED31、フォトダイ
オード32、LED駆動部33、位置検出部34、モー
タ駆動部23及び制御部25を備えている。
【0056】上記モード設定スイッチ2は、光学素子1
5を回転させる回転モード(スポット光及びリング光を
照射するモード)と、光学素子15の貫通孔151と光
軸L2とが一致する位置で停止させる停止モード(スポ
ット光のみを照射するモード)とを設定するものであ
る。
【0057】上記LED駆動部33は、LED31に駆
動電流を供給してLED31を発光させるもので、上記
位置検出部34は、フォトダイオード32のLED31
からの光の受光の有無によって位置検出信号を制御部2
5に出力するものである。
【0058】制御部25は、上記LED駆動部33に出
力する制御信号によってLED31の発光を制御する。
また、上記位置検出部34からの位置検出信号によって
光学素子15が、貫通孔151と光軸L2とが一致する
位置にあるかどうかを判別するものである。
【0059】また、制御部25は、モード設定スイッチ
2で上記回転モードが設定されると、モータ駆動部23
に制御信号を出力して光学素子15を回転させ、一方、
モード設定スイッチ2で上記停止モードが設定される
と、モータ駆動部23に制御信号を出力して位置検出部
34からの位置検出信号が入力される位置で光学素子1
5の回転を停止させるものである。
【0060】このように、第1実施形態では、光学素子
15に発光部13からのビーム光13aが屈折せずに直
進する貫通孔151を設けることで、ビーム光13aが
貫通孔151を通る位置で光学素子15を停止させ、測
定領域の中心をスポット的に照射することにより、測定
中心の確認及び指示を容易、かつ的確に行うことができ
る。すなわち、基本構成のようにビーム光をリング光と
すると、単位面積当りの明るさが低下するので、測定対
象が遠距離にある場合や低反射率の場合に測定領域の確
認が困難になる虞れがあるが、第1実施形態では、スポ
ット的に照射してビーム光の明るさを向上させているの
で、そのような事態を防止することができる。また、測
定領域の中心が表示されるので、測定領域に対する凹面
鏡11(測定光学系)の光軸L1の正確な位置合わせが
可能となる。
【0061】また、光学素子15を回転させて使用する
と、測定領域の輪郭を示すリングと、測定領域の中心位
置とが表示されることとなり、上述した基本構成の場合
に比して、測定領域の確認を一層容易かつ的確に行うこ
とができる。
【0062】また、図13に示すように、光学素子15
に複数の貫通孔151を設けるようにしてもよい。図1
3は3個の貫通孔151が同一円周上に形成された光学
素子15を回転させたときの測定対象上の照射像を模式
的に示す図で、説明の便宜上、反射ミラーなどは省略し
ている。
【0063】測定対象上の照射像41は、光学素子15
で屈折されて形成されるリング像41aと、貫通孔15
1を直進して形成されるスポット像41bとからなる。
【0064】このように貫通孔151の個数を増大する
ことによって、光学素子15を連続回転のままでも測定
領域の中心を示すスポット光の輝度を好適に上昇させる
ことができる。
【0065】また、上記図11、図13において、貫通
孔151に代えて、両主面を光軸L2に直交するように
形成した平板部を設けてもよい。この場合にも、貫通孔
151と同様にビーム光を直進させることができるの
で、同様の効果が得られる。このように、第1実施形態
によれば、貫通孔151又は平板部を設けるのみの簡易
な構成で、上記効果を得ることができる。
【0066】なお、第1実施形態では、リング像41a
の一部がスポット像41bを形成する期間だけ遮断され
るため、図13に示すように、リングの一部が欠けたリ
ング像41aとなるが、測定領域の表示という点では実
質的に問題は生じない。
【0067】また、光学素子15は、図2に示す光学プ
リズムに限られず、同様にその厚さが連続的に変化する
ものであれば、各主面が曲面、すなわちレンズの一部で
あるようなものでもよい。
【0068】次に、上記放射温度計の第2実施形態につ
いて説明する。図14は第2実施形態の光学素子15の
形状を示す断面図である。図15は光学素子15の形状
を示す斜視図で、光学素子15を回転させたときの測定
対象上の照射像を模式的に示している。図16は光学素
子15の回転に伴って変化するビーム光の進行方向を説
明する図である。なお、図15、図16では、説明の便
宜上、反射ミラーなどは省略している。
【0069】第2実施形態では、光学素子15は、図1
5に示すように、図2に示す光学プリズムにおいて、上
記ビーム光13aが通過する領域の一部、すなわち回転
軸16aを中心として回転軸16aと光軸L2間の距離
に等しい半径の円周上の一部(好ましくは等間隔位置)
に設けられた凹部153a,153b,153c,15
3dを備える。
【0070】この凹部153a,153b,153c,
153dは、光学素子15の上記最厚部を上端に、かつ
最薄部を下端に配置した図14に示す状態において、光
軸L2の直交面に対して角度j(<i)だけ傾斜した底
面を有している。
【0071】図16を用いて、発光部13からのビーム
光13aの進行方向について説明すると、図16(a)
に示すように、ビーム光13aが光学素子15の凹部1
53cを通るときは、測定中心から半径d1の円周上に
照射像42cが形成される。
【0072】光学素子15が回転して、図16(b)に
示すように、ビーム光13aが凹部153cから外れる
と、測定中心から半径d2(>d1)の円周上に照射像
43が形成される。そして、光学素子15の回転に伴っ
て、図16(c)に示すように、照射像43は上記半径
d2の円周に沿って移動する。
【0073】更に光学素子15が回転して、ビーム光1
3aが、図16(d)に示すように、凹部153dを通
ると、再度、測定中心から半径d1の円周上に照射像4
2dが形成される。このとき、照射像42dは、図16
(a)の位置から90°回転した位置に形成される。
【0074】更に光学素子15が回転し、図16(e)
に示すように、ビーム光13aが凹部153dから外れ
ると、再度、測定中心から半径d2の円周上に照射像4
3が形成される。
【0075】このように、第2実施形態によれば、光学
素子15の光軸L2が通過する領域の一部に、光学素子
15の傾斜角度iと異なる角度jの底面を有する凹部1
53a〜153dを設けるようにしたので、図15に示
すように、半径d1の照射像42a,42b,42c,
42d及び半径d2の照射像43からなる同心状の照射
像を測定対象上に得ることができる。これによって、例
えば測定対象の色がビーム光の色に近い場合等のよう
に、照射像を見失ったり、照射像の確認が困難な場合で
も、スポット光のみの照射像や一重リングの照射像に比
べて見えやすくなり、照射像を容易に発見することがで
きる。
【0076】なお、上記傾斜角度jは、i<jに設定し
てもよい。この場合には、凹部153a〜153dを通
過するリング光による照射像と、凹部以外の領域を通過
するリング光による照射像とは、半径の大小が入れ替わ
るだけであるので、見かけ上は変化がない。
【0077】次に、上記放射温度計の第3実施形態につ
いて説明する。図17は同第3実施形態の構成図、図1
8は第3実施形態の光学素子15の形状を示す図17の
一部拡大図である。
【0078】第3実施形態では、光学素子15は、図2
に示すような光学プリズムに代えて、これと同一形状の
反射ミラーからなり、反射ミラー17を省略している。
モータ16は、回転軸16aが光軸L2に対して45°
傾斜する向きに配置され、光学素子15の反射面は、光
学素子15の上記最厚部を上端に、かつ最薄部を下端に
配置した図18に示す状態において、回転軸16aの直
交面に対して角度iだけ傾斜している。
【0079】そして、ビーム光13aは、図17に示す
ように、光軸L2に沿って光学素子15に入射し、その
表面で反射して反射ミラー18に入射する。このとき、
図18に示す配置のときは、光学素子15の反射面で、
光軸L2に対して角度2iで反射する。
【0080】光学素子15が回転すると、その反射面が
回転軸16aの直交面となす角度は−i〜iの間を移動
するので、上記反射光も、−2i〜2iの間を連続的に
移動することとなる。従って、リング光の照射角は、光
軸L2を中心として角度4iになる。
【0081】このように、第3実施形態によれば、光学
素子15として、図2に示す光学プリズムと同一形状の
反射ミラーを用いるようにしたので、測定対象上に測定
領域の輪郭を示すリング光を照射することができる。
【0082】なお、上記第1実施形態と同様に、光学素
子15のビーム光13aが通過する領域の一部に、反射
面が回転軸16aに直交する平板部を1つ又は複数設
け、ビーム光13aを光軸L2に沿って反射するように
してもよい。これによって、第1実施形態と同様に、測
定対象上に、測定領域の輪郭及び測定中心の照射像を得
ることができる。また、第1実施形態と同様に、光学素
子15を停止する停止モードと回転させる回転モードと
を切り替えし得るようにしてもよい。
【0083】また、上記第2実施形態と同様に、光学素
子15の上記ビーム光13aが通過する領域の一部に、
傾斜角度が異なる部分を複数設けるようにしてもよい。
これによって、第2実施形態と同様に、測定対象に同心
状のリング光を照射することができる。
【0084】次に、上記放射温度計の第4実施形態につ
いて説明する。図19は第4実施形態の光学素子15を
示す構成図である。
【0085】第4実施形態では、光学素子15は、2個
で構成される。光学素子15,15は、それぞれ図2に
示す透明な光学プリズムと同一形状で、互いに光軸L2
に対する直交面である主面15a,15aが対向して重
ね合わされて回転軸16aに配設されている。一方の光
学素子15は、回転軸16aに固定されている。他方の
光学素子15は、回転軸16aに回転自在に配設される
とともに、上記一方の光学素子15に対して固定される
図略の固定部材を備えている。
【0086】これによって、光学素子15,15は、互
いに相対的な回転位置関係が変更可能であって、かつ、
一体的に回転可能になっている。なお、光学素子15,
15の相対的な回転位置関係を自動的に変更させて固定
する相対位置変更部を備えるようにしてもよい。また、
光学素子15,15の間に、相対回転が容易に行えるよ
うに、微小な隙間を設けるようにしてもよい。
【0087】第4実施形態におけるビーム光13aの進
行方向について説明すると、図19(a)に示すよう
に、光学素子15,15を直交面に関して互いに左右対
称に固定した場合は、光軸L2に沿って一方の光学素子
15に入射するビーム光13aは、その入射面S1(主
面15b)で屈折し、光学素子15,15中を直進して
他方の光学素子15を出射するときに、その出射面S2
(主面15b)で更に屈折する。このとき、入射面S1
及び出射面S2は光軸L2に対して逆方向に傾斜してい
るので、ビーム光13aの出射角度は1個の光学素子1
5のみの場合に対して約2倍になる。
【0088】一方、図19(b)に示すように、図19
(a)の場合から他方の光学素子15を一方の光学素子
15に対して相対的に180°回転させて固定した場合
には、光軸L2に沿って一方の光学素子15に入射する
ビーム光13aは、図19(a)と同様に、一方の光学
素子15への入射面S1及び他方の光学素子15からの
出射面S2で屈折するが、入射面S1及び出射面S2は
光軸L2に対して同一方向に傾斜しているので屈折角度
が互いに相殺され、他方の光学素子15から光軸L2に
平行に出射することとなる。
【0089】従って、光学素子15,15を一体的に回
転させると、測定対象上に、図19(a)の場合には最
大半径のリング光が照射され、図19(b)の場合には
屈折によってずれた距離に等しい最小半径のリング光が
照射される。
【0090】また、光学素子15,15の相対的な回転
位置関係を図19(a)と図19(b)の間に設定する
と、光学素子15からの出射角度に応じた上記最大半径
と最小半径の間の半径のリング光が測定対象に照射され
ることとなる。例えば、光学素子15,15を互いに9
0°又は270°ずらした場合には、1個の光学素子1
5のとき、すなわち基本構成の場合とほぼ同一の半径の
リング光が測定対象に照射される。
【0091】このように、第4実施形態によれば、図2
に示す光学プリズムと同一形状の光学素子15,15の
直交面側を重ね合わせるとともに、その相対的な回転位
置関係を変更可能にしたので、ビーム光13aの出射角
度を変更でき、これによって測定対象に照射するリング
光の半径を変更することができる。
【0092】なお、光学素子15,15をそれぞれ別の
モータの回転軸に固定し、この回転軸を同軸上に配置し
て、同一回転速度で回転させるようにしてもよい。これ
によって、光学素子15,15の相対的な回転位置関係
を容易に変更することができる。
【0093】次に、上記第4実施形態を応用した形態に
ついて説明する。図20はこの応用形態の制御系の構成
を示すブロック図で、図21〜図23はこの応用形態の
構成図である。
【0094】上記応用形態では、光学素子15は、上記
第4実施形態のものが用いられている。また、図21に
示すように、凹面鏡11と赤外線センサ12との間の光
軸L1上に集光レンズ111が介設されており、この集
光レンズ111及び凹面鏡11によって測定光学系が構
成されている。上記凹面鏡11及び集光レンズ111
は、光軸L1に沿って移動可能に配設されて、赤外線セ
ンサ12に対する相対距離が変更可能になっており、上
記測定光学系はズーム機能を有するものになっている。
図21〜図23は異なるズーミング状態を示すもので、
図21はミドル状態を示し、図22はテレ状態を示し、
図23はワイド状態を示している。これによって、上記
測定光学系は、集束する放射エネルギーが放射される測
定対象上の面積、すなわち測定領域の大きさを変更する
ことができる。
【0095】図20において、相対位置変更部51は、
光学素子15,15の相対的な回転位置関係を変更さ
せ、その変更した状態で固定するものである。ズーム駆
動部52は、上記凹面鏡11及び集光レンズ111を移
動させることによって、凹面鏡11及び集光レンズ11
1の赤外線センサ12に対する相対距離を変更させるも
のである。
【0096】制御部25は、上記ズーム駆動部52に制
御信号を出力し、凹面鏡11及び集光レンズ111を移
動させて測定対象の測定領域の大きさを制御するととも
に、この測定領域の大きさに連動して上記相対位置変更
部51に制御信号を出力して光学素子15,15の相対
的な回転位置関係を制御するものである。
【0097】このような構成により、測定光学系のズー
ミング動作に連動して光学素子15,15の相対的な回
転位置関係を変更することによって、測定対象の測定領
域の大きさに応じてリング光の半径を変更できる。従っ
て、ズーミング動作により測定領域の大きさが変更され
ても、その測定領域の輪郭を正確に表示することができ
る。
【0098】なお、上記各実施形態では、本発明の照準
装置を放射温度計に適用しているが、測定対象を遠隔測
定する距離計や輝度計などの計測装置、あるいは照準装
置を必要とする各種光学機器にも適用可能である。
【0099】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1の発明に
よれば、照準用光学系の光軸に臨んで配置され、回転中
心が回転駆動手段の回転軸に取り付けられ、回転によっ
て集束可視光の方向を照準用光学系の光軸を中心にして
連続的に屈曲させる光学素子を備え、上記光学素子は、
上記照準用光学系の光軸が通過する領域の一部に形成さ
れた非屈曲部を有し、この非屈曲部によって集束可視光
を上記照準用光学系の光軸に沿って進行させるようにし
たので、測定対象上に、測定領域の輪郭を示すリング状
の照射像と測定中心を示すスポット状の照射像とを形成
することができ、これによって測定領域全体及びその中
心を同時に確認することができる。従って、放射温度計
の光軸合わせを正確に行うことができる。
【0100】また、請求項2の発明によれば、光学素子
を回転させる回転モードと非屈曲部が照準用光学系の光
軸上に位置する状態で停止させる停止モードとを切り換
えるようにしたので、例えば測定対象が近距離にある場
合には、測定領域の輪郭を示すリング状の照射像及び測
定中心を示すスポット状の照射像を形成することによ
り、より正確に測定領域を確認することができる。ま
た、測定対象が遠距離にある場合には、スポット状の照
射像のみを形成することにより、集束可視光を測定対象
まで到達させることができる。
【0101】また、請求項3の発明によれば、回転によ
って集束可視光の方向を照準用光学系の光軸を中心にし
て連続的に第1の角度で屈曲させる光学素子は、照準用
光学系の光軸が通過する領域の一部に形成された屈曲部
を有し、この屈曲部によって集束可視光の方向を第1の
角度と異なる第2の角度で屈曲させるようにしたので、
測定対象上にリング状の照射像を同心状に形成すること
ができ、これによって、照射像の確認を容易に行うこと
ができる。
【0102】また、請求項6の発明によれば、一体的に
回転することによって集束可視光の方向を照準用光学系
の光軸を中心にして連続的に屈曲させる第1、第2の光
学プリズムと、この第1の光学プリズムと第2の光学プ
リズムとの相対的な回転位置を変更する相対回転位置変
更手段とを備えるようにしたので、第1の光学プリズム
と第2の光学プリズムとの相対的な回転位置を変更する
ことによって、測定対象上に形成するリング状の照射像
の大きさを変更することができ、これによって異なる大
きさの測定領域に対応することができる。
【0103】また、測定光学系がズーミング機能を有す
る場合には、測定光学系のズーミングによって測定対象
の測定領域が変化するのに応じて、照射像の大きさを変
化させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明が適用される放射温度計の基本構成を説
明するための構成図である。
【図2】光学素子の形状を示す図1の一部拡大図であ
る。
【図3】光学素子の形状を示す斜視図である。
【図4】測定器本体の内部構成を示す図8の一部破断図
である。
【図5】上記放射温度計から出射されるビーム光を模式
的に示す図である。
【図6】発光部及びモータの制御系を示すブロック図で
ある。
【図7】モータの駆動信号、光学素子の検出信号及び発
光部の駆動信号を示すタイミングチャートである。
【図8】本発明が適用される放射温度計の計測器本体の
側面図である。
【図9】同計測器本体の前面図である。
【図10】同計測器本体の背面図である。
【図11】本発明が適用される放射温度計の第1実施形
態の光学素子の形状を示す斜視図である。
【図12】同第1実施形態のモータの制御系を示すブロ
ック図である。
【図13】3個の貫通孔が同一円周上に形成された光学
素子を回転させたときの測定対象上の照射像を模式的に
示す図である。
【図14】本発明が適用される放射温度計の第2実施形
態の光学素子の形状を示す断面図である。
【図15】光学素子の形状を示す斜視図で、光学素子を
回転させたときの測定対象上の照射像を模式的に示して
いる。
【図16】(a)(b)(c)(d)(e)は光学素子
の回転に伴って変化するビーム光の進行方向を説明する
図である。
【図17】本発明が適用される放射温度計の第3実施形
態の構成図である。
【図18】同第3実施形態の光学素子の形状を示す図1
7の一部拡大図である。
【図19】(a)(b)は本発明が適用される放射温度
計の第4実施形態の光学素子を示す構成図である。
【図20】同第4実施形態を応用した形態の制御系の構
成を示すブロック図である。
【図21】同応用形態の構成図で、ミドル状態を示して
いる。
【図22】同応用形態の構成図で、テレ状態を示してい
る。
【図23】同応用形態の構成図で、ワイド状態を示して
いる。
【符号の説明】
2 モード設定スイッチ 11 凹面鏡(測定光学系) 111 集光レンズ(測定光学系) 12 赤外線センサ(検出手段) 13 発光部 13a ビーム光 14 集光レンズ(照準用光学系) 15, 光学素子 151 貫通孔 152 遮断部 153a,153b,153c,153d 凹部 16 モータ(駆動手段) 16a 回転軸 17,18 反射ミラー(照準用光学系) 21 回転センサ 22 回転量検出部 23 モータ駆動部 24 発光駆動部 25 制御部 31 LED 32 フォトダイオード 33 LED駆動部 34 位置検出部 51 相対位置変更部 52 ズーム駆動部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 北川 栄司 大阪市中央区安土町二丁目3番13号 大 阪国際ビル ミノルタ株式会社内 (56)参考文献 特開 昭56−166435(JP,A) 実開 昭55−36327(JP,U) 実開 平6−35910(JP,U) 米国特許5368392(US,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01J 5/00 - 5/62 G01J 1/00 - 1/60 G01C 15/00 - 15/14 G02B 23/00 - 23/22

Claims (7)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測定対象からその温度に応じて放射され
    る放射エネルギーを集束する測定光学系と、集束された
    上記放射エネルギーを検出する検出手段とを備え、上記
    測定対象の表面温度を測定する放射温度計において、集
    束された可視光を出力する発光手段と、この発光手段か
    らの上記集束可視光を上記測定光学系の光軸に沿って上
    記測定対象に導く照準用光学系と、この照準用光学系の
    光軸近傍に配置された回転軸を有する回転駆動手段と、
    上記照準用光学系の光軸に臨んで配置され、回転中心が
    上記回転軸に取り付けられ、回転によって上記集束可視
    光の方向を上記照準用光学系の光軸を中心にして連続的
    に屈曲させる光学素子とを備え、上記光学素子は、上記
    照準用光学系の光軸が通過する領域の一部に形成された
    非屈曲部を有し、この非屈曲部は、上記集束可視光を上
    記照準用光学系の光軸に沿って進行させるものであるこ
    とを特徴とする放射温度計の照準装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の放射温度計の照準装置に
    おいて、上記非屈曲部が上記照準用光学系の光軸上に位
    置する状態で上記光学素子の回転を停止させる駆動制御
    手段と、上記光学素子を回転させる回転モードと上記位
    置で上記光学素子の回転を停止させる停止モードとを切
    り換えるモード切換手段とを備えたことを特徴とする放
    射温度計の照準装置。
  3. 【請求項3】 測定対象からその温度に応じて放射され
    る放射エネルギーを集束する測定光学系と、集束された
    上記放射エネルギーを検出する検出手段とを備え、上記
    測定対象の表面温度を測定する放射温度計において、集
    束された可視光を出力する発光手段と、この発光手段か
    らの上記集束可視光を上記測定光学系の光軸に沿って上
    記測定対象に導く照準用光学系と、この照準用光学系の
    光軸近傍に配置された回転軸を有する回転駆動手段と、
    上記照準用光学系の光軸に臨んで配置され、回転中心が
    上記回転軸に取り付けられ、回転によって上記集束可視
    光の方向を上記照準用光学系の光軸を中心にして連続的
    に第1の角度で屈曲させる光学素子とを備え、上記光学
    素子は、上記照準用光学系の光軸が通過する領域の一部
    に形成された屈曲部を有し、この屈曲部は、上記集束可
    視光の方向を上記第1の角度と異なる第2の角度で屈曲
    させるものであることを特徴とする放射温度計の照準装
    置。
  4. 【請求項4】 上記回転軸は、上記照準用光学系の光軸
    と平行に配置され、上記光学素子は、互いに対向する主
    面を有し、両主面が相対的に一方向に傾斜してなる光学
    プリズムからなることを特徴する請求項1〜3のいずれ
    かに記載の放射温度計の照準装置。
  5. 【請求項5】 上記光学素子は、上記回転軸の直交面に
    対して傾斜した反射面を有する反射ミラーからなること
    を特徴する請求項1〜3のいずれかに記載の放射温度計
    の照準装置。
  6. 【請求項6】 測定対象からその温度に応じて放射され
    る放射エネルギーを集束する測定光学系と、集束された
    上記放射エネルギーを検出する検出手段とを備え、上記
    測定対象の表面温度を測定する放射温度計において、集
    束された可視光を出力する発光手段と、この発光手段か
    らの上記集束可視光を上記測定光学系の光軸に沿って上
    記測定対象に導く照準用光学系と、この照準用光学系の
    光軸近傍に配置された当該光軸に平行な回転軸を有する
    回転駆動手段と、上記照準用光学系の光軸に臨んで配置
    され、回転中心が上記回転軸に取り付けられ、一体的に
    回転することによって上記集束可視光の方向を上記照準
    用光学系の光軸を中心にして連続的に屈曲させる第1、
    第2の光学プリズムと、この第1の光学プリズムと第2
    の光学プリズムとの相対的な回転位置を変更する相対回
    転位置変更手段とを備え、上記第1、第2の光学プリズ
    ムは、それぞれ、互いに対向する主面を有し、両主面は
    相対的に一方向に傾斜してなることを特徴とする放射温
    度計の照準装置。
  7. 【請求項7】 上記測定光学系は、上記集束する放射エ
    ネルギーの放射面積を変更するズーミング機能を有する
    ことを特徴する請求項6記載の放射温度計の照準装置。
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Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19528590C3 (de) * 1995-08-03 2003-11-27 Raytek Gmbh Vorrichtung zur Temperaturmessung
US6290389B2 (en) * 1995-08-03 2001-09-18 Raytek Gmbh Device for temperature measurement
FR2773214B1 (fr) * 1996-12-11 2002-05-31 Omega Engineering Procede et dispositif pour la mesure par infrarouge de la temperature d'une surface
JP4159153B2 (ja) * 1998-12-03 2008-10-01 株式会社トプコン 回転レーザ装置及び受光装置
US6377400B1 (en) * 1999-07-02 2002-04-23 Milton Bernard Hollander Laser sighting beam modification for measuring or treatment instrument
US6332694B1 (en) * 2000-02-24 2001-12-25 Lin Chih-Hsiung Laser projection device for projecting orthogonal laser-lines
JP2002163239A (ja) * 2000-11-22 2002-06-07 Toshiba Corp マルチプロセッサシステムおよびその制御方法
EP1386481A1 (en) * 2001-05-07 2004-02-04 Flir Systems AB Infrared camera sensitive for infrared radiation
AUPR725301A0 (en) * 2001-08-24 2001-09-20 Jones, Darryl John Lighting apparatus
US7056012B2 (en) * 2002-10-03 2006-06-06 Extech Instruments Corporation Multimeter with non-contact temperature measurement
US6763598B1 (en) * 2003-05-06 2004-07-20 Sean & Stephen Corp. Laser level with lens switching mechanism
DE10335207A1 (de) * 2003-07-03 2005-02-03 Optris Gmbh Visiereinrichtung und Vorrichtung mit einer kontaktlos oder kontaktbehaftet einsetzbaren Mess-, Arbeits- und/oder Wirkeinrichtung
DK1498709T3 (da) * 2003-07-14 2012-02-13 White Box Inc Lasersystem
DE10336097B3 (de) * 2003-08-06 2005-03-10 Testo Ag Visiereinrichtung für ein Radiometer sowie Verfahren
WO2005015142A2 (de) * 2003-08-06 2005-02-17 Testo Ag Radiometer, visiereinrichtung für ein ir-gerät sowie verfahren
US20050064583A1 (en) * 2003-09-24 2005-03-24 Frank Caruso Temperature controlled illuminator for treating biological samples
US7611278B2 (en) * 2003-12-02 2009-11-03 White Box, Inc. Infrared thermometers
TWI233983B (en) * 2004-01-20 2005-06-11 Asia Optical Co Inc Level device
US8110803B2 (en) * 2004-12-01 2012-02-07 White Box, Inc. Sighting system and method
JP2010536045A (ja) * 2007-08-14 2010-11-25 テスト アクチエンゲゼルシャフト 赤外線温度測定機器
JP2009192873A (ja) * 2008-02-15 2009-08-27 Seiko Epson Corp 光源装置、画像表示装置及びモニタ装置
CN101832507B (zh) * 2009-03-11 2012-07-25 富士迈半导体精密工业(上海)有限公司 照明装置
CN101852348B (zh) * 2009-04-03 2013-04-24 富士迈半导体精密工业(上海)有限公司 照明系统
JP5090483B2 (ja) 2010-02-18 2012-12-05 粟井 志壽子 温度測定用鏡及び鏡構造
US8307562B2 (en) * 2010-04-29 2012-11-13 Black & Decker Inc. Laser line generator having three intersecting light planes
US9303846B2 (en) 2013-05-31 2016-04-05 GE Lighting Solutions, LLC Directional lamp with adjustable beam spread
US10126120B2 (en) * 2016-10-06 2018-11-13 Southern Research Institute Determining angular position from index of refraction offset
WO2018068248A1 (en) 2016-10-13 2018-04-19 Stanley Black & Decker, Inc. Power tool

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5536327A (en) 1978-08-31 1980-03-13 Shinmasuzawa Kogyo Kk Cocoon treating device
JPS5722521A (en) * 1980-07-15 1982-02-05 Horiba Ltd Confirming method for radiation or irradiated area
US4315150A (en) 1980-07-24 1982-02-09 Telatemp Corporation Targeted infrared thermometer
US4494881A (en) 1982-03-10 1985-01-22 Everest Charles E Intra-optical light beam sighting system for an infrared thermometer
DE3213955A1 (de) * 1982-04-16 1982-10-14 Dr. Herbert Specht VisIR-Messtechnik Handels GmbH, 6204 Taunusstein Laserstrahl-visiereinrichtung zur kennzeichnung von lage und durchmesser des messflecks fuer strahlungsthermometer mit fokaler oder afokaler linsen- und spiegeloptik
JPS6051654A (ja) 1983-08-29 1985-03-23 鈴木 篁 窯業原料の脱鉄精製法
DE3607679A1 (de) * 1985-05-07 1986-11-13 VEB Meßgerätewerk "Erich Weinert" Magdeburg Betrieb des Kombinates VEB EAW Berlin-Treptow "Friedrich Ebert", DDR 3011 Magdeburg Parallaxefreie visiereinrichtung fuer ein pyrometer
JPS6212848A (ja) * 1985-07-10 1987-01-21 Mitsubishi Electric Corp 検査装置
DE3710486C1 (de) * 1987-03-30 1988-08-04 Testoterm Messtechnik Gmbh Co Vorrichtung zur Messfleckmarkierung bei einem Strahlungsmessgeraet
DE3800121A1 (de) 1988-01-05 1989-07-13 Hofmann Werkstatt Technik Verfahren und vorrichtung zur bestimmung einer bezugswinkellage fuer eine winkelmessung an einem gegenstand
JPH081460Y2 (ja) * 1990-05-23 1996-01-17 株式会社堀場製作所 放射温度計
US5368392B1 (en) 1993-09-17 1998-11-03 Omega Engineering Method and apparatus for measuring temperature using infrared techniques
US5626424A (en) * 1994-07-21 1997-05-06 Raytek Subsidiary, Inc. Dual light source aiming mechanism and improved actuation system for hand-held temperature measuring unit

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