JPH0814524B2 - ヘッドランプの光軸検査方法 - Google Patents

ヘッドランプの光軸検査方法

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JPH0814524B2
JPH0814524B2 JP24056289A JP24056289A JPH0814524B2 JP H0814524 B2 JPH0814524 B2 JP H0814524B2 JP 24056289 A JP24056289 A JP 24056289A JP 24056289 A JP24056289 A JP 24056289A JP H0814524 B2 JPH0814524 B2 JP H0814524B2
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正一 大森
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、車両のヘッドランプの光軸検査方法に関す
る。
(従来の技術) 自動車の組立ラインにおいては、最終検査工程で左右
各ヘッドランプの光軸検査が行なわれており、この光軸
検査においては、テストスクリーン上に左右各ヘッドラ
ンプの光を照射し、第6図に示すように、各配光パター
ン上に出現する水平部1aと傾斜部1bとがカットオフ点1c
で交叉し、配光パターンにおける明部と暗部との境界線
となるカットオフライン1が、車種毎にテストスクリー
ン上に表示された所定の基準カットオフラインSLより下
の合格範囲内に入るように、各ヘッドランプの向きを調
整している。
かかる光軸検査に関する第1の方法として、例えば特
開昭59−24232号公報には、テストスクリーン上に照射
された配光パターンを、ビジコン等の撮像管、CCD(Cha
rge CoupledDevice)型やMOS(Metal Oxide Semiconduc
tor)型の固体素子カメラ等で撮影し、この映像を画像
処理して所定光度以上の領域の重心位置を求め、次い
で、この重心位置からカットオフラインの推定線を求
め、前記重心位置及び推定線が所定の合格範囲に入るよ
うにヘッドランプの向きを調整する方法が開示されてい
る。
また、第2の方法として、映像中の所定輝度以上の画
素を画像処理して、それらの重心位置である最輝点と、
画像全体を微分処理してカットオフライン及びカットオ
フ点とを求めると共に、前記最輝点とカットオフ点との
相対距離を求めておき、前記カットオフラインが所定の
規格範囲外にあるときには、ヘッドランプの位置を調整
し、この調整によって移動した新たな最輝点を前記と同
様に求め、この新たな最輝点と前記相対距離とによって
求まるカットオフラインの仮想線が所定の規格範囲内に
入るようにヘッドランプの向きを調整する方法が、特開
昭63−42443号公報に開示されている。
(発明が解決しようとする課題) ところで、前記第1の方法は、同一車種では、配光パ
ターン中の高照度部分における重心位置とカットオフ点
とが位置的な相関関係を有しているとして、また、第2
の方法は、カットオフラインのカットオフ点と前記重心
位置との相対距離は、ヘッドランプの光軸を上下、左右
に調整しても変化しない一定値であるとして夫々光軸調
整を行っており、いずれの方法においても、実際にカッ
トオフラインを求めながらヘッドランプの向きを調整す
るものではなかった。
しかし、スクリーンの配置誤差やヘッドランプの組付
け誤差等の種々の誤差により、カットオフラインと重心
位置とが常に一定の位置関係にはなく、配光パターン中
の高照度部分における重心位置を基準としてヘッドラン
プの位置調整を行うとカットオフラインが所定の規格範
囲内に納まらず、調整精度が不良となる虞れがあり、必
ずしも満足すべきものではなかった。更に、第2の方法
のように、画像全体を微分処理すると時間がかかって、
組立ラインの移動速度に合わなくなるという問題もあっ
た。
本発明は、上記の点に鑑みてなされたもので、ヘッド
ランプのカットオフラインを実測しながら、迅速、且
つ、高精度にヘッドランプの光軸を調整することが可能
なヘッドランプの光軸調整方法を提供することを目的と
する。
(課題を解決するための手段) 本発明のヘッドランプの光軸検査方法によれば上記目
的を達成するため、車両前方所定位置に設置したテスト
スクリーン上に照射されたヘッドランプの配光パターン
の画像信号を画像処理装置に入力し、各画素の画像信号
から所定照度以上となる高照度ゾーンの重心位置を求
め、次に該重心位置から左右方向へ、予め設定した水平
距離にある各垂直線上の各画素の画像信号値を当該垂直
線に沿って微分処理し、該微分処理による微分値が最大
となる一方の垂直線上の点において水平線を、他方の垂
直線上の点において所定の傾きを有する傾斜線を夫々引
き、これによって求まる両線の交点を基準としてヘッド
ランプの光軸を調整する構成としたものである。
(作用) 高照度ゾーンの重心位置から定められる各垂直線に沿
って画像信号値を微分処理して得られる微分値が最大と
なる点は、カットオフラインの水平部と傾斜部の位置で
ある。したがって、求めた微分値が最大の点からの所定
の水平線と傾斜線を引いて得られる交点はカットオフ点
となる。このカットオフ点に基づいてヘッドランプの向
きを調整するので、高い精度で光軸が調整される。
(実施例) 以下、本発明の一実施例を第1図乃至第5図に基づい
て詳細に説明する。
本発明方法を実施する光軸調整装置は、第2図に示す
ように、検査ラインに搬入された自転車10の前方所定位
置に設置されるテストスクリーン11(右用),12(左
用)、自動車10の左右近傍に設置され、各スクリーン1
1,12上に照射された左右のヘッドランプ13のロービーム
による各配光パターンを撮影するCCD型固体カメラ(以
下、単に「カメラ」という)14,15、カメラ14,15と接続
され、入力される各配光パターンの映像信号を画像処理
してカットオフ点1c等を求める画像処理装置16、カメラ
14,15で撮影された生画像や画像処理装置16で画像処理
された処理結果を切替表示するモニタテレビ17及びカッ
トオフ点1cやこのカットオフ点1cが位置すべき車種毎の
合格範囲Aを表示するディスプレイ18を備えている。
画像処理装置16は、図示しない前処理部、画像メモリ
部及び後処理部によって構成されている。前処理部は、
各カメラ14,15が撮影した各配光パターンの映像信号
を、明暗によって所定の照度段階(例えば64階)にA/D
変換し、2値化処理により、所定数い(例えば250×24
0)の画素として画像メモリ部に格納する。更に、前処
理部においては、2値化処理した画素に、判別計算法、
例えば、特徴抽出法により輪郭線コード化処理を施し、
抽出された高照度ゾーンの輪郭線から、積分処理により
第3図に示す高照度ゾーンZの重心位置Gを求める。後
処理部は、前処理部で求められた重心位置Gの位置に基
づき、重心位置Gから左右方向へ所定水平距離(=a,
b)にある各垂直線上の各画素の画像信号を各垂直線に
沿って上方へ微分処理し、微分値が最大となる点CP1,C
P2を求め、両点CP1,CP2からカットオフ点1cを求める。
これらの点CP1,CP2はカットオフライン1の水平部1a及
び傾斜部1bの位置に相当する。このようにして求められ
たカットオフ点cは、パソコン19にデータ送信されてデ
ィスプレイ18に表示される。ここで、重心位置Gからの
水平距離(=a,b)、傾斜部1bの傾きは、検査対象とな
るヘッドランプ13の種類毎に定まり、ディスプレイ18に
表示される車種毎の合格範囲A及び制御プログラムと共
に予めフロッピディスク11に登録されている。そして、
パソコン19は、システムを立上げると、フロッピディス
ク20から上記各データを読み込むと共に、画像処理装置
16を起動させる。尚、21は、画像処理された前記左右各
配光パターンの左右いずれか一方を選択してモニタテレ
ビ17やディスプレイ18に選択表示させる等の操作を行う
操作パネルである。
本発明においては、上記構成の画像処理装置16が、第
1図に示すフローチャートに従って以下のように画像処
理し、第3図に示す高照度ゾーンZの重心位置Gとカッ
トオフ点1cとを求める。尚、テストスクリーン11,12上
の各配光パターンは、何れも同様に画像処理されるの
で、以下の説明ではテストスクリーン11上の配光パター
ンのみについて説明し、テストスクリーン12については
省略する。
先ず、配光パターンの映像信号を、前処理部に入力す
る(ステップ30)。この入力操作は、操作パネル21にお
けるキー操作によって行われ、テストスクリーン11上の
配光パターンに関する映像信号がカメラ14から画像処理
装置16に入力される。
次いで、高照度ゾーンZの重心位置Gを求める(ステ
ップ32)。ステップ32では、前処理部が映像信号のA/D
変換、2値化処理及び輪郭線コード化処理等により重心
位置Gを求める。ここにおいて、映像信号を2値化処理
すると、画像を構成する画素が、明部を1、暗部を0と
する、例えば第4図に示す明暗2値化処理図が得られ
る。輪郭線コード化処理は、この2値化処理図に基づい
て、第5図に示すように、スタート位置をPとして、2
値化処理図にコード化処理を施して1〜4の数字で形成
される輪郭線Lを抽出する。図中、1は右、2は下、3
は左、4は上に夫々輪郭があることを示している。この
1〜4の数字で形成された輪郭線Lで囲まれた部分を積
分処理して、高照度ゾーンZの重心位置Gを求める。
次に、上記重心位置Gから第3図に示す水平距離(=
a,b)を定める(ステップ34)。この水平距離は、ヘッ
ドランプ13の種類が同一であれば異なることはないの
で、種類毎に予め設定されている。
しかる後、カットオフライン1の水平部1aの位置を検
出する(ステップ36)。水平部1aの検出は、第3図に示
す重心位置Gから左方へ水平距離aの垂直線上に存在す
る各画素の画像信号値を、この垂直線に沿って上方へ微
分処理することによって行われる。このとき、配光パタ
ーンの明るさが最も急激に変化している箇所が水平部1a
であるから、本発明方法においては、微分フィルタ計算
による微分値の最も大きい点CP1となる。但し、明るさ
が微妙に変化している箇所を微分処理するときには、通
常の数倍の範囲を一度に微分処理することにより処理結
果の安定化を図った。
次に、重心位置Gからカットオフライン1の傾斜部1b
の位置を検出する(ステップ38)。傾斜部1bの検出は、
第3図に示す重心位置Gから右方へ水平距離bの位置で
同様に微分処理して行い、微分値の最も大きい点CP2
して求める。上記のように、予め水平距離(=a,b)を
定めて微分処理を行うことにより、前記両微分処理に要
する時間は約0.1秒台となり、画素全体の画像信号値を
微分処理する場合(約2秒)に比べて飛躍的に処理速度
が早まった。
しかる後、カットオフ点1cを求める(ステップ40)。
このステップ40では、前記両微分処理によって求めた点
CP1の位置で水平線を、また点CP2の位置でヘッドランプ
13の種類毎に定まる所定傾斜角度の傾斜線を、夫々引い
てその交点であるカットオフ点1cを求める。
次いで、求めたカットオフ点1cをディスプレイ18に表
示する(ステップ42)。このとき、ディスプレイ18には
合格範囲Aも表示される。以上のようにして画像処理装
置16は、テストスクリーン上の配光パターンにおけるカ
ットオフ点1cを検出する。
そして、検査ラインにおいては、ディスプレイ18に表
示されたカットオフ点1cと検査上の合格範囲Aとに基づ
いて、カットオフ点1cが合格範囲A内に入るようにヘッ
ドランプ13の向きを調整する。そして、ヘッドランプ13
の調整後、再度上記各ステップを繰り返し、調整後のカ
ットオフ点1cが合格範囲A内に入ったか否かをディスプ
レイ18上の表示で確認する。このようにして、ヘッドラ
ンプ13の調整によってカットオフ点1cが合格範囲A内に
入ったことを確認して検査を終了する。尚、依然として
カットオフ点1cが合格範囲A内に入らないときには、再
度この手順を繰り返す。
上記各ステップによって車体両側に配置した各ヘッド
ランプ13の光軸の検査が行われ、各ヘッドランプ13は、
そのカットオフ点1cが合格範囲A内に入るように調整さ
れる。
(発明の効果) 以下の説明で明らかなように本発明のヘッドランプの
光軸検査方法によれば、車両前方所定位置に設置したテ
ストスクリーン上に照射されたヘッドランプの配光パタ
ーンの画像信号を画像処理装置に入力し、各画素の信号
から所定照度以上となる高照度ゾーンの重心位置を求
め、次に該重心位置から左右方向へ、予め設定した水平
距離にある各垂直線上の各画素の画像信号値を当該垂直
線に沿って微分処理し、該微分処理による微分値が最大
となる一方の垂直線上の点において水平線を、他方の垂
直線上の点において所定の傾きを有する傾斜線を夫々引
き、これによって求まる両線の交点を基準としてヘッド
ランプの光軸を調整する構成としたので、光軸調整の精
度が飛躍的に向上するうえ、重心位置から左右方向に所
定水平距離の各垂直線に沿った画素のみを微分処理する
ため処理速度が速く、光軸調整の都度カットオフ点を求
めることが可能で、組立ラインの移動速度に支障がない
等、優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第5図は本発明の一実施例を示すもので、第
1図本発明のヘッドランプの光軸検査方法の要部を示す
フローチャート、第2図は当該光軸検査方法で使用する
機器類の配置図、第3図はカットオフラインと高照度ゾ
ーンとを示す分布図、第4図は配光パターンの映像信号
を2値化処理して得られる処理図、第5図は第4図を輪
郭線コード化処理して得られる処理図、第6図は従来の
光軸検査方法におけるカットオフラインと基準カットオ
フラインとの関係を示す説明図である。 1……カットオフライン、1a……水平部、1b……傾斜
部、1c……カットオフ点、11,12……テストスクリー
ン、13……ヘッドランプ、14,15……カメラ、16……画
像処理装置、18……ディスプレイ、CP1,CP2……微分値
の最大点。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】車両前方所定位置に設置したテストスクリ
    ーン上に照射されたヘッドランプの配光パターンの画像
    信号を画像処理装置に入力し、各画素の画像信号から所
    定照度以上となる高照度ゾーンの重心位置を求め、次に
    該重心位置から左右方向へ、予め設定した水平距離にあ
    る各垂直線上の各画素の画像信号値を当該垂直線に沿っ
    て微分処理し、該微分処理による微分値が最大となる一
    方の垂直線上の点において水平線を、他方の垂直線上の
    点において所定の傾きを有する傾斜線を夫々引き、これ
    によって求まる両線の交点を基準としてヘッドランプの
    光軸を調整することを特徴とするヘッドランプの光軸検
    査方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0792423B2 (ja) * 1990-05-21 1995-10-09 日産自動車株式会社 ヘッドライトの光軸調整方法
JP3015997B2 (ja) * 1993-12-28 2000-03-06 本田技研工業株式会社 ヘッドライトの光軸調整用計測装置及び光軸調整方法
JP3151592B2 (ja) * 1994-08-22 2001-04-03 本田技研工業株式会社 ヘッドライトの光軸調整方法
US5796473A (en) * 1995-03-20 1998-08-18 Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha Method of adjusting optical axis of headlight of vehicle
JP2006350478A (ja) * 2005-06-13 2006-12-28 Toshiba Corp 安全確保システム及びその制御方法
JP4838663B2 (ja) * 2006-08-10 2011-12-14 渡辺電機工業株式会社 機械的正対用のヘッドランプ中心点検出方法及びその装置
JP2011079359A (ja) * 2009-10-05 2011-04-21 Koito Mfg Co Ltd 配光パターンのエルボ点検出方法および検出装置
US9863843B2 (en) 2016-04-27 2018-01-09 Ford Global Technologies Llc High-volume, long-range headlamp aiming
CN108569189B (zh) * 2017-03-27 2023-05-05 常州星宇车灯股份有限公司 一种基于图像处理的车灯反射镜调整装置及方法

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