JPH08124819A - エッジクリーナ - Google Patents

エッジクリーナ

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JPH08124819A
JPH08124819A JP28755194A JP28755194A JPH08124819A JP H08124819 A JPH08124819 A JP H08124819A JP 28755194 A JP28755194 A JP 28755194A JP 28755194 A JP28755194 A JP 28755194A JP H08124819 A JPH08124819 A JP H08124819A
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JP
Japan
Prior art keywords
wafer
coating film
cutting tool
bite
edge
Prior art date
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Pending
Application number
JP28755194A
Other languages
English (en)
Inventor
Shiyouji Nohama
祥二 野浜
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP28755194A priority Critical patent/JPH08124819A/ja
Publication of JPH08124819A publication Critical patent/JPH08124819A/ja
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体製造工程におけるウエハへの回転塗布
処理の後に、ウエハ外周部の塗膜を除去する処理におい
て、確実に一定幅だけ形を崩さずに除去する。 【構成】 エッジクリーナの構成を、ウエハステージの
側部に配設されウエハWの径方向に移動自在となるよう
支持されたバイト20と、作動時にこのバイト20を移
動させ、このバイト20の刃先21をウエハW上の塗布
膜Mの外周に切込ませ前記一定幅分だけウエハWの中心
側に送るバイト駆動機構10とを備えた構成とし、機械
的加工により塗膜Mを除去するようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体製造工程におけ
るウエハへのSOGの回転塗布等の処理の後に、ウエハ
外周部の塗布膜を一定幅だけ除去するエッジクリーナに
関する。
【0002】
【従来の技術】半導体製造工程において、SOG(Spin
On Glass)やレジスト等のウエハへの塗布は、ウエハ
をウエハステージにより吸着して回転させつつ塗布材料
を滴下するいわゆる回転塗布処理により行なわれるのが
通常であり、この場合図6のように、回転塗布によりウ
エハWの外周部(エッジ部)まで広がった不要な塗布膜
Mを所定幅Lだけ除去する必要がある。そして従来、こ
の回転塗布後の塗布膜の除去を行なうエッジクリーナと
しては、ウエハを回転させつつ、ウエハステージの側部
に設けられたノズルから有機溶剤をウエハ外周部に射出
してウエハ外周部の塗布膜を溶かして除去する方式のも
のが使用されていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、このような
従来のエッジクリーナでは、塗布膜の材質や性状等に対
して、有機溶剤の種類や、射出量,射出角度といった射
出条件等を適宜設定変更しなければ、塗布膜の除去後の
端部形状や除去幅L等が変化して、適正な塗布膜の除去
が行なえなかった。すなわち、例えば有機溶剤として
は、IPA,エタノール,シクロヘキサン,酢酸ブチル
といったものがあり、これらを塗布膜の種類等に対して
適宜選択して使い分けなければならず、この選択が不適
当であると、例えば図5のように塗布膜Mの端部が盛り
上がった形状になってしまうことがあった。したがって
従来のエッジクリーナでは、塗布膜の種類等に応じて有
機溶剤の種類や射出条件をその都度変更する必要があり
作業性(生産性)が悪いという問題や、このようなめん
どうな条件設定を行なっても、除去幅Lや除去後の塗布
膜Mの端部形状がなかなか安定しないという問題があっ
た。
【0004】そこで本発明は、ウエハ外周部の塗膜を確
実に一定幅だけ形を崩さずに除去できるエッジクリーナ
を提供することを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のエッジクリーナは、半導体製造工程におい
て、ウエハステージに吸着され回転塗布が行なわれたウ
エハの外周部の塗布膜を一定幅だけ除去するエッジクリ
ーナであって、ウエハステージの側部に配設され少なく
とも前記ウエハの外周部において径方向に移動自在とな
るよう支持されたバイトと、作動時にこのバイトを移動
させ、このバイトの刃先を前記ウエハ上の塗布膜の外周
に切込ませ前記一定幅分だけウエハの中心側に送るバイ
ト駆動機構とを備えたことを特徴とする。
【0006】
【作用】本発明では、バイト駆動機構が、作動時にバイ
トの刃先をウエハ上の塗布膜の外周に切込ませ塗布膜を
除去すべき一定幅分だけウエハの中心側に送る。このた
め、同時にウエハステージを作動させウエハを回転させ
れば、旋盤による機械加工のように塗布膜の外周部を削
り出し一定幅だけ機械的に除去することができる。
【0007】
【実施例】実施例の構成 以下、本発明の実施例を図1乃至図4に基づいて説明す
る。この実施例のエッジクリーナは、図1,2に示す如
く、ウエハステージ1の側部に配設されたバイト駆動機
構10と、このバイト駆動機構10に支持駆動されるバ
イト20とを備える。ここで、ウエハステージ1は、駆
動支持軸2の上端に水平に固設された円板状のステージ
本体3を有し、このステージ本体3の上面に吸引用の溝
が複数形成され、これら溝内が駆動支持軸2を貫通する
吸引孔を介して図示省略した吸引手段により真空引きさ
れることにより、ステージ本体3の上面がウエハWを吸
着する真空式吸着面として機能するものである。また、
ステージ本体3の周囲には吸着されたウエハWを覆うス
ピンカップ4が配されて、塗布材料等の飛散が防止さ
れ、またウエハW周囲の気体の流れが良好なダウンフロ
ー(下降流)に保持されるようになっている。
【0008】バイト駆動機構10は、先端にバイト20
が取付けられるアーム11と、このアーム11の支持軸
12とを有し、内部に設けられたサーボモータ等のアク
チュエータにより支持軸12が水平回転しさらに昇降す
るものである。この場合、アーム11の長さや支持軸1
2の配置位置等は、アーム11の水平回転によりバイト
20がウエハWの外周部において径方向に移動するよう
に設定されている。そして、このバイト駆動機構10
は、例えば図示省略した制御装置により前記アクチュエ
ータが動作して、バイト20を予め設定されたとおりの
動作で移動させるものである。
【0009】すなわち、例えば本エッジクリーナの非作
動時(回転塗布等が行なわれる時)には、ウエハWの外
周から径方向外側に離れ、さらにウエハWの表面高さよ
りも上方に離れた退避位置にバイト20を保持し、塗布
膜Mの除去を行なう作動時には、アーム11を前記退避
位置から水平回転させてバイト20の刃先21を塗布膜
Mの外周位置に移動させた後、アーム11を下降させバ
イト20の下面をウエハWの表面と同高さまで移動させ
て、バイト20の刃先21をウエハW上の塗布膜の外周
に切込ませた後、さらにアーム11を水平回転させて塗
布膜Mを除去すべき一定幅分だけバイト20をウエハW
の中心側に送り込み、最後にバイト20を前記退避位置
に戻して停止するといった動作が予め設定されている。
なお、このバイト駆動機構10の動作によりバイト20
が塗布膜外周に切込まれるときには、例えば前記制御装
置の制御により駆動支持軸2が作動されてウエハWが回
転させられるようになっている。
【0010】バイト20は、この場合図1に示すよう
に、刃先21をウエハWの中心側に向けてバイト駆動機
構10のアーム11の先端に直角に取付けられたもの
で、刃先21につながるすくい面22が、塗布膜の切出
しクズがウエハWの外側に流れるような角度に形成され
ている。このバイト20は、少なくとも刃先の材質がテ
フロンあるいはポリプロピレン等の耐摩耗性,耐腐食性
等にすぐれ発塵性の少ない樹脂等により形成されてい
る。
【0011】実施例の動作 次に、上述したエッジクリーナにおける動作を説明す
る。以上の構成において、ウエハステージ1のステージ
本体3にウエハWが吸着され、SOG等の塗布材が滴下
されるとともにステージ本体3が高速で水平回転されて
回転塗布が終了すると、バイト20を前記退避位置に保
持していたバイト駆動機構10が作動する。バイト駆動
機構10は、アーム11を前記退避位置から水平回転さ
せてバイト20の刃先21を塗布膜Mの外周位置に移動
させた後、アーム11を下降させバイト20の下面をウ
エハWの表面と同高さまで移動させて、バイト20の刃
先21をウエハW上の塗布膜Mの外周に切込ませた後、
さらにアーム11を水平回転させて塗布膜Mを除去すべ
き一定幅分だけバイト20をウエハWの中心側に送り込
む。一方、ウエハステージ1の駆動支持軸2はこの際作
動してウエハWを回転させる。
【0012】このためウエハW上の塗布膜Mは、図3に
示す如く旋盤による機械加工のようにバイト20により
外周部を機械的に削り取られ、図4又は図6に示すよう
なきれいな端面形状に確実に仕上がる。この際、削り出
される塗布膜Mの削りクズM1は、図3に示すようにバ
イト20のすくい面22に沿ってウエハWの外側に流れ
て排出される。なおこの切削動作の条件は、ウエハWの
回転数,バイト20の刃先形状,バイト20の送り速度
等の機械的なパラメータだけであり、調整が容易である
とともに、塗布膜の性状等にほとんど影響されない。
【0013】したがって、この実施例のエッジクリーナ
によれば、塗布膜Mの性状等によらず、塗布膜Mの外周
部を確実に一定幅だけ形を崩さずに除去することがで
き、結果として半導体製造工程の生産性向上,歩留り向
上等に貢献できる。また、有機溶剤を使用しないため、
生産コストを低減し、環境への悪影響を回避し、さらに
安全性を確保できるという効果もある。
【0014】他の実施例 なお、本発明は上記実施例に限られず各種の態様があり
得る。例えばバイトの刃先形状は、塗布膜MをウエハW
の外側に掻き出せるものであれば、単なるヘラ状のもの
であってもよい。またバイト駆動機構は、バイトを単に
ウエハの径方向に進退させるものであってもよい。
【0015】
【発明の効果】本発明によれば、ウエハ上の塗布膜の性
状等によらず、塗布膜の外周部を確実に一定幅だけ形を
崩さずに除去することができ、結果として半導体製造工
程の生産性向上,歩留り向上等に貢献できる。また、有
機溶剤を使用しないため、生産コストを低減し、環境へ
の悪影響を回避し、さらに安全性を確保できるという効
果もある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例であるエッジクリーナを示す上
面図である。
【図2】本発明の実施例であるエッジクリーナを示す側
面図である。
【図3】本発明の実施例であるエッジクリーナの動作を
示す上面図である。
【図4】本発明の実施例であるエッジクリーナの動作を
示す側面図である。
【図5】従来のエッジクリーナによりウエハ外周部の塗
布膜を除去した状態を示す側面図である。
【図6】エッジクリーナによりウエハ外周部の塗布膜を
除去した理想的状態を示す側面図である。
【符号の説明】
1 ウエハステージ 10 バイト駆動機構 20 バイト W ウエハ M 塗布膜

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体製造工程において、ウエハステー
    ジに吸着され回転塗布が行なわれたウエハの外周部の塗
    布膜を一定幅だけ除去するエッジクリーナであって、 ウエハステージの側部に配設され少なくとも前記ウエハ
    の外周部において径方向に移動自在となるよう支持され
    たバイトと、作動時にこのバイトを移動させ、このバイ
    トの刃先を前記ウエハ上の塗布膜の外周に切込ませ前記
    一定幅分だけウエハの中心側に送るバイト駆動機構とを
    備えたことを特徴とするエッジクリーナ。
JP28755194A 1994-10-26 1994-10-26 エッジクリーナ Pending JPH08124819A (ja)

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JP28755194A JPH08124819A (ja) 1994-10-26 1994-10-26 エッジクリーナ

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JP28755194A JPH08124819A (ja) 1994-10-26 1994-10-26 エッジクリーナ

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JPH08124819A true JPH08124819A (ja) 1996-05-17

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ID=17718811

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JP28755194A Pending JPH08124819A (ja) 1994-10-26 1994-10-26 エッジクリーナ

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100374634B1 (ko) * 2000-09-25 2003-03-04 삼성전자주식회사 웨이퍼 에지부의 포토레지스트 제거 장치
CN112097656A (zh) * 2020-11-09 2020-12-18 西安奕斯伟硅片技术有限公司 晶圆背封薄膜边缘去除宽度的检测系统及检测方法

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