JPH08111296A - 固体イメージセンサ付ｘ線診断装置及び該装置の作動方法 - Google Patents
固体イメージセンサ付ｘ線診断装置及び該装置の作動方法Info
- Publication number
- JPH08111296A JPH08111296A JP7255312A JP25531295A JPH08111296A JP H08111296 A JPH08111296 A JP H08111296A JP 7255312 A JP7255312 A JP 7255312A JP 25531295 A JP25531295 A JP 25531295A JP H08111296 A JPH08111296 A JP H08111296A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- pulse
- read
- image sensor
- line
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000007787 solid Substances 0.000 title abstract 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims abstract description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 3
- 239000012491 analyte Substances 0.000 claims description 2
- 230000035699 permeability Effects 0.000 claims description 2
- 238000002601 radiography Methods 0.000 claims description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 4
- 230000004907 flux Effects 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 238000004980 dosimetry Methods 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000009191 jumping Effects 0.000 description 1
- 230000002045 lasting effect Effects 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/36—Temperature of anode; Brightness of image power
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/30—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof for generating image signals from X-rays
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/32—Transforming X-rays
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/38—Exposure time
- H05G1/42—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube
- H05G1/44—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube in which the switching instant is determined by measuring the amount of radiation directly
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/60—Circuit arrangements for obtaining a series of X-ray photographs or for X-ray cinematography
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 固体イメージセンサにて付加的構成素子なし
で最適Ｘ線量の簡単かつ迅速な検出を可能にし、それに
よりビーム路中で付加損失の生じないＸ線診断装置を提
供すること。 【構成】 固体イメージセンサに接続されていてＸ線量
に依存して高電圧発生器（２）の制御を行うための制御
装置（８）を有し、ここにおいて、Ｘ線撮影のための第
１の短いＸ線パルスが形成され、それに引き続く測定値
検出のため固体イメージセンサ（５）の第１の（最初
の）読出が行われるようにされており、当該測定値は透
過性を求めるべく計算回路（１９）に供給されること。
で最適Ｘ線量の簡単かつ迅速な検出を可能にし、それに
よりビーム路中で付加損失の生じないＸ線診断装置を提
供すること。 【構成】 固体イメージセンサに接続されていてＸ線量
に依存して高電圧発生器（２）の制御を行うための制御
装置（８）を有し、ここにおいて、Ｘ線撮影のための第
１の短いＸ線パルスが形成され、それに引き続く測定値
検出のため固体イメージセンサ（５）の第１の（最初
の）読出が行われるようにされており、当該測定値は透
過性を求めるべく計算回路（１９）に供給されること。
Description
【０００１】
【発明が属する分野】本発明はＸ線ビーム束の発生のた
めのＸ線管用の高電圧発生器と、Ｘ線ビーム束内に配置
された固体イメージセンサとを有し、該固体イメージセ
ンサはマトリクス状に配置された光電的パイクセルエレ
メントを備え、更に前記固体イメージセンサに接続され
ていてＸ線量に依存して高電圧発生器の制御を行うため
の制御装置を有する固体イメージセンサ付Ｘ線診断装置
に関する。
めのＸ線管用の高電圧発生器と、Ｘ線ビーム束内に配置
された固体イメージセンサとを有し、該固体イメージセ
ンサはマトリクス状に配置された光電的パイクセルエレ
メントを備え、更に前記固体イメージセンサに接続され
ていてＸ線量に依存して高電圧発生器の制御を行うため
の制御装置を有する固体イメージセンサ付Ｘ線診断装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＤＥ−Ｃ２１３５２０５に記載のイメ−
ジセンサ付き自動露光装置付きＸ線診断装置ではＸ線照
射中相加えられるＸ線量に対する尺度量が形成される。
それにより、所定値への到達後、連続する（動作中の）
ビ−ムを遮断し得る。
ジセンサ付き自動露光装置付きＸ線診断装置ではＸ線照
射中相加えられるＸ線量に対する尺度量が形成される。
それにより、所定値への到達後、連続する（動作中の）
ビ−ムを遮断し得る。
【０００３】その種のイメ−ジセンサとしてのＸ線イン
テンシファイア付空気充填されたイオン化室を付加構成
エレメントとして、Ｘ線イメージインテンシファイアの
前に配置することが公知である。電圧下におかれるこの
電極プレート間のわずかな電流は入射するイオン化ビー
ム線量（ドーズ）レートに正比例する。積分により線量
が求められる。Ｘ線イメージインテンシファイアの前に
配置されたその種イオン化室によってはＸ線ビームは不
都合に減衰せしめられる。
テンシファイア付空気充填されたイオン化室を付加構成
エレメントとして、Ｘ線イメージインテンシファイアの
前に配置することが公知である。電圧下におかれるこの
電極プレート間のわずかな電流は入射するイオン化ビー
ム線量（ドーズ）レートに正比例する。積分により線量
が求められる。Ｘ線イメージインテンシファイアの前に
配置されたその種イオン化室によってはＸ線ビームは不
都合に減衰せしめられる。
【０００４】Ｘ線個別撮影又は画像系列撮像を露光制御
付の先行の透射なしで行う場合、Ｘ線照射中線量は露光
測定をＸ線照射中行わなければならない（所定値到達の
際Ｘ線源を遮断し得るには）。
付の先行の透射なしで行う場合、Ｘ線照射中線量は露光
測定をＸ線照射中行わなければならない（所定値到達の
際Ｘ線源を遮断し得るには）。
【０００５】実際のＸ線パルス中の測定はＸ線固体イメ
ージセンサ、例えばａＳｉ：ＨＸ線画像検出器では不都
合である、それというのは当該センサないし検出器は記
憶モードにて作動されるからである。従って、画像情報
はＸ線パルスの後暫くしてはじめて可用になり、その結
果線量測定はその際はじめて可能となる。
ージセンサ、例えばａＳｉ：ＨＸ線画像検出器では不都
合である、それというのは当該センサないし検出器は記
憶モードにて作動されるからである。従って、画像情報
はＸ線パルスの後暫くしてはじめて可用になり、その結
果線量測定はその際はじめて可能となる。
【０００６】当該理由によりＥＰ−Ａ−０４８６１０２
にてなされた提案によればフォトセンサと記憶容量とか
らなるセンサマトリクス付のＸ線検査装置（ここで、端
子の一方が１つのスイッチに接続され、他方が付加的な
対向で電極に接続されている）において、スイッチの短
時間閉成の後、上記対向電極における電流を測定し、該
電流は瞬時の露光の尺度を成し、露光測定のため使用さ
れ得る。センサエレメント内に蓄積された電荷の読出が
露光後行われ、その結果、露光測定には用いられ得な
い。
にてなされた提案によればフォトセンサと記憶容量とか
らなるセンサマトリクス付のＸ線検査装置（ここで、端
子の一方が１つのスイッチに接続され、他方が付加的な
対向で電極に接続されている）において、スイッチの短
時間閉成の後、上記対向電極における電流を測定し、該
電流は瞬時の露光の尺度を成し、露光測定のため使用さ
れ得る。センサエレメント内に蓄積された電荷の読出が
露光後行われ、その結果、露光測定には用いられ得な
い。
【０００７】
【発明が解決すべき課題】本発明の課題とするところは
冒頭に述べた形式のＸ線診断装置であって、固体イメー
ジセンサにて付加的構成素子なしで最適Ｘ線量の簡単か
つ迅速な検出を可能にし、それによりビーム路中で付加
損失の生じないもの及び当該装置の作動方法を提供する
ことにある。
冒頭に述べた形式のＸ線診断装置であって、固体イメー
ジセンサにて付加的構成素子なしで最適Ｘ線量の簡単か
つ迅速な検出を可能にし、それによりビーム路中で付加
損失の生じないもの及び当該装置の作動方法を提供する
ことにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記課題の解決のため本
発明の装置構成によれば、冒頭に述べたＸ線診断装置に
おいて、前記制御装置は計算装置を有し、且つ次のよう
に構成されており、すなわちＸ線撮影のための第１の短
いＸ線パルスが形成され、それに引き続く測定値検出の
ため固体イメージセンサの第１の（最初の）読出が行わ
れるように構成されており、ここで、当該測定値は透過
性を求めるべく計算回路に供給され、該計算回路は検出
された測定値に基づき、最適のＸ線量を算出し、そし
て、当該の計算値に基づいて、第２のＸ線パルスが所定
のＸ線量を以て生成されるように構成されているのであ
る。第１のＸ線パルスによりわずかな線量を以て被検者
の透過性が求められる。次いで、当該の測定値に基づ
き、第２Ｘ線パルスに対して所要の線量への高まり（増
大）が期せられる。
発明の装置構成によれば、冒頭に述べたＸ線診断装置に
おいて、前記制御装置は計算装置を有し、且つ次のよう
に構成されており、すなわちＸ線撮影のための第１の短
いＸ線パルスが形成され、それに引き続く測定値検出の
ため固体イメージセンサの第１の（最初の）読出が行わ
れるように構成されており、ここで、当該測定値は透過
性を求めるべく計算回路に供給され、該計算回路は検出
された測定値に基づき、最適のＸ線量を算出し、そし
て、当該の計算値に基づいて、第２のＸ線パルスが所定
のＸ線量を以て生成されるように構成されているのであ
る。第１のＸ線パルスによりわずかな線量を以て被検者
の透過性が求められる。次いで、当該の測定値に基づ
き、第２Ｘ線パルスに対して所要の線量への高まり（増
大）が期せられる。
【０００９】有利であることが判明しているところによ
れば、固体イメージセンサはａＳｉ：Ｈ検出器を有する
のである。
れば、固体イメージセンサはａＳｉ：Ｈ検出器を有する
のである。
【００１０】Ｘ線パルス間のたんに短い時間間隔のみを
維持するため次のようにすれば迅速な測定値検出を行い
得る、即ち、当該読出は第１Ｘ線パルスの後唯１つの関
心領域の領域部分内でのみ実施されるのである。測定値
検出のための読出過程を更に次のようにして加速し得
る、即ち。測定値検出のため第１Ｘ線パルス後Ｘ線ＴＶ
画像のラインの一部のみが読出されるのである。
維持するため次のようにすれば迅速な測定値検出を行い
得る、即ち、当該読出は第１Ｘ線パルスの後唯１つの関
心領域の領域部分内でのみ実施されるのである。測定値
検出のための読出過程を更に次のようにして加速し得
る、即ち。測定値検出のため第１Ｘ線パルス後Ｘ線ＴＶ
画像のラインの一部のみが読出されるのである。
【００１１】更に、当該の読み出された電荷は次のよう
にすればＸ線画像（生成）にも寄与し得る、即ち、読出
された測定値は計算回路にて加算されるのである。
にすればＸ線画像（生成）にも寄与し得る、即ち、読出
された測定値は計算回路にて加算されるのである。
【００１２】更に、第２Ｘ線パルスの後ＴＶ画像が完全
に読出され、そして既に読出されたラインは第２読出の
ラインと共働結合されるように構成されているのであ
る。例えば加算的に重畳されるように構成されているの
である。。
に読出され、そして既に読出されたラインは第２読出の
ラインと共働結合されるように構成されているのであ
る。例えば加算的に重畳されるように構成されているの
である。。
【００１３】本発明の方法はＸ線診断装置の作動のため
使用され得る、即ち、被検物の透過性測定のため第１の
短いＸ線パルスが生成され、該第１Ｘ線パルスに続い
て、測定値検出のため固体イメージセンサの第１の読出
が行われ、更に、当該の測定値は透過性決定のため計算
回）供給され、該計算回路によっては検出された測定値
に基づき、Ｘ線撮影（像）作成のため第２Ｘ線パルスに
対する最適線量が算出されるのである。
使用され得る、即ち、被検物の透過性測定のため第１の
短いＸ線パルスが生成され、該第１Ｘ線パルスに続い
て、測定値検出のため固体イメージセンサの第１の読出
が行われ、更に、当該の測定値は透過性決定のため計算
回）供給され、該計算回路によっては検出された測定値
に基づき、Ｘ線撮影（像）作成のため第２Ｘ線パルスに
対する最適線量が算出されるのである。
【００１４】本発明のよれば高電圧発生器は第２読出に
対する第２Ｘ線パルスを第１Ｘ線パルスに対するより高
電圧で発生し得る。
対する第２Ｘ線パルスを第１Ｘ線パルスに対するより高
電圧で発生し得る。
【００１５】
【実施例】次ぎに図を用いて本発明を詳述する。
【００１６】図１にはＸ線管１（これは高電圧発生器２
により作動される）を有する本発明のＸ線診断装置が示
してある。Ｘ線管１はＸ線ビーム束３を送出し、該Ｘ線
ビーム束は患者を透過し、患者４の透過性に相応して減
衰され、Ｘ線画像としてＸ線イメージセンサ５に照射さ
れる。Ｘ線イメージセンサ５は水素でドーピングされた
非晶質（アモルファス）シリコン（ａＳｉ：Ｈ）から成
ってよい。
により作動される）を有する本発明のＸ線診断装置が示
してある。Ｘ線管１はＸ線ビーム束３を送出し、該Ｘ線
ビーム束は患者を透過し、患者４の透過性に相応して減
衰され、Ｘ線画像としてＸ線イメージセンサ５に照射さ
れる。Ｘ線イメージセンサ５は水素でドーピングされた
非晶質（アモルファス）シリコン（ａＳｉ：Ｈ）から成
ってよい。
【００１７】Ｘ線イメージセンサ５は再生装置と接続さ
れており、該再生装置は処理回路６及びこれに接続され
たモニタ７（Ｘ線ビーム画像の再生のため）から成り得
る。処理回路６は公知形式で計算回路、フィルタ回路、
画像メモリ、変換器（図示せず）を有し得る。
れており、該再生装置は処理回路６及びこれに接続され
たモニタ７（Ｘ線ビーム画像の再生のため）から成り得
る。処理回路６は公知形式で計算回路、フィルタ回路、
画像メモリ、変換器（図示せず）を有し得る。
【００１８】Ｘ線イメージセンサ５は制御装置８に接続
されており、該制御装置はＸ線管１の制御のため高電圧
発生器２に接続されている。上記制御装置はＸ線量検出
のため計算回路９を有する。
されており、該制御装置はＸ線管１の制御のため高電圧
発生器２に接続されている。上記制御装置はＸ線量検出
のため計算回路９を有する。
【００１９】図２には固体イメージセンサとしてのＸ線
イメージセンサ５の一部を示し、上記イメージセンサは
マトリクス状アレイ１０を有する。該アレイは光電セル
と共に多数の個々の画素ないしパイセクルエレメントか
ら成り、上記セルはＸ行及びＹ列に配置されている。当
該セル１１は行線路１４〜１６を介しての選択のための
第１のドライバ回路１２に接続され、そして、列線路１
７を介しての読出のための第２のドライバ線路１３に接
続されている。第２ドライバ回路にはオフセット補正の
ためのスイッチ１８が接続されている。
イメージセンサ５の一部を示し、上記イメージセンサは
マトリクス状アレイ１０を有する。該アレイは光電セル
と共に多数の個々の画素ないしパイセクルエレメントか
ら成り、上記セルはＸ行及びＹ列に配置されている。当
該セル１１は行線路１４〜１６を介しての選択のための
第１のドライバ回路１２に接続され、そして、列線路１
７を介しての読出のための第２のドライバ線路１３に接
続されている。第２ドライバ回路にはオフセット補正の
ためのスイッチ１８が接続されている。
【００２０】個々の光電セル１１はそれぞれフォトダイ
オード１９及び切換ダイオード２０から成り、上記ダイ
オードのカソードは相互に接続され、そして、それのア
ノードは行線路１４〜１６ないし列線路１７に接続され
ている。
オード１９及び切換ダイオード２０から成り、上記ダイ
オードのカソードは相互に接続され、そして、それのア
ノードは行線路１４〜１６ないし列線路１７に接続され
ている。
【００２１】ドライバ１３は各列線路に対して１つのア
ンプ２１を有し、該アンプはそれぞれの列線路１７に接
続されている。アンプ２１の出力側はコンデンサ２２を
介して入力側にフィードバックされている。アンプ２１
及びコンデンサ２２は電圧変換器を形成する。
ンプ２１を有し、該アンプはそれぞれの列線路１７に接
続されている。アンプ２１の出力側はコンデンサ２２を
介して入力側にフィードバックされている。アンプ２１
及びコンデンサ２２は電圧変換器を形成する。
【００２２】第１ドライバ回路１２は複数入力側を有
し、該入力側には選択スイッチ２３を介して択一的にク
ロック信号が供給され得る。行ドライバ２４〜３５は相
応の行線路１４〜１６に接続されている。図２には行
１，９，１７等に対する行線路１４〜１６のみが示して
あり、該行線路は行ドライバ２，１０，１８等に接続さ
れている。更なるライン２，１０，１８等は第２行ドラ
イバ２７〜２８等により制御される。同じことはマトリ
クス状アレイ９の残りのライン（これはラインドライバ
３０〜３５及び更なる図示してない行ドライバにより制
御される）に対しても成立つ。
し、該入力側には選択スイッチ２３を介して択一的にク
ロック信号が供給され得る。行ドライバ２４〜３５は相
応の行線路１４〜１６に接続されている。図２には行
１，９，１７等に対する行線路１４〜１６のみが示して
あり、該行線路は行ドライバ２，１０，１８等に接続さ
れている。更なるライン２，１０，１８等は第２行ドラ
イバ２７〜２８等により制御される。同じことはマトリ
クス状アレイ９の残りのライン（これはラインドライバ
３０〜３５及び更なる図示してない行ドライバにより制
御される）に対しても成立つ。
【００２３】本発明のＸ線診断装置の動作について説明
する前に、図３を用いてＴＶ画像４３の構成及び分割に
ついて詳述する。ＴＶ画像４３は多数のライン（行）４
４、例えば高分解能モニタの場合１０２４ラインから成
る。Ｘ線ＴＶ画像４３では所定領域が関心領域４５，所
謂ＲＯＩとして設定される。上記ＲＯＩ４５はＴＶ画像
４３中ｍのライン４４を有し得る。当該ＲＯＩは例えば
ＴＶ画像４３のｎのライン４４の後始まる。要するにＲ
ＯＩ４５の第１ラインは同時にラインｎ＋１であり、Ｒ
ＯＩ４５の最終ラインｍはＴＶ画像４３におけるライン
ｎ＋ｍである。
する前に、図３を用いてＴＶ画像４３の構成及び分割に
ついて詳述する。ＴＶ画像４３は多数のライン（行）４
４、例えば高分解能モニタの場合１０２４ラインから成
る。Ｘ線ＴＶ画像４３では所定領域が関心領域４５，所
謂ＲＯＩとして設定される。上記ＲＯＩ４５はＴＶ画像
４３中ｍのライン４４を有し得る。当該ＲＯＩは例えば
ＴＶ画像４３のｎのライン４４の後始まる。要するにＲ
ＯＩ４５の第１ラインは同時にラインｎ＋１であり、Ｒ
ＯＩ４５の最終ラインｍはＴＶ画像４３におけるライン
ｎ＋ｍである。
【００２４】図４を用いて本発明のＸ線診断装置の動作
について詳述する。上記装置では行線路１４〜１６上の
信号経過が示してある。時点ｔｏから時点ｔ１までマト
リクス１０は光パルスで消去される。パルス３６はフォ
トダイオードの逆（方向）充電に用いられる。それに引
き続いて、電荷は時点ｔ２からｔ３まで持続するＸ線パ
ルスに基づきシンチレータ層から発する光により低減さ
れる。パルス３７によっては（ｎ＋１）ラインのすべて
の列が並列的に読出される。パルス３８によっては（ｎ
＋９）ラインのすべての画素が読出され（ｎ＋１７）ラ
インのすべての画素が並列的に読出される。
について詳述する。上記装置では行線路１４〜１６上の
信号経過が示してある。時点ｔｏから時点ｔ１までマト
リクス１０は光パルスで消去される。パルス３６はフォ
トダイオードの逆（方向）充電に用いられる。それに引
き続いて、電荷は時点ｔ２からｔ３まで持続するＸ線パ
ルスに基づきシンチレータ層から発する光により低減さ
れる。パルス３７によっては（ｎ＋１）ラインのすべて
の列が並列的に読出される。パルス３８によっては（ｎ
＋９）ラインのすべての画素が読出され（ｎ＋１７）ラ
インのすべての画素が並列的に読出される。
【００２５】ラインｎ＋１は関心領域４５の第１ライン
を形成する。次のラインとしての通常のライン２の代わ
りに、本事例では８つのラインをジャンプし、ライン９
が読出される。次いで、ライン１７が読出される。それ
により、次の状態生起まで比較的わずかな時間が得られ
る、即ち、ジャンプに基づきＴＶ画像がスキャンされ、
ＲＯＩ４５にて平均的輝度が形成されるまで比較的わず
かな時間が得られる。当該の読出プロセスは輝度／線量
及び透過性計算に十分であることを基礎とする。
を形成する。次のラインとしての通常のライン２の代わ
りに、本事例では８つのラインをジャンプし、ライン９
が読出される。次いで、ライン１７が読出される。それ
により、次の状態生起まで比較的わずかな時間が得られ
る、即ち、ジャンプに基づきＴＶ画像がスキャンされ、
ＲＯＩ４５にて平均的輝度が形成されるまで比較的わず
かな時間が得られる。当該の読出プロセスは輝度／線量
及び透過性計算に十分であることを基礎とする。
【００２６】当該の短いスキャン（サンプリング）によ
り比較的わずかな線量及び低減された分解能の画像を以
て１つのライングループのみが得られる。但し、当該画
像は主要なＸ線画像に付加され得る。それの面積は分布
して著しく小さいのでシミュレーションによって欠損し
ているラインを計算することも可能である。
り比較的わずかな線量及び低減された分解能の画像を以
て１つのライングループのみが得られる。但し、当該画
像は主要なＸ線画像に付加され得る。それの面積は分布
して著しく小さいのでシミュレーションによって欠損し
ているラインを計算することも可能である。
【００２７】本事例ではジャンプ（跳躍）による読出に
より関心領域における平均輝度のＳ／Ｎ比が係数８だけ
低減される。面積の１／９の典型的関心領域ではいつも
１４５００パイセクルが読出され、その結果Ｓ／Ｎ比の
利得（増強度）は平均で１２０になる。このことは当該
線量測定の限界を示す。
より関心領域における平均輝度のＳ／Ｎ比が係数８だけ
低減される。面積の１／９の典型的関心領域ではいつも
１４５００パイセクルが読出され、その結果Ｓ／Ｎ比の
利得（増強度）は平均で１２０になる。このことは当該
線量測定の限界を示す。
【００２８】各行（ライン）に対して１つの選択可能な
リセットが存在する場合、比較的良好な分解能を達成し
得る。このことによっては２つのＸ線パルスによる露光
の積分が可能になる。
リセットが存在する場合、比較的良好な分解能を達成し
得る。このことによっては２つのＸ線パルスによる露光
の積分が可能になる。
【００２９】換言すれば；両部分画像の大部分のライン
の加算はパネル自体上で行われ得る。ラインは読出され
る間にデジタル的に加算される、それというのは、読出
の破壊的性質によりパネル上での加算が可能でないから
である。
の加算はパネル自体上で行われ得る。ラインは読出され
る間にデジタル的に加算される、それというのは、読出
の破壊的性質によりパネル上での加算が可能でないから
である。
【００３０】画像のすべてのライン及び画素に作用する
唯一リセットの際他の手法が達成されなければならず、
該手法では１つの短かいＸ線パルスの各特徴的成分（要
素）が或１つのＸ線パルスの２つの部分により２つの部
分画像の加算を以て加算されるのである。同じくパネル
自体上での画像ラインの加算の方式が使用され、そし
て、既に読出されたラインはたんに外部的に加算され
る。
唯一リセットの際他の手法が達成されなければならず、
該手法では１つの短かいＸ線パルスの各特徴的成分（要
素）が或１つのＸ線パルスの２つの部分により２つの部
分画像の加算を以て加算されるのである。同じくパネル
自体上での画像ラインの加算の方式が使用され、そし
て、既に読出されたラインはたんに外部的に加算され
る。
【００３１】図５には第２読出パルス２４０による選ば
れたライン１，９，１７の２倍（２重）の読出のための
パルス列が示してある。当該のライン対（これらは関心
領域４５に亘って分配している）の読出の後、フォトダ
イオード１９は電圧の蓄積状態に置かれる。これは第１
パルス３６と類似した新たなバイアス電圧とみなされ得
る。そこで、時点ｔ４〜ｔ５にて第２のＸ線パスルがリ
セットパルスなしで生ぜしめられる。その結果それまで
読出されていないジャンプしたラインの更なる積分が可
能になり、既に読出されたラインに対する新たなスター
トポジションが得られるようになる。当該Ｘ線パルスに
は第３の電圧を以て第２読出パルス４０がつづき、上記
第３電圧はパルス３７の電圧より高く、パルス３６と３
７間におけると同じようなダイオード２０に対する順方
向電圧を成す。両方の読出された情報は外部的に画素ご
とに計算回路にて加算されて、未だ読出されていないラ
インのパネル上での積分過程が支援される。
れたライン１，９，１７の２倍（２重）の読出のための
パルス列が示してある。当該のライン対（これらは関心
領域４５に亘って分配している）の読出の後、フォトダ
イオード１９は電圧の蓄積状態に置かれる。これは第１
パルス３６と類似した新たなバイアス電圧とみなされ得
る。そこで、時点ｔ４〜ｔ５にて第２のＸ線パスルがリ
セットパルスなしで生ぜしめられる。その結果それまで
読出されていないジャンプしたラインの更なる積分が可
能になり、既に読出されたラインに対する新たなスター
トポジションが得られるようになる。当該Ｘ線パルスに
は第３の電圧を以て第２読出パルス４０がつづき、上記
第３電圧はパルス３７の電圧より高く、パルス３６と３
７間におけると同じようなダイオード２０に対する順方
向電圧を成す。両方の読出された情報は外部的に画素ご
とに計算回路にて加算されて、未だ読出されていないラ
インのパネル上での積分過程が支援される。
【００３２】その他の（残りの）ジャンプしたラインは
Ｘ線パルスの第２部分の後共に読出され得る。暗像の相
応の型式のものは第１，第２読出のオフセット補償のた
めに使用され得る。第２読出の際、ＴＶ画像全体のすべ
ての画像（フレーム）ラインが検出される。当該読出が
ラインごと又はインターレース動作で行われ得る。
Ｘ線パルスの第２部分の後共に読出され得る。暗像の相
応の型式のものは第１，第２読出のオフセット補償のた
めに使用され得る。第２読出の際、ＴＶ画像全体のすべ
ての画像（フレーム）ラインが検出される。当該読出が
ラインごと又はインターレース動作で行われ得る。
【００３３】第１、第２読出間のオフセットにおける残
留する差異はスイッチ１８の切換により補償され、該ス
イッチでは第２ドライバ回路１３の電圧が変化される。
第１読出パルス３７〜３９による電荷はリセットパルス
３６によるものより完全なものではない、それというの
は当該リセットパルスは比較的に長いからである。
留する差異はスイッチ１８の切換により補償され、該ス
イッチでは第２ドライバ回路１３の電圧が変化される。
第１読出パルス３７〜３９による電荷はリセットパルス
３６によるものより完全なものではない、それというの
は当該リセットパルスは比較的に長いからである。
【００３４】要するに本発明の迅速な読出の場合、先ず
ＲＯＩ４５のライン１（ＴＶ画像４３のラインｎ）が読
出される。それに引き続いて、７つのラインをジャンプ
する。その結果第１の読出がＲＯＩ４５のライン９につ
いて継続される。次いで、ＲＯＩ４５のライン１７が読
出される。このことはＲＯＩ４５のラインｍに達するま
で行われる。当該の読出過程によっては当該時間の１／
８の後既にＲＯＩ４５内の輝度情報を十分な精度を以て
得られる。
ＲＯＩ４５のライン１（ＴＶ画像４３のラインｎ）が読
出される。それに引き続いて、７つのラインをジャンプ
する。その結果第１の読出がＲＯＩ４５のライン９につ
いて継続される。次いで、ＲＯＩ４５のライン１７が読
出される。このことはＲＯＩ４５のラインｍに達するま
で行われる。当該の読出過程によっては当該時間の１／
８の後既にＲＯＩ４５内の輝度情報を十分な精度を以て
得られる。
【００３５】
【発明の効果】本発明によれば、固体イメージセンサに
て付加的構成素子なしで最適Ｘ線量の簡単かつ迅速な検
出を可能にし、それによりビーム路中で付加損失の生じ
ないＸ線診断装置を実現できたという効果が奏される。
て付加的構成素子なしで最適Ｘ線量の簡単かつ迅速な検
出を可能にし、それによりビーム路中で付加損失の生じ
ないＸ線診断装置を実現できたという効果が奏される。
【図１】本発明のＸ線診断装置の構成図である。
【図２】本発明の固体イメージセンサの一部の構成図で
ある。
ある。
【図３】ＴＶ画像内の関心領域の極置を示す図である。
【図４】本発明の説明用の波形図である。
【図５】本発明の説明用の別の波形図である。
１ Ｘ線管 ２ 高電圧発生器 ３ Ｘ線ビーム束 ４ 患者 ５ 固体イメージセンサ ６ 処理回路 ７ モニタ ８ 制御装置
Claims (9)
- 【請求項１】 Ｘ線ビーム束（３）の発生のためのＸ線
管（１）用の高電圧発生器（２）と、Ｘ線ビーム束
（３）内に配置された固体イメージセンサ（５）とを有
し、該固体イメージセンサはマトリクス状に配置された
光電的パイクセルエレメント（１１）を備え、更に前記
固体イメージセンサに接続されていてＸ線量に依存して
高電圧発生器（２）の制御を行うための制御装置（８）
を有し、ここで、前記制御装置（８）は計算装置（９）
を有し、且つ次のように構成されており、すなわちＸ線
撮影のための第１の短いＸ線パルスが形成され、それに
引き続いて測定値検出のため固体イメージセンサ（５）
の第１の（最初の）読出が行われるように構成されてお
り、ここで、当該測定値は透過性を求めるべく計算回路
（９）に供給され、該計算回路は検出された測定値に基
づき、最適のＸ線量を算出し、そして、当該の計算値に
基づいて、第２のＸ線パルスが所定のＸ線量を以て生成
されるように構成されていることを特徴とする固体イメ
ージセンサ付Ｘ線診断装置。 - 【請求項２】 固体イメージセンサ（５）はａＳｉ：Ｈ
検出器を有する請求項１記載の装置。 - 【請求項３】 当該読出は第１Ｘ線パルスの後唯１つの
関心領域（４５）の領域部分内でのみ実施される請求項
１又は２記載の装置。 - 【請求項４】 測定値検出のため第１Ｘ線パルス後Ｘ線
ＴＶ画像（４３）のライン（４４）の一部のみが読出さ
れる請求項１から３までのうちいずれか１項記載の装
置。 - 【請求項５】 読出された測定値は計算回路（９）にて
加算される請求項１から４までのうちいずれか１項記載
の装置。 - 【請求項６】 第２Ｘ線パルスの後ＴＶ画像（４３）が
完全に読出され、そして既に読出されたライン（４４）
は第２読出のラインと共働結合されるように構成されて
いる請求項１から５までのうちいずれか１項記載の装
置。 - 【請求項７】 第２Ｘ線パルスの後ＴＶ画像（４３）は
完全に読出され、そして既に読出されたラインは第２読
出のラインと加算的に重畳される請求項１から６までの
うちいずれか１項記載の装置。 - 【請求項８】 高電圧発生器（２）によっては第１読出
に対する第２Ｘ線パルスが第１Ｘ線パルスに対するより
高い電圧を以て生成される請求項１から７までのうちい
ずれか１項記載の装置。 - 【請求項９】 被検物の透過性測定のため第１の短いＸ
線パルスが生成され、該第１Ｘ線パルスに続いて、測定
値検出のため固体イメージセンサ（５）の第１の読出が
行われ、更に、当該の測定値は透過性決定のため計算回
路（９）に供給され、該計算回路によっては検出された
測定値に基づき、Ｘ線撮影（像）作成のため第２Ｘ線パ
ルスに対する最適線量が算出される請求項１から８によ
るＸ線診断装置の作動方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4435105A DE4435105C2 (de) | 1994-09-30 | 1994-09-30 | Röntgendiagnostikeinrichtung mit einem Festkörperbildwandler und Verfahren zu deren Betrieb |
| DE4435105.4 | 1994-09-30 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08111296A true JPH08111296A (ja) | 1996-04-30 |
| JP3711160B2 JP3711160B2 (ja) | 2005-10-26 |
Family
ID=6529701
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25531295A Expired - Fee Related JP3711160B2 (ja) | 1994-09-30 | 1995-10-02 | 固体イメージセンサ付ｘ線診断装置及び該装置の作動方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5608775A (ja) |
| JP (1) | JP3711160B2 (ja) |
| DE (1) | DE4435105C2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003515366A (ja) * | 1999-11-23 | 2003-05-07 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 露光制御付きｘ線診断装置 |
| JP2019126709A (ja) * | 2018-01-19 | 2019-08-01 | コニカミノルタ株式会社 | 撮影制御装置、放射線撮影装置及び放射線撮影システム |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5693948A (en) * | 1995-11-21 | 1997-12-02 | Loral Fairchild Corporation | Advanced CCD-based x-ray image sensor system |
| DE19628675C2 (de) * | 1996-07-16 | 1999-11-25 | Siemens Ag | Verfahren zur Erhöhung des Signal-Störwert-Abstandes eines mit einer Strahlung, insbesondere mit Röntgenstrahlung belegbaren Festkörper-Bildsensors und Röntgendiagnoseanlage zur Durchführung dieses Verfahrens |
| JPH1083061A (ja) * | 1996-09-06 | 1998-03-31 | Mitsubishi Electric Corp | 位相シフトマスク、位相シフトマスクの製造方法および位相シフトマスクを用いたパターン形成方法 |
| FR2771513B1 (fr) * | 1997-11-25 | 2000-05-26 | Trixell Sas | Dispositif photosensible equipe d'un dispositif de mesure d'eclairement |
| JPH11311673A (ja) * | 1998-04-28 | 1999-11-09 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置 |
| US6148060A (en) * | 1998-10-13 | 2000-11-14 | Siemens Medical Systems, Inc. | Integrated automatic exposure control for portal imaging in radiotherapy |
| EP1046134B1 (en) * | 1998-10-19 | 2003-12-03 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | X-ray examination apparatus with dose control |
| US6243441B1 (en) | 1999-07-13 | 2001-06-05 | Edge Medical Devices | Active matrix detector for X-ray imaging |
| US6900442B2 (en) * | 1999-07-26 | 2005-05-31 | Edge Medical Devices Ltd. | Hybrid detector for X-ray imaging |
| CA2345303A1 (en) | 1999-07-26 | 2001-02-01 | Albert Zur | Digital detector for x-ray imaging |
| WO2001039558A1 (en) * | 1999-11-23 | 2001-05-31 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | X-ray examination apparatus with exposure control |
| US6784433B2 (en) * | 2001-07-16 | 2004-08-31 | Edge Medical Devices Ltd. | High resolution detector for X-ray imaging |
| DE10136756C2 (de) * | 2001-07-27 | 2003-07-31 | Siemens Ag | Röntgendiagnostikeinrichtung mit einem flexiblen Festkörper-Röntgendetektor |
| US6904126B2 (en) * | 2002-06-19 | 2005-06-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiological imaging apparatus and method |
| ES2327835T3 (es) * | 2003-01-10 | 2009-11-04 | Paul Scherrer Institut | Dispositivo de imagenes de recuento de fotones. |
| JP4201686B2 (ja) * | 2003-11-04 | 2008-12-24 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | Ｘ線ｃｔ装置 |
| DE102005006895B4 (de) | 2005-02-15 | 2010-11-18 | Siemens Ag | Röntgendiagnostikeinrichtung sowie Verfahren zu deren Regelung |
| US10652456B2 (en) * | 2017-05-31 | 2020-05-12 | Intel IP Corporation | Image sensor operation |
| US11026651B2 (en) | 2018-01-19 | 2021-06-08 | Konica Minolta, Inc. | Radiographing control apparatus, radiographic imaging apparatus and radiographic imaging system |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2135205C3 (de) * | 1971-07-14 | 1980-07-17 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Röntgendiagnostikapparat mit einem auch zur Dosisleistungsmessung dienenden Belichtungsautomaten, der ein Einstellglied für die Röntgenröhrenspannung steuert |
| NL8303156A (nl) * | 1983-09-13 | 1985-04-01 | Optische Ind De Oude Delft Nv | Roentgenopnameinrichting met spleetaftasting. |
| US4982095A (en) * | 1987-09-04 | 1991-01-01 | Hitachi, Ltd. | Multi-element type radiation detector |
| DE4036163A1 (de) * | 1990-11-14 | 1992-05-21 | Philips Patentverwaltung | Roentgenuntersuchungsgeraet |
| DE4125928A1 (de) * | 1991-08-05 | 1993-02-11 | Siemens Ag | Detektorsystem |
| DE4205522A1 (de) * | 1992-02-24 | 1993-08-26 | Philips Patentverwaltung | Verfahren zum erzeugen von roentgenaufnahmen und roentgengeraet zur durchfuehrung des verfahrens |
| US5379333A (en) * | 1993-11-19 | 1995-01-03 | General Electric Company | Variable dose application by modulation of x-ray tube current during CT scanning |
| US5450462A (en) * | 1993-11-19 | 1995-09-12 | General Electric Company | Modulation of x-ray tube current during CT scanning with modulation limit |
| US5400378A (en) * | 1993-11-19 | 1995-03-21 | General Electric Company | Dynamic dose control in multi-slice CT scan |
-
1994
- 1994-09-30 DE DE4435105A patent/DE4435105C2/de not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-09-29 US US08/536,437 patent/US5608775A/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-10-02 JP JP25531295A patent/JP3711160B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003515366A (ja) * | 1999-11-23 | 2003-05-07 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 露光制御付きｘ線診断装置 |
| JP4746808B2 (ja) * | 1999-11-23 | 2011-08-10 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 露光制御付きｘ線診断装置 |
| JP2019126709A (ja) * | 2018-01-19 | 2019-08-01 | コニカミノルタ株式会社 | 撮影制御装置、放射線撮影装置及び放射線撮影システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE4435105A1 (de) | 1996-04-04 |
| US5608775A (en) | 1997-03-04 |
| DE4435105C2 (de) | 2003-07-24 |
| JP3711160B2 (ja) | 2005-10-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH08111296A (ja) | 固体イメージセンサ付ｘ線診断装置及び該装置の作動方法 | |
| JP3415348B2 (ja) | Ｘ線撮像装置 | |
| US6442238B2 (en) | FDXD detector with dose sensing | |
| JP4173197B2 (ja) | 補正ユニットを有する画像センサマトリックスを含むｘ線検査装置 | |
| EP0845687B1 (en) | Solid state area X-ray detector with adjustable bias | |
| CN104427937B (zh) | 放射线图像检测装置及其动作方法以及放射线摄影系统 | |
| US6163386A (en) | Photoelectric conversion device and driving method therefor | |
| EP0922943B1 (en) | Radiation detecting device and radiation detecting method | |
| US20030223539A1 (en) | Method and apparatus for acquiring and storing multiple offset corrections for amorphous silicon flat panel detector | |
| JP2000037372A (ja) | Ｘ線診断装置及び放射線診断装置 | |
| US20120001082A1 (en) | Radiographic imaging system | |
| JP2004521721A (ja) | 固体ｘ線検出器においてラインアーチファクトを識別し、修正する方法及び装置 | |
| US6393097B1 (en) | Digital detector method for dual energy imaging | |
| JPWO2003000136A1 (ja) | Ｘ線画像診断装置及びｘ線画像データの補正方法 | |
| US6690493B1 (en) | Photoelectric conversion device and driving method therefor | |
| EP0955009B1 (en) | Radiographic apparatus | |
| KR20090087067A (ko) | 촬상장치 | |
| US6839407B2 (en) | Arrangement of sensor elements | |
| JP2006267093A (ja) | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、及びその制御方法 | |
| JP2000100597A (ja) | 放射線画像撮像装置 | |
| US5757884A (en) | X-ray diagnostic installation with a solid-state image transducer | |
| JP2001340324A (ja) | Ｘ線検出器及びそれを使ったｘ線診断装置 | |
| JP4772998B2 (ja) | 半導体ｘ線検出器の光導線性ｆｅｔによって誘引されるオフセットの簡単な測定手段 | |
| JPH0847491A (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| US7483515B2 (en) | Detector for the detection of X-radiation |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041105 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20050202 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20050207 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050506 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050713 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050812 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080819 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090819 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090819 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100819 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100819 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110819 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110819 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120819 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120819 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130819 Year of fee payment: 8 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |