JPH08107356A - アナログ−デジタル変換器 - Google Patents

アナログ−デジタル変換器

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JPH08107356A
JPH08107356A JP24313094A JP24313094A JPH08107356A JP H08107356 A JPH08107356 A JP H08107356A JP 24313094 A JP24313094 A JP 24313094A JP 24313094 A JP24313094 A JP 24313094A JP H08107356 A JPH08107356 A JP H08107356A
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JP
Japan
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signal
capacitor
analog
switch
reference signal
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JP24313094A
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Yoshitaka Kitamura
嘉隆 北村
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Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
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Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】アナログ−デジタル変換を高精度に行えるとと
もに、小型化を図ることができるアナログ−デジタル変
換器を提供する。 【構成】アナログ−デジタル変換器1は、コンデンサア
レイ2と、比較回路3とを備える。アレイ2は容量値の
重み付けがなされ、かつ、アナログ信号INの電位に応
じた電荷を蓄えるためのコンデンサ11〜16よりな
る。比較回路3はアレイ2の出力信号の電位に基づいて
デジタル信号の各ビット信号Biを出力する。フローテ
ィング型MOSトランジスタよりなる調整用容量17は
コンデンサ16に接続されている。トランジスタ17
は、そのフローティングゲートに電荷を注入することに
より、オフセット電圧V0FF を調整するための調整用容
量として使用される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はアナログ信号をデジタル
信号に変換するためのアナログ−デジタル変換器(以
下、AD変換器という)に係り、詳しくはオフセット電
圧の調整に関する。
【0002】近年、ビデオカメラ等の電子回路を使用し
た製品においてデジタル信号処理が増加してきたため、
自然界の物量であるアナログ信号をデジタル信号に変換
するためのAD変換器の需要が高まっている。また、あ
らゆる電子機器が小型化の方向に向かっている。そのた
め、高精度かつ小型のAD変換器が要求されている。
【0003】
【従来の技術】従来、MOSLSI上で実現されている
AD変換器として図4に示すCR逐次比較型AD変換器
41がある。AD変換器41はコンデンサアレイ42、
比較回路43及びラダー抵抗回路44を備える。コンデ
ンサアレイ42は一方の電極を互いにノードN0に接続
したコンデンサ45〜50を備えている。コンデンサ4
5〜50の容量値は重み付けがなされ、コンデンサ50
の容量をCとすると、コンデンサ45の容量は8C、コ
ンデンサ46の容量は4C、コンデンサ47の容量は2
C、コンデンサ48,49の容量はそれぞれCとなって
いる。
【0004】コンデンサ45〜48の他方の電極はスイ
ッチ51〜54に接続され、これらのスイッチ51〜5
4はコンデンサ45〜48に入力する信号を、アナログ
信号IN、第1の基準信号VRH及び第2の基準信号V
RL(<VRH)のいずれか一つに切り換える。コンデ
ンサ49の他方の電極はスイッチ55に接続され、スイ
ッチ55はコンデンサ49に入力する信号を、アナログ
信号INとラダー抵抗回路44の出力信号とに切り換え
る。
【0005】ラダー抵抗回路44は基準信号VRH及び
VRL間に直列に接続されかつ基準信号VRH及びVR
Lの電位差VOを1/2n-4 (nはAD変換器の分解
能)に分割する複数の抵抗57と、各抵抗57に対応す
る分圧信号を出力するための複数のスイッチ58とを備
える。例えば、AD変換器41が8ビットの分解能であ
れば、ラダー抵抗回路44は16(=24 )個の抵抗5
7と16(=24 )個のスイッチ58とを備え、電位差
VOを1/16に分割する。
【0006】コンデンサ50の他方の電極はスイッチ5
6に接続され、このスイッチ56はコンデンサ50に入
力する信号を、オフセット電圧VOFF とグランドGND
とに切り換える。オフセット電圧VOFF の電圧値として
は最下位ビットLSBを判定するための電圧VO/2n
の2分の1が設定される。
【0007】比較回路43は基準信号VRH及びVRL
を動作電源としかつノードN0に接続された入力端子を
備えるインバータ59と、インバータ59の入力端子及
び出力端子間に設けられたスイッチ60と、インバータ
59の出力端子に接続されたコンデンサ61と、コンデ
ンサ61の他方の電極に接続されたインバータ62とを
備える。
【0008】上記のように構成されたAD変換器41で
は、まず、スイッチ60を閉じてインバータ59の入力
端子と出力端子とを接続した後、スイッチ51〜55を
アナログ信号INに接続するとともに、スイッチ56を
オフセット電圧VOFF に接続してアナログ信号INのサ
ンプリングを行う。すると、コンデンサ45〜50にア
ナログ信号INの電圧値に相当する電荷が蓄えられる。
この後、スイッチ60を開くとともに、スイッチ51〜
55を基準信号VRLに接続する。このとき、ラダー抵
抗回路44は基準信号VRLに対応するスイッチ58の
みを閉じる。また、スイッチ56はグランドGNDに接
続する。これによって、サンプリングしたアナログ信号
INのコンパレートを開始することができる。
【0009】次に、スイッチ51を基準信号VRHに接
続すると、ノードN0の電圧が変化し、そのときのノー
ドN0の電圧に基づいて最上位ビットの0,1判定が行
われる。判定結果が0であると、スイッチ51は基準信
号VRLに固定され、判定結果が1であると、スイッチ
51は基準信号VRHに固定される。
【0010】続いて、スイッチ52を基準信号VRHに
接続すると、ノードN0の電圧が変化し、そのときのノ
ードN0の電圧に基づいて最上位から2ビット目の0,
1判定が行われる。判定結果が0であると、スイッチ5
2は基準信号VRLに固定され、判定結果が1である
と、スイッチ52は基準信号VRHに固定される。
【0011】以下、前記と同様にしてスイッチ53,5
4を順次基準信号VRHに接続してそのときのノードN
0の電圧に基づいて3ビット目、4ビット目の0,1判
定を行う。
【0012】5ビット目の0,1判定は、スイッチ55
をラダー抵抗回路44に接続するとともに、ラダー抵抗
回路44の電位差VOの中間値VO/2を出力する抵抗
57に対応するスイッチ58を閉じて行う。判定結果が
0であると、6ビット目の0,1判定は、中間値VO/
2と基準信号VRLとの中間値を出力する抵抗57に対
応するスイッチ58を閉じて行う。判定結果が1である
と、6ビット目の0,1判定は、基準信号VRHと中間
値VO/2との中間値を出力する抵抗57に対応するス
イッチ58を閉じて行う。以下、前記と同様にして7ビ
ット目、8ビット目の0,1判定を行う。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】ところが、従来のCR
逐次比較型AD変換器41では、ラダー抵抗回路44の
複数の抵抗57の抵抗値の誤差や配線抵抗等によって、
オフセット誤差が生じる。そのため、AD変換器41の
内部又は外部にオフセット電圧の調整用の回路を設ける
必要がある。この調整用回路によってオフセット調整の
精度は高くなったが、その調整用回路の分だけAD変換
器が大型化するという問題がある。
【0014】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたものであって、その目的は、アナログ−デジタル変
換を高精度に行えるとともに、小型化を図ることができ
るアナログ−デジタル変換器を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1の発明は、出力すべきデジタル信号のビッ
ト数に応じて決まるオフセット電圧を印加することによ
りアナログ信号をオフセットさせ、そのオフセットされ
たアナログ信号をデジタル信号に変換するアナログ−デ
ジタル変換器において、フローティング型MOSトラン
ジスタを設け、該MOSトランジスタのフローティング
ゲートに電荷を注入することにより、該MOSトランジ
スタをオフセット電圧を調整するための調整用容量とし
た。
【0016】請求項2の発明は、アナログ−デジタル変
換器は、容量値の重み付けがなされ、かつ、アナログ信
号の電位に応じた電荷を蓄えるための複数のコンデンサ
よりなるコンデンサアレイと、コンデンサアレイの出力
信号の電位に基づいてデジタル信号の各ビット信号を出
力する比較回路とを備える。デジタル信号のビット数に
応じて決まるオフセット電圧を印加することによりアナ
ログ信号をオフセットさせ、そのオフセットされたアナ
ログ信号をコンデンサアレイに入力して複数のコンデン
サに電荷を蓄えさせた後、コンデンサアレイの各コンデ
ンサに低電位の第1の基準信号を入力しておき、コンデ
ンサアレイの最も重みの大きいコンデンサから順に各コ
ンデンサに第1の基準信号と高電位の第2の基準信号と
を切り換えて入力することによりコンデンサアレイの出
力信号の電位を変化させて比較回路からデジタル信号の
各ビット信号を順次出力する。そして、フローティング
型MOSトランジスタを設け、該MOSトランジスタの
フローティングゲートに電荷を注入することにより、該
MOSトランジスタをオフセット電圧を調整するための
調整用容量とした。
【0017】請求項3の発明は、第1の基準信号及び第
2の基準信号の電位差をデジタル信号の下位ビットに応
じて分圧し、その分圧したいずれか1つの電圧を選択的
に出力するためのラダー抵抗回路を備え、同ラダー抵抗
回路はコンデンサアレイの最も重みの小さいコンデンサ
に接続可能である。
【0018】
【作用】本発明では、フローティング型MOSトランジ
スタをオフセット電圧の調整用容量としているので、オ
フセット電圧の精度を向上でき、アナログ−デジタル変
換器の小型化が可能となる。
【0019】
【実施例】以下、本発明を具体化した一実施例を図1,
図2に従って説明する。図1は本実施例のCR逐次比較
型AD変換器1を示している。本実施例の変換器1は8
ビットのデジタル信号を出力するものとする。
【0020】AD変換器1はコンデンサアレイ2、比較
回路3、ラダー抵抗回路4及び調整用容量17を備え
る。コンデンサアレイ2は一方の電極を互いにノードN
1に接続したコンデンサ11〜16を備えている。コン
デンサ11〜16はデプレッションNMOSトランジス
タのソース及びドレインを接続して一方の電極とすると
ともに、ゲートを他方の電極としている。コンデンサ1
1〜16の容量値は重み付けがなされ、コンデンサ16
の容量をCとすると、コンデンサ11の容量は8C、コ
ンデンサ12の容量は4C、コンデンサ13の容量は2
C、コンデンサ14,15の容量はそれぞれCとなって
いる。
【0021】コンデンサ11〜14の他方の電極はスイ
ッチ18〜21に接続され、これらのスイッチ18〜2
1はコンデンサ11〜14に入力する信号を、アナログ
信号IN、第1の基準信号VRH及び第2の基準信号V
RL(<VRH)のいずれか一つに切り換える。コンデ
ンサ15の他方の電極はスイッチ22に接続され、スイ
ッチ22はコンデンサ15に入力する信号を、アナログ
信号INとラダー抵抗回路4の出力信号とに切り換え
る。
【0022】ラダー抵抗回路4は基準信号VRH及びV
RL間に直列に接続されかつ基準信号VRH及びVRL
の電位差VOを1/2n-4 (nはAD変換器の分解能)
に分割する複数の抵抗25と、各抵抗25に対応する分
圧信号を出力するための複数のスイッチ26とを備え
る。本実施例のAD変換器1は8ビットの分解能である
ので、ラダー抵抗回路4は16(=24 )個の抵抗25
と16(=24 )個のスイッチ26とを備え、電位差V
Oを1/16に分割する。
【0023】コンデンサ16の他方の電極には調整用容
量17が接続されている。調整用容量17は図2に示す
ように、フローティング型MOSトランジスタであり、
P型半導体基板31に形成されたソース32及びドレイ
ン33、フローティングゲート34、コントロールゲー
ト35とを備える。コントロールゲート35に高電圧V
Gを印加することにより、フローティングゲート34に
電子が注入され、このフローティング型MOSトランジ
スタは容量として作用する。調整用容量17のソース及
びゲートはスイッチ23に接続され、このスイッチ23
は調整用容量17に入力する信号を、オフセット電圧V
OFF とグランドGNDとに切り換える。オフセット電圧
VOFF の電圧値としては最下位ビットLSBを判定する
ための電圧VO/2n の2分の1が設定される。本実施
例のAD変換器1ではオフセット電圧VOFF はVO/2
9 (=VO/512)に設定される。
【0024】また、コンデンサ16とグランドGNDと
の間には調整用容量17と並列にエンハンスメントNM
OSトランジスタ24が接続され、そのゲートには図示
しないテスタ回路から比較信号COMPが入力されてい
る。
【0025】比較回路3は基準信号VRH及びVRLを
動作電源としかつノードN1に接続された入力端子を備
えるインバータ27と、インバータ27の入力端子及び
出力端子間に設けられたスイッチ28と、インバータ2
7の出力端子に接続されたコンデンサ29と、コンデン
サ29の他方の電極に接続されたインバータ30とを備
える。比較回路3はノードN1の電圧に基づいて0,1
判定を行い、インバータ30の出力端子からデジタル信
号の各ビット信号Biを出力する。
【0026】上記のように構成されたAD変換器1で
は、まず、スイッチ28を閉じてインバータ27の入力
端子と出力端子とを接続した後、スイッチ18〜22を
アナログ信号INに接続するとともに、スイッチ23を
オフセット電圧VOFF に接続し、さらにLレベルの比較
信号COMPを入力してトランジスタ24をオフさせる
ことによりアナログ信号INのサンプリングを行う。こ
のとき、調整用容量17のコントロールゲートには高電
圧VGを印加しない。すると、コンデンサ11〜16に
アナログ信号INの電圧値に相当する電荷が蓄えられ
る。この後、スイッチ28を開くとともに、スイッチ1
8〜22を基準信号VRLに接続する。このとき、ラダ
ー抵抗回路4は基準信号VRLに対応するスイッチ26
のみを閉じる。また、Hレベルの比較信号COMPを入
力してトランジスタ24をオンさせることにより、コン
デンサ16をグランドGNDに接続する。このとき、調
整用容量17のコントロールゲートには高電圧VGを印
加せず、スイッチ23はグランドGNDに接続するか、
若しくは無接続にする。これによって、サンプリングし
たアナログ信号INのコンパレートを開始することがで
きる。
【0027】次に、スイッチ18を基準信号VRHに接
続すると、ノードN1の電圧が変化し、そのときのノー
ドN1の電圧に基づいて最上位ビットの0,1判定が行
われる。判定結果が0であると、スイッチ18は基準信
号VRLに固定され、判定結果が1であると、スイッチ
18は基準信号VRHに固定される。
【0028】続いて、スイッチ19を基準信号VRHに
接続すると、ノードN1の電圧が変化し、そのときのノ
ードN1の電圧に基づいて最上位から2ビット目の0,
1判定が行われる。判定結果が0であると、スイッチ1
9は基準信号VRLに固定され、判定結果が1である
と、スイッチ19は基準信号VRHに固定される。
【0029】以下、前記と同様にしてスイッチ20,2
1を順次基準信号VRHに接続してそのときのノードN
1の電圧に基づいて3ビット目、4ビット目の0,1判
定を行う。
【0030】5ビット目の0,1判定は、スイッチ22
をラダー抵抗回路4に接続するとともに、ラダー抵抗回
路4の電位差VOの中間値VO/2を出力する抵抗25
に対応するスイッチ26を閉じて行う。判定結果が0で
あると、6ビット目の0,1判定は、中間値VO/2と
基準信号VRLとの中間値を出力する抵抗25に対応す
るスイッチ26を閉じて行う。判定結果が1であると、
6ビット目の0,1判定は、基準信号VRHと中間値V
O/2との中間値を出力する抵抗25に対応するスイッ
チ26を閉じて行う。以下、前記と同様にして7ビット
目、8ビット目の0,1判定を行う。
【0031】このようにしてアナログ信号INをデジタ
ル変換した信号が「00000000」から「0000
0001」に変化したときのアナログ信号INの電圧値
を求める。そして、この求めたアナログ信号INの電圧
値と前記オフセット電圧V0FF との差αをテスタ回路に
より求める。この差αに基づいて調整用容量17のコン
トロールゲート35に印加する高電圧VG及び印加する
時間を算出する。
【0032】この後、Lレベルの比較信号COMPを入
力してトランジスタ24をオフさせるとともに、スイッ
チ23をグランドGNDに接続し、算出した高電圧VG
を算出した印加時間に基づいて調整用容量17のコント
ロールゲート35に印加する。すると、調整用容量17
に理想とのずれ分αの電荷が蓄えられる。
【0033】そして、上記のように構成されたAD変換
器1でアナログ信号INをデジタル信号に変換するに
は、スイッチ28を閉じてインバータ27の入力端子と
出力端子とを接続した後、スイッチ18〜22をアナロ
グ信号INに接続するとともに、スイッチ23をオフセ
ット電圧VOFF に接続し、さらにLレベルの比較信号C
OMPを入力してトランジスタ24をオフさせることに
よりアナログ信号INのサンプリングを行う。このと
き、調整用容量17のコントロールゲートには高電圧V
Gを印加しない。すると、コンデンサ11〜16にアナ
ログ信号INの電圧値に相当する電荷が蓄えられる。コ
ンデンサ16には調整用容量17の電圧α分だけ少ない
電荷が蓄えられる。
【0034】この後、スイッチ28を開くとともに、ス
イッチ18〜22を基準信号VRLに接続する。このと
き、ラダー抵抗回路4は基準信号VRLに対応するスイ
ッチ26のみを閉じる。また、Hレベルの比較信号CO
MPを入力してトランジスタ24をオンさせることによ
り、コンデンサ16をグランドGNDに接続する。これ
によって、サンプリングしたアナログ信号INのコンパ
レートを開始することができる。
【0035】次に、スイッチ18を基準信号VRHに接
続すると、ノードN1の電圧が変化し、そのときのノー
ドN1の電圧に基づいて最上位ビットの0,1判定が行
われる。判定結果が0であると、スイッチ18は基準信
号VRLに固定され、判定結果が1であると、スイッチ
18は基準信号VRHに固定される。
【0036】続いて、スイッチ19を基準信号VRHに
接続すると、ノードN1の電圧が変化し、そのときのノ
ードN1の電圧に基づいて最上位から2ビット目の0,
1判定が行われる。判定結果が0であると、スイッチ1
9は基準信号VRLに固定され、判定結果が1である
と、スイッチ19は基準信号VRHに固定される。
【0037】以下、前記と同様にしてスイッチ20,2
1を順次基準信号VRHに接続してそのときのノードN
1の電圧に基づいて3ビット目、4ビット目の0,1判
定を行う。
【0038】5ビット目の0,1判定は、スイッチ22
をラダー抵抗回路4に接続するとともに、ラダー抵抗回
路4の電位差VOの中間値VO/2を出力する抵抗25
に対応するスイッチ26を閉じて行う。判定結果が0で
あると、6ビット目の0,1判定は、中間値VO/2と
基準信号VRLとの中間値を出力する抵抗25に対応す
るスイッチ26を閉じて行う。判定結果が1であると、
6ビット目の0,1判定は、基準信号VRHと中間値V
O/2との中間値を出力する抵抗25に対応するスイッ
チ26を閉じて行う。以下、前記と同様にして7ビット
目、8ビット目の0,1判定を行う。
【0039】このように、本実施例ではフローティング
型MOSトランジスタをオフセット電圧の調整用容量1
7としているので、極めて簡単な構成でオフセット電圧
の精度を向上できるとともに、AD変換器1の小型化を
図ることができる。
【0040】図3は別の実施例のAD変換器36を示し
ている。この実施例では調整用容量17をコンデンサ1
4に接続している。調整用容量17のソース及びゲート
はスイッチ38に接続され、このスイッチ38は調整用
容量17に入力する信号を、アナログ信号INとグラン
ドGNDとに切り換える。コンデンサ16の他方の電極
はスイッチ37に接続され、このスイッチ37はコンデ
ンサ16に入力する信号を、オフセット電圧VOFF とグ
ランドGNDとに切り換える。
【0041】本実施例のAD変換器36においても、前
記AD変換器1と同様の作用効果がある。なお、本発明
は次のように任意に変更して具体化することも可能であ
る。
【0042】(イ)ラダー抵抗回路4を省略したデジタ
ル信号の分解能が低い、すなわち、出力すべきデジタル
信号のビット数が少ないAD変換器に具体化してもよ
い。(ロ)フローティングゲート型MOSトランジスタ
よりなる調整用容量17を、コンデンサ11〜16の任
意のコンデンサと、アナログ信号INを入力するための
端子との間に接続してもよい。
【0043】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、高
精度、かつ、小型のアナログ−デジタル変換器を提供す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】一実施例のアナログ−デジタル変換器を示す回
路図
【図2】フローティングゲート型MOSトランジスタの
断面図
【図3】別の実施例のアナログ−デジタル変換器を示す
回路図
【図4】従来のアナログ−デジタル変換器を示す回路図
【符号の説明】
2 コンデンサアレイ 3 比較回路 4 ラダー抵抗回路 11〜16 コンデンサ 17 フローティング型MOSトランジスタ Bi ビット信号 IN アナログ信号 V0FF オフセット電圧 VRH 第2の基準信号 VRL 第1の基準信号

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 出力すべきデジタル信号のビット数に応
    じて決まるオフセット電圧を印加することによりアナロ
    グ信号をオフセットさせ、そのオフセットされたアナロ
    グ信号をデジタル信号に変換するアナログ−デジタル変
    換器において、 フローティング型MOSトランジスタを設け、該MOS
    トランジスタのフローティングゲートに電荷を注入する
    ことにより、該MOSトランジスタを前記オフセット電
    圧を調整するための調整用容量としたアナログ−デジタ
    ル変換器。
  2. 【請求項2】 容量値の重み付けがなされ、かつ、アナ
    ログ信号の電位に応じた電荷を蓄えるための複数のコン
    デンサよりなるコンデンサアレイと、前記コンデンサア
    レイの出力信号の電位に基づいてデジタル信号の各ビッ
    ト信号を出力する比較回路とを備え、デジタル信号のビ
    ット数に応じて決まるオフセット電圧を印加することに
    よりアナログ信号をオフセットさせ、そのオフセットさ
    れたアナログ信号を前記コンデンサアレイに入力して複
    数のコンデンサに電荷を蓄えさせた後、前記コンデンサ
    アレイの各コンデンサに低電位の第1の基準信号を入力
    しておき、前記コンデンサアレイの最も重みの大きいコ
    ンデンサから順に各コンデンサに前記第1の基準信号と
    高電位の第2の基準信号とを切り換えて入力することに
    より前記コンデンサアレイの出力信号の電位を変化させ
    て前記比較回路から前記デジタル信号の各ビット信号を
    順次出力させるアナログ−デジタル変換器において、 フローティング型MOSトランジスタを設け、該MOS
    トランジスタのフローティングゲートに電荷を注入する
    ことにより、該MOSトランジスタを前記オフセット電
    圧を調整するための調整用容量としたアナログ−デジタ
    ル変換器。
  3. 【請求項3】 前記第1の基準信号及び第2の基準信号
    の電位差をデジタル信号の下位ビットに応じて分圧し、
    その分圧したいずれか1つの電圧を選択的に出力するた
    めのラダー抵抗回路を備え、同ラダー抵抗回路は前記コ
    ンデンサアレイの最も重みの小さいコンデンサに接続可
    能である請求項2に記載のアナログ−デジタル変換器。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015062136A (ja) * 2008-12-24 2015-04-02 株式会社半導体エネルギー研究所 タッチパネル

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2015062136A (ja) * 2008-12-24 2015-04-02 株式会社半導体エネルギー研究所 タッチパネル

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