JPH0798203A - ひずみゲージ - Google Patents

ひずみゲージ

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JPH0798203A
JPH0798203A JP26315193A JP26315193A JPH0798203A JP H0798203 A JPH0798203 A JP H0798203A JP 26315193 A JP26315193 A JP 26315193A JP 26315193 A JP26315193 A JP 26315193A JP H0798203 A JPH0798203 A JP H0798203A
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JP
Japan
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gauge
water
strain gauge
base
resin
Prior art date
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Pending
Application number
JP26315193A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiro Yamaura
義郎 山浦
Masayuki Fujino
雅幸 藤野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyowa Electronic Instruments Co Ltd
Original Assignee
Kyowa Electronic Instruments Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 防水防湿性を高くして抵抗素子と被測定物と
の間の電気絶縁性を長く保持できるようにする。 【構成】 このひずみゲージは、ゲージベース3の上面
に抵抗素子5が接着剤4によって接着され下面にアルミ
ニウム又はステンレスの薄膜からなる遮水性金属箔8が
接着剤9により接着されている。抵抗素子5のゲージタ
ブには、ゲージリード6が半田付によって接続されてい
る。抵抗素子5およびゲージベース3の表面は、ラミネ
ート7によって覆われている。防水性樹脂13は、ラミ
ネート7を介してひずみゲージ表面を覆いゲージベース
3の周縁部に接着又は融着されている。被測定物1に
は、遮水性金属箔8が接着剤2によって添着される。こ
のひずみゲージは、ゲージベース3の裏面側への水分の
侵入を遮水性金属箔8によって阻み、表面側への水分の
侵入をラミネート7と防水用樹脂13によって阻むの
で、長期に亘る電気絶縁性の保持が可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ひずみゲージ、特に防
水防湿性を高くして抵抗素子と被測定物との間の電気絶
縁性を充分な高さに長く保持できるようにしたひずみゲ
ージに関するものである。
【0002】
【従来の技術】電気抵抗式ひずみゲージには、抵抗体と
して線材を用いるものと箔材を用いるものがあるが、現
在、主流となっているものは箔材を用いるものである。
図6は、抵抗体として箔材を用いたひずみゲージの従来
例を示すものである。
【0003】同図において、1は被測定物、2はゲージ
ベース3を被測定物1に接着する接着剤で、フェノール
系樹脂、ポリエステル系、シアノアクリレート系あるい
はエポキシ系樹脂等の有機系材料からなる。
【0004】ゲージベース3は、フェノール系樹脂、ポ
リエステル系樹脂、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂ある
いは紙からなり、この表面に接着剤4により抵抗素子5
が接着されている。該接着剤4は、フェノール系及びエ
ポキシ系樹脂等からなる。
【0005】また、抵抗素子5は、銅ニッケルあるいは
ニッケルクロム等の金属箔を上記接着剤4によりゲージ
ベース3に接着し、その金属箔をフォトエッチングによ
りパターニングすることにより形成される。
【0006】6は抵抗素子5の端部のゲージタブに半田
又は溶接により接続された、例えば銅合金及びニッケル
からなるゲージリードである。7はひずみゲージの表面
を覆う防水用ラミネートで、ゲージ素子5及びゲージベ
ース3の上部に熱融着あるいは接着されることによって
ひずみゲージ表面を覆っている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図6に示す
ような従来のひずみゲージには、抵抗素子5と被測定物
1との間の電気絶縁性を長期にわたって高く保つことが
難しいという問題があった。
【0008】この問題について詳しく説明すると、電気
抵抗式ひずみゲージによるひずみ測定において、抵抗素
子5と被測定物1との間の電気絶縁性が悪いと測定誤差
や測定不能が生じる。従って、その電気絶縁性を高く保
つことがひずみ測定を正確に行ううえで不可欠なことで
ある。
【0009】そして、抵抗素子5と被測定物1との間の
電気絶縁性は、ゲージベース3及び接着剤2の耐水耐湿
性能により左右され、充分な高さに長く保つことが難し
かった。何となれば、ひずみゲージの表面を覆うラミネ
ート7については、防水効果が高い材料を選ぶことでこ
れを介してひずみゲージ表面に達する水分を少なくする
ことが可能であるが、接着剤2、ベース3として用いら
れるフェノール樹脂等は、吸水率が低いものでも0.1
%wtと高いので、充分な防水効果が得られず、しかも
矢印に示すように被測定物1と接着剤2の界面から多く
の水分が浸入し、その水分の多くが接着剤2及びゲージ
ベース3を経て抵抗素子側へ浸透するからである。その
ため、抵抗素子5と被測定物1との間の電気絶縁性を充
分な高さに保つことができる期間は、きわめて短かいの
が実情であった。
【0010】本発明は、このような問題を解決するため
になされたもので、防水防湿性を高くして抵抗素子と被
測定物との間の電気絶縁性を長く保持できるひずみゲー
ジを提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、ゲージベースをそれよりも広い遮水性金
属箔上に添着し、表面を防水処理したことを特徴とする
ものである。
【0012】
【作用】本発明によれば、ゲージベースの裏側に遮水性
金属箔があるので、遮水性金属箔と被測定物とを接着す
る接着剤の吸水率が高くても、また、該接着剤と被測定
物との界面に水分が多く浸入しても上記遮水性金属箔に
よってひずみゲージ裏側への水分の浸入を阻むことがで
きる。そして、ひずみゲージの表面は、防水処理されて
いるので、その表面側への水分の浸入も阻むことができ
る。
【0013】従って、ひずみゲージの防水防湿効果を高
めることができ、抵抗素子と被測定物との間の電気絶縁
性の低下を阻むことができる。依って、その電気絶縁性
を高く保つことのできる期間を長くすることができる。
【0014】
【実施例】以下、本発明を、図面に示した実施例に従っ
て詳細に説明する。図1及び図2は、本発明の一つの実
施例を示すもので、図1は、ひずみゲージの断面図、図
2は、ひずみゲージとゲージリードの接続部の構成を拡
大して示す拡大断面図である。
【0015】図面において、1は被測定物、2は遮水性
金属箔8を被測定物1の表面に接着する接着剤で、例え
ばフェノール系樹脂、ポリエステル系、シアノアクリレ
ート系あるいはエポキシ系樹脂からなる。
【0016】遮水性金属箔8は、ゲージベース3の裏側
への水分の浸入を阻むためのものであり、例えばアルミ
ニウムあるいはステンレスからなり、厚さが10〜15
μmの薄膜とされ、この範囲よりも薄いとピンホールが
生じる等して防水効果が得られなくなるし、これよりも
厚いとひずみの測定精度が低下して好ましくない。この
遮水性金属箔8の表面粗さは、後で説明する防水用樹脂
13との密着性を高めるためサンドペーパー等により粗
面化されている。
【0017】具体的には、800メッシュのサンドペー
パーを用いることにより表面粗さが0.1〜0.5μm
程度にされている。これは、0.1μm以上の表面粗さ
が必要だが、0.5μm以上の粗さがあると絶縁性が悪
くなるからである。
【0018】図3は、遮水性金属箔の表面粗さと絶縁抵
抗との関係図であり、図4は、ひずみゲージを水に浸漬
した場合の浸漬時間と絶縁抵抗との関係を、表面粗さが
0.1μmのものと3μmのものについて示した関係図
であり、この図3からは、表面粗さが粗過ぎると好まし
くないことが明らかに分る。
【0019】該遮水性金属箔8は、ゲージベース3より
も適宜大きく形成され、その表面にゲージベース3が接
着剤9を介して接着されている。
【0020】この接着は、ゲージベース3の周縁が遮水
性金属箔8の周縁よりも内側に位置するように位置決め
して行われる。これは、防水用樹脂13がひずみゲージ
の表面を覆ってゲージベース3の周縁部に融着されるよ
うにするためである。尚、接着剤9は、接着剤2と同じ
ものでも良い。
【0021】ゲージベース3の表面には、抵抗素子5が
接着剤4により接着されている。6は抵抗素子5の端部
に一体的に形成されたゲージタブに半田付されたネオマ
ール導線からなるゲージリードであり、銅線10を絶縁
体11で被覆し、該絶縁被覆11の表面を例えばニッケ
ルクロム等の金属12でコーティングしたものである。
【0022】ゲージリードとしてネオマール導線を使う
のは、ピンホールがなく、導線を伝っての水分の浸入が
極めて少なく、また、コーティングされるPES等の防
水用樹脂13との接着性が良いからである。
【0023】7は接着又は熱融着されて抵抗素子5及び
ゲージベース3の表面上を覆うラミネートである。
【0024】13は、例えばPESからなる防水用樹脂
で、ラミネート7を介してひずみゲージ表面を覆いゲー
ジベース3の周縁部に接着又は融着されている。
【0025】このひずみゲージは、ゲージベース3の表
面に抵抗素子5を形成し、ネオマール導線からなるゲー
ジリード6を抵抗素子5のゲージタブに接続し、ラミネ
ート7で表面を覆い、ゲージベース3の裏面を遮水性金
属箔8の表面に接着剤9で接着し、その後、防水用樹脂
13を、図5に示すようなホットプレスを用いてコーテ
ィングすることにより製造される。
【0026】すなわち、図5において、14は剛体から
なる平面性の高い台で、そのフラットな表面上にコーテ
ィング前のひずみゲージが置かれる。15は押圧板で、
シリコンラバー16の下面に添着されたPESからなる
防水用樹脂13を上記台14上のひずみゲージの表面に
押圧する。
【0027】すると、防水用樹脂13を、ひずみゲージ
を囲繞した状態でその外周部において遮水性金属箔8の
周縁部に融着することができる。この融着の温度は、約
200℃である。
【0028】尚、防水用樹脂13としてPESに代えて
シリコーン樹脂(但し、0.01%wt程度の透水性を
有する)、ポリオレフィン樹脂、石油ワックス、ブチル
ゴムあるいはペトララタムを用いることもできる。シリ
コーン樹脂、石油ワックス、ブチルゴム、ペトララタム
の場合には、塗布によりコーティングし、ポリオレフィ
ン樹脂の場合には、熱融着によりコーティングする。
【0029】このようなひずみゲージによれば、ゲージ
ベース3の裏面に、例えばアルミニウムあるいはステン
レスからなる遮水性金属箔8が添着されており、ゲージ
ベース3の裏面側への水分の浸入をその遮水性金属箔8
によって阻むことができる。従って、ひずみゲージを被
測定物1に接着する接着剤2の耐水耐湿性、被測定物1
の表面状態、接着剤2と被測定物1との界面状態等によ
ってひずみゲージの防水防湿性がほとんど左右されな
い。
【0030】そして、ひずみゲージの表面側をラミネー
ト7で覆ったうえで更にPES等の防水用樹脂13をコ
ーティングしたので、ひずみゲージの表面側への水分の
浸入も有効に防止することができる。
【0031】従って、ひずみゲージの防水防湿性を従来
の場合よりも相当に高くすることができ、ひずみゲージ
の抵抗素子5と被測定物1との間の電気絶縁性を長期間
にわたって高い値に保つことができる。具体的には、電
気的絶縁性を充分な高さに保つことができる期間が少な
くとも数ヶ月に延びた。
【0032】
【発明の効果】以上詳しく述べたところから明らかなよ
うに、本発明によれば、ゲージベースの裏側からの水分
の浸入を遮水性金属箔により阻むことができ、該遮水性
金属箔を被測定物に接着する接着剤やそれと被測定物と
の界面の状態等によってひずみゲージの防水防湿性がほ
とんど左右されない。そして、ひずみゲージの表面への
水分の浸入防水処理によって阻むことができる。従っ
て、ひずみゲージの防水防湿性を著しく高め、抵抗素子
と被測定物との間の電気絶縁性を充分な高さに長い期間
保つことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を説明するためのもので、ひ
ずみゲージの断面図である。
【図2】本発明の一実施例を説明するためのもので、ひ
ずみゲージとゲージリードとの接続部を拡大して示す拡
大断面図である。
【図3】本発明の一実施例を説明するためのもので、遮
水性金属箔の表面粗さと絶縁抵抗の関係を示す関係図で
ある。
【図4】本発明の一実施例を説明するためのもので、ひ
ずみゲージを水中に浸漬した場合の浸漬時間と絶縁抵抗
の関係を示す関係図である。
【図5】本発明の一実施例を説明するためのもので、防
水性樹脂(PES)のホットプレスによる融着方法を説
明する断面図である。
【図6】従来のひずみゲージの断面図である。
【符号の説明】
1 被測定物 2,4,9 接着剤 3 ゲージベース 5 抵抗素子 6 ゲージリード 7 防水用ラミネート 8 遮水性金属箔 10 銅線 11 絶縁体 12 金属 13 防水性樹脂 14 台 15 押圧板 16 シリコンラバー

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 表面に抵抗素子を有するゲージベースを
    それよりも広い遮水性金属箔上に添着し、表面を防水処
    理したことを特徴とするひずみゲージ。
JP26315193A 1993-09-28 1993-09-28 ひずみゲージ Pending JPH0798203A (ja)

Priority Applications (1)

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JP26315193A JPH0798203A (ja) 1993-09-28 1993-09-28 ひずみゲージ

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JP26315193A JPH0798203A (ja) 1993-09-28 1993-09-28 ひずみゲージ

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JPH0798203A true JPH0798203A (ja) 1995-04-11

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ID=17385516

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JP26315193A Pending JPH0798203A (ja) 1993-09-28 1993-09-28 ひずみゲージ

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Cited By (5)

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