JPH0793814A - 光学的情報記録用媒体 - Google Patents

光学的情報記録用媒体

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JPH0793814A
JPH0793814A JP5235005A JP23500593A JPH0793814A JP H0793814 A JPH0793814 A JP H0793814A JP 5235005 A JP5235005 A JP 5235005A JP 23500593 A JP23500593 A JP 23500593A JP H0793814 A JPH0793814 A JP H0793814A
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JP
Japan
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layer
reflectance
dielectric
layers
recording medium
Prior art date
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Pending
Application number
JP5235005A
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English (en)
Inventor
Takashi Ono
孝志 大野
Michikazu Horie
通和 堀江
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Chemical Corp
Original Assignee
Mitsubishi Chemical Corp
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Publication date
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Publication of JPH0793814A publication Critical patent/JPH0793814A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明はレーザー光などの照射により、情報
を記録、消去、再生可能な光学的情報記録用媒体であっ
て、従来のCD用再生装置により直接再生可能な光学的
情報記録用媒体を提供することを目的とする。 【構成】 基板上に少なくとも屈折率の異なる2層以上
の誘電体中間層、相転移型光記録層、誘電体層、反射層
を順次積層してなる光学的情報記録用媒体において、相
転移型光記録層は膜厚30nm以上90nm以下の(G
eTe)1-XαX(式中xは0〜0.1の数を表し、αは
Sb、Se、Bi、Inの少なくとも1種を表す)から
なり、かつ、2層以上の誘電体中間層による使用レーザ
ー波長における反射率が10%以上30%以下で、相転
移型光記録層の結晶状態の反射率が70%以上、アモル
ファス状態の反射率が35%以下であることを特徴とす
る光学的情報記録用媒体。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はレーザー光などの照射に
より、情報を記録、消去、再生可能な光学的情報記録用
媒体に関する。特に従来のCD用再生装置により直接再
生可能な光学的情報記録用媒体に関する。
【0002】
【従来の技術】光ディスクには再生専用型と光記録可能
型、さらには書換可能型があるが再生専用型はビデオデ
ィスク、オーディオディスク、さらには大容量コンピュ
ーター用ディスクメモリーとしてすでに広くドライブが
普及している。これらの内で音楽等のオーディオ再生用
として、コンパクトディスク(CD)が広く実用化され
ている。コンパクトディスク(CD)は、CDフォーマ
ット化されたEFM(Eight to Fourte
en Modulation)信号の凹凸(ピット)を
スタンパーからプラスチック基板に転写し、その上にア
ルミニウム等の金属からなる反射膜および保護層を設け
て実用に供されている。
【0003】CDからの情報の読みとりは、半導体レー
ザービームを基板側から入射させて光ディスクに照射す
ることによりおこなわれ、ピットの有無による反射率変
化によってCDフォーマット信号等が読みとられる。こ
の際従来のCDは70%以上の高い反射率と60%以上
の変調度を有することが特徴である。しかし該再生専用
CDでは情報の記録・編集、あるいは書換等ができない
との欠点を有していた。
【0004】また、ソフトウェア、データファイル、静
止画像等のファイルにおいてもCD・ROM(Read
only memory)またはCD−I(inte
ractive)用の光記録・消去可能な光ディスクが
望まれている。一方、光記録可能型の代表的なものには
孔あけ・変形型、光磁気型と相変化型がある。孔あけ・
変形型としてはTeSeF合金(特開昭63ー1321
88)または染料等の記録層が用いられ、レーザー光照
射により局所的に加熱され、孔もしくは凹部が形成され
る。
【0005】実際上そのような孔あけ型には記録層上に
空隙が存在しなければならない。このため2枚のディス
クを互いに向かい合わせてスペーサーを用いて貼り合わ
せ、記録層間に間隙をつくるようにする。当然のことな
がらこのような貼り合わせ構造のディスクでは現在普及
しているCD用ドライブでは使用不可能である。光磁気
型は記録層の磁化の向きにより記録や消去を行い、磁気
光学効果によって再生をおこなうため反射率の差を利用
する従来型のCD用ドライブでは再生不可能である。
【0006】CDフォーマット信号の記録をおこなうデ
ィスクとしては、基板上に色素または色素を含むポリマ
ー等からなる記録層を有する光ディスク、および該光デ
ィスクを用いる光情報記録方法が提案されている(特開
昭61ー237239号、61ー233943号)がこ
れらの光ディスクは書換可能にはなりえない。これに対
し、相変化型は相変化前後で反射率が変化することを利
用するものであり、外部磁界を必要とせず反射率の違い
で再生を行うという点でCDと共通している。
【0007】さらに、レーザー光のパワーを変調するだ
けで、記録・消去が可能であり、消去と再記録を単一ビ
ームで同時に行う、1ビームオーバーライトも可能であ
るという利点を有する。1ビームオーバーライト可能な
相変化記録方式では、記録膜を非晶質化させることによ
って記録ビットを形成し、結晶化させることによって消
去を行う場合が一般的である。
【0008】このような、相変化記録方式に用いられる
記録層材料としては、カルコゲン系合金薄膜を用いるこ
とが多い。例えば、Ge−Te系、Ge−Te−Sb
系、In−Sb−Te系、Ge−Sn−Te系合金薄膜
等が挙げられる。通常は記録層の変形等からの保護、酸
化等の変質からの保護、さらには干渉効果利用のために
記録層の上下に誘電体保護層を設ける。
【0009】また冷却速度の調整や干渉効果の有効的利
用のため記録層上部の誘電体層上に反射層を設ける層構
成がよく用いられる。すなわち基板上に誘電体保護層、
相転移型記録層、誘電体保護層、反射層を順次設けた層
構成が一般的である。なお、書換え型とほとんど同じ材
料・層構成により、追記型の相変化媒体も実現できる。
【0010】この場合、可逆性が無いという点でより長
期にわたって情報を記録・保存でき、原理的にはほぼ半
永久的な保存が可能である。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
一般的層構成の相変化光ディスクは反射率が低くCD用
ドライブでは再生できない。記録層上下の誘電体層の膜
厚を変化させることにより反射率を大きくすることは可
能であるが、そのときは充分な変調度を得ることはでき
ない。
【0012】さらに、CD用ドライブで再生するために
は未記録部で反射率が高いことが必要であるので、初期
化が必要なGe−Te、Ge−Sb−Te系相変化媒体
の場合は結晶状態の反射率を高くする必要があるが、高
反射率では吸収係数(複素屈折率の虚数部)の小さいア
モルファス状態の反射率が大きくなる傾向にある。記録
層下部の誘電体層を2層にして反射率を上げる試みが提
案されている(特開平1ー27324)が、反射率およ
びコントラストが充分であるとはいえない。
【0013】さらに多くの誘電体を積み重ねることによ
り反射率、コントラストは大きくなる傾向にはあるが、
層数が多くなりすぎる場合、製造プロセスを考慮すると
実用的ではなく、界面で生じる欠陥も層数の少ない場合
よりも多くなると考えられる。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明の要旨は、基板上
に少なくとも屈折率の異なる2層以上の誘電体中間層、
相転移型光記録層、誘電体層、反射層を順次積層してな
る光学的情報記録用媒体において、相転移型光記録層は
膜厚30nm以上90nm以下の(GeTe) 1-Xα
X(式中xは0〜0.1の数をあらわし、αはSb、S
e、Bi、Inの少なくとも1種を表す)からなり、か
つ、2層以上の誘電体中間層による使用レーザー波長に
おける反射率が10%以上30%以下で、相転移型光記
録層の結晶状態の反射率が70%以上、アモルファス状
態の反射率が35%以下であることを特徴とする光学的
情報記録用媒体に関する。
【0015】誘電体中間層部の反射率が比較的小さい場
合、高反射率、高コントラストを達成するためには、G
eTeを主成分とする記録層を用いた場合、膜厚をある
程度厚くするとよい。この理由は以下のように考えるこ
とができる。層の構成を記録層より下部の誘電体中間層
の部分と、記録層およびその上部の誘電体層、反射層の
上部3層部分に分けて考えた場合、上部3層による結晶
状態反射光を誘電体中間層部での反射光と強め合うよう
に干渉させればディスクとしての結晶状態の反射率は大
きくなる。
【0016】ただしこのときアモルファスの反射率が大
きくならないようにする必要がある。GeTeのような
主に吸収係数(複素屈折率の虚数部分)の変化により反
射率差が得られる記録媒体では、ある程度記録層膜厚が
大きければ反射層による反射光の影響は吸収係数の大き
な結晶状態に対しては大きな影響を与えず、アモルファ
ス状態に対する影響が大きくなる。
【0017】したがって、記録層膜厚をある程度厚く
し、上部3層による結晶状態反射光と誘電体中間層によ
る反射光をある程度強め合うよな位相となるように記録
層直下の誘電体層膜厚を選び、反射層での反射光を誘電
体中間層部による反射光と打ち消し合う位相となるよう
に記録層上部誘電体層膜厚を選べば高反射率、高コント
ラストのディスクを得ることができる。
【0018】ただし記録層がさらに厚くなり反射層での
反射光の影響がアモルファス状態においても小さくなる
とコントラストはとれなくなる。したがって記録層膜厚
には適当な範囲が存在し、30〜90nm、好ましくは
40〜70nmで結晶部反射率70%以上、アモルファ
ス部反射率35%以下が達成されるのが好ましい。
【0019】本発明で用いる誘電体としては、種々の組
み合わせが可能であり、屈折率、熱伝導率、化学的安定
性、機械的強度、密着性等に留意して決定される。一般
的には透明性が高く高融点であるMg,Ca,Sr,
Y,La,Ce,Ho,Er,Yb,Ti,Zr,H
f,V,Nb,Ta,Zn,Al,Si,Ge,Pb等
の酸化物、硫化物、窒化物やCa,Mg,Li等のフッ
化物を用いることができる。
【0020】これらの酸化物、硫化物、窒化物、フッ化
物は必ずしも化学量論的組成をとる必要はなく、屈折率
等の制御のために組成を制御したり、混合して用いるこ
とも有効である。作製プロセスを簡単にするため、界面
でのはがれ等を少なくするためには誘電体中間層の層数
は少ない方が好ましく、少ない層数で高反射率、高コン
トラストを達成するためには屈折率差の大きな2種類以
上の誘電体を用いるとよい。
【0021】屈折率の比較的小さいものとしては、Ca
2、MgF2、Na3AlF6、SiO2等があり、屈折
率の比較的大きいものとしては、TiO2、ZnS、T
25、ZnSとSiO2の混合物等がある。相変化光
ディスクには、例えば(ZnS)80(SiO220やS
iO2が多く用いられるが、これらの誘電体を用い、λ
/4の光学膜厚(λはレーザー波長)でポリカーボネー
ト基板上に(ZnS)80(SiO220、SiO2の順に
積み重ねた場合には、誘電体中間層を2層とすると中間
層反射率は10%程度、3層とすると22%程度、4層
では34%程度となる。
【0022】どの誘電体を用いるかにもよるが、誘電体
中間層の反射率が30%程度までならば中間層部が3層
以下の比較的層数の少ないディスクの作製が可能とな
る。したがって誘電体中間層による反射率は10%以上
30%以下が好ましい。ここで誘電体中間層の反射率
は、記録層直下の誘電体層の膜厚が無限に厚いと仮定し
たときの反射率として定義できる。
【0023】すなわち誘電体の屈折率と膜厚とから計算
により求めることができる。なお誘電体層の膜厚は必ず
しもλ/4の光学膜厚である必要はなく、この膜厚から
ずらすことにより中間層反射率や反射率の波長依存性の
調整が可能である。記録感度の面では記録層に接する誘
電体層は熱伝導率、比熱の小さい物質を厚くつけるとよ
いと考えられる。
【0024】通常相変化光記録層はGeSbTe系、I
nSbTe系等が用いられるが、屈折率変化の大きな材
料がコントラストを大きくするために好ましい。GeS
bTe系に関しては、Sb2Te3−GeTeライン上組
成またはこの組成に少量のSb等を加えた組成が相変化
記録に適しているが、屈折率変化の面ではGeTeに近
い方が良い。
【0025】したがってGeTeをベースとする材料が
好ましく、第3の元素を添加してビット形状、結晶粒
形、経時安定性、記録感度、光学物性等を改善すること
も可能である。第3元素としてSb、Sn,In,T
e、Ge,Pb,As,Se,Si,Bi,Au,T
i,Cu、Ag、Pt、Pd、Co、Ni等を加えても
よいが、特に、Sb、Se、Bi、Inが好適に用いら
れ、天下する場合には、その量は10at.%以下であ
る。
【0026】これらの第3成分を加えることによりGe
Te本来の光学物性、高結晶化速度を損なうことなく、
非晶質ビット形成能を制御し得る。なおGeTeの組成
比は必ずしも1:1の原子比である必要はなく50a
t.%から±5at.%程度のずれは問題ない。反射層
は反射率の大きい物質が好ましく、Au、Ag、Cu、
Al等が用いられ、熱伝導度制御等のためTa、Ti、
Cr、Mo、Mg、V、Nb、Zr等を少量加えてもよ
い。
【0027】本発明における記録媒体の基板としては、
ガラス、プラスチック、ガラス上に光硬化性樹脂を設け
たもの等のいずれであってもよいが、CD互換性の面で
はポリカーボネート樹脂が好ましい。記録層、誘電体
層、反射層はスパッタリング法などによって形成され
る。記録膜用ターゲット、保護膜用ターゲット、必要な
場合には反射層材料用ターゲットを同一真空チャンバー
内に設置したインライン装置で膜形成を行うことが各層
間の酸化や汚染を防ぐ点で望ましい。また、生産性の面
からもすぐれている。
【0028】
【実施例】以下実施例をもって本発明を詳細に説明す
る。 実施例1 ポリカーボネート樹脂基板上に(ZnS)80(Si
220層を90nm、SiO2層を120nm、(Zn
S)80(SiO220層を175nm、Ge46Sb 8Te
46層を30nm、(ZnS)80(SiO220層を20
0nm、Au層を100nm順次マグネトロンスパッタ
リング法にて積層しディスクを作製した。
【0029】as−depo(製膜直後)状態での反射
率とArレーザーによる初期化後の結晶状態での反射率
を波長780nmにおいて測定したところ、それぞれ2
9%、71%であった。誘電体中間層部反射率は22%
であった。このディスクに1.4m/secで196k
Hz、duty50%、19mWの信号を記録したとこ
ろC/N>50dBが得られ、10mWのDCレーザー
をあてたところ25dB以上の消去率が得られた。レー
ザー波長は780nm、NAは0.55である。
【0030】記録後CD再生装置と同じ条件で再生を行
い良好な結果を得た。 実施例2〜23および比較例1〜6 表1に示すような層構成をポリカーボネート樹脂基板上
にマグネトロンスパッタリング法により積層し、as−
depo、結晶のミラー部反射率を実施例1と同様に測
定した。
【0031】結果と誘電体中間層による反射率を表1に
示す。これらの実施例および比較例はいずれも誘電体中
間層は3層以下の比較的簡単な層構成であるが、記録層
膜厚が30〜90nmのときに結晶反射率70%以上、
as−depo反射率35%以下を得ることができた。
なお記録層上下の誘電体層膜厚は±10nm程度ずれて
も問題はない。
【0032】また、GeTe、Ge47Se6Te47、G
47Bi6Te47、Ge47In6Te47の複素屈折率はG
46Sb8Te46とほぼ同じであるため同様に高反射
率、高コントラストのディスクを得ることができる。比
較例1.2.4.5.のものは結晶状態での反射率が低
く、CDと同条件での読出しができず、比較例3.6の
ものは変調度が不足のためCDと同条件での読出しがで
きなかった。
【0033】
【表1】
【0034】
【表2】
【0035】
【表3】
【0036】
【表4】
【0037】
【表5】 表中(1)〜(13)は以下の通り、 (1):(ZnS)80(SiO220 (2):SiO2 (3):Ge46Sb8Te46 (4):Au (5):CaF2 (6):(ZnS)90(Ta2510 (7):TiO2 (8):BN (9):Al (10):Ge47Se6Te47 (11):Ge47Bi6Te47 (12):Ge47In6Te47 (13):Ta25
【0038】
【発明の効果】本発明の光学的記録用媒体を用いること
により比較的簡単な層構成で反射率およびコントラスト
を大きくとることのできる光学的情報記録用媒体が作製
し得る。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板上に少なくとも屈折率の異なる2層以
    上の誘電体中間層、相転移型光記録層、誘電体層、反射
    層を順次積層してなる光学的情報記録用媒体において、
    相転移型光記録層は膜厚30nm以上90nm以下の
    (GeTe)1- XαX(式中xは0〜0.1の数を表し、
    αはSb、Se、Bi、Inの少なくとも1種を表す)
    からなり、かつ、2層以上の誘電体中間層による使用レ
    ーザー波長における反射率が10%以上30%以下で、
    相転移型光記録層の結晶状態の反射率が70%以上、ア
    モルファス状態の反射率が35%以下であることを特徴
    とする光学的情報記録用媒体。
  2. 【請求項2】上記屈折率の異なる2層以上の誘電体中間
    層がZnSとSiO 2の混合物とSiO2とからなること
    を特徴とする請求項1に記載の光学的情報記録用媒体。
JP5235005A 1993-09-21 1993-09-21 光学的情報記録用媒体 Pending JPH0793814A (ja)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04212735A (ja) * 1990-03-14 1992-08-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光学情報の記録方法
JPH04265541A (ja) * 1991-02-20 1992-09-21 Hitachi Chem Co Ltd 光記録媒体

Patent Citations (2)

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