JPH0786152A - 投影露光装置 - Google Patents

投影露光装置

Info

Publication number
JPH0786152A
JPH0786152A JP5252387A JP25238793A JPH0786152A JP H0786152 A JPH0786152 A JP H0786152A JP 5252387 A JP5252387 A JP 5252387A JP 25238793 A JP25238793 A JP 25238793A JP H0786152 A JPH0786152 A JP H0786152A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lens barrel
optical system
barrel unit
unit
projection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5252387A
Other languages
English (en)
Inventor
Masatoshi Ikeda
正俊 池田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP5252387A priority Critical patent/JPH0786152A/ja
Priority to KR1019940023578A priority patent/KR100368192B1/ko
Publication of JPH0786152A publication Critical patent/JPH0786152A/ja
Priority to US08/553,086 priority patent/US5638223A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70808Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
    • G03F7/70825Mounting of individual elements, e.g. mounts, holders or supports
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/027Making masks on semiconductor bodies for further photolithographic processing not provided for in group H01L21/18 or H01L21/34
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B13/00Optical objectives specially designed for the purposes specified below
    • G02B13/24Optical objectives specially designed for the purposes specified below for reproducing or copying at short object distances
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/02Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses
    • G02B7/021Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses for more than one lens
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70241Optical aspects of refractive lens systems, i.e. comprising only refractive elements
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70258Projection system adjustments, e.g. adjustments during exposure or alignment during assembly of projection system
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70808Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
    • G03F7/70833Mounting of optical systems, e.g. mounting of illumination system, projection system or stage systems on base-plate or ground
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70858Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
    • G03F7/70883Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature of optical system
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70975Assembly, maintenance, transport or storage of apparatus

Abstract

(57)【要約】 【目的】 投影光学系の他の光学素子ユニットに影響を
及ぼすことなく、所望の光学素子ユニットのみを光学調
整することのできる投影露光装置を提供することを目的
とする。 【構成】 本発明の投影露光装置は、パターンが形成さ
れたマスクを所定波長域の照明光で照明して、前記パタ
ーンの像を投影光学系を介して被投影基板上に結像させ
る投影露光装置において、前記投影光学系は、それぞれ
1枚以上の光学素子を収容した複数の鏡筒ユニットを備
え、前記鏡筒ユニットの各々は、前記投影光学系に着脱
自在に取り付けられるように構成されていることを特徴
とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は投影露光装置に関し、さ
らに詳細には投影光学系の鏡筒構造に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】投影露光装置の従来の屈折式投影光学系
の鏡筒構造を図7に示す。図7に示すように、たとえば
レチクルのようなフォトマスク4に形成されたパターン
をウェハのような被投影基板5に転写するための従来の
屈折式投影光学系は、1つの鏡筒1を備えている。鏡筒
1の底部には開口部6が設けられ、内方に突出した突出
部7が形成されている。鏡筒1の上部にも開口部8が形
成され、この開口部8にリング状の押さえ部材3がねじ
嵌合されている。
【0003】さらに鏡筒1内には、それぞれ光学素子
(レンズ)Lを収容するレンズ枠2が複数個設けられて
いる。レンズ枠2に収容されたレンズLの各光軸は、屈
折式投影光学系の光軸AXに一致するように位置決めさ
れている。このように、従来の屈折式投影光学系の鏡筒
構造では、1つの鏡筒内に全部のレンズ枠を収容する構
成を採っていた。
【0004】上述のような構成を有する従来の屈折式投
影光学系を組み立てる場合、レンズLを収容した各レン
ズ枠2を上部開口部8を介して順次鏡筒1内に落とし込
む。落とし込まれた各レンズ枠2は、鏡筒1の底部に形
成された突出部7によって支持され、鏡筒1内において
積層される。すべてのレンズ枠2を収容したところで、
押さえ部材3を開口部8に嵌合させて組立を完了する。
【0005】一般に、屈折式投影光学系では、各レンズ
間距離の調整、各レンズの光軸AXに対する傾き(以
下、「チルト」という)の調整、光軸AXに対する各レ
ンズの光軸の偏心の調整等の光学調整が必要である。上
述のような構成を有する従来の屈折式投影光学系でこの
ような光学調整を行う場合には、鏡筒1から各レンズ枠
2を抜き出して行う必要があった。また、光学調整は全
系の結像結果を見ながら行う必要があるので、従来の屈
折式投影光学系ではすべてのレンズ枠2を組み込んで全
体を構成した状態でしか光学調整を行うことができなか
った。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来の屈
折式投影光学系では、1つの鏡筒内にすべての光学素子
が収容されて1つの部品を構成している。したがって、
ある特定の光学素子について光学調整が必要な場合に鏡
筒内からその特定の光学素子を抜き出すことは、1つの
部品を分解することに他ならなかった。さらに、上述の
ように、光学調整はすべてのレンズ枠を組み込んで全体
を再構成した状態でしか行うことができなかったので、
たとえ1つのレンズの光学調整のためであってもこの分
解および再構成(再組み立て)の作業を繰り返す必要が
あり、構成レンズの数が増えるほど光学調整の効率が著
しく悪いという不都合があった。
【0007】また、反射屈折式投影光学系では鏡筒構造
も上述の従来の屈折式投影光学系よりもはるかに複雑に
なり、光学調整についても従来の屈折式投影光学系と同
様の不都合があった。本発明は、前述の課題に鑑みてな
されたものであり、投影光学系の他の光学素子ユニット
に影響を及ぼすことなく、所望の光学素子ユニットのみ
を光学調整することのできる投影露光装置を提供するこ
とを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明においては、パターンが形成されたマスクを
所定波長域の照明光で照明して、前記パターンの像を投
影光学系を介して被投影基板上に結像させる投影露光装
置において、前記投影光学系は、それぞれ1枚以上の光
学素子を収容した複数の鏡筒ユニットを備え、前記鏡筒
ユニットの各々は、前記投影光学系に着脱自在に取り付
けられるように構成されていることを特徴とする投影露
光装置を提供する。
【0009】また、本発明の好ましい態様によれば、前
記鏡筒ユニットの各々は、前記投影光学系の所定位置に
各鏡筒ユニットを位置決めするための位置決め調整手段
を備えている。具体的には、前記投影光学系は屈折式の
投影光学系であって、各鏡筒ユニットの光軸に沿った移
動調整、各鏡筒ユニットの光軸に対する傾斜調整、およ
び前記光学素子の光軸に対する偏心調整のうち少なくと
も1つの調整を行うための調整手段を備えているのが好
ましい。また、前記投影光学系は反射屈折式の投影光学
系であって、各鏡筒ユニットの光軸に沿った移動調整、
各鏡筒ユニットの光軸に対する傾斜調整、および各鏡筒
ユニットの光軸と直交する方向の位置決め調整のうち少
なくとも1つの調整を行うための調整手段を備えている
のが好ましい。
【0010】
【作用】上述のように、本発明の投影露光装置では投影
光学系の鏡筒が複数の鏡筒ユニットに分割され、各ユニ
ットが投影光学系に着脱自在に取り付けられるように構
成されている。
【0011】このように、本発明では各鏡筒ユニットが
投影光学系に着脱自在に取り付けられるので、各鏡筒ユ
ニットを自在に交換することができる。この特徴を利用
して、たとえば光学調整がなされた標準機(マスター)
を予め用意しておき、各ユニットを対応する所定のマス
ターユニットと交換して光学調整および光学特性評価を
行うことができる。そして、所望の光学特性が保証され
た合格ユニットを組み合わせて投影光学系を完成させる
ことができる。
【0012】さらに、各ユニットの光学特性評価を予め
行うことができ、各ユニットの光学性能の傾向が明らか
になっているので、各ユニットの光学性能の不足部分
(たとえばザイデルの5収差からより高次な収差、偏心
成分等)を補完または相殺するように組み合わせること
によって、投影光学系の全系の仕様(スペック)を総合
的に満たすことが可能になる。たとえば、収差特性につ
いて具体的にいえば、あるユニットのレンズディストー
ションがプラスであれば、これに連結する他のユニット
としてマイナスのレンズディストーションを有するユニ
ットを選択することになる。
【0013】このように、本発明の投影露光装置の投影
光学系では、交換可能な複数の鏡筒ユニットに分割され
ているので、たとえば標準機を利用することによって分
割ユニット毎に光学調整を行うことが可能である。した
がって、投影光学系の全系または他のユニットに影響を
及ぼすことなく独立に且つ効率良く所望ユニットの光学
調整を行うことができる。また、ユニットの交換が可能
なので、あるユニットに不都合が生じたときにも、同じ
光学特性のユニットまたは必要に応じて異なる光学特性
のユニットで置換することができる。また、各ユニット
の光学性能評価を予め行うことができるので、各ユニッ
トの光学性能の不足部分をキャンセルするように組み合
わせることによって、全体的に優れた光学性能を有する
投影光学系を構成することができる。
【0014】
【実施例】本発明の実施例を、添付図面に基づいて説明
する。図1は、本発明の第1の実施例にかかる屈折式投
影光学系の概略的な構成を示す図である。図1におい
て、たとえばレチクルのようなフォトマスク4に形成さ
れたパターンをウェハのような被投影基板5に転写する
ための屈折式投影光学系は、5つの鏡筒ユニット11、
12、13、14、15を備えている。各鏡筒ユニット
の底部には開口部6が設けられ、内方に突出した突出部
7が形成されている。各鏡筒ユニットの上部にも開口部
8が形成され、この開口部8にリング状の押さえ部材3
が嵌合されている。さらに各鏡筒ユニット内には、それ
ぞれ光学素子(レンズ)Lを収容するレンズ枠2が複数
個設けられている。本実施例では、レンズ枠2に収容さ
れたレンズLの各光軸は、屈折式投影光学系の光軸AX
に一致するように位置決めされている。
【0015】図2は、第1の実施例の各鏡筒ユニット間
の連結構造を示す断面詳細図である。図2において、上
方鏡筒ユニット13の底部から下方に向かって突出部3
1が形成されている。突出部31は円筒状に形成され、
下方鏡筒ユニット14の開口部8に緊密に嵌合するよう
に構成されている。これにより、通常、偏心量は抑制さ
れる。また、上方鏡筒ユニット13の底部には環状の下
部フランジ35が形成され、下方鏡筒ユニット14の上
部には環状の上部フランジ34が形成されている。上方
鏡筒ユニット13の下部フランジ35と下方鏡筒ユニッ
ト14の上部フランジ34とは、所定厚のワッシャ32
(32a、32b、32c:図2では32aのみ図示)
を介してボルト33(33a、33b、33c:図2で
は33aのみ図示)によって連結されている。各ユニッ
トはそれぞれ3ヵ所においてボルト連結されているのが
望ましく、さらに好ましくは3つのボルト33aから3
3cが光軸AXを中心とする円をほぼ3等分する位置に
配設されている。
【0016】図1に示すように、鏡筒ユニット12から
14の3つの中間鏡筒ユニットは、その上部および下部
において上述の連結がなされるように構成され、鏡筒ユ
ニット11および15ではそれぞれ下部および上部にお
いて上述の連結がなされるように構成されている。こう
して、ワッシャ32aから32cは、その厚さを選択す
ることにより鏡筒ユニット13を鏡筒ユニット14に対
して光軸AX方向に移動させることができる。さらに具
体的には同じ厚さのワッシャ32aから32cを使用す
ることにより鏡筒ユニット13を鏡筒ユニット14に対
して光軸AXに沿って平行移動(以下、「シフト」とい
う)させることができるとともに、ワッシャ32aから
32cの各々の厚さを変えることにより各鏡筒ユニット
を光軸AXに対してチルトさせることもできる。
【0017】このように、ワッシャ32は、鏡筒ユニッ
トを光軸に沿って移動させるためのシフト手段と、光軸
に対して傾斜させるためのチルト手段とを構成してい
る。一方、上述の説明では偏心量は抑制されていること
としたが、光軸AXに対する鏡筒ユニットの光軸の偏心
を調整する場合は、嵌合状態に多少余裕をもたせ、たと
えば各鏡筒ユニットの各結合部(3つの連結部)に板ば
ね80を設け、各鏡筒ユニットを光軸に向かって板ばね
80によって付勢することにより偏心が調整される。各
結合部は3つの連結部であるので、3つの板ばね80
a、80b、80c(図2では80aのみ図示)により
偏心が調整され、各板ばねの付勢力を等しくすることに
より偏心を除去し、3つの板ばねのうち1つの板ばね
(たとえば板ばね80a)の付勢力を他の2つの板ばね
よりも大きくしておくことにより、付勢力に応じて偏心
させることができる。
【0018】図3は、本発明の第2の実施例にかかる反
射屈折式投影光学系の概略的な構成を示す図である。図
3において、たとえばレチクルのようなフォトマスク4
に形成されたパターンをウェハのような被投影基板5に
転写するための反射屈折式投影光学系は、第1の光軸A
X1に沿って配置された第1の鏡筒ユニット41および
第1の球面ミラー部44を備えている。第1の鏡筒ユニ
ット41は、たとえば2つの光学素子を有しレチクル4
の直下に配設されている。また、第1の鏡筒ユニット4
1と第1の球面ミラー部44との間には第1の折り曲げ
ミラー部46が設けられている。
【0019】また、本実施例の反射屈折式投影光学系は
第2の光軸AX2に沿って配設された第2の鏡筒ユニッ
ト42を備えている。第2の鏡筒ユニット42はたとえ
ば2つの光学素子を有し、第1の折り曲げミラー部46
と第2の折り曲げミラー部47との間に位置決めされて
いる。さらに、図示の反射屈折式投影光学系は第3の光
軸AX3に沿って配設された第3の鏡筒ユニット43お
よび第2の球面ミラー部45を備えている。第3の鏡筒
ユニット43は、たとえば2つの光学素子を有しウェハ
5の上方に配設されている。また、第2の球面ミラー部
45は、第2の折り曲げミラー部47を挟んで第3の鏡
筒ユニット43と反対側に配設されている。
【0020】図3において、レチクル4を透過した光束
は第1の鏡筒ユニット41を通過して下降し、第1の球
面ミラー部44で上方に反射される。第1の球面ミラー
部44の反射光は、第1の折り曲げミラー部4によって
図中左水平方向に反射され第2の鏡筒ユニット42に入
射する。次いで、第2の鏡筒ユニット42を透過した光
は第2の折り曲げミラー部47で図中上方に反射され、
第2の球面ミラー部45に入射する。第2の球面ミラー
部45で図中下方に反射された光は、第3の鏡筒ユニッ
ト43を介してウェハ5上に結像する。こうして、レチ
クル4のパターンが、ウェハ5上に転写される。
【0021】図4は、図3の反射屈折式投影光学系の構
成をより具体的に示す図である。図4は、上述の各構成
要素41、42、43、44、45、46、47が反射
屈折式投影光学系のボディ48に取り付けられている様
子を示しており、構成的には図3に一致している。
【0022】図5は、第1の鏡筒ユニット41の位置決
め調整手段について説明する図である。図5(a)は第
1の鏡筒ユニット41の上面図であり、図5(b)は第
1の鏡筒ユニット41の側部分断面図である。図5にお
いて、第1の鏡筒ユニット41は、3つのボルト61
a、61b、61cおよび対応する3つのワッシャ62
a、62b、62cを介して支持部材66に固定されて
いる。ボルト61aから61cは、図示のように光軸A
Xを中心とする円をほぼ3等分するように配置されてい
るのが好ましい。
【0023】支持部材66は、3つのボルト65a、6
5b、65cを介して投影光学系のボディ48に固定さ
れている。3つのボルト65aから65cも、図示のよ
うに光軸を中心とする円をほぼ3等分するように配置さ
れている。ボルト61aから61cおよび65aから6
5cの6つのボルトは、図示のように光軸を中心とする
円をほぼ6等分するように配置されている。投影光学系
のボディ48には、2つの当て駒63aおよび63bが
対応する2組の一対ボルト64aおよび64bによって
固定されている。さらに具体的には、2つの当て駒63
aおよび63bは光軸AXと直交する2つの軸線AYお
よびAZ上に配置されている。
【0024】図5の第1の鏡筒ユニット41において
は、当て駒63aおよび63bをそれぞれボルト64a
および64bに対するボルト穴のクリアランス分だけ軸
線AYおよびAZ方向に移動させることができるように
構成されている。したがって、当て駒63aおよび63
bを第1の鏡筒ユニット41に当接させて位置決めする
ことにより、第1の鏡筒ユニット41を光軸AXと直交
する方向に位置決め調整することができる。換言すれ
ば、第1の鏡筒ユニット41の光軸偏心を調整すること
ができる。このように、当て駒63a、63bは、第1
の鏡筒ユニット41の光軸直交方向位置決め調整手段を
構成している。
【0025】一方、ワッシャ62aから62cは、その
厚さを選択することにより鏡筒ユニット41を光軸AX
方向に移動させることができる。さらに具体的には同じ
厚さのワッシャ62aから62cを使用することにより
鏡筒ユニット41を光軸AXに沿ってシフトさせること
ができるとともに、ワッシャ62aから62cの各々の
厚さを変えることにより鏡筒ユニット41を光軸AXに
対してチルトさせることもできる。このように、ワッシ
ャ62aから62cは、第1の鏡筒ユニット41を光軸
に沿って移動させるためのシフト手段と、光軸に対して
傾斜させるためのチルト手段とを構成している。なお、
第3の鏡筒ユニット43、第1の球面ミラー部44およ
び第2の球面ミラー部45の位置決め調整手段も同様に
構成することができる。
【0026】図6は、第2の鏡筒ユニット42の位置決
め調整手段について説明する図である。図6(a)は第
2の鏡筒ユニット42の正面図であり、図5(b)は第
2の鏡筒ユニット42の側面部分断面図である。図6に
おいて、第2の鏡筒ユニット42は、3つのボルト71
a、71b、71cおよび対応する3つのワッシャ72
aから72cを介して投影光学系のボディ48に固定さ
れている。ボルト71aから71cは、等角度間隔で配
置されている(ある円をほぼ3等分するように均等に配
置されている)のが好ましい。
【0027】投影光学系のボディ48には、2つの当て
駒73aおよび73bが対応する2組の一対ボルト74
aおよび74bによって固定されている。さらに具体的
には、当て駒73aは光軸AXと軸線AZとを含む平面
に垂直に延び、当て駒73bは光軸AXと軸線AZとを
含む平面に平行に延びている。図6の第2の鏡筒ユニッ
ト42においては、当て駒73aおよび73bをそれぞ
れボルト74aおよび74bに対するボルト穴のクリア
ランス分だけ光軸AXおよびAY方向に移動させること
ができるように構成されている。したがって、当て駒7
3aを第2の鏡筒ユニット42に当接させて位置決めす
ることにより、第2の鏡筒ユニット42を光軸AX方向
にシフトさせて位置決め調整することができる。また、
当て駒73bを第2の鏡筒ユニット42に当接させて位
置決めすることにより、第2の鏡筒ユニット42を光軸
AXと直交する軸線AY方向に位置決め調整することが
できる。
【0028】一方、ワッシャ72aから72cは、その
厚さを選択することにより鏡筒ユニット42を光軸AX
と直交する軸線AZ方向に移動させたり、光軸AXに対
して傾斜させたりすることができる。さらに具体的には
同じ厚さのワッシャ72aから72cを使用することに
より鏡筒ユニット42を光軸AXと直交する軸線AZに
沿って移動させることができるとともに、ワッシャ72
aから72cの各々の厚さを変えることにより鏡筒ユニ
ット42を光軸AXに対してチルトさせることもでき
る。このように、当て駒73aは第2の鏡筒ユニット4
2を光軸に沿って移動させるためのシフト手段を構成
し、当て駒73bは第2の鏡筒ユニット42の光軸直交
方向位置決め調整手段を構成している。
【0029】さらに、ワッシャ72aから72cは、第
2の鏡筒ユニット42の光軸直交方向位置決め調整手段
と、光軸に対して傾斜させるためのチルト手段とを構成
している。なお、第1の折り曲げミラー部46および第
2の折り曲げミラー部47の位置決め調整手段も同様に
構成することができる。また、第2の実施例における鏡
筒ユニット41、42、43のそれぞれが複数(たとえ
ば11個)の光学素子からなる場合は、第1の実施例の
ように、10個の光学素子を分割して各鏡筒ユニットの
それぞれについて、分割鏡筒としてもよい。これによ
り、各鏡筒ユニット41、42、43のそれぞれについ
て、所望の光学素子ユニットのみを光学調整することが
できる。
【0030】なお、上述の第1実施例において、シフト
手段およびチルト手段としてワッシャおよび偏心補正手
段として板ばねを用いる例を示したが、本発明の範囲を
逸脱することなく各々の手段にそれぞれ別個の適当な手
段を用いることもできる。たとえば特開平4−1348
13号公報に開示されているようにピエゾ素子を用いて
鏡筒ユニットを駆動(シフト、チルト、偏心)してもよ
い。また、マイクロヘッド駆動、モータ駆動、油圧ジャ
ッキ駆動により鏡筒ユニットを駆動してもよい。
【0031】また、上述の第1実施例において、上方鏡
筒ユニットと下方鏡筒ユニットとの連結をボルト締結に
より形成しているが、他の真空吸着、電磁石等の適当な
連結手段を用いることもできることは明らかである。ま
た、上述の第1実施例において、上下の隣接するユニッ
トは円筒状の突出部と開口部とで緊密に嵌合して偏心量
を抑制しているか、もしくは板ばねによる平行移動機構
により偏心を調整することとしたが、Vブロック等の当
て駒等で偏心を調整する構成としてもよい。
【0032】以上のような第1および第2実施例におけ
るシフト、チルト、偏心手段(ワッシャ、ピエゾ、板ば
ね等)は、焦点位置や倍率やディストーション等の収差
を変化させるために、各鏡筒ユニットを駆動させるよう
にしてもよい。さらに、第1実施例および第2実施例の
いずれの場合も、鏡筒ユニット間の連結に密封機構と特
開昭60−78454号公報のような圧力制御機構とを
付加しておけばユニット間の空気圧力が変化可能とな
り、密封機構と温度コントロール機構とを設ければ温度
もコントロールすることも可能になる。これにより、倍
率等の投影光学系の光学特性を変化させることができ
る。密封機構としては、たとえば第1の実施例の場合は
嵌合部にOリングを使用する。第2の実施例の場合は、
さらに密封ブロックを追加する。
【0033】
【効果】以上のように、本発明によれば、交換可能な複
数の鏡筒ユニットに分割されているので、たとえば標準
機を利用することによって分割ユニット毎に光学調整を
行えば投影光学系の全系または他のユニットに影響を及
ぼすことなく独立に且つ効率良く所望ユニットの光学調
整を行うことができる。したがって、光学調整に要する
時間が著しく短縮される。また、ユニットの交換が可能
なので、あるユニットに不都合が生じたときにも、同じ
光学特性のユニットまたは必要に応じて異なる光学特性
のユニットで置換することができる。したがって、作業
負担が少なくなるとともにメンテナンス性が向上し、投
影光学系、ひいては投影露光装置の信頼性が著しく向上
する。さらに、各ユニットの光学性能評価を予め行うこ
とができるので、各ユニットの光学性能の不足部分をキ
ャンセルするように組み合わせることによって、全体的
に優れた光学性能を有する投影光学系を構成することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例にかかる屈折式投影光学
系の概略的な構成を示す図である。
【図2】第1の実施例の各鏡筒ユニット間の連結構造を
示す断面詳細図である。
【図3】本発明の第2の実施例にかかる反射屈折式投影
光学系の概略的な構成を示す図である。
【図4】図3の反射屈折式投影光学系の構成をより具体
的に示す図である。
【図5】図3の第1の鏡筒ユニット41の位置決め調整
手段について説明する図である。
【図6】図3の第2の鏡筒ユニット42の位置決め調整
手段について説明する図である。
【図7】従来の屈折式投影光学系の概略的な構成を示す
図である。
【符号の説明】
1 鏡筒 2 レンズ枠 3 押さえ環 4 レチクル 5 ウェハ 6 開口部 7 突出部 8 開口部 AX 光軸 11、41 第1鏡筒ユニット 12、42 第2鏡筒ユニット 13、43 第3鏡筒ユニット 14 第4鏡筒ユニット 15 第5鏡筒ユニット 31 突出部 32 ワッシャ 33 ボルト 34 上部フランジ 35 下部フランジ 44 第1球面ミラー部 45 第2球面ミラー部 46 第1折り曲げミラー部 47 第2折り曲げミラー部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G03F 7/20 521 9122−2H G03G 15/04 111 9122−2H

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パターンが形成されたマスクを所定波長
    域の照明光で照明して、前記パターンの像を投影光学系
    を介して被投影基板上に結像させる投影露光装置におい
    て、 前記投影光学系は、それぞれ1枚以上の光学素子を収容
    した複数の鏡筒ユニットを備え、 前記鏡筒ユニットの各々は、前記投影光学系に着脱自在
    に取り付けられるように構成されていることを特徴とす
    る投影露光装置。
  2. 【請求項2】 前記鏡筒ユニットの各々は、前記投影光
    学系の所定位置に各鏡筒ユニットを位置決めするための
    位置決め調整手段を備えていることを特徴とする請求項
    1に記載の投影露光装置。
  3. 【請求項3】 前記投影光学系は屈折式の投影光学系で
    あって、各鏡筒ユニットの光軸に沿った移動調整、各鏡
    筒ユニットの光軸に対する傾斜調整、および前記光学素
    子の光軸に対する偏心調整のうち少なくとも1つの調整
    を行うための調整手段を備えていることを特徴とする請
    求項1に記載の投影露光装置。
  4. 【請求項4】 前記投影光学系は反射屈折式の投影光学
    系であって、各鏡筒ユニットの光軸に沿った移動調整、
    各鏡筒ユニットの光軸に対する傾斜調整、および各鏡筒
    ユニットの光軸と直交する方向の位置決め調整のうち少
    なくとも1つの調整を行うための調整手段を備えている
    ことを特徴とする請求項に記載の投影露光装置。
JP5252387A 1993-09-14 1993-09-14 投影露光装置 Pending JPH0786152A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5252387A JPH0786152A (ja) 1993-09-14 1993-09-14 投影露光装置
KR1019940023578A KR100368192B1 (ko) 1993-09-14 1994-09-13 투영노광장치
US08/553,086 US5638223A (en) 1993-09-14 1995-11-03 Projection type exposure apparatus and method with detachable and attachable lens barrel units

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5252387A JPH0786152A (ja) 1993-09-14 1993-09-14 投影露光装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0786152A true JPH0786152A (ja) 1995-03-31

Family

ID=17236620

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5252387A Pending JPH0786152A (ja) 1993-09-14 1993-09-14 投影露光装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5638223A (ja)
JP (1) JPH0786152A (ja)
KR (1) KR100368192B1 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11149029A (ja) * 1997-11-18 1999-06-02 Nikon Corp レンズ支持装置、支持方法および投影露光装置
US5973863A (en) * 1996-08-08 1999-10-26 Nikon Corporation Exposure projection apparatus
JP2000195788A (ja) * 1998-12-23 2000-07-14 Carl Zeiss Stiftung Trading As Carl Zeiss 光学システム、特にマイクロリソグラフィ―に用いられる投影照明ユニット
JP2002131605A (ja) * 2000-08-18 2002-05-09 Nikon Corp 保持装置、光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにマイクロデバイスの製造方法
JP2005283638A (ja) * 2004-03-26 2005-10-13 Fujinon Corp 光学部品の位置調整具
JP2006330255A (ja) * 2005-05-25 2006-12-07 Canon Inc ズームレンズ鏡筒及び光学機器
US7301605B2 (en) 2000-03-03 2007-11-27 Nikon Corporation Projection exposure apparatus and method, catadioptric optical system and manufacturing method of devices
JP2009542021A (ja) * 2006-07-03 2009-11-26 カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー リソグラフィ投影対物器械を修正/修理する方法

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09102454A (ja) * 1995-10-03 1997-04-15 Nikon Corp 投影露光装置
JPH1012515A (ja) * 1996-06-20 1998-01-16 Nikon Corp 投影露光装置
IL133422A0 (en) * 1997-06-10 2001-04-30 Nikon Corp Optical device, method of cleaning the same, projection aligner, and method of producing the same
EP0964307A3 (en) 1998-06-08 2001-09-05 Nikon Corporation Projection exposure apparatus and method
EP1004937A3 (en) * 1998-11-27 2001-11-28 Nikon Corporation Exposure apparatus and optical system therefor
DE19901295A1 (de) * 1999-01-15 2000-07-20 Zeiss Carl Fa Optische Abbildungsvorrichtung, insbesondere Objektiv, mit wenigstens einem optischen Element
JP4945845B2 (ja) * 2000-03-31 2012-06-06 株式会社ニコン 光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにマイクロデバイスの製造方法。
JP2002083766A (ja) * 2000-06-19 2002-03-22 Nikon Corp 投影光学系、該光学系の製造方法、及び前記光学系を備えた投影露光装置
US6449106B1 (en) * 2000-08-10 2002-09-10 Nikon Corporation Catadioptric lens barrel structure having a support structure to maintain alignment of a plurality of sub-barrels
US6574053B1 (en) 2000-08-10 2003-06-03 Nikon Corporation Kinematic alignment structure for placement between components axially aligned in a cylindrical body
WO2002016993A1 (fr) * 2000-08-18 2002-02-28 Nikon Corporation Dispositif de maintien d'element optique
JP3710724B2 (ja) * 2001-05-14 2005-10-26 大日本スクリーン製造株式会社 結像光学装置
DE10239344A1 (de) 2002-08-28 2004-03-11 Carl Zeiss Smt Ag Vorrichtung zum Abdichten einer Projektionsbelichtungsanlage
DE10246828A1 (de) * 2002-10-08 2004-04-22 Carl Zeiss Smt Ag Objektiv, insbesondere Projektionsobjektiv in der Mikrolithographie
US7265917B2 (en) 2003-12-23 2007-09-04 Carl Zeiss Smt Ag Replacement apparatus for an optical element
US8300210B2 (en) 2004-10-08 2012-10-30 Carl Zeiss Smt Gmbh Optical projection system
JP2008525833A (ja) * 2004-12-28 2008-07-17 カール ツアイス エスエムティー アーゲー 2つ以上の光学部品を取り付けるための装置及び光学部品の表面処理法
EP1952188A1 (en) * 2005-11-04 2008-08-06 Bookham Technology plc Housing with a removable sealed module comprising a tilt stage for an optic element
EP2097789B1 (en) * 2006-12-01 2012-08-01 Carl Zeiss SMT GmbH Optical system with an exchangeable, manipulable correction arrangement for reducing image aberrations
DE102007009867A1 (de) * 2007-02-28 2008-09-11 Carl Zeiss Smt Ag Abbildungsvorrichtung mit auswechselbaren Blenden sowie Verfahren hierzu
US20110001945A1 (en) * 2009-07-01 2011-01-06 Masayuki Shiraishi Projection optical system, exposure apparatus, and assembly method thereof
DE102009045223A1 (de) 2009-09-30 2011-03-31 Carl Zeiss Smt Gmbh Optische Anordnung in einer Projektionsbelichtungsanlage für die EUV-Lithographie
EP2883111B1 (de) * 2012-08-13 2018-11-07 TRUMPF Lasersystems for Semiconductor Manufacturing GmbH Optische anordnung, optisches modul und verfahren zum lagerichtigen positionieren eines optischen moduls in einem gehäuse
CN103713370B (zh) * 2012-10-09 2015-11-11 南京理工大学 一种使用三坐标测量仪装调近红外大型长焦距镜头的方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2794360A (en) * 1953-11-12 1957-06-04 Eastman Kodak Co Combination lens attachment
US4690528A (en) * 1983-10-05 1987-09-01 Nippon Kogaku K. K. Projection exposure apparatus
US4666273A (en) * 1983-10-05 1987-05-19 Nippon Kogaku K. K. Automatic magnification correcting system in a projection optical apparatus
US5077569A (en) * 1988-08-11 1991-12-31 Canon Kabushiki Kaisha Close-up photography device
US5117255A (en) * 1990-09-19 1992-05-26 Nikon Corporation Projection exposure apparatus
GB9110156D0 (en) * 1991-05-10 1991-07-03 Lee Filters Limited Optical element support
US5500772A (en) * 1993-07-09 1996-03-19 Asahi Seimitsu Kabushiki Kaisha Lens barrel for different kinds of TV cameras

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5973863A (en) * 1996-08-08 1999-10-26 Nikon Corporation Exposure projection apparatus
JPH11149029A (ja) * 1997-11-18 1999-06-02 Nikon Corp レンズ支持装置、支持方法および投影露光装置
JP2000195788A (ja) * 1998-12-23 2000-07-14 Carl Zeiss Stiftung Trading As Carl Zeiss 光学システム、特にマイクロリソグラフィ―に用いられる投影照明ユニット
US7301605B2 (en) 2000-03-03 2007-11-27 Nikon Corporation Projection exposure apparatus and method, catadioptric optical system and manufacturing method of devices
US7319508B2 (en) 2000-03-03 2008-01-15 Nikon Corporation Projection exposure apparatus and method, catadioptric optical system and manufacturing method of devices
JP2002131605A (ja) * 2000-08-18 2002-05-09 Nikon Corp 保持装置、光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにマイクロデバイスの製造方法
JP2005283638A (ja) * 2004-03-26 2005-10-13 Fujinon Corp 光学部品の位置調整具
JP2006330255A (ja) * 2005-05-25 2006-12-07 Canon Inc ズームレンズ鏡筒及び光学機器
JP2009542021A (ja) * 2006-07-03 2009-11-26 カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー リソグラフィ投影対物器械を修正/修理する方法

Also Published As

Publication number Publication date
US5638223A (en) 1997-06-10
KR100368192B1 (ko) 2003-03-31
KR950009901A (ko) 1995-04-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0786152A (ja) 投影露光装置
US5973863A (en) Exposure projection apparatus
US7154684B2 (en) Optical element holding apparatus
US7961294B2 (en) Imaging device in a projection exposure facility
US7030965B2 (en) Catadioptric system and exposure device having this system
US6169627B1 (en) Catadioptric microlithographic reduction objective
US20090185148A1 (en) Support for an optical element
EP2024791B1 (en) Large-field unit-magnification projection optical system
US7251086B2 (en) Apparatus for positioning an optical element in a structure
JP5047544B2 (ja) リソグラフィ投影対物系の補正方法およびリソグラフィ投影対物系
US7486382B2 (en) Imaging device in a projection exposure machine
US7038761B2 (en) Projection exposure apparatus
KR101122881B1 (ko) 마이크로리소그래픽 투사 노출 시스템의 투사 렌즈
WO2015149873A1 (en) Optical module comprising a deformation arrangement and method of deforming an optical element
EP0572806B1 (en) Image pickup apparatus and method of varying an image formation magnification
US20030169517A1 (en) Objective, in particular a projection lens for microlithography
US20060187511A1 (en) Device for mounting an optical element, particularly a lens in an objective
US20050286121A1 (en) Objective, especially a projection objective for microlithography
KR100945605B1 (ko) 노광장치 및 디바이스 제조방법
JPH0735963A (ja) 光学素子の位置調整装置
KR100532233B1 (ko) 반사굴절식마이크로리소그래프용축소대물렌즈
JP2000164489A (ja) 走査型投影露光装置

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term