JPH0785100B2 - Ｉｃ試験装置 - Google Patents
Ｉｃ試験装置Info
- Publication number
- JPH0785100B2 JPH0785100B2 JP61270134A JP27013486A JPH0785100B2 JP H0785100 B2 JPH0785100 B2 JP H0785100B2 JP 61270134 A JP61270134 A JP 61270134A JP 27013486 A JP27013486 A JP 27013486A JP H0785100 B2 JPH0785100 B2 JP H0785100B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- under test
- load capacitance
- circuit
- variable load
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、被試験IC（集積回路）に、テストパターンを
印加し、被試験ICの良否を判定するIC試験装置に関す
る。
印加し、被試験ICの良否を判定するIC試験装置に関す
る。
ICの特性試験として、出力側に一定の容量が負荷容量と
してある場合の試験が重要である。この試験を行なうた
めには、IC試験装置に固有の負荷容量を勘案して、一定
の固定容量を被試験ICの出力側に並列になるように附加
していた。
してある場合の試験が重要である。この試験を行なうた
めには、IC試験装置に固有の負荷容量を勘案して、一定
の固定容量を被試験ICの出力側に並列になるように附加
していた。
ところで、被試験ICの試験として、負荷容量を一定でな
く、その値を変えた試験が必要になる場合もある。また
被試験ICが異なれば、負荷容量値を変えねばならない。
上記の場合に、試験装置に組みこんだ固定容量をその都
度手作業で交換することは能率がわるい。
く、その値を変えた試験が必要になる場合もある。また
被試験ICが異なれば、負荷容量値を変えねばならない。
上記の場合に、試験装置に組みこんだ固定容量をその都
度手作業で交換することは能率がわるい。
そこで、本発明の目的は、上記の欠点を除去し、迅速に
負荷容量試験の条件変更を行うことのできるIC試験装置
を提供することにある。
負荷容量試験の条件変更を行うことのできるIC試験装置
を提供することにある。
本発明のIC試験装置は、被試験ICの出力端子が接続され
る入力部に仮想負荷容量として接続された可変負荷容量
回路と、該回路の容量をプログラマブルに制御する制御
部とを具備するようにしたものである。
る入力部に仮想負荷容量として接続された可変負荷容量
回路と、該回路の容量をプログラマブルに制御する制御
部とを具備するようにしたものである。
以下、図面を参照して本発明の一実施例の説明を行な
う。第１図が実施例の回路ブロック図であつて、被試験
IC1にドライバ４を介して測定部７からテストパターン
を印加し、その出力端子２の出力信号をコンパレータ３
を介して測定部７に入力し、判定を行なう。
う。第１図が実施例の回路ブロック図であつて、被試験
IC1にドライバ４を介して測定部７からテストパターン
を印加し、その出力端子２の出力信号をコンパレータ３
を介して測定部７に入力し、判定を行なう。
本実施例では、被試験IC1の出力端子２とコンパレータ
３との間に可変負荷容量回路５を接続する。この可変負
荷容量回路５は、測定部７に設けた制御部６からの信号
によつて、プログラマブルにその容量を変化することが
できる。
３との間に可変負荷容量回路５を接続する。この可変負
荷容量回路５は、測定部７に設けた制御部６からの信号
によつて、プログラマブルにその容量を変化することが
できる。
〔発明の効果〕 以上、説明したように、IC試験装置の測定部に設けた制
御部からの信号によつて、被試験ICの出力端子に接続さ
れた可変負荷容量回路の容量値を任意に変化することが
できる。したがつて一定の負荷容量下における試験条件
を容易に設定し、また変化することができるので作業能
率が向上する。
御部からの信号によつて、被試験ICの出力端子に接続さ
れた可変負荷容量回路の容量値を任意に変化することが
できる。したがつて一定の負荷容量下における試験条件
を容易に設定し、また変化することができるので作業能
率が向上する。
第１図は、本発明の一実施例の回路ブロツク図である。 １……被試験IC、２……出力端子、 ３……コンパレータ、４……ドライバ、 ５……可変負荷容量回路、 ６……制御部、 ７……IC試験装置の測定部。
Claims (1)
- 【請求項１】被試験IC（集積回路）にテストパターンを
印加し、出力号を検出して前記被試験ICの良否判定を行
うIC試験装置であって、前記被試験ICの出力端子に接続
される入力部と、前記入力部に接続された可変負荷容量
回路と、前記可変負荷容量回路の容量を制御る制御部と
を具備したことを特徴とするIC試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61270134A JPH0785100B2 (ja) | 1986-11-12 | 1986-11-12 | Ｉｃ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61270134A JPH0785100B2 (ja) | 1986-11-12 | 1986-11-12 | Ｉｃ試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63122973A JPS63122973A (ja) | 1988-05-26 |
| JPH0785100B2 true JPH0785100B2 (ja) | 1995-09-13 |
Family
ID=17482027
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61270134A Expired - Lifetime JPH0785100B2 (ja) | 1986-11-12 | 1986-11-12 | Ｉｃ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0785100B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5900770A (en) * | 1997-06-13 | 1999-05-04 | Intel Corporation | Variable loading apparatus for output loading of integrated circuits |
| RU2613568C1 (ru) * | 2015-12-14 | 2017-03-17 | федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ) | Устройство для определения нагрузочной способности микросхем |
-
1986
- 1986-11-12 JP JP61270134A patent/JPH0785100B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63122973A (ja) | 1988-05-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| GB1528497A (en) | Testing apparatus | |
| JPS6188170A (ja) | 電子デバイス又は回路テスト方法及び装置 | |
| JPH0785100B2 (ja) | Ｉｃ試験装置 | |
| JPS61278766A (ja) | カウンタ装置 | |
| US3571706A (en) | Voltage measuring apparatus employing feedback gain control to obtain a predetermined output and a feedback loop to readout the gain value | |
| JP3241777B2 (ja) | インサーキットテスタ用オープンテスト装置 | |
| KR100219392B1 (ko) | 기능 검사가 가능한 범용 계측기 | |
| JPS60227123A (ja) | 自動測定システム | |
| JPH05190637A (ja) | 半導体集積回路の試験方法 | |
| SU543993A1 (ru) | Устройство дл контрол надежности проволочных резисторов | |
| JPH0650786Y2 (ja) | Ｉｃ試験装置 | |
| JPH03137575A (ja) | 測定試料の良否判定方法及びその装置 | |
| JPH0449590Y2 (ja) | ||
| JPS578411A (en) | Testing system | |
| JPS59166857A (ja) | マルチプロ−ブ、マルチ周波数渦流探傷装置の信号処理回路 | |
| JPH095368A (ja) | 巻線抵抗の測定方法 | |
| JPS6078362A (ja) | 自動試験装置の機能チエツク方式 | |
| SU877382A1 (ru) | Устройство дл испытани приборов на функционирование в услови х динамических нагрузок | |
| JPH073352Y2 (ja) | 波形制御機能を有する交流電圧源を備えた測定装置 | |
| KR0118912Y1 (ko) | 자동검사기의 단일부품 검사장치 | |
| JPS5966158U (ja) | 試験装置 | |
| JPH01207676A (ja) | 半導体集積回路素子の検査方法 | |
| JPS596553A (ja) | 論理回路 | |
| JPS5998372U (ja) | 誘導形継電器の試験装置 | |
| JP2000304805A (ja) | 半導体試験装置におけるコンパレータ回路 |