JPH0771909A - マイケルソン干渉計 - Google Patents

マイケルソン干渉計

Info

Publication number
JPH0771909A
JPH0771909A JP6177712A JP17771294A JPH0771909A JP H0771909 A JPH0771909 A JP H0771909A JP 6177712 A JP6177712 A JP 6177712A JP 17771294 A JP17771294 A JP 17771294A JP H0771909 A JPH0771909 A JP H0771909A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mirror
plane
mirrors
beam splitter
axis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP6177712A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2554026B2 (ja
Inventor
Volker Tank
タンク フォルカー
Peter Haschberger
ハシュベルガー ペーター
Burkhard Jansen
ヤンセン ブルクハルト
Erwin Lindermeir
リンダーマイアー エルヴィン
Klaus Schneider
シュナイダー クラウス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Deutsches Zentrum fuer Luft und Raumfahrt eV
Original Assignee
Deutsche Forschungs und Versuchsanstalt fuer Luft und Raumfahrt eV DFVLR
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from DE19934322687 external-priority patent/DE4322687C1/de
Priority claimed from DE19934322683 external-priority patent/DE4322683C1/de
Priority claimed from DE19934322682 external-priority patent/DE4322682C2/de
Application filed by Deutsche Forschungs und Versuchsanstalt fuer Luft und Raumfahrt eV DFVLR filed Critical Deutsche Forschungs und Versuchsanstalt fuer Luft und Raumfahrt eV DFVLR
Publication of JPH0771909A publication Critical patent/JPH0771909A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2554026B2 publication Critical patent/JP2554026B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J9/00Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
    • G01J9/02Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by interferometric methods
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/45Interferometric spectrometry
    • G01J3/453Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
    • G01J3/4532Devices of compact or symmetric construction

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 構造がコンパクトで、技術的労力と費用が少
なく、誤操作による損傷が少ない、マイケルソン干渉計
を提供する。 【構成】 ミラーユニット50の2つの平面鏡51、5
2が、互いに偏心し平行して配置される。ミラーユニッ
ト50が中空軸に固定されることにより、中空軸の回転
軸線61が小さい平面鏡51の鏡面を通過し、その回転
軸線が小さい平面鏡51への法線と鋭角βを形成するこ
とで、ビームスプリッター1で形成される2つのビーム
は、傾斜鏡を経て、中空軸を貫通して小さい平面鏡51
の中央に当り、それにより大きい平面鏡52の対向鏡面
に反射され、そこから2つの固定平面鏡71、72へ垂
直に当り、それらミラーに反射されて、反対方向に同じ
路をとり、ビームスプリッター1で再度結合し、光学要
素によって検出器4に合焦されるように構成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光路差が、回動可能に
設定できるミラーユニットにより生ずる、マイケルソン
干渉計に関する。
【0002】
【従来の技術】たとえば、ドイツ特許公報DE34 3
1 040 C2、欧州特許公報EP01 46 76
8 A2およびドイツ特許公報DE 40 13 39
9 C1は、光路差がレトロレフレクタを回転すること
により生ずるマイケルソン干渉計を開示する。これら周
知の干渉計では、傾斜軸上で偏心的に回動する″転頭″
レトロレフレクタが採用される。大きな光路差、云い換
えれば高いスペクトル解像度を生ずるには、2つの干渉
計アームの光光路長変化よりみて、2つ以上のレトロレ
フレクタが非同期回動可能に設定され、互いの種々の回
転運動間の一定の相関係が固守されねばならない。
【0003】回転レトロレフレクタを有するこれら周知
のマイケルソン干渉計はつぎのような多くの欠点があ
る。
【0004】1.高いスペクトル解像度を生ずるには、
このような干渉計は1つだけのレトロレフレクタでは作
動できず、2つ以上のこれら比較的高価な要素が必要で
ある。
【0005】2.必要により、互いの2つ以上のレフレ
クタの種々の回転運動間の一定相関係を固守するために
は複雑な構成としなければならない。精密な解決策は、
それ自身のステッピング・モータにより各レトロレフレ
クタを駆動し、また、すべてのモータの共通制御クロッ
クパルスによって互いにすべてのモータの″電気的カッ
プリング″を設けることである。種々ステッピングモー
タの増分作動による機械的振動は測定信号を乱す仕方で
構造全体に伝達されるため、付加的な複雑かつ高価な機
械的制動手段により排除されねばならない。すべての労
力と費用が所要各駆動モータによりさらに増大する。さ
らにまた、ステッピング・モータは基本的に、1つのレ
トロレフレクタだけを駆動する匹敵する直流モータより
も高価である。
【0006】2つ以上のレトロレフレクタが1つのモー
タだけで駆動されるとすれば、歯車を介しカップリング
が必要である。これによりまた、労力と費用が増し、構
造体への歯車の遊びや歯車振動の伝達によりさらに故障
の原因を作る。
【0007】3.さらにまた、各もう1つのレフレクタ
により、その光学誤差により装置の光学信号の品質をさ
らに悪化させる点で特に不利益と認められる。この不利
益を解消するため、きわめて高い品質のレトロレフレク
タが使用されるが、これもきわめて高価な装置となって
しまう。
【0008】4.1つだけ回転レトロレフレクタを有す
る周知の干渉計では、さらに、装置の不必要に大きな機
械的寸法を避けるため、固定されるが、レトロレフレク
タを第2干渉計アームに設置するという不利益がある。
これらは光路を曲げることに役立ち、機械的構造サイズ
を小さくできる。これはすでに述べた第2レフレクタの
欠点を有する。
【0009】5.両干渉計アームを設けた1つの回転レ
トロレフレクタを有する周知の干渉計の他の欠点は、き
わめて高いスペクトル解像度をうるにはきわめて大きな
レトロレフレクタを必要とし、装置の機械的寸法は不必
要に大きくなり生産コストが高くなる。
【0010】ドイツ特許公報DE 24 56 649
A1に、干渉計により軸の回転角を測定する装置も知
られている。この周知の干渉計は、ビームスプリッター
と、合焦レンズと、信号放射線を検出する検出器と、2
つの平面鏡と放射線源とだけでなく、かつ駆動ユニット
により回動可能に設定できるミラー要素を有し、所定距
離で互いに対向する2つの鏡面が設けられ、ビームスプ
リッターに近く位置する鏡面はリング形に一体化され、
それによってビームスプリッターから到来する両ビーム
半部分が方向付けされる。さらにまた、駆動ユニットの
回転軸線はビームスプリッターと同じ平面に整列され、
回転軸線にたいする垂直部は一方の鏡面と鋭角をなし、
さらに加えて、駆動ユニットは、ビームスプリッターか
ら遠く離れて、ミラー要素の裏側に配置されている。ま
た、これら鏡面は回転軸線の互いに対面する異なる側
に、ビームスプリッターから到来するビームに垂直に配
置されている。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、構造がコンパクトで、技術的労力や費用が少なく、
不調による問題が少ないマイケルソン干渉計を提供する
ことである。本発明によれば、この目的は請求項1、
4、6または8の特徴により規定されるマイケルソン干
渉計により達成される。本発明の有利な他の特長は、請
求項1、4、5または6に直接または間接に従属する請
求項2、3、5、7または9〜11に記載される。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明による干渉計の第
1実施例において、回動可能に設定できるミラーユニッ
トが設けられ、好ましくは円形または楕円形のその両平
面鏡は互いに偏心的に配置されるサイズが異なる2つの
平面鏡として具体化される。さらにまた、本発明による
干渉計の第1実施例において、ベアリングブロックに回
転可能に支持されそれにより駆動される中空軸は駆動ユ
ニットと連動され、中空軸がビームスプリッタとミラー
ユニットとの間に配置され、その回転軸線はミラーユニ
ットの軸線と一致する。中空軸の回転軸線が小さい平面
鏡の鏡面を通過し小さい平面鏡の法線に対して鋭角をな
すようにして、ミラーユニットは中空軸に固定される。
【0013】従って、第一実施例において、本発明によ
るマイケルソン干渉計はつぎのような利点を有する。
【0014】1.回転ミラーユニットにより得られる精
度の見地からの、言い換えれば、入射出射ビームの平行
度が1アーク秒以下の欠点の見地からの要求は、本発明
による第1実施例の2つの平面鏡の費用はレトロレフレ
クタをなす3つのミラーユニットよりもかなり少なくて
充足できる。
【0015】2.本発明によるこの実施例において、回
転レトロレフレクタを介する通過とは対照的に、通過ビ
ームは鏡縁間の接合部に当ることはなく、従って、不正
確な加工縁による影響はなく、正確な縁部を作るのに必
要な労力と費用は不要となる。
【0016】本発明によるこの干渉計において、ビーム
は、このような干渉計の周知実施例のように3つのレフ
レクタを経るよりはむしろ回転要素の2つの鏡面を経て
通過するので、各ビーム半部分の反射数は2つだけ減少
する結果、光学損失が少なくなり、ビーム発散はそれだ
け損なわれない。
【0017】本発明による干渉計の第2および第3実施
例において、モータにより回動可能に設定できる両側で
鏡面被覆される平行平面板が設けられ、すなわち、ある
区域では、平行平面板の2つの外面は、好ましくは、円
形または楕円リングとして、鏡面被覆されることによ
り、射出ビームは平行平面板の鏡面被覆環状区域から外
方に反射される。
【0018】本発明による第2および第3実施例では、
回動可能に設定できるミラー要素を有する干渉計は、構
造サイズが小さくて高いスペクトル解像度を有する。さ
らにまた、これは以前よりも小さい費用と労力で達成で
き、同時に、たとえば駆動が面倒な歯車やステッピング
制御なしに、簡単な直流モータで達成できるため、考え
うる故障源は少ない。
【0019】本発明による干渉計の第4〜第6実施例で
は、2つの干渉計アームが2つの平行平面鏡間に延び、
互いに平行に配置される1対の丸い平面鏡が設けられ、
光路長差を生ずるために、共同で連続的に、鏡面の法線
に対して小さい角度αだけ傾斜する回転軸線を中心に行
う回転運動を実行する。傾斜角αによりまた対向鏡面間
の間隔aによって達成できる光路長差、それによって達
成できるスペクトル解像度が決定される。
【0020】
【実施例】以下、本発明を、添付図面を参照して、好ま
しい実施例について詳細に説明する。
【0021】図1に示す第1実施例において、回転ミラ
ーユニット5は小さい平面鏡51と大きい平面鏡52と
より成り、それらの鏡面は互いに対向して配置され、か
つ、距離aだけ間隔をおいて互いに平行にされている。
2つの平面鏡51と52は、詳細には示されていない、
共通取付台に保持される。
【0022】図2に見るように、2つの平面鏡51、5
2により形成されるミラーユニット5の保持体は取付板
64を有し、この取付板64は中空軸63に固定され、
一方この中空軸63はベアリング・駆動ユニット6のベ
アリング・ブロック62に回転可能に支持される。ベア
リング・駆動ユニット6の回転軸線61は中空軸63と
同心的に延長する。モータ65によって、中空軸63と
ミラーユニット5は、たとえば歯付ベルトまたはVベル
ト等である駆動ベルト66を経て、また歯付ベルトおよ
びVベルトディスク等のような(図示せざる)プーリを
経て、回動可能に設定される。
【0023】ミラーユニット5から離れて中空軸63の
反対側端部に、ビームスプリッター1が、ベアリング・
駆動ユニツト6の回転軸線61がビームスプリッター1
の平面を通過するように配置される。(円形ビームスプ
リッター1は回転軸線61によって2つの等サイズの半
円形区分に分割される。)ホールディング鏡21と22
が、ビームスプリッター1と中空軸63との間で非対称
に、回転軸線61の各側に配置される。2つの平面鏡7
1と72が、中空軸63から所定距離で、ミラーユニッ
ト5に面して配置される。ビームスプリッター1に当る
入射ビームの方向の選択により、また、すべての光学要
素の幾何学寸法決めと、互いの幾何学関係ならびに光軸
と回転軸線61によって、つぎの機能が保証される。
【0024】ビームスプリッター1に当るビームは、ビ
ームスプリッター1により、反射成分と透過成分とに分
割される。ビームの両半部分は、2つの平面ホールディ
ング鏡21、22で反射後、回転軸線61と角度αまた
は−αをなし、中空軸63を通透する。ビームの両半部
分は、その表面に対する法線が回転軸線61に対し角度
βだけ傾斜している小さい平面鏡51に当り、中央で角
度β+αまたはβ−αでミラーユニット5に入射する。
ビームの両半部分は大きい平面鏡52の方へ反射され、
それにより固定平面鏡(71または72)へと反射され
てビーム半部分がそれらに垂直に当るようになってい
る。2つの固定平面鏡71、72からビームの2つの半
部分が反射され反対方向に同じ光路を通ってビームスプ
リッター1で再結合し、最後に光学要素3により検出器
4に合焦される。
【0025】ミラーユニット5が、ベアリング・駆動ユ
ニット6によって回転軸線61を中心に回動可能に設定
されていれば、ビーム路は同じコースをとる。その結
果、ビーム半部分が通過する光路長は一方が短くなり他
方が長くなるように変化することにより、それらの差は
最大と0の間で週期的かつ連続的に変化する。ビームの
半分またはそれらの部分は、どの回転角位置でも上記以
外の路をとれない。
【0026】回転軸線61に対する角度αとβと2つの
平面鏡51、52間の間隔aとによって到達できる光路
長差、従って、スペクトル解像度が規制される。
【0027】2つの平面鏡51、52に代え、ここでは
詳細は示さないが、両外面内側を鏡面被覆された平行平
面板を回転ミラーユニットとして使用でき、その2つの
鏡面は平面鏡面51と52の機能を果たす。第1の小さ
い平面鏡51の鏡面に機能が相当する鏡面の鏡面被覆
は、射出ビームが妨げられないように入射ビーム区域に
制限される。平行平面板を構成する材料は、干渉計が使
用される波長範囲の分散(波長独立屈折率)を示しては
ならない。
【0028】本発明による第1実施例では、最大光路長
差Smaxは対称入射角(α,−α)でつぎの通りであ
る。 Smax=16・a・sinα・sinβ ここでaは2つの回転平面鏡51と52間の距離または
間隔で、αはβより小さくなければならない。
【0029】たとえば、a=3.5cm、α=15°、β
=45°であれば、最大の得られる路差はつぎのとおり
である。 Smax=10.25cm
【0030】図3と図4に示すように、本発明による干
渉計の第2および第3実施例において、詳細に示さない
方法で直流モータ等のモータにより回動可能に設定でき
るミラー要素501は、厚みがdで、信号放射線を透過
させる材料で作られ、分散が使用されるスペクトル範囲
で無視できる鏡面被覆された平行平面板よりなる。平行
平面板の両側の鏡面被覆外面はリング、好ましいが必ず
しも必要でないが、同心の円形または楕円形リングとす
る。
【0031】鏡面被覆および非鏡面被覆面は、入射およ
び射出ビームが横断面全体にわたって常に同じに処理さ
れるようにそれらの長さおよび配置について、相互に決
定される。すなわち、ビームは鏡面被覆面または非鏡面
被覆面に入射し、平行平面板501から出射するにあた
り、所定角度で、空気と放射線透過材の間または放射線
透過材と空気の間の境界面に当る。さらにまた、回転軸
線8とビームスプリッター1は同一平面に位置される。
回転軸線8はミラー要素501に対する法線と所定角度
αをなす。
【0032】空気と板材の間または板材と空気の間の転
移での損失を避けるため、および分散の悪影響を避ける
ため、本発明の他の有利な特長によれば、連続、同心で
典型的には切頭くぼみがミラー要素501の非鏡面被覆
面の区域で具体化される。その場合、ミラー要素はま
た、放射線不透過材よりなってもよい(図3参照)。
【0033】本発明による干渉計の第2実施例は、その
主要な要素として、合計6ケの平面鏡と、回動可能に設
定できるミラー要素501とを有する。ホールディング
鏡として作用する第1と第2の平面鏡211と221は好
ましくは、回転軸線8の異なる対向側に平行に軸対称に
配置される。加えて、第3と第4の平面鏡711と721
は同様に、ビームスプリッターにより形成されるビーム
半部分に軸対称かつ垂直に、また回転軸線8から45度
の角度で、ミラー要素501の回転軸線8の異なる対向
側に配置される。第5と第6の平面鏡91、92は回転
軸線8に垂直に配向され、ビームスプリッター1から見
て、ミラー要素501の前後に配置される。
【0034】第2実施例による本発明の干渉計におい
て、ビームスプリッター1に45°で入射するビーム1
0は反射ビーム半分と透過ビーム半分とに分割される。
ビームスプリッター1からのビーム半部分は、ホールデ
ィング鏡として作用する平面鏡211、221により、ミ
ラー要素501に反射され、それによって、回転軸線8
に垂直に配置されかつミラー要素501とビームスプリ
ッター1の間に配置される第5平面鏡91に反射され
る。第5平面鏡91により反射されたビーム半部分は非
鏡面被覆面または、詳細には示していない回転ミラー要
素501のくぼみを通過して、回転軸線8に軸対称的か
つ垂直に配置される第6平面鏡92に達する。そこか
ら、2つのビーム半部分は、ビームスプリッター1から
遠く離れた側の、ミラー要素501鏡面に反射される。
ミラー要素501から、ビーム半部分はつぎに、図3で
ミラー要素501と第6平面鏡92間のスペース外側横
方向に配置される。軸対称置の平面鏡711と721に送
られる。ビーム半部分は2つの平面鏡711と721に垂
直に当り、2つの平面鏡711と721により反射され、
同じコースに沿い反対方向に通り、ビームスプリッター
1で再度結合し、焦点レンズとしての光学要素3により
検出器4に合焦される。
【0035】作動中、ミラー要素501は、直流モータ
としての、図示せざる駆動ユニットによって回転軸線を
中心とする回動可能に設定されているので、2つのビー
ム半部分が通過する光路の長さは短く、また反対に長く
なり、それらの差は最大と0の間で周期的かつ連続的に
変化する。干渉計のこの実施例では到達可能な光学路
差、従って到達可能スペクトル解像度は、回転軸線8と
ミラー要素501に対する法線との間の鋭角αにより、
また平行平面板501と回転軸線8に垂直に配置される
2つの平面鏡91、92間の間隔とにより決定される。
その結果、ミラー要素501の直径も同時に規制され
る。
【0036】本発明による干渉計の第3の実施例(図4
参照)は5つの平面鏡と回転ミラー要素501を持つに
すぎない。第3実施例が上記第2実施例と異なるのは、
平面鏡711と721に相当しかつ第3実施例において、
回転軸線8に対する法線に、角度が好ましくは45度で
ある第1実施例よりも回転軸線8の法線に対し大きい角
度、たとえば75度だけ傾斜する平面鏡712と722
配向の相違であり、これにより第2実施例で必要な第6
平面鏡92が省略される。
【0037】第3実施例における2つの軸方向対称配置
の平面鏡712と722の異なる配向のため、回転軸線8
に対し垂直に配置される第5平面鏡91により反射され
るビーム半部分は非鏡面被覆面を介しまたは回転ミラー
要素501のくぼみを介し反射され2つの平面鏡712
722に達する。そこから、2つのビーム半部分は反射
されてミラー要素501の裏側の鏡面に再び戻り、その
鏡面から平面鏡712と722へ戻り、ここで垂直に当た
る。ついで、ビーム半部分は半射されて戻り同じ光路に
沿って反対方向に通過してビームスプリッター1へ行
き、そこで再び結合してから光学要素3により検出器4
に合焦される。
【0038】第3実施例でも、ミラー要素501は、図
示せざる駆動ユニットによって作動中回転軸線8を中心
として回動可能に設定される結果、ビーム半部分が通過
する光路の長さは反対に短くまた長くなり、言い換えれ
ば、それらの差は最大と0の間で前後に周期的かつ連続
的に変化する。この実施例において、到達可能な光路長
差従ってスペクトル解像度は角度αと板厚aにより規制
される。
【0039】本発明による干渉計のこの光路長差従って
スペクトル解像度は、上記第2実施例における角度αま
たは板厚dを変化させることにより、調節可能とするこ
とが出来る。
【0040】すべての構成部品のサイズやそれらの配置
の任意選択によって、ビーム全体が、ビーム半部分を反
射させるすべてのミラーの反射面に当ることが確実にな
る。これは特に、ミラー要素501の直径またはその好
ましい円形または楕円環状鏡面の直径について言える。
【0041】図5は斜視図で、図4に略示された第3実
施例の基本的配置を示す。図4の略示を補充し、図5の
斜視図はさらに、保持装置と駆動機構とを示すが、光学
焦点要素3と検出器4は省略されている。
【0042】円形ミラー要素501または図5の実施例
において好ましくは楕円ミラー要素501は、その外縁
が図5に断面で示す中空円形円筒11の一端に取付けら
れ、円筒軸線とミラー要素501への法線とにより角度
αを形成する(図1参照)。円筒軸線に垂直に整列さ
れ、たとえば歯付ベルトデイスクである保持・回転デイ
スク12が円形円筒11の他端に取付けられている。
【0043】円筒11の軸線に相当する回転軸線8によ
り固定される固定軸81に、保持デイスク12が回転可
能に支持されている。2つの平面鏡712と722が軸8
1に固定される。保持デイスク12と、これに中空円筒
11を経て接続されるミラー要素501とは、駆動歯付
ベルト14を経て、直流モータの、たとえば歯付ベルト
デイスクである駆動ディスク13により回動可能に設定
される。図5に示す構成において、スプリットビームの
ビーム路は作動中妨害されない。
【0044】下記の数値は、ミラー要素501の同心切
頭くぼみのもっとも重要なパラメータの寸法をとる一例
を示す。図3の第2実施例において、これらはつぎの通
りとなる。 ビームの使用可能直径,30mm; 板厚d,20mm; 2つの平面鏡91と92間の間隔,20mm; 角度α,3.5°
【0045】最大到達可能光路長差は約11cm;到達ス
ペクトル解像度は0.091cm-1より良い;ミラー要素
501の直径は260mmとなる。
【0046】図4の第3実施例において、ビームの使用
可能径が30mmであれば、板厚dは20mmで、角度αは
4.0°、到達可能最大光路長差は約13cmである。得
られたスペクトル解像度は0.77cm-1より良く、ミラ
ー要素501の直径は222mmである。
【0047】図6に示すように、マイケルソン干渉計の
第4実施例は、ビームスプリッター1と、光学要素3
と、検出器4と、互いに対面する2つの平行平面鏡51
3と523を有する光路長を変えるミラー要素503と、
2つの平面端鏡713、723とを有する。ミラー要素の
2つの平面鏡513と523は円形または楕円平面鏡であ
って、これらは同じ直径を有し、図6には詳細に示され
ていないが、互いに調節可能な距離aに配置され、その
位置に互いに固定される。平面鏡513と523とにより
形成されるミラー要素503は回転軸線83を中心に回転
するよう連続的に設定でき、ミラー要素503の2つの
平面鏡513、523の鏡面は回転軸線83への垂直から
小さい角度αだけ傾斜されている。
【0048】回転軸線が回転軸線83と一致する駆動軸
803は、2つの平面鏡513と523の一方の外側(図
6において、平面鏡513の裏側)に固着され、詳細に
示されていないモータを経て定角速度で駆動される。
【0049】ミラー要素の(詳細に図示されない)中心
平面について、ビームスプリッター1はミラー要素50
3の一側に配置され、端鏡713と723はその他側に配
置される。ビームスプリッター平面は平面鏡513と5
3の間に位置し、端鏡713と723により形成される
角度を2分する。光軸と同心をなす2つの干渉計アーム
のビーム半部分10′と10″は端鏡713と723に垂
直になる。
【0050】作動中、入射ビーム10はビームスプリッ
ター1によって夫々透過と反射し、同じ強度の2つのビ
ーム半部分10′と10″に分割される。ビーム半部分
10′は平面鏡513に当り、それにより平面鏡523
反射され、そこから最後に端鏡713に垂直に当るよう
になっている。端鏡713から、ビーム半部分10′は
逆方向のコースをとりビームスプリッターへ向う。ビー
ムスプリッター1からの第2ビーム半部分10″は平面
鏡523に当り、それにより平面鏡513に反射され、そ
こから最後に端鏡723へ向い、ここでビーム半部分1
0″は垂直に当り、同じ光路へ反射して戻り、反対方向
のコースをとり、ビームスプリッター1へ戻る。ビーム
スプリッター1に当る2つのビーム半部分はビームスプ
リッター1で再結合し、得られた放射線は光学要素3に
より検出器4に合焦される。
【0051】ミラー要素503の回転時、上記光路は2
つの干渉計アームにおいて互いに反対に長くかつ短くな
る結果、所望の光路長差が形成され、これは、平面鏡面
と回転軸線83への垂直方向間の角度αの大きさ、およ
び2つの平面鏡513と523との間の間隔aによって調
節できる。
【0052】図7に、略示的かつ詳細に、好ましい第5
実施例における、図6のミラー要素503を変型したミ
ラー要素504を示す。図7において、ミラー要素504
の2つの平面鏡514と524各々に中央孔が設けられ、
この孔は2つの平面鏡514と524の鏡面に垂直から角
度αだけ傾斜している。ダッシ線で示す回転軸線84
有する駆動軸804はこれら孔各々を貫通する。駆動軸
804は、2つのフランジ81と82により、2つの平
面鏡514と524の外面に固着される。フランジ81と
82により、2つの平面鏡514と524の対向鏡面が、
通常の要素の寸法を考慮して調節できる相互の距離aに
配置される。
【0053】詳細に示されない駆動モータ手段によっ
て、軸804従ってミラー要素504は回動可能に設定で
きる。光軸に同心をなすビーム10′と10″(図6参
照)がミラー要素504のどの回転位置でも本発明の干
渉計を介し回転軸804により妨げられないで通過す
る。言い換えれば、ミラー要素504が、回転軸線84
位置する平面により2半分に分割されれば、ビーム1
0′と10″がミラー要素504の一方の半分内のみに
延長するように、ビームスプリッター1と、ミラー要素
504と端鏡713、723とが寸法決めされて配置され
る。
【0054】この場合、2つのビーム半部分のビーム路
は作動中妨害されない。この実施例では使用されないミ
ラー要素の第2半部分は、通常の部品1、3、4および
713、723よりなる第2の構成が補充され、たとえ
ば、基準干渉計として作用できる、または、異なるスペ
クトルレンジ用に設計される第2干渉計を得ることがで
きる。
【0055】図7について上述した実施例の変型におい
て、ミラー要素504の第2半部分はまた2つのビーム
半部分10′と10″の他の通路に使用できる。この場
合、図6に示すものと異なり、端鏡713と723はミラ
ー要素の第2半部分の反対のビームスプリッター1側に
配置される。各々図6に示される端鏡713、723の位
置に、2つの平面鏡のいずれかまたは屋根型内鏡が配置
され、2つのビーム10′と10″がミラー要素504
の第2半部分を経て端鏡713と723に横方向にオフセ
ットして仕向されるようになっている。ここで端鏡71
3と723はビームスプリッター1側に配置され、ビーム
は再び同様に垂直に当たる。2つのビーム半部分10′
と10″は各々この光路に沿って平面鏡513と523
2回当る。ビームスプリッター1側に配置される端鏡7
3と723から、ビームは上記光路を通過してビームス
プリッターに再び戻り、このプロセス中ミラー要素50
4を2回横切る。上記の仕方で、図7の第5実施例で得
られる光路差は2倍にできる。
【0056】考え得るもう1つの実施例において、幅2
倍のビームが図7に示すミラー要素504の中を通過で
きる。このビームでは、駆動軸804はその幅に相当す
る部分を遮蔽し、言い換えれば、それに対応して2つの
ビーム半部分をかくす。しかし、この方法では、同じ幾
何学寸法で、多くの放射線出力が検出器4に達し(図
6)、または、放射線容量が同じままであれば、図7よ
りも幾何学的に小さい配置が得られる。当然ながら、配
置全体を小さく維持し、または駆動軸803による放射
線の上記遮蔽をできるだけわずかに維持するため、駆動
軸803はできるだけ細く設計しなければならない。
【0057】図8は、図6の実施例と比較して変型した
ミラー要素構造の好ましい第6実施例の配置を略示的に
のみ示す。図8において、ミラー要素505の2つの平
面鏡515と525は所定距離aで互いに平行に配置さ
れ、さらに、U字形状に、2つの平面鏡515と525
外側に係合する2つの保持要素91と92によって互い
に固く結合される。従って、2つのU字形状保持要素9
1と92は、2つの平面鏡515と525間の距離aを固
定させるだけでなく、かつ2つの平面鏡515と525
互いに絶体に必要な平行度を示すようにする。
【0058】ミラー要素505は、フランジ815によっ
て、2つの平面鏡515または525の一方の裏側(図8
において、平面鏡515の裏面)に同心的に固着され、
この軸の回転軸線も図8に示されないミラー要素の回転
軸線と一致する。また図8において、駆動軸805は、
2つの平面鏡515と525の鏡面への垂直方向に対し
て、図8に示されない小さい角度αを形成する。駆動軸
805は図示せざるモータにより回動可能に設定され、
これは駆動軸805の上に示す矢印で表わされ、回転運
動を表わす。
【0059】ミラー要素505の回転により、保持要素
91と92によりもたらされるビームの遮蔽に拘らず、
360度回転につき少なくとも120°が2回、遮蔽さ
れない作動のため得られるように、U字形状保持要素9
1と92との寸法が定められ、平面鏡515と525の周
囲、両裏側に固定される。ビーム通路の残りの角度、約
60°の2倍は、保持要素91と92によって遮蔽され
る。
【0060】2つの干渉計アームを通る光路長は図6に
のみ示す端鏡713と723によって互いに調節配位され
て、光路のコースが変り、その速度は正弦的に変調さ
れ、測定に使用できる2・120°のセグメントは正弦
波の転換点の両側に対称的に、言い換えればその実際上
直線区域に位置することにより、その結果、1回転36
0°の光路差全体の少なくとも約87パーセントが測定
に利用され、これは1回転に得られる測定時間の約67
パーセントに当る。
【0061】第4〜第6実施例のもっとも重要なパラメ
ータを寸法とりする数値例を以下に示す。 ミラー要素503、504または505 の直径 280 mm 間隔 a 150 mm 角度 α ± 4.5° ビームの使用径 50 mm 到達可能最大光路長差 約 133 mm 120°利用の光路長差 約 115 mm
【0062】光路長差の小さい実施例では、要素はほぼ
つぎのように寸法とりされる。 ミラー要素503、504または505の直径 110 mm 間隔 a 55 mm 角度 α ± 2.5° ビームの使用径 25.4mm 到達可能最大光路長差 約 27.1mm 120°利用の光路長差 約 23.5mm
【0063】
【発明の効果】本発明によって、干渉計の第1〜第6実
施例は、高スペクトル解像度が少ない光学部品により構
成される回転ミラー要素により得られる。さらにまた、
使用される部品は実施が簡単で従って経済的である。加
えて、部品数が少ないので簡単な光学調節が可能と成る
ことにより、誤調節の率は極めて僅かになると期待でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】回転に設定できるミラーユニットを有する干渉
計の第1実施例の光学配置を示す概念図である。
【図2】連動ベアリング・駆動ユニットを有する、図1
のミラーユニットの詳細図である。
【図3】回転ミラー要素として平面平行板を有する、本
発明による干渉計の第2実施例の光学配置を示す概念図
である。
【図4】回転ミラー要素として平面平行板を有する、本
発明による干渉計の第3の好ましい実施例の光学配置を
示す概念図である。
【図5】図4の実施例の基本的配置の略斜視図である。
【図6】鏡面被覆面を相互に対向させた2つの平面鏡か
らなる回転ミラー要素を有する、本発明による干渉計の
さらに第4実施例の光学配置を示す概念図である。
【図7】図6に示す本発明による干渉計の回転ミラー要
素の第5実施例を示す概念図である。
【図8】図6の本発明による干渉計の回転ミラー要素の
第6実施例を示す概念図である。
【符号の説明】
1 ビームスプリッター 3 焦点光学要
素 5 回転ミラーユニット 6 ベアリング
・駆動ユニット 7 平面平行板 8 回転軸線 10 入射ビーム 11 中空円形
内筒 12 歯付ベルトデイスク 13 駆動デイ
スク 14 駆動ベルト 21、22 フ
ォールディング鏡 50 ミラーユニット 51、52、5
3 平面鏡 61 回転軸線 62 ベアリン
グブロック 63 中空軸 64 取付板 65 駆動ベルト 71、72 固
定平面鏡
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ブルクハルト ヤンセン ドイツ連邦共和国・49176・ヒルター・フ ィンケンヴェク・10 (72)発明者 エルヴィン リンダーマイアー ドイツ連邦共和国・86165・アウクスブル ク・ラントヴェール−シュトラーセ・14・ 1/2 (72)発明者 クラウス シュナイダー ドイツ連邦共和国・88145・ヘルガツ・ゾ ンネンハルデ・5

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ビームスプリッター(1)と、 2つのフォールディング鏡(21、22)と、 合焦光学要素(3)と、 信号放射線を検出する検出器(4)と、 駆動ユニット(65)によって回動可能に設定でき、回
    転軸線がビームスプリッター(1)の中心平面と同じ平
    面に整列されるミラーユニット(50)であって、この
    ミラーユニット(50)は、所定距離で互に対面する2
    つの相互平行鏡を有することによってビームスプリッタ
    ー(1)により形成される両ビームが光路長を変えるた
    めに方向付けできるようにしたミラーユニット(50)
    と、 ミラーユニット(50)の回転軸線の異なる反対の側に
    ビームスプリッター(1)から到来するビームに直角に
    配置される2つの固定平面鏡(71、72)と、 放射線源としてのレーザと、 レーザ検出器とを有するマイケルソン干渉計において、 ミラーユニット(50)の2つの平面鏡は偏心的かつ互
    いに平行に配置されるサイズの異なる平面鏡(51、5
    2)として具体化され、 ベアリングブロック(62)に回転可能に支持され駆動
    ユニット(65)により駆動される中空軸(63)が設
    けられ、この中空軸はビームスプリッター(1)とミラ
    ーユニット(50)との間に設けられ、その回転軸線
    (61)はミラーユニット(50)の回転軸線と一致
    し、 ミラーユニット(50)は、中空軸の回転軸線(61)
    が小さい平面鏡(51)の鏡面を貫通するようにして中
    空軸(63)に固定され、その回転軸線(61)は小さ
    い平面鏡(51)の法線と鋭角(β)を形成することに
    より、ビームスプリッター(1)で形成される2つのビ
    ームは中空軸(63)を介し2つのフォールディング鏡
    (21、22)を経て、小さい平面鏡(51)の中央配
    置鏡面に当り、それにより大きい平面鏡(52)の対向
    鏡面に反射され、そこから、垂直に固定平面鏡(71、
    72)に入射するようにして2つの平面鏡(71、7
    2)に向い、それらによって反射され、逆方向に同じ光
    路をとり、ビームスプリッター(1)で再び結合され、
    光学要素(3)によって検出器(4)に合焦される、マ
    イケルソン干渉計。
  2. 【請求項2】 回動可能に設定できるミラーユニットは
    信号放射線を透過する材料よりなる平面平行板であり、
    この板は、最初に2つの入射ビームが当る面がその区域
    でのみ鏡面被覆される一方、他面が全体に鏡面被覆され
    るようにして、内向き鏡面として具体化される2つの対
    向外面を有する請求項1の干渉計。
  3. 【請求項3】 2つの平面鏡は円形または楕円である請
    求項1または2のいずれかの干渉計。
  4. 【請求項4】 ビームスプリッター(1)を有し、 各々がフォールディング鏡として作用する第1および第
    2平面鏡(21、22)を有し、 信号放射線をピックアップする合焦光学要素(3)を有
    し、 検出器(4)を有し、 駆動ユニットにより回動可能に設定でき、回転軸線
    (8)がミラー要素の垂線と所定の鋭角(α)をなし、
    ビームスプリッター(1)の中心平面と同じ平面に位置
    決めされるミラー要素であって、ミラー要素は互いに所
    定距離隔て設けられる2つの互い平行な鏡面を有し、ビ
    ームスプリッターにより形成される両ビーム半部分はこ
    れを通過することによって光路長を変えるために方向付
    けられるミラー要素を有し、 ビームスプリッター(1)により形成されるビーム半部
    分に垂直に、ミラー要素の回転軸線(8)の異なる対向
    側に軸方向対称的に配置される第3および第4平面鏡
    (711、721)を有し、 放射線源としてレーザを有し、 レーザ検出器を有するものにおいて、 ミラー要素は、両側に環状鏡面を備える所定厚みの平面
    平行板(501)であり、 回転軸線(8)に直角に配向される第5平面鏡(91)
    がミラー要素の前に配置され、第1および第2平面鏡
    (211、222)が第5平面鏡(91)の高さでその外
    側に設けられるようにして、回転軸線(8)に直角に配
    向される第6平面鏡(92)がミラー要素の後に設けら
    れ、第3および第4平面鏡(711、712)は、回転軸
    線(8)から45°の角度でミラー要素と第6平面鏡
    (92)との間のスペースの外区域に設けられることに
    より、 ビームスプリッター(1)で形成される2つのビーム半
    部分は、第1および第2平面鏡(211、221)を経
    て、ビームスプリッター(1)の方へ、ミラー要素(5
    1)の環状鏡面に当り、それにより第5平面鏡(9
    1)に反射され、そこからミラー要素(501)の非鏡
    面被覆部分を介し、ミラー要素の後に配置される第6平
    面鏡(92)に当り、第6平面鏡によって、ビームスプ
    リッター(1)から遠いミラー要素の環状鏡面に反射さ
    れ、そこから直角に第3および第4平面鏡(711、7
    1)に当り、これら2つの平面鏡(711、712)に
    より反射され、逆方向に同じコースを通過し、ビームス
    プリッター(1)で再び結合され、光学要素(3)によ
    って検出器(4)に合焦される、マイケルソン干渉計。
  5. 【請求項5】 ミラー要素(501)の非鏡面被覆面区
    域にくぼみが設けられる請求項4の干渉計。
  6. 【請求項6】 ビームスプリッター(1)を有し、 各々がフォールディング鏡として作用する第1および第
    2平面鏡(211、221)を有し、 信号放射線をピックアップする合焦光学要素(3)を有
    し、 検出器(4)を有し、 駆動ユニットにより回動可能に設定でき、回転軸線
    (8)がミラー要素の垂線と所定の鋭角(α)をなし、
    ビームスプリッター(1)の中心平面と同じ平面に位置
    決めされるミラー要素であって、ミラー要素は互いに所
    定距離に配置される2つの相互に平行な鏡面を有し、ビ
    ームスプリッターにより形成される両ビーム半部分はこ
    れを通過することによって光路長を変えるために方向付
    けられるミラー要素を有し、 ミラー要素の回転軸線(8)の異なる対向側に軸方向対
    称的に配置される第3および第4平面鏡(712、7
    2)を有し、 放射線源としてレーザを有し、 レーザ検出器を有するものにおいて、 ミラー要素は両側に環状鏡面を備える所定厚みの平面平
    行板(501)であり、 回転軸線(8)に直角に配向
    される第5平面鏡(91)は、ビームスプリッター
    (1)とミラー要素の間に配置され、第1および第2平
    面鏡(211、221)が第5平面鏡(91)の高さでそ
    の外側に配置され、 第3および第4平面鏡(711、722)は、回転軸線
    (8)と鋭角をなす、ビームスプリッター(1)から遠
    い、ミラー要素の外側環状鏡面と第6平面鏡(92)に
    対し配置されることにより、 ビームスプリッター(1)で形成される2つのビーム半
    部分は、第1および第2平面(211、221)を経て、
    ビームスプリッター(1)の方へ、ミラー要素の環状鏡
    面に当り、それにより第5平面鏡(91)に反射され、
    そこからミラー要素の非鏡面被覆部分を介し、ミラー要
    素の後に配置される第3および第4平面鏡(711、7
    1)に当り、そこ(711、721)から鏡面要素の環
    状鏡面に反射され、そこから直角に第3および第4平面
    鏡(711、721)に当り、これら2つの平面鏡(71
    1、722)により反射され、逆方向に同じ光路を通過
    し、ビームスプリッター(1)で再び結合され、光学要
    素(3)によって検出器(4)に合焦される、マイケル
    ソン干渉計。
  7. 【請求項7】 回転軸線(8)に相当する円筒軸線がミ
    ラー要素の垂線と鋭角をなすようにして、円形環状、好
    ましくは、楕円環状鏡面を有する平面平行板(501
    はその外縁により中空内形円筒(11)の一端に取り付
    けられ、 円筒軸線に直角に配置される歯付ベルトデイスク(1
    2)状の保持駆動デイスクは円形円筒(11)の他端に
    固定され、 歯付ベルトデイスク(12)は回転軸線(81)と同心
    的に配向される固定軸を中心に回転可能に支持され、 2つの平面鏡(711、721)は固定軸(8′)に取り
    付けられ、 歯付ベルトデイスク(12)と、ミラー要素を形成する
    平面平行板(501)とが、駆動ベルト(14)によっ
    て駆動ユニットの駆動デイスク(13)により回動可能
    に設定できる請求項6の干渉計。
  8. 【請求項8】 ビームスプリッター(1)と、合焦光学
    要素(3)と、検出器(4)と、光路長を変えるため、
    回動可能に設定できるミラー要素(503)とを有し、
    ミラー要素は、互いに対面しかつ互いに平行に配置され
    る2つの平面鏡(513、523)と2つの平面端鏡(7
    3、723)とを有する、マイケルソン干渉計におい
    て、 ミラー要素(503)の平面鏡(513、523)は円形
    または楕円であり同じ直径を有し、調節可能な間隔
    (a)で互いに固定され、ミラー要素の中心平面に対し
    ビームスプリッター(1)は片側に配置され、2つの端
    鏡(713、723)はミラー要素(503)の他側に配
    置され、ビームスプリッター平面は平面鏡(513、5
    3)間に位置し2つの端鏡(713、723)間に形成
    される角度を2分するようにし、 平面鏡の表面はミラー要素(503)の回転軸線(83
    と垂直な方向と小さい角度(α)で傾斜され、 ミラー要素の回転軸線(83)は駆動軸(803)の回転
    軸線に一致し、該駆動軸はミラー要素(503)の2つ
    の平面鏡(513、523)の一方の外側に固着されか
    つ、一定角速度でモータにより駆動でき、 ビームスプリッター(1)からの入射ビーム(10)は
    強度が等しい2半分に分割され、各半ビームは、2つの
    平面鏡(夫々513、523)の一方に当り、夫々対向平
    面鏡(夫々523、513)に反射され、そこから最後に
    端鏡(713、723)に向い、垂直にこれら鏡(7
    3、723)に当り、そこから逆方向に光路を通過し、
    ビームスプリッター(1)で再び結合され、合焦レンズ
    (3)を経て検出器(4)に送られ、光路長差は角度
    (α)と間隔(a)の大きさにより調節できるようにし
    た、マイケルソン干渉計。
  9. 【請求項9】 ミラー要素(504)の2つの平面鏡
    (514、524)は各々、中央孔を備え、この中央孔に
    駆動軸(804)が案内され、この駆動軸は、間隔
    (a)で互いに平行に配置される平面鏡(514、5
    4)の夫々外面に2つのフランジ(81、82)によ
    って固定され、平面鏡(514、524)が回転軸線(8
    4)に垂直な方向に対し角度(α)で傾斜しており、各
    回転位置で光軸に同心であるビーム(10′、10″)
    が駆動軸(804)に妨げられないミラー要素(504
    の半分だけを通過するように、ビームスプリッター
    (1)、ミラー要素(504)、端鏡(713、723
    および入射ビーム(10)の直径が寸法決めされ配置さ
    れる請求項8のマイケルソン干渉計。
  10. 【請求項10】 光軸に同心であり入射ビーム(10)
    から発するビーム(10′、10″)が、ビーム半部分
    (10′、10″)の光軸が回転軸線(84)と平面を
    形成するような構成で通過するように、ビームスプリッ
    ター(1)、ミラー要素(504)、端鏡(713、72
    3)および入射ビーム(10)の直径が寸法決めされ配
    置され、その結果駆動軸(804)がビームの中央部分
    だけを遮蔽する、請求項9の干渉計。
  11. 【請求項11】 2つの平面鏡(515、525)は両側
    で互いに所定距離(a)をおいて互いに平行に固定さ
    れ、U字形保持要素(91、92)がそれらに係合し、 ミラー要素(505)の2つの平面鏡(515、525
    の一方の裏面と同心的に、駆動軸(805)はフランジ
    (815)によって固定され、駆動軸の回転軸線は平面
    鏡(515、525)の鏡面の法線と小さい角度(α)を
    形成し、 ミラー要素(505)の回転により保持要素(91、9
    2)によるビームの影に拘らず、少なくとも2回120
    °の角度が妨げられない作動のために回転ごとに得られ
    るようにU字形保持要素(91、92)が寸法決めされ
    ることにより、 端鏡(713、723)によって設定される2つの干渉計
    アームの光路長が互いに同様に正弦的に変調され、2回
    120°、測定に使用できるセグメントが正弦カーブの
    転換点の両側に対称的に従って事実上直線区域に位置決
    めされる結果、光路長差全体の約87パーセントと1回
    転の時間全体の約67パーセントが測定に使用できるよ
    うにした請求項8の干渉計。
JP6177712A 1993-07-07 1994-07-07 マイケルソン干渉計 Expired - Fee Related JP2554026B2 (ja)

Applications Claiming Priority (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19934322687 DE4322687C1 (de) 1993-07-07 1993-07-07 Interferometer nach Michelson
DE4322682.5 1993-07-07
DE19934322683 DE4322683C1 (de) 1993-07-07 1993-07-07 Interferometer nach Michelson
DE4322683.3 1993-07-07
DE4322687.6 1993-07-07
DE19934322682 DE4322682C2 (de) 1993-07-07 1993-07-07 Interferometer nach Michelson

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0771909A true JPH0771909A (ja) 1995-03-17
JP2554026B2 JP2554026B2 (ja) 1996-11-13

Family

ID=27205316

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6177712A Expired - Fee Related JP2554026B2 (ja) 1993-07-07 1994-07-07 マイケルソン干渉計

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5457529A (ja)
EP (1) EP0634636B1 (ja)
JP (1) JP2554026B2 (ja)
CA (1) CA2127567C (ja)
DE (1) DE59408798D1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6330057B1 (en) 1998-03-09 2001-12-11 Otm Technologies Ltd. Optical translation measurement

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI102011B (fi) * 1994-10-10 1998-09-30 Jyrki Kauppinen Interferometri
US5677768A (en) * 1996-07-03 1997-10-14 Hewlett-Packard Company Method and interferometric apparatus for measuring changes in displacement of an object in a rotating reference frame
DK78096A (da) 1996-07-12 1998-01-13 Foss Electric As Interferometer
US5898495A (en) * 1996-10-28 1999-04-27 Manning; Christopher J. Tilt-compensated interferometer
US6469790B1 (en) 1996-10-28 2002-10-22 Christopher J. Manning Tilt-compensated interferometers
DE102009007769B4 (de) * 2009-02-05 2016-07-14 Jenoptik Automatisierungstechnik Gmbh Laserbearbeitungskopf mit integrierter Sensoreinrichtung zur Fokuslagenüberwachung
US20150292859A1 (en) * 2014-04-14 2015-10-15 Finite Element Analyst, Inc. Rotary fourier transform interferometer spectrometer including a multi-faceted optical element
CN104034423B (zh) * 2014-06-23 2016-03-09 中国科学院光电研究院 高稳定性转镜干涉仪
CN106091903B (zh) * 2016-05-27 2018-10-26 中国科学院光电技术研究所 基于双平面定基准的大型旋臂弯沉量检测方法及装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2252557B3 (ja) * 1973-11-27 1977-08-26 Hawker Siddeley Dynamics Ltd
DE2904836A1 (de) * 1979-02-08 1980-08-14 Max Planck Gesellschaft Interferometrische einrichtung zur messung der wellenlaenge optischer strahlung
US4654530A (en) * 1983-10-31 1987-03-31 Dybwad Jens P Refractively scanned interferometer
DE3476583D1 (en) * 1983-12-22 1989-03-09 Deutsche Forsch Luft Raumfahrt Interferometer
JPS61222290A (ja) * 1985-03-28 1986-10-02 Hamamatsu Photonics Kk レ−ザパルス列のジツタ測定装置
US4915502A (en) * 1988-01-11 1990-04-10 Nicolet Instrument Corporation Interferometer spectrometer having tiltable reflector assembly and reflector assembly therefor
DD282371A7 (de) * 1988-02-10 1990-09-12 Akad Wissenschaften Ddr Verfahren und anordnung zur messung der mikrogestalt technischer oberflaechen
DE3883768D1 (de) * 1988-11-17 1993-10-07 Kayser Threde Gmbh Reflektorsystem für Michelson-Interferometer.
DE3921816A1 (de) * 1989-07-03 1991-01-17 Wildgruber Guenther Zweistrahl-interferometer
EP0443477B1 (de) * 1990-02-21 1993-09-01 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. Interferometer nach Michelson zur Erzeugung optischer Wegunterschiede
US5495334A (en) * 1990-07-26 1996-02-27 Research Development Corporation Of Japan Fourier transform spectroscope with quadrangular common path interferometer

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6330057B1 (en) 1998-03-09 2001-12-11 Otm Technologies Ltd. Optical translation measurement

Also Published As

Publication number Publication date
CA2127567C (en) 1996-08-06
DE59408798D1 (de) 1999-11-11
US5457529A (en) 1995-10-10
CA2127567A1 (en) 1995-01-08
JP2554026B2 (ja) 1996-11-13
EP0634636A1 (de) 1995-01-18
EP0634636B1 (de) 1999-10-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4652130A (en) Method of and arrangement for an interferometer
JP2554026B2 (ja) マイケルソン干渉計
US20030123610A1 (en) X-ray diffraction apparatus
JP2510457B2 (ja) マイケルソン干渉計
CA2582337C (en) Optical delay
JP2586121B2 (ja) ロータリーエンコーダの原点検出系
JP2723043B2 (ja) 光ビーム走査装置
JPS6089712A (ja) 光学式エンコ−ダ
JPH04208810A (ja) 変位信号出力装置
US4806017A (en) Apparatus for the contactless measurement of geometrical dimensions
JPH04356010A (ja) テレセントリック光線を発生する装置
US5243404A (en) Fourier transform spectrophotometer
US4490041A (en) Device for applying radiation at adjustable angles
JP2001343256A (ja) 光学式エンコーダ
US4179219A (en) Revolving mirror scanning interferometer
JP3327638B2 (ja) 回転型干渉計
JP2001041822A (ja) 干渉分光光度計
JPH04221712A (ja) 光電的位置測定装置
JPH04315926A (ja) レーザダイオードの放射特性測定装置
GB2091900A (en) Device for applying radiation at adjustable angles, monochromators
JPH0370174B2 (ja)
JPH07209023A (ja) エンコーダ及びその製造装置
JPH02112723A (ja) 光学式エンコーダ
JPH0915049A (ja) 光路長可変機構
RU1798935C (ru) Лазерный центратор дл рентгеновского излучател

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19960611

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees