JPH0770736A - 薄膜素子の製造方法 - Google Patents

薄膜素子の製造方法

Info

Publication number
JPH0770736A
JPH0770736A JP24355593A JP24355593A JPH0770736A JP H0770736 A JPH0770736 A JP H0770736A JP 24355593 A JP24355593 A JP 24355593A JP 24355593 A JP24355593 A JP 24355593A JP H0770736 A JPH0770736 A JP H0770736A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thin film
substrate
film
resist layer
conductor coil
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP24355593A
Other languages
English (en)
Inventor
Tatsuya Shiromoto
竜也 城本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
RIIDE RAITO S M I KK
Original Assignee
RIIDE RAITO S M I KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by RIIDE RAITO S M I KK filed Critical RIIDE RAITO S M I KK
Priority to JP24355593A priority Critical patent/JPH0770736A/ja
Publication of JPH0770736A publication Critical patent/JPH0770736A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ホトリソグラフィ技術を用いて基板の上に多
層構造の薄膜を積層する際に、薄膜を積層しようとする
面と基板の面との段差に拘らず、フォトレジスト層を安
定して十分かつ一様な厚さに形成し、常に高精度のパタ
ーニングを可能にする。 【構成】 先ず、粘性の低い感光性材料を用いて基板の
上に第1のレジスト層を形成する。基板の段差の上にあ
る第1のレジスト層の部分を除去して、段差を実質的に
埋める。この後、粘性の高い感光性材料を用いて段差の
上に第2のレジスト層を形成し、これをパターニングす
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【産業上の利用分野】本発明は、ホトリソグラフィ技術
を用いて基板の上に積層される多層構造の金属、合金、
絶縁物、化合物等の薄膜からなる薄膜素子を製造する方
法に関し、例えば磁気ディスク装置、その他の磁気記録
再生装置に用いる薄膜磁気ヘッドの製造に使用される。
【従来の技術】従来より、磁気ディスク装置の高性能化
に伴い、記録密度の向上及び情報転送速度の高速化を図
るために薄膜磁気ヘッドが使用されている。薄膜磁気ヘ
ッドには、面内記録再生用と垂直記録再生用との2つの
型式のものが知られている。これら薄膜磁気ヘッドは、
一般に電気メッキ、スパッタリング等の堆積技術、及び
ホトリソグラフィによる微細加工技術を用いて、Al2
3−TiC系のセラミック材料等の基板上に絶縁体の
薄膜を介して磁性薄膜を多層に堆積することによって製
造される。高記録密度化を達成するためには、薄膜磁気
ヘッドの再生出力を高くすればよいが、そのための1つ
の手段として、導体コイルの巻回数を増加させる方法が
考えられる。そこで、基板上の限られた面積内でコイル
巻数を増加させるために、絶縁層を介して導体コイル膜
を積層した2層又はそれ以上の多層構造のコイルが、広
く採用されている。図1には、このような4層からなる
多層構造のコイルを有する面内記録再生用薄膜磁気ヘッ
ドの構造が示されている。Al23−TiCからなる基
板1には、アルミナ等の絶縁膜2を被着した上に下部磁
極を構成する平面羽子板形の下部磁性膜3が形成されて
いる。下部磁性膜3の上には、非磁性絶縁材料例えばア
ルミナからなるギャップ膜4が成膜され、その上にノボ
ラック樹脂等の有機絶縁樹脂材料からなる絶縁層5を介
して、渦巻状の第1導体コイル6がCu等で形成されて
いる。第1導体コイル6の上には、第2、第3及び第4
導体コイル7〜9がそれぞれ層間絶縁層10〜12を介
して積層され、更に層間絶縁層13を介して上部磁性膜
14が形成されている。上部磁性膜14は、リアギャッ
プ15に於いて下部磁性膜3に直接接続され、かつその
先端部がギャップ膜4を介して下部磁性膜3の先端部と
対向する上部磁極を構成しており、この磁極間で情報の
書き込み・読み出しを行う。従来、各導体コイル6〜9
は、感光性有機樹脂材料のレジスト膜を塗布し、ホトリ
ソグラフィ技術を用いて所望のコイルパターンを形成
し、かつレジスト膜を除去した部分にCuを電気めっき
することによって形成するのが一般的である。図4に
は、かかる従来技術を用いて、図1に示す薄膜磁気ヘッ
ドの第4導体コイル9を形成する工程が示されている。
図4−Aに於いて、基板1には、下部磁性膜3、ギャッ
プ膜4、絶縁層5、第1〜第3導体コイル6〜8、及び
層間絶縁層10〜12が積層され、かつそれらの上にめ
っき電極用の下地コイル導体膜16がスパッタリング等
により被着されている。この下地コイル導体膜上に、例
えばノボラック系の感光性有機樹脂を均一に塗布し、ソ
フトベークしてポジ型フォトレジストからなるレジスト
膜17を形成する(図4−B)。次に、図4−Cに示す
ように所定のマスクパターンを有するフォトマスク18
を用いて露光し、レジスト膜17をパターニングする
(図4−D)。そして、レジスト膜17を除去した部分
19にCu膜を電気めっきすることによって第4導体コ
イル9を形成する。
【発明が解決しようとする課題】一般にフォトレジスト
に使用されるノボラック樹脂等の感光性有機樹脂材料
は、加熱により流動性を有する。ところが、導体コイル
の層数が多くなると、後から積層される導体コイルは、
その積層しようとする絶縁層の面と基板の面との段差が
大きくなるので、上述した従来の薄膜磁気ヘッドの製造
方法では、塗布した前記感光性有機樹脂がソフトベーク
の際に絶縁層上から周辺に流れ落ちて、図4−Bに示す
ようにレジスト層17の膜厚が不十分で不均一になり易
いという問題があった。かかるレジスト層を用いて導体
コイルをパターン形成すると、図5に示す第4導体コイ
ル9のように、膜厚や形状の均一性が低下して所望の性
能が得られず、特に段差に近い部分ではレジスト層が薄
くなるので、隣接するコイルがめっきのオーバハングに
より短絡して歩留りが低下する虞がある。このため、導
体コイルの多層化が制限され、薄膜磁気ヘッドの再生出
力の向上を十分に図ることができないという問題があっ
た。そこで、請求項1記載の薄膜素子の製造方法は、上
述した従来の問題点に鑑みてなされたものであり、その
目的とするところは、ホトリソグラフィ技術を用いて基
板の上に金属、合金、絶縁物等の複数層の薄膜を積層す
る際に、薄膜を積層しようとする面と基板の面との段差
が大きくなっても、その上にフォトレジスト層を安定し
て十分かつ一様な厚さに形成することができ、それによ
って常に高精度のパターニングを可能にし、歩留りを向
上させ得る薄膜素子の製造方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】本発明は、上述した目的
を達成するためのものであり、以下にその内容を図面に
示した実施例を用いて説明する。請求項1記載の薄膜素
子の製造方法は、多層構造の薄膜素子に於いて段差を有
する基板上にフォトレジストを用いて薄膜を積層する場
合に、粘性の低い感光性材料を用いて基板の上に第1の
レジスト層を形成し、段差の上にある第1のレジスト層
を除去した後、粘性の高い感光性材料を用いて段差の上
に第2のレジスト層を形成し、これをパターニングする
ことを特徴とする。ここで、粘性の低い感光性材料と
は、例えば半導体ICの製造によく使用される粘度50
〜150cP(センチポアズ)程度のものを意味し、他
方粘性の高い感光性材料とは、例えば主として薄膜磁気
ヘッドの製造に使用される粘度200〜500cP程度
のものを意味する。
【作用】従って、請求項1記載の薄膜素子の製造方法に
よれば、粘性の低い感光性材料を用いて、基板の段差の
下側に第1のレジスト層が形成されることによって、該
段差を実質的に埋めることができ、更に、粘性の高い感
光性材料を用いることによって第2のレジスト層を、段
差の上に安定して十分かつ一様な厚さに容易に形成する
ことができる。
【実施例】以下に、本発明の薄膜素子の製造方法につい
て、図1に示す4層構造の導体コイルを有する面内記録
再生用薄膜磁気ヘッドを薄膜素子とする実施例を用い
て、添付図面を参照しつつ詳細に説明する。図2及び図
3には、図1の薄膜磁気ヘッドに於いて、本発明を適用
して第4導体コイル9を形成する工程が示されている。
図2−Aに於いて、Al23−TiC系のセラミック材
料からなる基板1には、上述した図4の従来例と同様
に、下部磁極としてNi−Fe合金、コバルト合金等の
軟磁性材料からなる下部磁性膜3が、電気めっき、スパ
ッタリング等によりパターン形成され、その上にアルミ
ナからなるギャップ膜4がスパッタリングにより被着さ
れている。ギャップ膜4の上には、ノボラック樹脂等の
有機絶縁樹脂をパターニングした後、加熱硬化させて第
1絶縁層5が形成されると共に、Cuの第1導体コイル
6が渦巻状にパターン形成されている。同様にして、第
2絶縁層10、第2導体コイル7、第3絶縁層11、第
3導体コイル8、第4絶縁層12が順次積層されてい
る。そして、これらを含めて基板1には、めっき用電極
としてCu/Ti等からなる極薄の下地コイル導体膜1
6がスパッタリング等により被着されている。図示され
るように、その上に第4導体コイルを形成しようとする
第4絶縁層12の面と基板1の面との間には、大きな段
差が存在する。先ず、第4絶縁層12の上に、約50〜
150cP程度の低粘度のノボラック系の感光性有機樹
脂をスピンコートにより塗布しかつソフトベークして、
ポジ型フォトレジストの第1レジスト層20を形成す
る。このような低粘度の感光性有機樹脂材料としては、
従来より薄膜磁気ヘッドに比較して積層する薄膜の層数
が少なくかつ全体の厚みが薄い半導体ICの製造に一般
的に使用されているものがある。このとき、ノボラック
樹脂は加熱により流動性を有するようになるので、ソフ
トベークすると、その一部が図2−Aに示すように、第
4絶縁層12の周縁から流れ落ちて基板1の面上に広が
る。次に、図2−Bのようにフォトマスク21を当てて
露光し、通常の現像液を用いて現像した後、90〜12
0℃程度の温度で約30分間ポストベークする。この熱
処理に要する時間は、第1レジスト層20の膜厚によっ
て適当に設定すればよい。これによって、図2−Cに示
すように、第4絶縁層12の上にある第1レジスト層2
0の部分を除去する。このように第1レジスト層20を
前記段差の下側に残すように形成することによって、第
4絶縁層12と基板1との前記段差を、次に第4絶縁層
12上に第2のレジスト層を形成するのに必要な程度に
埋めることができる。特に、低粘度の感光性有機樹脂を
第1レジスト層20に用いることによって、ソフトベー
クの際に前記段差の下部に流れ易くなることから、該段
差をより容易に埋めることができる。次に、第4絶縁層
12の上に、約200〜500cP程度の高粘度のノボ
ラック系の感光性有機樹脂をスピンコートにより塗布し
かつソフトベークして、図2−Dに示すようにポジ型フ
ォトレジストの第2レジスト層22を形成する。このよ
うな高粘度の感光性有機樹脂としては、従来より例えば
薄膜磁気ヘッドの製造によく使用されているものを用い
る。上述したように第1レジスト層20によって前記段
差が実質的に埋められていることによって、しかもその
高い粘性によって第2レジスト層22は、第4絶縁層1
2の上に均一かつ十分な膜厚を得ることができる。従っ
て、本発明によれば、第1レジスト層20は、前記段差
の大きさに応じて必要な膜厚が得られるように、適当な
量の前記感光性有機樹脂をスピンコートするが、敢えて
前記段差を完全に埋める必要はない。このようにして形
成された第2レジスト層22の上に、図3−Eに示すよ
うに所定のマスクパターン23を有するフォトマスク2
4を配置し、露光し、通常の現像液を用いて現像しかつ
水洗した後、熱処理を施して第4導体コイルに対応する
所望の感光パターンを形成する。パターニングする。そ
して、第2レジスト膜22を除去した部分25に、Cu
を電気めっきする。更に、残存する第2レジスト膜22
をアセトン等の有機溶剤で除去し、かつ不要の下地コイ
ル導体膜16をウェットエッチング又はイオンミリング
等の従来の方法により除去して、第4導体コイル9を形
成する。上述したように第2レジスト層22が均一かつ
十分な膜厚に形成されることによって、第4導体コイル
9は、容易にかつ安定的に所望の均一な幅及び厚さに形
成されるので、めっきのオーバハングによるコイルの短
絡が防止されて歩留りが著しく向上し、かつ所望の高い
性能を確保することができる。以上、本発明の好適な実
施例として面内記録再生用薄膜磁気ヘッドについて説明
したが、本発明は、垂直記録再生用薄膜磁気ヘッドだけ
でなく、半導体素子や電子部品等に用いられるあらゆる
薄膜素子に於いて、また、ホトリソグラフィ技術を用い
て薄膜を積層する様々な場合や用途に適用することがで
きる。本発明は、その技術的範囲内に於て上記実施例に
様々な変形・変更を加えて実施することができる。例え
ば、本発明による方法は、第4導体コイル以外の導体コ
イル又は上部磁性膜や絶縁膜をフォトレジストによりパ
ターン形成する場合にも適用することができる。更に、
第1及び第2のレジスト層には、上述したノボラック樹
脂以外にポリイミド系のような様々な感光性材料を使用
することができる。
【発明の効果】本発明は、以上のように構成されている
ので、以下に記載されるような効果を奏する。請求項1
記載の薄膜素子の製造方法によれば、ホトリソグラフィ
技術を利用して基板の上に複数の薄膜を積層する際に、
フォトレジストを形成する面と基板の面との段差の上を
除くように、低粘性の感光性材料からなる第1のレジス
ト層を形成することによって、該段差を実質的に解消又
は軽減することができ、しかも高粘性の感光性材料によ
って第2のレジスト層を安定して十分かつ一様な厚さに
形成することができるから、薄膜形成技術に於いて容易
にかつ安定的に高精度のパターニングを行うことが可能
になる。従って、これを上記実施例のように薄膜磁気ヘ
ッドに適用した場合には、パターン形成される導体コイ
ルを、安定して十分かつ均一な膜厚及び所望の形状に形
成することができるので、隣接するコイルの短絡が防止
されて歩留りが大幅に向上し、かつ所望の性能を安定維
持することができると共に、導体コイルの多層化を容易
に達成することができる。これにより、薄膜磁気ヘッド
の再生出力を向上させてより一層の高記録密度化を実現
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による方法を適用する多層構造の導体コ
イルを有する薄膜磁気ヘッドの構造を概略的に示す要部
断面斜視図である。
【図2】A図〜D図からなり、本発明による方法を適用
した薄膜磁気ヘッドの製造工程を示す断面図である。
【図3】E図〜G図からなり、本実施例の図2に続く工
程を示す断面図である。
【図4】A図〜D図からなり、従来方法による薄膜磁気
ヘッドの製造工程を示す断面図である。
【図5】図4の従来方法により形成される導体コイルを
示す断面図である。
【符号の説明】
1 基板 2 絶縁膜 3 下部磁性膜 4 ギャップ膜 5 第1絶縁層 6 第1導体コイル 7 第2導体コイル 8 第3導体コイル 9 第4導体コイル 10 層間絶縁層、第2絶縁層 11 層間絶縁層、第3絶縁層 12 層間絶縁層、第4絶縁層 13 層間絶縁層 14 上部磁性膜 15 リアギャップ 16 下地コイル導体膜 17 レジスト膜 18 フォトマスク 19 除去部分 20 第1レジスト層 21 フォトマスク 22 第2レジスト層 23 マスクパターン 24 フォトマスク 25 除去部分

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 フォトレジストを用いて基板の上に積層
    される多層構造の薄膜からなる薄膜素子の製造方法であ
    って、 段差を有する前記基板の面上に粘性の低い感光性材料を
    用いて第1のレジスト層を形成する過程と、 前記基板の前記段差の上にある前記第1のレジスト層の
    部分を除去する過程と、 前記段差の上に、粘性の高い感光性材料を用いて第2の
    レジスト層を形成し、該第2のレジスト層をパターニン
    グする過程とからなることを特徴とする薄膜素子の製造
    方法。
JP24355593A 1993-09-06 1993-09-06 薄膜素子の製造方法 Pending JPH0770736A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24355593A JPH0770736A (ja) 1993-09-06 1993-09-06 薄膜素子の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24355593A JPH0770736A (ja) 1993-09-06 1993-09-06 薄膜素子の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0770736A true JPH0770736A (ja) 1995-03-14

Family

ID=17105601

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24355593A Pending JPH0770736A (ja) 1993-09-06 1993-09-06 薄膜素子の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0770736A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102337496A (zh) * 2010-07-22 2012-02-01 深圳森丰真空镀膜有限公司 一种间色镀膜的方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102337496A (zh) * 2010-07-22 2012-02-01 深圳森丰真空镀膜有限公司 一种间色镀膜的方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101049610B1 (ko) 코일 부품 및 그 제조방법
JP2002076620A (ja) 多層配線基板及びその製造方法
US4317700A (en) Method of fabrication of planar bubble domain device structures
JPH0770736A (ja) 薄膜素子の製造方法
JPH09330817A (ja) 面状コイル装置およびその製造方法
JP2553012B2 (ja) 薄膜磁気ヘッド
JPH0447368B2 (ja)
JPH07118849A (ja) 導体薄膜パターンの形成方法
JPH087222A (ja) 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法
JP2649209B2 (ja) 薄膜磁気ヘッドの製造方法
JPH0644526A (ja) 薄膜磁気ヘッドの製造方法
JPS6111914A (ja) 薄膜磁気ヘツドの製造方法
JP2927032B2 (ja) 薄膜磁気ヘッドの製造方法
JPS61216110A (ja) 金属パタ−ン形成方法
JPH0520640A (ja) 薄膜磁気ヘツドの製造方法
JPH07130568A (ja) 薄膜コイルの製造方法
JP2713758B2 (ja) 薄膜磁気ヘッドの製造方法
JPH0765321A (ja) 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法
JPS61117715A (ja) 薄膜磁気ヘツド
JPH0316686B2 (ja)
JPH05174320A (ja) 薄膜磁気ヘッドの製造方法
JPH0554331A (ja) 薄膜磁気ヘツドの製造方法
JPS60246013A (ja) 薄膜磁気ヘツドの製造方法
JPS60173712A (ja) 薄膜パタ−ン付設基板の表面平担化方法
JPH01267812A (ja) 薄膜磁気ヘッドの製造方法