JPH076909B2 - 光度測定装置用キュベットの製造方法 - Google Patents
光度測定装置用キュベットの製造方法Info
- Publication number
- JPH076909B2 JPH076909B2 JP3137612A JP13761291A JPH076909B2 JP H076909 B2 JPH076909 B2 JP H076909B2 JP 3137612 A JP3137612 A JP 3137612A JP 13761291 A JP13761291 A JP 13761291A JP H076909 B2 JPH076909 B2 JP H076909B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solder
- container
- cuvette
- layer
- window
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 6
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims description 22
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 10
- WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L calcium difluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ca+2] WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 7
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910001634 calcium fluoride Inorganic materials 0.000 claims description 5
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 5
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 4
- VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N chromium nickel Chemical compound [Cr].[Ni] VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 3
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 claims description 3
- 229910004261 CaF 2 Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims description 2
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 claims description 2
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 claims description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 11
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 4
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 3
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 3
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 2
- 239000010951 brass Substances 0.000 description 2
- 239000010436 fluorite Substances 0.000 description 2
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 2
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 2
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 238000003556 assay Methods 0.000 description 1
- OYLGJCQECKOTOL-UHFFFAOYSA-L barium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ba+2] OYLGJCQECKOTOL-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001632 barium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 230000003197 catalytic effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- -1 for example Substances 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000010309 melting process Methods 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 238000009210 therapy by ultrasound Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/03—Cuvette constructions
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Optical Measuring Cells (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【０００１】本発明は、光度又は分光測定装置用キュベ
ットの製造方法に関する。
ットの製造方法に関する。
【０００２】
【産業上の利用分野】この種の測定装置のためには、一
定の長さの金属体中に気体を一定の濃度で確実に封入し
含有するキュベットが必要であり、その際該キュベット
のそれぞれの端面は、フッ化カルシウムＣａＦ2からな
る光透過性窓で気密に閉鎖されている。該所望の測定効
果は、吸収効果の高い定数で封入された気体による光線
の一定の吸収から生じる。
定の長さの金属体中に気体を一定の濃度で確実に封入し
含有するキュベットが必要であり、その際該キュベット
のそれぞれの端面は、フッ化カルシウムＣａＦ2からな
る光透過性窓で気密に閉鎖されている。該所望の測定効
果は、吸収効果の高い定数で封入された気体による光線
の一定の吸収から生じる。
【０００３】
【従来の技術】キュベットを製造するための種々の技術
はすでに公知である。Ｈａｒｔｍａｎｎ＆Ｂｒａｕｎ社
の気体分析器 Ｒａｄａｓ １Ｇの使用説明書４２／２
０−２２−０（９．７９）４０頁には、石英及び遷移ガ
ラスからなり、溶融温度でガラスを溶融することにより
気体が確実に封入される検定キュベットが記載されてい
る。しかしながら該溶融法は、例えば石英又はガラスの
溶融の際に必要な、高い温度で変化する炭化水素及びＮ
Ｏxガスには適していない。一方、赤外線はすでに約
４．５μｍないしは約２．５μｍの波長で吸収されるの
で、石英又はガラスは普通赤外線での使用には適してい
ない。同じ理由からサファイアもまた制限付きで使用可
能であるにすぎない。この場合には吸収端は約５．５μ
ｍであり、従ってＳＯ2及び炭化水素の吸収スペクトル
は測定できないか、部分的に測定できるにすぎない。
はすでに公知である。Ｈａｒｔｍａｎｎ＆Ｂｒａｕｎ社
の気体分析器 Ｒａｄａｓ １Ｇの使用説明書４２／２
０−２２−０（９．７９）４０頁には、石英及び遷移ガ
ラスからなり、溶融温度でガラスを溶融することにより
気体が確実に封入される検定キュベットが記載されてい
る。しかしながら該溶融法は、例えば石英又はガラスの
溶融の際に必要な、高い温度で変化する炭化水素及びＮ
Ｏxガスには適していない。一方、赤外線はすでに約
４．５μｍないしは約２．５μｍの波長で吸収されるの
で、石英又はガラスは普通赤外線での使用には適してい
ない。同じ理由からサファイアもまた制限付きで使用可
能であるにすぎない。この場合には吸収端は約５．５μ
ｍであり、従ってＳＯ2及び炭化水素の吸収スペクトル
は測定できないか、部分的に測定できるにすぎない。
【０００４】西ドイツ国特許出願公開第３０１０５１６
号明細書から、光線を透過する窓を硬質はんだとしての
ハンダガラスを用いて中間フレームと接合するための光
学的気体分析器用キュベットが公知である。このように
して用意された窓を軟白蝋又は硬質はんだでキュベット
ケーシングと気密に接合する。
号明細書から、光線を透過する窓を硬質はんだとしての
ハンダガラスを用いて中間フレームと接合するための光
学的気体分析器用キュベットが公知である。このように
して用意された窓を軟白蝋又は硬質はんだでキュベット
ケーシングと気密に接合する。
【０００５】西ドイツ国特許出願公開第２７２０６３６
号明細書から、光線を透過する窓をフッ化カリシウム又
はフッ化バリウムからなる円板として製造することは公
知である。
号明細書から、光線を透過する窓をフッ化カリシウム又
はフッ化バリウムからなる円板として製造することは公
知である。
【０００６】蛍石はその普通赤外線ないし約８μｍの波
長の透明度に基づき、キュベットの閉鎖窓として使用さ
れる。それにより大抵の技術的に重要な気体の吸収スペ
クトルを測定技術の目的のために検出することができ
る。更に該材料は充分に非吸湿性で、必要な充填気体の
触媒特性を有さない。
長の透明度に基づき、キュベットの閉鎖窓として使用さ
れる。それにより大抵の技術的に重要な気体の吸収スペ
クトルを測定技術の目的のために検出することができ
る。更に該材料は充分に非吸湿性で、必要な充填気体の
触媒特性を有さない。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】従って本発明の課題
は、２２０℃より低い温度範囲内ではんだ付け可能な蛍
石と金属支持体の間の結合により、触媒作用しない気密
のキュベットの製造方法を提供することであった。
は、２２０℃より低い温度範囲内ではんだ付け可能な蛍
石と金属支持体の間の結合により、触媒作用しない気密
のキュベットの製造方法を提供することであった。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前記課題は請求項記載の
特徴により解決される。
特徴により解決される。
【０００９】
【実施例】次に本発明による方法をキュベットの図示の
実施例につき詳細に説明する。
実施例につき詳細に説明する。
【００１０】図１に示されている光度測定装置用キュベ
ットの実施例は、金属、例えば真鍮又は真鍮合金からな
る細長い長方形状の容器１からなり、その内部には一定
の濃度の気体が封入してあり、該気体を介して光線が透
過する。この目的のために、容器１は半円形の貫通孔
（以下には開口２と記載）を有し、該開口は容器１の両
側面１１及び１２でフッ化カルシウムからなる光線を透
過する円板３で気密に閉鎖してある。円板３と開口２の
縁の間に気体が存在し、該気体は容器１の側面に設けら
れた穿孔１３を介して導入される。１０によりはんだ付
けの際、容器１と円板３の間の結合剤として使用される
はんだ成形体が示されている。
ットの実施例は、金属、例えば真鍮又は真鍮合金からな
る細長い長方形状の容器１からなり、その内部には一定
の濃度の気体が封入してあり、該気体を介して光線が透
過する。この目的のために、容器１は半円形の貫通孔
（以下には開口２と記載）を有し、該開口は容器１の両
側面１１及び１２でフッ化カルシウムからなる光線を透
過する円板３で気密に閉鎖してある。円板３と開口２の
縁の間に気体が存在し、該気体は容器１の側面に設けら
れた穿孔１３を介して導入される。１０によりはんだ付
けの際、容器１と円板３の間の結合剤として使用される
はんだ成形体が示されている。
【００１１】上記のキュベットの機能及び長時間定数は
決定的に光線透過性の円板と金属からなる容器との間の
結合の質に依存している。以下に記載のはんだ付け工程
の準備及び実施方法は、気体を充填したキュベットの最
大限の長時間定数を提供する。
決定的に光線透過性の円板と金属からなる容器との間の
結合の質に依存している。以下に記載のはんだ付け工程
の準備及び実施方法は、気体を充填したキュベットの最
大限の長時間定数を提供する。
【００１２】実験により、前記キュベットの以下の製造
工程が該キュベットの申し分ない機能のために不可欠で
あることが判明した。
工程が該キュベットの申し分ない機能のために不可欠で
あることが判明した。
【００１３】特殊な界面活性剤で超音波処理することに
よるフッ化カルシウムからなる円板を洗浄する。
よるフッ化カルシウムからなる円板を洗浄する。
【００１４】以下の順序： １．約５０ｎｍのクロム−ニッケル層（５）の被覆 ２．約２００ｎｍのニッケル層（６）の被覆 ３．約３０ｎｍの金層（７）の被覆 で物理的蒸着方法（physical vapour deposition又は
ＰＶＤ法）により、円板（３）をはんだ面（８）の領域
内の縁部（４）を金属化する。
ＰＶＤ法）により、円板（３）をはんだ面（８）の領域
内の縁部（４）を金属化する。
【００１５】はんだ溝（９）の直接的領域内にはんだ受
容部を有するはんだ面を形成する。
容部を有するはんだ面を形成する。
【００１６】金属支持体（１１）のはんだ面（８）の領
域内に厚さ約３０ｎｍの金からなる活性保護層を被覆す
る。
域内に厚さ約３０ｎｍの金からなる活性保護層を被覆す
る。
【００１７】はんだ受容部内に残留する、一定のかつ正
確に配量された過剰量ではんだ成形体（１０）を使用す
る。
確に配量された過剰量ではんだ成形体（１０）を使用す
る。
【００１８】不活性液体の蒸気相中で、キュベットの一
方の側面（１１）と他方の側面（１２）のために、異な
った温度ではんだ付けを行い、その際不活性液体ははん
だ成形体（１０）のはんだに合わせる。
方の側面（１１）と他方の側面（１２）のために、異な
った温度ではんだ付けを行い、その際不活性液体ははん
だ成形体（１０）のはんだに合わせる。
【図１】キュベットの分解斜視図である。
【図２】被覆された窓のＡ−Ａ断面の詳細部拡大断面図
である。
である。
１ 容器、 ２ 開口、 ３ 円板、 ４ はんだ面、
５ クロム−ニッケル層、 ６ ニッケル層、 ７
金層、 ８ はんだ面、 ９ はんだ溝、 １０ はん
だ成形体、 １１，１２ 支持体、 １３ 穿孔
５ クロム−ニッケル層、 ６ ニッケル層、 ７
金層、 ８ はんだ面、 ９ はんだ溝、 １０ はん
だ成形体、 １１，１２ 支持体、 １３ 穿孔
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭56−14741（ＪＰ，Ａ) 実開 昭56−25254（ＪＰ，Ｕ) 米国特許4201915（ＵＳ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】 一定の濃度の気体が封入された、光線を
透過する容器を有し、該容器は窓で閉鎖された光透過性
開口（２）を有し、該窓は容器（１）と気密に接合され
たフッ化カルシウムＣａＦ2からなる円板（３）として
形成され、かつ円板（３）と容器（１）の間がはんだ結
合されている光度測定装置用キュベットを製造する方法
において、円板（３）を所定の組成の界面活性剤で超音
波洗浄し、容器（１）と接合されるはんだ面（４）の領
域内で物理的蒸着方法で、約５０ｎｍのクロム−ニッケ
ル層（５）約２００ｎｍのニッケル層（６）及び約３０
ｎｍの金層（７）の層を被覆することにより金属化し、
はんだ溝（９）の直接的領域内にはんだ受容部が設けら
れた容器（１）内のはんだ面（８）に、厚さ約３０ｎｍ
の金からなる活性保護層を蒸着し、はんだ結合のため
に、はんだ成形体（１０）を過剰の量で使用し、不活性
液体の蒸気相内で約２１３℃の温度で容器（１）の第１
の面（１１）のはんだ結合、及び約１７０℃の温度で容
器（１）の第２の面（１２）のはんだ結合を行うことに
より、はんだ結合させることを特徴とする光度測定装置
用キュベットの製造方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE4018610A DE4018610C1 (ja) | 1990-06-11 | 1990-06-11 | |
| DE4018610.5 | 1990-06-11 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04232443A JPH04232443A (ja) | 1992-08-20 |
| JPH076909B2 true JPH076909B2 (ja) | 1995-01-30 |
Family
ID=6408173
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3137612A Expired - Lifetime JPH076909B2 (ja) | 1990-06-11 | 1991-06-10 | 光度測定装置用キュベットの製造方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5163601A (ja) |
| EP (1) | EP0461404B1 (ja) |
| JP (1) | JPH076909B2 (ja) |
| CN (1) | CN1018479B (ja) |
| DE (2) | DE4018610C1 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2570450Y2 (ja) * | 1992-03-30 | 1998-05-06 | 株式会社堀場製作所 | 赤外線分析計の赤外線透過窓接合構造 |
| JP2566739Y2 (ja) * | 1992-11-12 | 1998-03-30 | 株式会社堀場製作所 | 赤外線分析計の光源 |
| DE19829694B4 (de) * | 1998-07-02 | 2006-06-14 | Bodensee Gravitymeter Geosystem Gmbh | Küvette für spektroskopische Messungen |
| KR100702128B1 (ko) * | 2005-06-30 | 2007-03-30 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자의 캐패시터 형성방법 |
| CN105158179A (zh) * | 2015-06-08 | 2015-12-16 | 苏州谱道光电科技有限公司 | 一种分析仪光源模块 |
| CN105486614B (zh) * | 2015-12-25 | 2018-04-10 | 北京蓝柯工贸有限公司 | 制造液体不溶性颗粒检测装置检验块的方法及光学样品池 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4201915A (en) | 1977-05-07 | 1980-05-06 | Leybold-Hereaus GmbH & Co. KG | Pneumatic infrared radiation detector having a hermetically sealed chamber and a window |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2751514A (en) * | 1952-04-15 | 1956-06-19 | Dunlee Corp | Hooded anode X-ray tube |
| DE3010516C2 (de) * | 1980-03-19 | 1985-02-21 | Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln | Küvette für optische Gasanalysengeräte |
| US4722632A (en) * | 1984-05-21 | 1988-02-02 | Oerlikron-Buehrle Ag | Tensilely stressed window usable with infrared detector |
| EP0187258B1 (de) * | 1984-12-10 | 1989-04-26 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgenbildverstärker |
| DE3522949A1 (de) * | 1985-06-27 | 1987-01-08 | Hartmann & Braun Ag | Verfahren zum nachjustieren von infrarot-gasanalysatoren |
| US4757292A (en) * | 1986-08-08 | 1988-07-12 | Hughes Aircraft Company | Microwave window |
| ATE112852T1 (de) * | 1988-06-01 | 1994-10-15 | Hartmann & Braun Ag | Kalibriereinrichtung für ein nichtdispersives infrarot-fotometer. |
| US4883218A (en) * | 1989-03-17 | 1989-11-28 | Gte Laboratories Incorporated | Method of brazing a ceramic article to a metal article |
-
1990
- 1990-06-11 DE DE4018610A patent/DE4018610C1/de not_active Expired - Lifetime
-
1991
- 1991-03-10 CN CN91101242A patent/CN1018479B/zh not_active Expired
- 1991-05-11 EP EP91107680A patent/EP0461404B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1991-05-11 DE DE59107417T patent/DE59107417D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1991-06-07 US US07/712,927 patent/US5163601A/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-06-10 JP JP3137612A patent/JPH076909B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4201915A (en) | 1977-05-07 | 1980-05-06 | Leybold-Hereaus GmbH & Co. KG | Pneumatic infrared radiation detector having a hermetically sealed chamber and a window |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0461404B1 (de) | 1996-02-21 |
| JPH04232443A (ja) | 1992-08-20 |
| US5163601A (en) | 1992-11-17 |
| CN1057337A (zh) | 1991-12-25 |
| EP0461404A3 (en) | 1993-01-20 |
| DE4018610C1 (ja) | 1991-04-25 |
| CN1018479B (zh) | 1992-09-30 |
| EP0461404A2 (de) | 1991-12-18 |
| DE59107417D1 (de) | 1996-03-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS5946434B2 (ja) | 半導体レ−ザ装置 | |
| US20210041097A1 (en) | Hermetically Gastight Optoelectronic or Electro-Optical Component and Method for Producing the Same | |
| JPH076909B2 (ja) | 光度測定装置用キュベットの製造方法 | |
| Sahba et al. | Infrared absorption coefficients of silica glasses | |
| JPS58176979A (ja) | 光半導体装置のパツケ−ジ | |
| JPS6314489A (ja) | 半導体レ−ザ装置 | |
| Bolbach et al. | Desorption of halogens from some Nb, Mo, Ta and W single crystal surfaces | |
| JPH1137925A (ja) | 液滴検出装置 | |
| CN118613906A (zh) | 复合体以及具备该复合体的气密封装体 | |
| JP2566739Y2 (ja) | 赤外線分析計の光源 | |
| JP2003270598A (ja) | 電気光学結晶およびＺｎＴｅ電気光学結晶の製造方法 | |
| JPS6119183A (ja) | ガスレーザー管とその製造方法 | |
| WO2022018951A1 (ja) | 原子セル及びその製造方法 | |
| JP3478559B2 (ja) | 光モジュール用パッケージ及びその製造方法 | |
| Pierce et al. | Outgassing of quartz | |
| JP3493791B2 (ja) | 光透過窓を備えた半導体用パッケージ及びその製造方法 | |
| JPH0682371A (ja) | 赤外線分析計の赤外線透過窓取付構造 | |
| JP7491112B2 (ja) | 気密容器及びその製造方法 | |
| JP2570450Y2 (ja) | 赤外線分析計の赤外線透過窓接合構造 | |
| JPS5915839A (ja) | 測定セルの製造方法 | |
| JPH06129898A (ja) | 赤外線センサ | |
| JPH1194731A (ja) | 液体検出機能を備えた透明基板 | |
| JPH06193351A (ja) | 赤外線透過窓材の接合方法 | |
| JPS58104047A (ja) | ガラスの溶着方法 | |
| JPS6140619B2 (ja) |