JPH0749797A - プログラム作成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 テストプログラムの編集作業（削除、実行順
序の変更等）の効率化を図ると共に、デバッグ時間の短
縮化を図って、総合的にテストプログラムの作成効率を
向上させることができるプログラム作成装置を得ること
を目的とする。 【構成】 供給されたテストプログラムの変更箇所を指
定し、指定された変更箇所以前のプログラム内容に基づ
いて電子回路測定装置のハードウェアの設定状態を確認
し、確認された設定状態に応じて追加のテストプログラ
ムを発生し、発生した追加のテストプログラムを上記変
更箇所直前に挿入する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、例えば、半導体集積
回路などの電子回路の電気的特性を測定する電子回路測
定装置のテストプログラムを作成するプログラム作成装
置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種のプログラム作成装置にお
けるテストプログラム作成機能は、一般のコンピュータ
プログラム作成と同様に、プログラムの作成、追加、削
除などの編集機能を有するのみである。

【０００３】以下に、テストプログラムの記述の一例、
並びに、実行方法について説明する。

【０００４】図７は従来例によるテストプログラムの記
述例を示す図である。なお、テストプログラムには、電
子回路測定装置であるテスタに応じて種々のものがあ
る。図７において、最左列にプログラムの行番号を示
す。半導体の測定（以下、テストという）では、通常、
テスト番号の宣言、テスタのハードウェアの設定、待ち
時間の設定、測定実行、測定値の判定という順に処理が
実行される。そこで、図７においては、行番号１０でテ
スト番号の宣言を行い、行番号２０でリレーの設定、行
番号３０でピン１に５Ｖの印加設定、行番号４０〜５０
でピン２に１μＡ、ピン３に０Ｖ印加設定、行番号６０
にピン４を測定するための測定系の条件設定、行番号７
０で電源印加、行番号８０で待ち時間設定、行番号９０
で測定値の取り込み宣言、行番号１００で規格値の設定
とその設定値に対する判定がそれぞれ実行される。

【０００５】通常、テスト番号の宣言から次のテスト番
号の宣言までを一テストという。電子回路のテストにお
いては、テスト対象の回路状況に応じて種々の形態があ
り、一プログラムが数十から数千にも及ぶ複数のテスト
で構成され、行番号順に順次実行される。

【０００６】テストプログラムの記述において、そのテ
スタのハードウェアを一度設定すると、次にその設定を
変更する必要が生じるまでは、たとえテスト番号が変わ
っても、再設定は行われない。これは、再設定を記述す
ると、その分の実行時間がかかるためである。例えば図
７において、テスト２の設定は、テスト１で設定した条
件、すなわち、ピン１に５Ｖ、ピン３に０Ｖ、そしてピ
ン４を測定するという条件が引き継がれ、このとき、ピ
ン２が１μＡから１０μＡに変更された状態である。各
テストにおいて、該当テスト番号のプログラムの記述だ
けでそのテスト番号のテストに必要な全てのハードウェ
アの設定が記述されているとは限らない。従って、テス
ト実行においては、テストプログラムの順に必ず実行す
ることが必要となるために、デバッグ作業においては、
この点を注意して実行することが必須となる。ここでデ
バッグとは、テスタをテストプログラムで制御しなが
ら、各テストの設定条件が正しく被測定電子回路（不図
示）に印加されているか、または同回路が正しく測定さ
れているかをチェックすることを言う。

【０００７】従って、デバッグ時間の短縮のために、デ
バッグが終ったテストの部分をジャンプして、デバッグ
作業を続けたい場合、単純にジャンプ文でジャンプさせ
ると、ジャンプ先の設定状態が変わる。図７において、
例えば、テスト２の終了後、テストｎ（ｎ≧４）にいき
なりジャンプさせると、テストｎの設定条件が当初意図
したものと相違している。

【０００８】このような場合、ハードウェアの設定状態
をほぼ確認できるテスタ提供のデバッグ画面とジャンプ
以前に実行されるテストプログラムとをデバッグ作業者
が解読し、かつ、ジャンプ先の設定状態を確認した上
で、必要に応じてプログラムを追加して、所望のテスト
条件が実現される。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】従来のプログラム作成
装置は以上のように構成されているので、あるテストで
の全設定状態を知るために、それ以前のテストプログラ
ムを全て解読しなければならず、設定を洗い出すことが
必要であり、作業上、設定状態の見落とし等の間違いを
生じたり、多くの時間を費やすという問題点があった。

【００１０】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、テストプログラムの編集作業
（削除、実行順序の変更等）の効率化を図ると共に、デ
バッグ時間の短縮化を図って、総合的にテストプログラ
ムの作成効率を向上させることができるプログラム作成
装置を得ることを目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】この発明に係るプログラ
ム作成装置は、テストプログラムの変更箇所以前の電子
回路測定装置のハードウェアの設定状態を確認し、確認
された設定状態に応じた追加のテストプログラムを発生
して、発生した追加のテストプログラムを変更箇所直前
に挿入する構成を備えたものである。

【００１２】

【作用】この発明における確認手段は、テストプログラ
ムの変更箇所以前の電子回路測定装置のハードウェアの
設定状態を解読し、その結果、変更箇所直前の設定状態
を確認する。発生手段は、確認された設定状態に応じた
追加のテストプログラムを発生する。挿入手段は、発生
された追加のテストプログラムを変更箇所直前に挿入す
る。従って、自動的にテストプログラムの編集作業を完
了させると共に、テストプログラムの変更箇所から実行
しても所望の条件を得られるので、正しいハードウェア
の設定状態でデバッグを行うことができる。

【００１３】

【実施例】

実施例１．以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図１はこの発明の一実施例によるプログラム作成
装置の構成を示すブロック図である。図において、１１
はテストプログラム１５からハードウェア設定状態を確
認する確認手段、１２は追加テストプログラムを発生す
る発生手段、１３は追加テストプログラムを挿入する挿
入手段、１４は変更箇所を指定するための指定手段であ
る。図２はプログラム作成装置において、実際のプログ
ラム編集におけるフローチャートである。

【００１４】図３は図２のフローチャートを実行するプ
ログラム作成装置とテスタとの接続状態を概略的に示す
構成図であり、図において、１はプログラム作成装置
（テストプログラム編集用コンピュータ）であり、テス
トプログラムを解読し、テスタハードウェアの設定状態
を表示、格納、出力する機能を有し、テストプログラム
を効率よく作成するためのコンピュータである。テスタ
８は電子回路の測定に要する計測機器から構成され、テ
ストプログラム編集用コンピュータ１によって作成され
たテストプログラム記述に従って、コントローラ３によ
って制御され、電子回路の測定を実行する。なお、確認
手段、発生手段および挿入手段は、コンピュータのソフ
トウェアで実現され、指定手段は、コンピュータの入出
力装置で実現される。

【００１５】次に動作について説明する。図４はテスト
プログラムの編集前後の比較例を示す図である。図４に
は、元のテストプログラムに対し、テスト２を実行させ
た後にテストｎに移る編集を施した後のテストプログラ
ムが示されている。また図５は設定状態の一覧表を表示
した一例を示す図であり、図６は設定状態の一覧表に基
づいて作成されたテストプログラムの一例を示す図であ
る。

【００１６】図２に従って動作を説明する。まず、対象
となるテストプログラムが作業者により指定手段１４を
介して指定される（ステップＳＴ１）。次に、確認手段
は、ステップＳＴ１で指定されたテストプログラムを読
み込む（ステップＳＴ２）。そして、変更を必要とする
行番号の指定の入力を受けつける（ステップＳＴ３）。
例えば図７に示すテストプログラムが指定されていた場
合に、テスト２終了後、テストｎに飛ぶために、行番号
５１２０での設定状態を知る必要があれば、作業者は５
１２０を指定する。

【００１７】確認手段は、プログラムを解析し、テスタ
ハードウェアの設定状態を解読する（ステップＳＴ
４）。この解読の結果、テスタハードウェアの各計測機
器によって実現しようとする電子回路測定条件を、テス
トプログラム編集用コンピュータの表示画面に図５に示
すような形式で表示する（ステップＳＴ５）。また、必
要に応じて使用可能とすることを目的としてメモリ上に
格納する。さらにこの表示結果のハードコピーも必要に
応じて作成する。

【００１８】表示内容を追加のテストプログラムに変更
したい場合、発生手段１２が、追加のテストプログラム
への変換を行う（ステップＳＴ６）。変換は、図５に示
した表示内容に従って、各測定機器対応ごとに設定デー
タを逐次変換することを可能にしたソフトウェアを実行
することによって実現される。その結果の例を図６に示
す。

【００１９】挿入手段１３は、ステップＳＴ６で作成さ
れた追加のテストプログラムをもとのプログラムに自動
的に挿入し（図４参照）、かつ、必要に応じて、この挿
入して作成したテストプログラムに追加、削除などの編
集を行う（ステップＳＴ７）。勿論、原始プログラム自
体に対しての編集機能も有する。こうして、所望のテス
トプログラムを作成する。なお、以上の操作ステップを
対話的に実行することによって、プログラムの編集作業
を効率よく実行可能とする。

【００２０】このようにして、テストプログラムは実行
可能となり、必要に応じてデバッグ作業を開始すること
ができるので、テストプログラムの任意のテストを設定
条件を誤ることなく実行でき、良好なデバッグが可能で
ある。

【００２１】以上説明したように、実施例１によれば、
テストプログラムの編集作業（削除、実行順序の変更
等）の効率を向上できると共に、デバッグ時間の短縮化
を実現して、総合的にテストプログラムの作成効率を向
上させることができるプログラム作成装置を提供でき
る。

【００２２】実施例２．さて、上記実施例１では、図１
に示されるテストプログラム編集用コンピュータをテス
タとは別の機器に設けて実現しているが、この発明はこ
れに限定されるものではなく、前述のプログラム編集機
能をテスタ内のテスタコントローラに持たせて、テスタ
自身にて実現してもよい。

【００２３】

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、テス
トプログラムの変更箇所以前の電子回路測定装置のハー
ドウェアの設定状態を解読し、その結果、変更箇所直前
の設定状態を確認し、確認された設定状態に応じた追加
のテストプログラムを発生して、発生した追加のテスト
プログラムを変更箇所直前に挿入する構成にしたので、
正確かつ容易にテストプログラムの編集作業を完了させ
ると共に、テストプログラムの任意の箇所より正しいハ
ードウェアの設定状態でデバッグを行うことができる。
従って、テストプログラムの編集作業（削除、実行順序
の変更等）の効率化を図ると共に、デバッグ時間の短縮
化を図って、総合的にテストプログラムの作成効率を向
上させることができる電子回路測定装置を得られる効果
がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例によるプログラム作成装置
を示すブロック図である。

【図２】この発明の一実施例によるプログラム作成装置
においてプログラム編集処理の各ステップをフローチャ
ートに示したものである。

【図３】プログラム作成装置とテスタとの接続状態を概
略的に示す構成図である。

【図４】テストプログラムの編集前後の比較例を示す図
である。

【図５】設定状態の一覧表を表示した一例を示す図であ
る。

【図６】設定状態の一覧表に基づいて作成されたテスト
プログラムの一例を示す図である。

【図７】従来例によるテストプログラムの記述例を示す
図である。

【符号の説明】

１１ 確認手段 １２ 発生手段 １３ 挿入手段 １４ 指定手段

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電子回路測定装置に接続され、該電子回
   路測定装置を測定（以下、テストとも称す）プログラム
   に従って制御するプログラム作成装置において、供給さ
   れたテストプログラムの変更箇所を指定する指定手段
   と、前記指定手段により指定された変更箇所以前のプロ
   グラム内容を解読する機能を有し、その結果に基づいて
   前記電子回路測定装置のハードウェアの設定状態を確認
   する確認手段と、前記確認手段により確認された設定状
   態に応じた追加のテストプログラムを発生する発生手段
   と、前記発生手段により発生した追加のテストプログラ
   ムを前記変更箇所直前に挿入する挿入手段とを備えたこ
   とを特徴とするプログラム作成装置。