JPH0744438B2 - 遅延回路 - Google Patents

遅延回路

Info

Publication number
JPH0744438B2
JPH0744438B2 JP5060667A JP6066793A JPH0744438B2 JP H0744438 B2 JPH0744438 B2 JP H0744438B2 JP 5060667 A JP5060667 A JP 5060667A JP 6066793 A JP6066793 A JP 6066793A JP H0744438 B2 JPH0744438 B2 JP H0744438B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
delay
signal
delay circuit
differential
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP5060667A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0653790A (ja
Inventor
ロラン・マルボ
アンドリュー・コフレー
ミシエル・コンブ
ジヤン−クロード・ルビアン
ルザ・ネザムザデ−ムーサビ
Original Assignee
ブル・エス・アー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ブル・エス・アー filed Critical ブル・エス・アー
Publication of JPH0653790A publication Critical patent/JPH0653790A/ja
Publication of JPH0744438B2 publication Critical patent/JPH0744438B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/13Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
    • H03K5/133Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals using a chain of active delay devices
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K2005/00013Delay, i.e. output pulse is delayed after input pulse and pulse length of output pulse is dependent on pulse length of input pulse
    • H03K2005/00019Variable delay
    • H03K2005/00026Variable delay controlled by an analog electrical signal, e.g. obtained after conversion by a D/A converter
    • H03K2005/00032Dc control of switching transistors
    • H03K2005/00039Dc control of switching transistors having four transistors serially
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K2005/00013Delay, i.e. output pulse is delayed after input pulse and pulse length of output pulse is dependent on pulse length of input pulse
    • H03K2005/00019Variable delay
    • H03K2005/00058Variable delay controlled by a digital setting
    • H03K2005/00065Variable delay controlled by a digital setting by current control, e.g. by parallel current control transistors
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K2005/00013Delay, i.e. output pulse is delayed after input pulse and pulse length of output pulse is dependent on pulse length of input pulse
    • H03K2005/0015Layout of the delay element
    • H03K2005/00195Layout of the delay element using FET's

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Pulse Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、デジタル変数の形であ
り得るセットポイント遅延の関数として調整可能な遅延
回路に関する。
【0002】
【従来の技術】調整可能な遅延回路は数多く応用されて
おり、特に二つの論理信号間の位相を調整する場合に利
用されている。その場合、これらの信号の一番目のもの
が遅延回路の入力に与えられ、出力信号と入力信号との
間の位相差の大きさが遅延回路の調整の制御に使用され
る。
【0003】位相制御はアナログまたはデジタル調整信
号によって実現可能である。多くの場合デジタルが好ま
れる。何故ならばデジタル信号は信号の伝送に起因する
妨害および減衰の影響を受けにくいからであり、さらに
集積回路の形で実現される場合には、製品のばらつきの
影響も少ないからである。
【0004】デジタル制御遅延回路を実現するための既
知の第1の解決法は、例えば、デジタル制御相互接続シ
ステムに結合され且つ可変数の基本ゲート(portes ele
mentaires)をカスケード接続し得るインバータタイプ
の複数の基本ゲートを使用することからなる。しかしこ
のタイプの回路の使用は、基本ゲートの固有遅延(reta
rds intrinseque)より小さい遅延を正確に調整するこ
とが必要ではない場合に限定される。
【0005】もう一つの既知の解決法は、抵抗がデジタ
ル制御の関数として選択的且つ並列に接続されている複
数の基本抵抗からなる抵抗コンデンサ(resistance-cap
acite)タイプの回路を使用することである。その場
合、遅延は回路の時定数により決定される。全ての基本
抵抗が同一の値を有しているとすると、その場合に得ら
れた遅延は選択された抵抗の数に反比例する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】全調整範囲にわたる一
定の調整精度を得るためには、遅延を調整のデジタル変
数にリンクさせる関数が出来るだけ線形関数に近づく必
要がある。従って、上記の解決法によって得られた応答
は線形関係(relation lineaire)からは程遠い。それ
に近づけるためには、非常に正確ですべて互いに異なる
値を有する基本抵抗の寸法を決める必要がある。しか
し、集積回路の場合にはこの結果を得るのは非常に困難
である。さらに各信号用に、位相調整が要求されるその
ような回路を準備しなければならない。
【0007】例えば遅延回路が、1991年1月30日
付けで出願された「同位相インターロック回路およびそ
の結果生じた周波数の乗算器」と題するヨーロッパ特許
出願第441684号に記載されているタイプの同位相
インターロック回路に使用されるのであれば、前述の解
決法はその外形寸法および製品ばらつきの影響を受け易
いという理由から満足すべきものではない。
【0008】本発明の目的は、満足すべき近似値をもっ
てセットポイント遅延の関数としての遅延の線形応答を
確実に得ながら、選択された技術の基本ゲートの固有遅
延より小さい最小遅延を得る可能性を有する正確な調整
を可能にする遅延回路を提供することである。
【0009】
【課題を解決するための手段】このために本発明は、論
理入力信号に関する遅延を有する出力信号を供給する遅
延回路を目的とし、遅延はセットポイント遅延の関数と
して調整可能であり、回路は、入力信号を受け取ると共
に、入力信号に関する固定遅延を有する遅延信号を供給
する固定遅延回路と、それぞれ入力信号および遅延信号
を受け取ると共に、セットポイントを表わす制御変数を
受け取る制御入力を含む二つの入力を有する組み合わせ
回路とを含んでおり、組み合わせ回路がその出力で、重
み付けおよび入力に与えられた信号の積分効果の重ね合
わせから得られた組み合わせ信号を供給するように構成
されており、重み付けが、その値が制御変数の関数であ
る入力信号と遅延信号とにそれぞれ関係付けられた二つ
の重み係数を割当てることからなり、組み合わせ回路お
よび/または固定遅延回路は、固定遅延が、組み合わせ
回路が入力信号のみを受け取る場合に、組み合わせ信号
が有する過渡時間より小さくなるような寸法とされてい
ることを特徴としている。
【0010】通常、組み合わせ回路によって供給される
組み合わせ信号は、スレッショルド効果を有する整形回
路のような回路の入力に与えられるようになっている。
従って、入力信号に関する出力信号の有効遅延は、これ
らの回路の入力スレッショルドのレベルに従う。それ
故、組み合わせ信号の最大および最小振幅がセットポイ
ント遅延とは無関係であることが望ましい。
【0011】このために、本発明はさらに二つの重み係
数の和が一定であることを特徴としている。
【0012】実際には、積分効果は、組み合わせ信号の
最大レベルを規定する飽和効果を常に有する積分器また
は時定数回路によって供給される。従って過渡時間は、
組み合わせ回路が入力信号のみを受け取る場合に線形ま
たは準線形関数に従って組み合わせ信号が変化している
間の時間間隔として規定される。過渡時間より小さい固
定遅延を課すことにより、入力信号に関する出力信号の
遅延が重み係数の関数として不連続性を有さないことが
確実になる。セットポイント遅延の関数としての遅延の
変化が全調整範囲にわたって実際上線形の関数に従って
変化するように、組み合わせ回路および/または固定遅
延回路は、固定遅延が過渡時間の半分に等しくなるよう
にその寸法が決められる。
【0013】本発明はまた、ECLおよびCMOS技術
の使用が可能となるように特別に設計されたいくつかの
態様を目的としている。
【0014】
【実施例】これらの態様ならびに本発明の他の特徴およ
び利点が添付図面を参照した下記記載により明らかにな
るであろう。
【0015】本発明による遅延回路が図1に概略的に示
されている。固定遅延回路D1は論理入力信号e0を受
け取ると共に、その出力で遅延信号e1を供給する。信
号e0およびe1は、その出力で組み合わせ信号fKを供
給する組み合わせ回路Cの入力XとYとにそれぞれ与え
られる。組み合わせ回路Cは、回路Cによって実行され
る組み合わせの重み係数を表わすコマンドを受け取る制
御入力CDを含んでいる。このコマンドはセットポイン
ト遅延CNの関数である。
【0016】組み合わせ信号fKは、その出力が出力信
号sKを供給する整形回路Fの入力に与えられる。
【0017】後の説明を簡単にするために、関連の信号
の標準化等級を仮定し、且つ信号e0およびe1に割り当
てられた重み係数は、Kが0と1との間である場合に、
それぞれ値Kおよび1−Kを有すると仮定する。
【0018】この条件において、回路Cは時間に関する
積分との組み合わせKe0+(1−K)e1を実現するよ
うに設計されている。
【0019】図2に示されているタイミング図により、
図1の回路機能の説明が可能である。
【0020】タイミング図(a)は、組み合わせ回路C
の入力XおよびYに与えられる信号e0およびe1を示し
ている。論理信号である信号e0は、第1および第2の
レベル間の急勾配の過渡エッジ(fronto)を有してお
り、信号をその第1のレベルに戻すもう一つのエッジ
(図示せず)に続く。遅延信号e1は信号e0と同一の信
号であるように示されているが、遅延回路D1によって
規定された遅延T分だけ遅延している。実際には、信号
0のエッジは、信号e0が下流回路のスレッショルド値
に達する瞬間に規定される。一般的にスレッショルド値
は、信号e0の最小レベルと最大レベルとの間の中間レ
ベルに相当する。それは信号e1についても同じであ
り、その場合信号は示されているものとは異なる形状を
有し得る。その場合遅延Tは、信号e0および信号e1
スレッショルド値に達する瞬間を分離させる時間間隔と
して規定される。
【0021】タイミング図(b)は、重み係数Kのさま
ざまな値についての組み合わせ信号fKを示している。
示されている信号の形状が実際の回路で得られ得る信号
の簡略化された表示であるのは勿論である。
【0022】しかし、この表示が現実とは隔たっていな
いことに注目すべきである。特に、常に飽和状態が認め
られるであろう。何故ならばパルスの積分がいずれにせ
よ最後には供給電位の値に限定されるからである。
【0023】信号f1は、K=1、即ち信号e1に加えら
れる重み係数が0の場合に相当する。この信号は、信号
0がスレッショルド値に達する瞬間に相当する時点0
で、リーディングエッジが始まる台形形状を有してい
る。信号f1は飽和段階に達する瞬間tmまで直線的に
増大する。
【0024】信号f0は、信号e0に与えられる重み係数
Kが0である場合に相当する。この信号は遅延Tで信号
1を再生する。
【0025】この二つの極端なケースとは異なる重み係
数に対しては、組み合わせ信号は曲線fKによって表わ
されている動作をする。
【0026】信号f1およびf0はそれぞれ瞬間t1およ
びt0でこのスレッショルド値に達し、信号fKは瞬間θ
でこの限度に達する。t1とt0との間の間隔は遅延Tに
等しい。従って、それぞれ入力信号に関連した組み合わ
せ信号の最小および最大遅延は、それぞれt1とt0との
間に含まれる。その結果、一般的に得られる遅延はt1
およびt1+Tの間の値θを有する。
【0027】タイミング図(c)は、タイミング図
(b)で示された三つの場合の各々における整形回路F
の出力信号を示している。従って、信号s1およびs0
それぞれ瞬間t1およびt0でエッジを有している。所定
の係数Kについては、出力信号sKは信号s1に関連した
値TKだけ遅延したエッジを有する。ここで値TKは0と
Tとの間に含まれている。
【0028】遅延θの重み係数Kの関数としての変化の
仕方は、主として上記に規定された過渡時間tmと固定
遅延Tとに従う。過渡時間tmは、入力信号e0に関す
る出力信号sKの最小遅延t1を規定する。図示されてい
るような完全な線形の場合には、この最小遅延は過渡時
間の半分に等しい。
【0029】図3〜図6は、過渡時間tmのさまざまな
値に対する係数Kの関数としての遅延TKの変化を示し
ており、ここで固定遅延Tは固定されているものと仮定
する。
【0030】図3は、図2の例に従って、Tが過渡時間
tmとこの時間の半分との間に含まれる場合に相当す
る。
【0031】Kが0と第1の値K1との間に含まれる場
合には、TKは双曲形関数に従ってTとtm/2との間
で変化する。Kが第1の値K1と第2の値K2との間に
含まれる場合には、TKはtm/2とT−tm/2との
間で線形に変化する。最後に、KがK2と1との間に含
まれる場合には、TKはもう一つの双曲線関数に従って
T−tm/2と0との間で変化する。
【0032】計算によりこの結果を容易に実証し、且つ
K1=1−tm/2TおよびK2=tm/2Tであるこ
とを証明することができる。同様にK=1/2の場合に
は常にTK=T/2となることを実証することも容易で
ある。
【0033】T=tmの場合、TKは図4に示されてい
る曲線に従ってKの関数として変化する。得られた曲線
が二つの双曲線部分から構成されており、且つ線形部分
が無いということは容易に実証可能である。
【0034】図5に示されているようにTがtmより大
きい場合には、曲線はK=1/2であれば不連続性を示
す。
【0035】最後に、Tがtm/2より小さいかまたは
等しい場合には、TKは図6に見られるように全調整範
囲にわたってKの関数として線形に変化する。
【0036】上記の分析により、固定遅延回路および組
み合わせ回路の寸法決定に関するいくつかの結論を引き
出すことが可能になる。先ず重み係数、従ってセットポ
イント遅延の関数としての遅延TKのいかなる不連続性
をも避けるために、Tはtmより小さくなければならな
いことが明らかである。一方、Tがtm/2より小さい
か等しくなるとすぐ、Kの関数として遅延TKの完全に
線形の応答が得られる。従って固定tmについては、T
がtm/2に等しい場合には最大調整範囲を有しながら
線形応答が得られる。
【0037】固定遅延Tは遅延の調整範囲を決定する。
また決定された範囲についても、tm=2Tを選択する
ことによって常に線形応答を得ることが可能である。し
かし、過渡時間tmに直接従う最小遅延t1を減少させ
るためにはより短い過渡時間の選択が必要とされるであ
ろう。
【0038】一般的には、Tおよびtmの選択は、最小
遅延と、調整範囲と、セットポイント遅延に関連した遅
延の線形性との間の中間状態の結果として得られる。
【0039】図7は、ECL技術による実現のための組
み合わせ回路Cの基本レイアウトを示している。
【0040】図示されている回路は、それぞれ正の電位
とアースとに対応する二つの供給電位VddおよびVs
sによって供給される。抵抗Rと並列のキャパシタとか
ら構成されるインピーダンスZは、正の電位Vddに接
続された第1の端子と、それぞれ二つのスイッチQ0お
よびQ1を介して二つの電流源S0およびS1に接続さ
れている第2の端子とを有している。スイッチQ0およ
びQ1は、それぞれ信号e0およびe1によって制御され
る。電流源S0およびS1は、それぞれ重み係数Kおよ
び1−Kによって制御されると共に、それぞれ対応する
重み係数に相補的であり且つ該係数に比例する電流I0
およびI1を供給する調整可能な電流源である。
【0041】従ってこの配列により、その容量が積分効
果の原因であるインピーダンスZにおいて電流I0およ
びI1の重ね合わせが実現される。
【0042】第2の端子の電位Vは、組み合わせ信号f
Kの大きさに相当し、またインピーダンスZの時定数は
過渡時間tmを規定し得る。
【0043】図7の回路の機能は、図2のタイミング図
により説明可能である。下記記載においては、正論理が
使用され、スイッチを制御する信号がそれぞれ0または
1にあるかに従ってスイッチが開いたり閉じたりすると
仮定する。
【0044】先ず、瞬間0までは信号e0およびe1は0
にあり、電位VはVddに等しい。e0が1に移ると、
スイッチQ0は閉じ、電流I0=KIはインピーダンス
Z内を循環する。その時電位Vは、インピーダンスZの
時定数で固定遅延Tに等しい持続時間の間に値Vddー
KRI方向に減少する。e1が1に移ると、Q1は閉
じ、電流(1−K)IはインピーダンスZで電流KIに
加わる。その場合、電位Vは同一の時定数で値Vddー
RI方向に減少し続ける。
【0045】その後で、e0は0に戻り、Q0は閉じ
る。そのとき電位Vは、持続時間Tの間同一時定数でV
dd−(1−K)RI方向に再び上昇する。最後に、e
1は0に戻り、Q0は閉じ、電位VはVdd方向に上昇
し続ける。
【0046】従って、回路は変数Ke0および(1−
K)e1の積分効果で重ね合わせを実行する。信号f1
0およびfKが、実際に図2(b)に示されているもの
より漸進的であり、特に飽和段階に近い変化を有するの
は勿論である。しかし、過渡時間tmをその間に信号f
1およびf0が時間の関数として実際に線形に変化する時
間間隔として規定すると、この差は得られた結果を本質
的には修正しない。
【0047】図8は組み合わせ回路CをECLで実現し
たものを表わしている。この回路は、例えば、各々が供
給電位Vddに接続されている第1の端子を有する同一
の値のMOSトランジスタ手段で実現されるような二つ
の抵抗R、R*を含んでいる。第1および第2の電流源
S0、S1はそれぞれ係数Kおよび1−Kに比例する電
流I0、I1をそれぞれ供給する。第1の差動アレイM
0は、そのコレクタがそれぞれ抵抗RおよびR*の第2
の端子に接続されていると共に、そのエミッタが電流源
S0に接続されている二つのバイポーラトランジスタQ
0、Q0*から構成されている。M0と同一の第2の差
動アレイM1は、そのコレクタがそれぞれ抵抗Rおよび
*の第2の端子に接続されていると共に、そのエミッ
タが第2の電流源S1に接続されているバイポーラトラ
ンジスタQ1およびQ1*から構成されている。
【0048】入力信号は、トランジスタQ0およびQ0
*のベースを制御する差動信号e0、e0 *である。差動信
号e0、e0 *はさらに、固定遅延回路の役割を果たす差
動増幅器D1の入力に与えられる。増幅器D1は、トラ
ンジスタQ1およびQ1*のベースを制御する遅延差動
信号e1、e1 *を供給する。抵抗RおよびR*の二つの端
子間の差動電圧V、V*は、組み合わせ信号の大きさに
相当する。エミッタフォロワアレイF、F*は、差動組
み合わせ信号V、V*によって制御され、その出力で差
動出力信号sK、sK *を供給する。
【0049】図8の回路機能は、その信号が差動タイプ
であるという違いを除けば図7のものから容易に推論さ
れる。しかし、図7のインピーダンスZが抵抗Rまたは
*と、バイポーラトランジスタのコレクタ/ベース容
量のような抵抗に接続されている容量グループとの各径
路用に形成されていることに注目すべきである。抵抗R
またはR*がトランジスタMOSから構成されている場
合には、これらのトランジスタのドレーン−ゲート容量
を考慮に入れることも有利である。
【0050】差動増幅器D1は、図9に示されているよ
うな従来型のECL技術の増幅器である。該増幅器D1
は、第1の端子が電位Vddに接続されていると共に、
第2の端子がバイポーラトランジスタQa、Qa*のコ
レクタに接続されている抵抗Ra、Ra*の各径路用に
構成されている。トランジスタQa、Qa*のエミッタ
は、電流源S0およびS1によって供給される電流の最
大値Iに等しい電流を供給するような大きさの電流源S
aに接続されている。該回路は、さらにその入力がそれ
ぞれ抵抗Ra、Ra*の第2の端子に接続されている二
つのエミッタフォロワFa、Fa*を含む。エミッタフ
ォロワFa、Fa*の出力は差動遅延信号e1、e1 *を供
給する。
【0051】この回路が、抵抗Ra、Ra*および抵抗
に接続されたトランジスタの容量に起因する各径路用の
時定数によって規定された遅延を導入することは確認可
能である。その結果、抵抗RaおよびRa*が抵抗Rお
よびR*と同一の値を有している場合、また増幅器のト
ランジスタが組み合わせ回路の対応のアレイと同じよう
な寸法になっている場合には、増幅器の固定遅延は常に
組み合わせ回路の過渡時間より小さいことが保証され
る。
【0052】例えばT=tm/2の証明など、固定遅延
Tおよび過渡時間tmを選択された値に調整するため
に、回路部品の寸法決定(トランジスタの幅)を計算す
ることは可能である。D1の下流に接続される付加固定
遅延回路と、一つの調整領域をつけ加えるためにもう一
つの電流源によって供給され且つ付加遅延回路によって
制御されるM0およびM1に並列に接続されるもう一つ
の差動アレイとを準備することも可能である。その場
合、関連のトランジスタをバランスさせれば、同等な容
量、従って図8の回路の時定数が図9の時定数のほぼ2
倍であり、それによって最適条件T=tm/2が自動的
に実現されることが実証できる。
【0053】図10は、二つの可変電流源S0およびS
1を実現し得る回路を示している。
【0054】この態様によれば、係数Kは五つの信号k
0〜k4(ここでk0は下位ビットに相当する)によっ
て表わされる2進数の形である。従ってこの場合、Kは
規則的に0と1との間に分布する32の異なる値(乗算
係数を除けば)を取り得る。
【0055】勿論、任意の数のビット用の態様はこの特
定の場合から容易に推論される。
【0056】この回路はそれぞれ値rおよび2rを有す
る第1および第2の抵抗グループを含んでいる。ここで
抵抗rはnチャネルのMOSトランジスタによって実現
され、抵抗2rは直列に接続された同一寸法を有するn
チャネルの二つのMOSトランジスタによって構成され
ている。これら全てのMOSトランジスタは、それらを
飽和状態に導く電圧ENによってバイアスされた各々の
ゲートを有している。
【0057】該回路は、そのコレクタが電位Vddに接
続され、そのエミッタが抵抗2rの第1の端子に接続さ
れ、且つそのベースがバイアス電圧Vrefを受け取る
バイポーラトランジスタを含む第1のアセンブリSAを
含んでいる。
【0058】第2のアセンブリSEOは、そのベースが
同一のバイアス電圧Vrefを受け取ると共に、そのエ
ミッタがもう一つの抵抗2rの第1の端子に接続されて
いるもう一つのバイポーラトランジスタを含んでおり、
該抵抗2rは、その第2の端子が抵抗rの第1の端子に
と同様にアセンブリSAの抵抗2rの第2の端子に接続
されている。バイポーラトランジスタのコレクタは、そ
のゲートが信号k0を受け取るそれぞれnチャネルのM
OSトランジスタとpチャネルのMOSトランジスタと
を介して、二つのラインL0およびL1に接続されてい
る。
【0059】この回路は、SEOと同一であり、且つそ
のMOSトランジスタが各々のゲート上で信号k1〜k
4を受け取る他の四つのアセンブリ(参照符号を付さ
ず)を含んでいる。これらの四つのアセンブリは図10
に指示されている方法で接続されている。
【0060】ラインL0およびL1は、それぞれ図8の
モジュールM0およびM1に接続されている。
【0061】図10の回路がそれぞれKおよび1−Kに
比例する電流I0およびI1を供給することは容易に証
明可能である。
【0062】図11および図12は、CMOS技術によ
る組み合わせ回路Cのもう一つの態様に関する。
【0063】図11は、理解の容易なCMOS態様の概
略図である。この回路は、共有ラインLの第1および第
2の充電および放電モジュールU0およびU1を含んで
いる。各モジュールU0、U1は充電回路PCと放電回
路DCとを含んでいる。各充電回路PCまたは放電回路
DCは、可変抵抗R0*、R0、R1*、R1と、ライン
Lと充電回路用の供給電位Vddおよび放電回路用の供
給電位Vssとの間のこの抵抗による結合を制御するス
イッチP0、N0、P1、N1とを含んでいる。ユニッ
トU0およびU1のスイッチは、それぞれ信号e0およ
びe1とそれらの補数とによって制御される。可変抵抗
R0、R0*は係数Kに反比例する値を取るように制御
され、一方ユニットU1の抵抗R1、R1*は1−Kに
反比例する値を取るように制御される。ラインLの電位
は組み合わせ信号fKの大きさに相当する。
【0064】図11の回路の機能を説明するために、先
ずラインLが電位Vddまで充電され、信号e0および
1が0にあると仮定する。その場合に、スイッチP0
およびP1は閉じ、スイッチN0およびN1は開く。信
号e0が能動状態になると、スイッチN0は閉じ、スイ
ッチP0は開く。その場合に回路はラインLのレベルの
構造の容量と、並列に接続されている抵抗R0およびR
*と同等な抵抗とによって規定された時定数を有す
る。R0およびR1*はそれぞれKおよび1−Kに反比
例するので、時定数はKとは無関係である。そのとき、
ラインLは値Vddから値(1ーK)Vddまでこの時
定数で放電する。
【0065】放電は、信号e1が能動状態になる瞬間ま
でこの方法で続行される。そのとき、スイッチN1は閉
じ、スイッチP1は開いている。その場合ラインLは上
記と同じ時定数で0方向に放電し続ける。
【0066】信号e0が非能動状態に戻ると、スイッチ
P0は閉じ、スイッチN0は開く。それによってライン
Lの充電回路は電圧K Vddまで回復する。e1がまた
非能動状態に戻ると、初期の状況に復帰する。
【0067】図11の回路の機能が、遅延の点でECL
態様と同一であることは証明可能である。
【0068】図12は、図11の回路に対応する詳細な
CMOS態様を示している。充電回路PCおよび放電回
路DCは、それぞれpおよびnチャネルのMOSトラン
ジスタから構成されている。可変抵抗R0〜R1*は、
並列に接続されたMOSトランジスタによって実現され
且つ信号k0〜k4、k0*〜k4*によって制御され、
関連スイッチは、そのゲートが組み合わせ信号e0、e1
を受け取るMOSトランジスタのドレーン−ソースパス
で構成されている。
【0069】固定遅延回路は、カスケード接続された二
つのCMOSインバータによって実現される。
【0070】時定数を規定する構造容量は、ラインLに
接続された能動MOSトランジスタのドレーン−ゲート
容量に起因する。回路の設計によって、結果として生じ
る容量は、Kの値とは無関係に一定のままである。
【0071】一方、各充電回路または放電回路の可変抵
抗を構成するMOSトランジスタは、各々の抵抗が2の
出力、k0〜k4、k0*〜k4*の制御信号重みに従っ
て変化するような寸法に決め得る。
【0072】もう一つの可能性は、可変寸法のトランジ
スタを並列および直列アレイの同一のトランジスタと取
り替えることからなる。
【0073】図12の回路の機能は、図11と原理的に
同一であり、従って追加の説明の必要はない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による遅延回路の基本レイアウトを示す
図である。
【図2】図1の回路の機能を説明し得るタイミング図を
示す図である。
【図3】図1の回路のさまざまな寸法に対するセットポ
イント遅延の関数としての遅延の変化を示す図である。
【図4】図1の回路のさまざまな寸法に対するセットポ
イント遅延の関数としての遅延の変化を示す図である。
【図5】図1の回路のさまざまな寸法に対するセットポ
イント遅延の関数としての遅延の変化を示す図である。
【図6】図1の回路のさまざまな寸法に対するセットポ
イント遅延の関数としての遅延の変化を示す図である。
【図7】本発明による遅延回路のECL態様の基本レイ
アウトを示す図である。
【図8】ECL技術による態様の詳細を示す図である。
【図9】ECL技術による態様の詳細を示す図である。
【図10】ECL技術による態様の詳細を示す図であ
る。
【図11】CMOS態様の基本レイアウトを示す図であ
る。
【図12】CMOS技術による態様の詳細を示す図であ
る。
【符号の説明】
C 組み合わせ回路 e0 入力信号 e1 遅延信号 X、Y 入力 CD 制御入力 CN セットポイント遅延 D1 固定遅延 fK 組み合わせ信号
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジヤン−クロード・ルビアン フランス国、92120・モントルージユ、ア ブニユ・ジヤン・ジヨレス、11 (72)発明者 ルザ・ネザムザデ−ムーサビ フランス国、78390・ボア・ダルシー、リ ユ・バラーグ、12

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 論理入力信号(e0)に関連して遅延
    (θ)を有する出力信号(sK)を供給するための遅延
    回路であって、前記遅延(θ)がセットポイント遅延
    (CN)の関数として調整可能であり、前記回路が、前
    記入力信号(e0)を受け取ると共に該入力信号(e0
    に関する固定遅延(T)を有する遅延信号(e1)を供
    給する固定遅延回路(D1)と、それぞれ前記入力信号
    (e0)および前記遅延信号(e1)を受け取ると共に前
    記セットポイント(CN)を表わす制御変数(K)を受
    け取る制御入力(CD)を含む二つの入力(X、Y)を
    有する組み合わせ回路(C)とを含んでおり、前記組み
    合わせ回路がその出力で、前記入力(X、Y)に与えら
    れた信号の重み付けおよび積分効果の重ね合わせから得
    られる組み合わせ信号(fK)を供給するように構成さ
    れており、前記重み付けが、それぞれ入力信号(e0
    と遅延信号(e1)とに関係付けられており前記制御量
    の関数である二つの重み係数を割当てることからなり、
    前記組み合わせ回路(C)および/または前記固定遅延
    回路(D1)は、前記固定遅延(T)が、組み合わせ回
    路(C)が入力信号(e0)のみを受け取る場合に、組
    み合わせ信号(fK)が有する過渡時間(tm)より小さ
    くなるような寸法とされていることを特徴とする遅延回
    路。
  2. 【請求項2】 二つの重み係数の和が一定であることを
    特徴とする請求項1に記載の遅延回路。
  3. 【請求項3】 前記組み合わせ回路(C)が、それぞれ
    前記重み係数に比例する電流(I0、I1)を供給する
    第1および第2の電流源(S0、S1)を含んでおり、
    前記電流源(S0、S1)が、それぞれ入力信号
    (e0)および遅延信号(e1)によって制御される二つ
    のスイッチ手段(Q0、Q1)の各々を介して共有イン
    ピーダンス(Z)の端子に接続されており、前記端子の
    電位(V)が前記組み合わせ信号(fK)の大きさに相
    当することを特徴とする請求項2に記載の遅延回路。
  4. 【請求項4】 前記入力信号(e0、e0 *)および前記
    遅延信号(e1、e1 *)が差動信号であり、前記組み合
    わせ回路(C)が、それぞれ供給電位(Vdd)に接続
    された第1の端子を有する第1および第2の抵抗(R,
    *)を含んでおり、前記組み合わせ回路(C)がさら
    に、それぞれ第1および第2の差動アレイ(M0、M
    1)に関係付けられた第1および第2の電流源(S0、
    S1)を含んでおり、各差動アレイ(M0、M1)は、
    そのコレクタがそれぞれ前記第1および第2の抵抗
    (R、R*)の第2の端子に接続されていると共に、そ
    のエミッタが、関係付けられた電流源(S0、S1)に
    接続されている二つのバイポーラトランジスタ(Q0、
    Q0*、Q1、Q1*)から構成されており、第1の差動
    アレイ(M0)のトランジスタ(Q0、Q0*)のベー
    スが前記差動入力信号(e0、e0 *)を受け取り、第2
    の差動アレイ(M1)のトランジスタ(Q1、Q1*
    のベースが前記差動遅延信号(e1、e1 *)を受け取
    り、前記第1および第2の電流源(S0、S1)がそれ
    ぞれ前記重み係数に比例する電流(I0、I1)を供給
    し、前記抵抗の二つの端子間の差動電圧(V、V*)が
    前記組み合わせ信号(fK)の大きさに相当することを
    特徴とする請求項2に記載の遅延回路。
  5. 【請求項5】 前記固定遅延回路(D1)がECL技術
    によって実現される差動増幅器であることを特徴とする
    請求項4に記載の遅延回路。
  6. 【請求項6】 前記組み合わせ回路(C)が、それぞれ
    前記入力信号(e0)および前記遅延信号(e1)によっ
    て制御される共有ライン(L)の第1および第2の充電
    および放電モジュール(U0、U1)を含んでおり、前
    記共有ライン(L)の電位が前記組み合わせ信号
    (fK)の大きさに相当し、各モジュール(U0、U
    1)が、可変抵抗(R0、R0*、R1、R1*)を介し
    て前記共有ライン(L)と第1および第2のそれぞれの
    供給電位(Vss、Vdd)との間の接続を制御する各
    スイッチ手段(P0、N0、P1、N1)を含む放電回
    路(DC)と充電回路(PC)とを含んでおり、各モジ
    ュール(U0、U1)の放電および充電回路(DC、P
    C)の可変抵抗(R0、R0*、R1、R1*)が、組み
    合わせ信号(e0、e1)の重み係数に反比例する値を取
    るように制御されており、各モジュール(U0、U1)
    の放電回路(DC)および充電回路(PC)のスイッチ
    手段(P0、N0、P1、N1)が、それぞれ組み合わ
    せ信号(e0、e)の第1および第2の電圧レベルで
    起動されることを特徴とする請求項2または3に記載の
    遅延回路。
  7. 【請求項7】 各モジュール(U0、U1)の可変抵抗
    (R0、R0、R1、R1*)が、前記モジュール
    (U0、U1)の組み合わせ信号(e0、e1)の重み係
    数の関数として選択的且つ並列に接続可能な複数の基本
    抵抗によって実現されることを特徴とする請求項6に記
    載の遅延回路。
  8. 【請求項8】 前記抵抗(R0、R0*、R1、R1*
    および前記スイッチ(P0、N0、P1、N1)が、そ
    のゲートがそれぞれ前記重み係数および前記組み合わせ
    信号(e0、e1)の関数として制御されるMOSトラン
    ジスタのドレーン−ソースパスで構成されていることを
    特徴とする請求項7に記載の遅延回路。
  9. 【請求項9】 前記共有ライン(L)を高および低供給
    電位(Vdd、Vss)に接続させるMOSトランジス
    タが、それぞれpおよびnチャネルのトランジスタであ
    ることを特徴とする請求項8に記載の遅延回路。
  10. 【請求項10】 前記固定遅延回路(D1)が、CMO
    S技術によって実現されたインターロック回路によって
    実現されることを特徴とする請求項9に記載の遅延回
    路。
JP5060667A 1992-03-24 1993-03-19 遅延回路 Expired - Lifetime JPH0744438B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR9203527A FR2690022B1 (fr) 1992-03-24 1992-03-24 Circuit a retard variable.
FR9203527 1992-03-24

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0653790A JPH0653790A (ja) 1994-02-25
JPH0744438B2 true JPH0744438B2 (ja) 1995-05-15

Family

ID=9428011

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5060667A Expired - Lifetime JPH0744438B2 (ja) 1992-03-24 1993-03-19 遅延回路

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5327031A (ja)
EP (1) EP0562905B1 (ja)
JP (1) JPH0744438B2 (ja)
DE (1) DE69311824T2 (ja)
FR (1) FR2690022B1 (ja)

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2576366B2 (ja) * 1993-06-23 1997-01-29 日本電気株式会社 可変遅延バッファ回路
US5589789A (en) * 1993-10-16 1996-12-31 Nec Corporation Bus driver circuit for high-speed data transmission
FR2718903B1 (fr) * 1994-04-13 1996-05-24 Bull Sa Circuit à retard réglable.
US5600273A (en) * 1994-08-18 1997-02-04 Harris Corporation Constant delay logic circuits and methods
US5748125A (en) * 1996-01-23 1998-05-05 International Business Machines Corporation Digital delay interpolator circuit
JPH10290147A (ja) * 1997-04-14 1998-10-27 Mitsubishi Electric Corp 遅延量可変回路
US6247138B1 (en) * 1997-06-12 2001-06-12 Fujitsu Limited Timing signal generating circuit, semiconductor integrated circuit device and semiconductor integrated circuit system to which the timing signal generating circuit is applied, and signal transmission system
US5945863A (en) * 1997-06-18 1999-08-31 Applied Micro Circuits Corporation Analog delay circuit
FR2767982B1 (fr) * 1997-09-04 2001-11-23 Sgs Thomson Microelectronics Circuit a retard variable
CA2220622C (en) * 1997-11-03 2004-03-30 Aubin P. J. Roy Method and circuit for built in self test of phase locked loops
US5982213A (en) * 1997-11-14 1999-11-09 Texas Instruments Incorporated Digital phase lock loop
US6115439A (en) * 1997-11-14 2000-09-05 Texas Instruments Incorporated Free running digital phase lock loop
FR2775526B1 (fr) * 1998-02-27 2000-04-21 Sgs Thomson Microelectronics Dispositif de test en production des caracteristiques dynamiques de composants utilisant des transmissions serie
ES2328446T5 (es) * 2000-02-04 2014-02-27 Children's Hospital Research Foundation Uso de lipasa ácida lisosomal para tratar la aterosclerosis y enfermedades asociadas
US6473886B2 (en) * 2000-04-03 2002-10-29 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Constant impedance driver circuit including impedance matching with load and a method for designing the same
JP3667196B2 (ja) * 2000-05-26 2005-07-06 Necエレクトロニクス株式会社 タイミング差分割回路
US6472921B1 (en) 2001-05-31 2002-10-29 Siemens Aktiengesellschaft Delivering a fine delay stage for a delay locked loop
JP4587620B2 (ja) * 2001-09-10 2010-11-24 ルネサスエレクトロニクス株式会社 クロック制御方法と分周回路及びpll回路
WO2010101107A1 (ja) 2009-03-06 2010-09-10 Ntn株式会社 遠心式ポンプ装置
KR101350631B1 (ko) * 2012-10-31 2014-01-13 삼성전기주식회사 모터 구동 장치 및 모터 구동 방법

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0664978B2 (ja) * 1985-01-24 1994-08-22 凸版印刷株式会社 圧力−電気スイツチ装置
EP0253914A1 (de) * 1986-07-23 1988-01-27 Deutsche ITT Industries GmbH Isolierschicht-Feldeffekttransistor-Gegentakttreiberstufe mit Kompensierung von Betriebsparameterschwankungen und Fertigungsstreuungen
US5111085A (en) * 1987-04-29 1992-05-05 Ncr Corporation Digitally controlled delay circuit
US4833695A (en) * 1987-09-08 1989-05-23 Tektronix, Inc. Apparatus for skew compensating signals
JPH01137817A (ja) * 1987-11-25 1989-05-30 Toshiba Corp 遅延回路
US4797586A (en) * 1987-11-25 1989-01-10 Tektronix, Inc. Controllable delay circuit
US4795923A (en) * 1987-11-25 1989-01-03 Tektronix, Inc. Adjustable delay circuit
KR910005794B1 (ko) * 1988-06-09 1991-08-03 삼성전자 주식회사 반도체 시간 지연소자
US4862020A (en) * 1988-06-20 1989-08-29 Tektronix, Inc. Electronic delay control circuit having pulse width maintenance
US5160863A (en) * 1989-06-30 1992-11-03 Dallas Semiconductor Corporation Delay circuit using primarily a transistor's parasitic capacitance
US5118975A (en) * 1990-03-05 1992-06-02 Thinking Machines Corporation Digital clock buffer circuit providing controllable delay
US5063311A (en) * 1990-06-04 1991-11-05 Motorola, Inc. Programmable time delay circuit for digital logic circuits
FR2666183B1 (fr) * 1990-08-23 1992-11-06 Bull Sa Circuit a constante de temps reglable et application a un circuit a retard reglable.
US5231319A (en) * 1991-08-22 1993-07-27 Ncr Corporation Voltage variable delay circuit

Also Published As

Publication number Publication date
US5327031A (en) 1994-07-05
JPH0653790A (ja) 1994-02-25
EP0562905A1 (fr) 1993-09-29
FR2690022A1 (fr) 1993-10-15
DE69311824T2 (de) 1997-10-16
EP0562905B1 (fr) 1997-07-02
DE69311824D1 (de) 1997-08-07
FR2690022B1 (fr) 1997-07-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0744438B2 (ja) 遅延回路
JP2572706B2 (ja) 遅延出力信号の供給方法および装置
US5440260A (en) Variable delay circuit
US5144174A (en) Programmable delay circuit having a buffer stage connected in cascode between the outputs of a plurality of differential amplifiers and the output terminal
US5506534A (en) Digitally adjustable picosecond delay circuit
US5397944A (en) Dense offset calibration circuitry and method
US6169436B1 (en) Variable delay circuit
US5463394A (en) Current switch for a high speed DAC
US5317219A (en) Compensated digital delay circuit
JP3109560B2 (ja) ばらつき補償技術による半導体集積回路
US5185540A (en) Adjustable time constant circuit with constant capacitance and variable resistance
US5210450A (en) Active selectable digital delay circuit
JPH0799430A (ja) モノリシック集積パッド駆動装置の出力電流設定方法
EP0485973B1 (en) Switching constant current source circuit
US5191234A (en) Pulse signal generator and cascode differential amplifier
JPH0827662B2 (ja) 比較電圧発生回路及びそれを用いた電圧検出回路
US5764093A (en) Variable delay circuit
US5539339A (en) Differential load stage with stepwise variable impedance, and clocked comparator comprising such a load stage
JPH082019B2 (ja) レベル変換回路
US5243240A (en) Pulse signal generator having delay stages and feedback path to control delay time
US5214328A (en) ECL to CMOS level conversion circuit
KR100206929B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 가변 지연 회로
US3983409A (en) Bucket-brigade circuit
US6025747A (en) Logic signal selection circuit
US4967104A (en) Circuit for increasing the output impedance of an amplifier

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090515

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090515

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100515

Year of fee payment: 15

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110515

Year of fee payment: 16

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120515

Year of fee payment: 17

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130515

Year of fee payment: 18