JPH0740205Y2 - 発光分光分析装置 - Google Patents
発光分光分析装置Info
- Publication number
- JPH0740205Y2 JPH0740205Y2 JP1989059413U JP5941389U JPH0740205Y2 JP H0740205 Y2 JPH0740205 Y2 JP H0740205Y2 JP 1989059413 U JP1989059413 U JP 1989059413U JP 5941389 U JP5941389 U JP 5941389U JP H0740205 Y2 JPH0740205 Y2 JP H0740205Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- cassette
- analyzer
- receiver
- analysis
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Optical Measuring Cells (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は、発光分光分析装置に関する。
発光分光分析法による試料の分析では、試料の気化、蒸
気の発光状態への励起、放射電磁波の分光、スペクトル
の測定等の各段階を必要とする。グロー放電（スパーク
放電）発光分光分析装置はこのような機能を備えた分析
装置であって、試料の深さ方向の分析が可能であり、例
えばメッキ層の成分分析などに用いられる。このような
薄板ロールのメッキ層分析ではロールのメッキ分布を分
析する場合、異なる位置を数箇所分析するが、その場合
一連の分析に数枚の試料を分析するのが普通である。
気の発光状態への励起、放射電磁波の分光、スペクトル
の測定等の各段階を必要とする。グロー放電（スパーク
放電）発光分光分析装置はこのような機能を備えた分析
装置であって、試料の深さ方向の分析が可能であり、例
えばメッキ層の成分分析などに用いられる。このような
薄板ロールのメッキ層分析ではロールのメッキ分布を分
析する場合、異なる位置を数箇所分析するが、その場合
一連の分析に数枚の試料を分析するのが普通である。
上記するように発光分光分析法で試料を分析する場合は
常に人が分析装置についていなければならない。そこで
一連の作業を自動化する必要が生じたが装置を自動化す
る場合、試料のピックアップ、固定等はロボットハンド
に試料を吸着させて行うことになる。しかし、ロボット
による自動化は装置が大掛かりとなりスペースを取り、
製作コストもアップする。この考案はかかる課題を解決
するためになされたものであり、その目的するところは
スペースも大きく取らずコンパクトな自動発光分光分析
装置を提供することにある。
常に人が分析装置についていなければならない。そこで
一連の作業を自動化する必要が生じたが装置を自動化す
る場合、試料のピックアップ、固定等はロボットハンド
に試料を吸着させて行うことになる。しかし、ロボット
による自動化は装置が大掛かりとなりスペースを取り、
製作コストもアップする。この考案はかかる課題を解決
するためになされたものであり、その目的するところは
スペースも大きく取らずコンパクトな自動発光分光分析
装置を提供することにある。
即ち、この考案は上記課題を解決するために、発光分光
分析装置が、試料を多数並べて収納するカセットを取付
けるカセット取付プレートと、該カセット取付プレート
に連結したカセット移動機構とよりなる試料供給機構部
と、試料を保持する試料受けと、該試料受けを一定角度
回転させる該試料受け駆動機構と、前記試料受けに装着
した分析装置と前記試料受けの位置検出センサと該セン
サによって前記カセット移動機構と試料受け駆動機構及
び分析装置の動作を制御する中央演算処理装置とより成
ることを特徴とする。
分析装置が、試料を多数並べて収納するカセットを取付
けるカセット取付プレートと、該カセット取付プレート
に連結したカセット移動機構とよりなる試料供給機構部
と、試料を保持する試料受けと、該試料受けを一定角度
回転させる該試料受け駆動機構と、前記試料受けに装着
した分析装置と前記試料受けの位置検出センサと該セン
サによって前記カセット移動機構と試料受け駆動機構及
び分析装置の動作を制御する中央演算処理装置とより成
ることを特徴とする。
手動によりカセットに試料をセットし、該カセットをカ
セット取付プレートに装着する。そして分析スタートボ
タンを押すと次の動作が自動的に行われる。カセット
移動機構が動きカセットが試料と共に移動する。試料
が落下し試料受けにセットされる。試料がセットされた
ことはセンサによって確認されるとともにカセット移動
機構は停止する。試料受けに試料がセットされると分
析装置が動作し、１回目の分析が行われ、これが終了す
ると試料受け駆動機構が動作し、更に、分析装置が動作
し２回目の分析が行われる。必要回数の分析が終了する
と試料受けは大きく回転し、分析済みの試料は試料投入
箱等へ排出される。次に、試料受けは再度試料を受け
る位置まで回転し、センサにより次の試料が有る場合、
カセット移動機構が動作し同じ動作が繰り返される。試
料がすべて無くなった場合、カセット移動機構は最初の
位置に戻される。
セット取付プレートに装着する。そして分析スタートボ
タンを押すと次の動作が自動的に行われる。カセット
移動機構が動きカセットが試料と共に移動する。試料
が落下し試料受けにセットされる。試料がセットされた
ことはセンサによって確認されるとともにカセット移動
機構は停止する。試料受けに試料がセットされると分
析装置が動作し、１回目の分析が行われ、これが終了す
ると試料受け駆動機構が動作し、更に、分析装置が動作
し２回目の分析が行われる。必要回数の分析が終了する
と試料受けは大きく回転し、分析済みの試料は試料投入
箱等へ排出される。次に、試料受けは再度試料を受け
る位置まで回転し、センサにより次の試料が有る場合、
カセット移動機構が動作し同じ動作が繰り返される。試
料がすべて無くなった場合、カセット移動機構は最初の
位置に戻される。
以下、この考案の具体的実施例について図面を参照して
説明する。
説明する。
第１図はこの考案にかかるグロー放電発光分光分析装置
の正面図（断面図）、第２図は第１図のABCD矢視図、第
３図は第１図のＥ−Ｅ矢視図である。このグロー放電発
光分光分析装置（以下、分析装置とする）は大きく別け
て試料供給機構部Ｗと、試料分析・排出機構部Ｚとより
構成される。試料供給機構部Ｗはキャピネット１上部
に、試料分析・排出機構Ｚはキャピネット１下部に設置
してある。
の正面図（断面図）、第２図は第１図のABCD矢視図、第
３図は第１図のＥ−Ｅ矢視図である。このグロー放電発
光分光分析装置（以下、分析装置とする）は大きく別け
て試料供給機構部Ｗと、試料分析・排出機構部Ｚとより
構成される。試料供給機構部Ｗはキャピネット１上部
に、試料分析・排出機構Ｚはキャピネット１下部に設置
してある。
試料供給機構部Ｗは固定された底板２と、試料Ｐ（図で
は円形の薄板状のもの）を多数並べて収納し前記底板２
に交換可能に嵌め入れたカセット３と、該カセット３を
少しずつ移動させるカセット移動機構とより構成され
る。
は円形の薄板状のもの）を多数並べて収納し前記底板２
に交換可能に嵌め入れたカセット３と、該カセット３を
少しずつ移動させるカセット移動機構とより構成され
る。
このカセット移動機構は前記カセット３を取付けるカセ
ット取付プレート４と、該カセット取付プレート４に固
定された雌ネジを螺刻した連結具５と、該連結具５の雌
ネジに螺合させた雄ネジ杆６と、前記カセット取付プレ
ート４にボルト等で固定したガイド７と、更にキャピネ
ット１固定部側に固定した固定プレート８と、該固定プ
レート８に固着或いは一体に設けるとともに前記ガイド
７を滑らかに摺動させるよう嵌め込んだレール９とより
構成される。前記雄ネジ杆６は第３図に示すように、モ
ータ10の回転により回転し、連結具５とカセット取付プ
レート４とガイド７がカセット３とともに移動して試料
Ｐを供給するようにしてある。そして試料Ｐは雄ネジ杆
６の１ピッチにより一枚づつ送られ、穴11（第３図参
照）から落下するようにしてある。
ット取付プレート４と、該カセット取付プレート４に固
定された雌ネジを螺刻した連結具５と、該連結具５の雌
ネジに螺合させた雄ネジ杆６と、前記カセット取付プレ
ート４にボルト等で固定したガイド７と、更にキャピネ
ット１固定部側に固定した固定プレート８と、該固定プ
レート８に固着或いは一体に設けるとともに前記ガイド
７を滑らかに摺動させるよう嵌め込んだレール９とより
構成される。前記雄ネジ杆６は第３図に示すように、モ
ータ10の回転により回転し、連結具５とカセット取付プ
レート４とガイド７がカセット３とともに移動して試料
Ｐを供給するようにしてある。そして試料Ｐは雄ネジ杆
６の１ピッチにより一枚づつ送られ、穴11（第３図参
照）から落下するようにしてある。
このカセット移動機構は図示しないが、ボールネジを利
用しても良いし、或いはピニオンとラックによっても良
い。
用しても良いし、或いはピニオンとラックによっても良
い。
次に、試料分析・排出機構部Ｚは、落下する試料Ｐを案
内するガイド12と、試料Ｐを保持する試料受け13と、該
試料受け13を一定角度回転させる該試料受け駆動機構と
より構成されるが、この試料受け駆動機構は前記試料受
け13に固定された歯車14と、該歯車14と噛合する歯車15
と、該歯車15を回転駆動するモータ16（第２図参照）等
より構成される。尚、第２図に示すように、試料受け13
に固定された歯車14にはすべり軸受17が一体になって回
転するよう嵌合してあり、該すべり軸受17は分析装置23
の外周をすべりつつ回転するようにしてある。
内するガイド12と、試料Ｐを保持する試料受け13と、該
試料受け13を一定角度回転させる該試料受け駆動機構と
より構成されるが、この試料受け駆動機構は前記試料受
け13に固定された歯車14と、該歯車14と噛合する歯車15
と、該歯車15を回転駆動するモータ16（第２図参照）等
より構成される。尚、第２図に示すように、試料受け13
に固定された歯車14にはすべり軸受17が一体になって回
転するよう嵌合してあり、該すべり軸受17は分析装置23
の外周をすべりつつ回転するようにしてある。
この試料受け駆動機構はタイミングベルトやチェーンと
スプロケットとの組合せ等によっても良い。18、19、20
等は試料受け13の位置検出センサである。21は分析済み
の試料Ｐを入れる試料投入箱であるが、該試料投入箱21
内では前記雄ネジ杆６の回転と連動させ試料Ｐを移動さ
せるようにしても良い。
スプロケットとの組合せ等によっても良い。18、19、20
等は試料受け13の位置検出センサである。21は分析済み
の試料Ｐを入れる試料投入箱であるが、該試料投入箱21
内では前記雄ネジ杆６の回転と連動させ試料Ｐを移動さ
せるようにしても良い。
また、22はグロー放電スタンドであり、発光分光分析装
置23が設置されている。
置23が設置されている。
この考案にかかるグロー放電発光分光分析装置は以上の
ような構成から成り、制御は中央演算処理装置（CPU）
によって行うが、次にこの装置の動作について説明す
る。
ような構成から成り、制御は中央演算処理装置（CPU）
によって行うが、次にこの装置の動作について説明す
る。
第４図乃至第６図は試料Ｐを分析する場合の状態を示
す。先ず、手動によりカセット３に試料Ｐをセットし、
該カセット３をカセット取付プレート４に装着する。そ
して分析スタートボタンを押すと次の動作が自動的に行
われる。
す。先ず、手動によりカセット３に試料Ｐをセットし、
該カセット３をカセット取付プレート４に装着する。そ
して分析スタートボタンを押すと次の動作が自動的に行
われる。
モータ10が始動し、雄ネジ杆６が回転しカセット３が
試料Ｐと共に移動する。
試料Ｐと共に移動する。
試料Ｐが落下し試料受け13にのセットされる。
試料がセットされたことはセンサ20によって確認され
る。
る。
試料受け13に試料がセットされると分析装置23が動作
し、１回目の分析が行われる（第４図）。この分析はCP
Uの制御による。
し、１回目の分析が行われる（第４図）。この分析はCP
Uの制御による。
更に、１回目の分析が終了するとモータ16が少し回転
し同時に試料受け13が少し回転しセンサ18により感知さ
れると、分析装置23が動作し２回目の分析が行われる
（第５図）。この場合の分析もCPUの制御による。
し同時に試料受け13が少し回転しセンサ18により感知さ
れると、分析装置23が動作し２回目の分析が行われる
（第５図）。この場合の分析もCPUの制御による。
次に２回目の分析が終了すると試料受け13は大きく回
転し、分析済みの試料Ｐは試料投入箱21に排出される
（第６図）。
転し、分析済みの試料Ｐは試料投入箱21に排出される
（第６図）。
次に、センサ19によりクリーニングが一定時間行われ
終了すると、試料受け13は再度試料を受ける位置（第１
図参照）まで回転する。
終了すると、試料受け13は再度試料を受ける位置（第１
図参照）まで回転する。
次の試料が有る場合、モータ10が回転し雄ネジ杆６が１
ピッチ回転し乃至まで同じ動作が繰り返される。試
料Ｐがすべて無くなった場合はモータ10は逆転し、カセ
ット取付プレート４は最初の位置に戻される。
ピッチ回転し乃至まで同じ動作が繰り返される。試
料Ｐがすべて無くなった場合はモータ10は逆転し、カセ
ット取付プレート４は最初の位置に戻される。
これらの制御もCPUによる。尚、乃至までのシーケ
ンスは大体30秒位で行われるが、時間の設定は変えるこ
とも可能であり、モータ16を小刻みに回転、停止させる
ことにより更に分析する位置も更に増やすことも可能で
ある。第７図は以上の動作のフローチャート図である。
ンスは大体30秒位で行われるが、時間の設定は変えるこ
とも可能であり、モータ16を小刻みに回転、停止させる
ことにより更に分析する位置も更に増やすことも可能で
ある。第７図は以上の動作のフローチャート図である。
上記実施例ではこの考案をグロー放電発光分光分析装置
に適用した場合を説明したが、他の発光分光分析装置に
も本考案を適用することが出来る。
に適用した場合を説明したが、他の発光分光分析装置に
も本考案を適用することが出来る。
この考案にかかる発光分光分析装置は以上詳述したよう
な構成としたので、スペースを取らないコンパクトな自
動分析装置とすることが出来る。また、一つの試料を複
数箇所自動的に分析することが可能となり少ない試料で
より正確且つ効率的な分析を実現することが出来る。
な構成としたので、スペースを取らないコンパクトな自
動分析装置とすることが出来る。また、一つの試料を複
数箇所自動的に分析することが可能となり少ない試料で
より正確且つ効率的な分析を実現することが出来る。
第１図はこの考案にかかるグロー放電発光分光分析装置
の正面図（断面図）、第２図は第１図のABCD矢視図、第
３図は第１図のＥ−Ｅ矢視図、第４図乃至第６図は試料
Ｐを分析する場合の状態を示す図、第７図はこの考案に
かかるグロー放電発光分光分析装置を動作させる時のフ
ローチャート図である。 １……キャピネット、２……底板、３……カセット ４……カセット取付プレート、５……連結具 ６……雄ネジ杆、７……ガイド、９……レール 10……モータ、11……試料落下穴、12……ガイド 13……試料受け、14、15……歯車 16……モータ、18、19、20……センサ 23……分析装置
の正面図（断面図）、第２図は第１図のABCD矢視図、第
３図は第１図のＥ−Ｅ矢視図、第４図乃至第６図は試料
Ｐを分析する場合の状態を示す図、第７図はこの考案に
かかるグロー放電発光分光分析装置を動作させる時のフ
ローチャート図である。 １……キャピネット、２……底板、３……カセット ４……カセット取付プレート、５……連結具 ６……雄ネジ杆、７……ガイド、９……レール 10……モータ、11……試料落下穴、12……ガイド 13……試料受け、14、15……歯車 16……モータ、18、19、20……センサ 23……分析装置
Claims (1)
- 【請求項１】試料を多数並べて収納するカセットを取付
けるカセット取付プレートと、該カセット取付プレート
に連結したカセット移動機構とよりなる試料供給機構部
と、試料を保持する試料受けと、該試料受けを一定角度
回転させる該試料受け駆動機構と、前記試料受けに装着
した分析装置と前記試料受けの位置を検出する複数の検
出センサとこれらセンサによって前記カセット移動機構
と試料受け駆動機構及び分析装置の動作を制御する中央
演算処理装置とより成る発光分光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989059413U JPH0740205Y2 (ja) | 1989-05-22 | 1989-05-22 | 発光分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989059413U JPH0740205Y2 (ja) | 1989-05-22 | 1989-05-22 | 発光分光分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02148453U JPH02148453U (ja) | 1990-12-17 |
| JPH0740205Y2 true JPH0740205Y2 (ja) | 1995-09-13 |
Family
ID=31585884
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1989059413U Expired - Lifetime JPH0740205Y2 (ja) | 1989-05-22 | 1989-05-22 | 発光分光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0740205Y2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5057490A (ja) * | 1973-09-20 | 1975-05-19 | ||
| JPS62200242A (ja) * | 1986-02-28 | 1987-09-03 | Hitachi Ltd | スライド搬送装置 |
-
1989
- 1989-05-22 JP JP1989059413U patent/JPH0740205Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02148453U (ja) | 1990-12-17 |
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