JPH07318829A - マルチビーム記録装置 - Google Patents
マルチビーム記録装置Info
- Publication number
- JPH07318829A JPH07318829A JP10708994A JP10708994A JPH07318829A JP H07318829 A JPH07318829 A JP H07318829A JP 10708994 A JP10708994 A JP 10708994A JP 10708994 A JP10708994 A JP 10708994A JP H07318829 A JPH07318829 A JP H07318829A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- time difference
- beams
- recording
- detection
- detection time
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 この発明は、ビーム配置の調整作業の容易化
や自動化を計ることを目的とする。 【構成】 この発明は、複数のビームにより記録媒体上
を走査して該記録媒体上に情報記録を行うマルチビーム
記録装置において、記録走査領域外に設けられ前記複数
のビームを検知するビーム検知手段26と、このビーム
検知手段26の前記複数のビームに対する検知時間差を
測定するビーム検知時間差測定手段29〜32と、この
ビーム検知時間差測定手段29〜32の測定結果を表示
する表示手段34とを備えたものである。
や自動化を計ることを目的とする。 【構成】 この発明は、複数のビームにより記録媒体上
を走査して該記録媒体上に情報記録を行うマルチビーム
記録装置において、記録走査領域外に設けられ前記複数
のビームを検知するビーム検知手段26と、このビーム
検知手段26の前記複数のビームに対する検知時間差を
測定するビーム検知時間差測定手段29〜32と、この
ビーム検知時間差測定手段29〜32の測定結果を表示
する表示手段34とを備えたものである。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は複数のビームにより記録
媒体上に情報記録を行うマルチビーム記録装置に関す
る。
媒体上に情報記録を行うマルチビーム記録装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、ビームにより記録媒体上を走査し
て該記録媒体上に情報記録を行う記録装置において、高
速記録を行うためにビームを複数個用いて記録媒体上に
情報記録を行うことが行われ、その走査手段が特開平1
ー250922号公報や特開昭56ー29208号公
報、特開昭63ー208021号公報などに記載されて
いる。複数個のビームを用いるマルチビーム記録装置
は、複数個のビームを記録媒体の副走査方向に対して直
角な方向に配列すると、互いに隣接するビームの間隔を
一定の間隔以上狭めることができないという不具合が生
ずる。
て該記録媒体上に情報記録を行う記録装置において、高
速記録を行うためにビームを複数個用いて記録媒体上に
情報記録を行うことが行われ、その走査手段が特開平1
ー250922号公報や特開昭56ー29208号公
報、特開昭63ー208021号公報などに記載されて
いる。複数個のビームを用いるマルチビーム記録装置
は、複数個のビームを記録媒体の副走査方向に対して直
角な方向に配列すると、互いに隣接するビームの間隔を
一定の間隔以上狭めることができないという不具合が生
ずる。
【0003】この不具合を解決するために、複数個のビ
ームを記録媒体の副走査方向に対して傾けることが行わ
れている。この場合、副走査方向の走査ピッチは複数個
のビームの配置によって決まるので、副走査方向の走査
ピッチを変えることができない。そこで、複数個のビー
ムの配置を変えられるようにしたマルチビーム記録装置
が提案されている(特開昭56ー104315号公報、
特開昭56ー42248号公報参照)。このマルチビー
ム記録装置では、実際に画像記録を行ってその結果によ
って複数個のビームの配置を調整している。
ームを記録媒体の副走査方向に対して傾けることが行わ
れている。この場合、副走査方向の走査ピッチは複数個
のビームの配置によって決まるので、副走査方向の走査
ピッチを変えることができない。そこで、複数個のビー
ムの配置を変えられるようにしたマルチビーム記録装置
が提案されている(特開昭56ー104315号公報、
特開昭56ー42248号公報参照)。このマルチビー
ム記録装置では、実際に画像記録を行ってその結果によ
って複数個のビームの配置を調整している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記複数個のビームの
配置を変えられるようにしたマルチビーム記録装置で
は、実際に画像記録を行ってその結果によって複数個の
ビームの配置を調整するので、ビーム配置の調整作業が
大変であった。
配置を変えられるようにしたマルチビーム記録装置で
は、実際に画像記録を行ってその結果によって複数個の
ビームの配置を調整するので、ビーム配置の調整作業が
大変であった。
【0005】本発明は、上記問題点を改善し、ビーム配
置の調整作業の容易化や自動化を計ることができるマル
チビーム記録装置を提供することを目的とする。
置の調整作業の容易化や自動化を計ることができるマル
チビーム記録装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1記載の発明は、複数のビームにより記録媒
体上を走査して該記録媒体上に情報記録を行うマルチビ
ーム記録装置において、記録走査領域外に設けられ前記
複数のビームを検知するビーム検知手段と、このビーム
検知手段の前記複数のビームに対する検知時間差を測定
するビーム検知時間差測定手段と、このビーム検知時間
差測定手段の測定結果を表示する表示手段とを備え、こ
の表示手段により表示された測定結果に応じて前記複数
のビームを回転させるものである。
め、請求項1記載の発明は、複数のビームにより記録媒
体上を走査して該記録媒体上に情報記録を行うマルチビ
ーム記録装置において、記録走査領域外に設けられ前記
複数のビームを検知するビーム検知手段と、このビーム
検知手段の前記複数のビームに対する検知時間差を測定
するビーム検知時間差測定手段と、このビーム検知時間
差測定手段の測定結果を表示する表示手段とを備え、こ
の表示手段により表示された測定結果に応じて前記複数
のビームを回転させるものである。
【0007】請求項2記載の発明は、複数のビームによ
り記録媒体上を走査して該記録媒体上に情報記録を行う
マルチビーム記録装置において、記録走査領域外に設け
られ前記複数のビームを検知するビーム検知手段と、こ
のビーム検知手段の前記複数のビームに対する検知時間
差を測定するビーム検知時間差測定手段と、基準となる
時間差データを記憶する記憶手段と、この記憶手段に記
憶された基準となる時間差データと前記ビーム検知時間
差測定手段により測定された検知時間差との誤差を計算
する計算手段と、この計算手段で計算された誤差を表示
する表示手段とを備え、この表示手段により表示された
誤差に応じて前記複数のビームを回転させるものであ
る。
り記録媒体上を走査して該記録媒体上に情報記録を行う
マルチビーム記録装置において、記録走査領域外に設け
られ前記複数のビームを検知するビーム検知手段と、こ
のビーム検知手段の前記複数のビームに対する検知時間
差を測定するビーム検知時間差測定手段と、基準となる
時間差データを記憶する記憶手段と、この記憶手段に記
憶された基準となる時間差データと前記ビーム検知時間
差測定手段により測定された検知時間差との誤差を計算
する計算手段と、この計算手段で計算された誤差を表示
する表示手段とを備え、この表示手段により表示された
誤差に応じて前記複数のビームを回転させるものであ
る。
【0008】請求項3記載の発明は、複数のビームによ
り記録媒体上を走査して該記録媒体上に情報記録を行う
マルチビーム記録装置において、記録走査領域外に設け
られ前記複数のビームを検知するビーム検知手段と、こ
のビーム検知手段の前記複数のビームに対する検知時間
差を測定するビーム検知時間差測定手段と、基準となる
時間差データを記憶する記憶手段と、この記憶手段に記
憶された基準となる時間差データと前記ビーム検知時間
差測定手段により測定された検知時間差とにより前記複
数のビームを回転させるビーム回転手段とを備えたもの
である。
り記録媒体上を走査して該記録媒体上に情報記録を行う
マルチビーム記録装置において、記録走査領域外に設け
られ前記複数のビームを検知するビーム検知手段と、こ
のビーム検知手段の前記複数のビームに対する検知時間
差を測定するビーム検知時間差測定手段と、基準となる
時間差データを記憶する記憶手段と、この記憶手段に記
憶された基準となる時間差データと前記ビーム検知時間
差測定手段により測定された検知時間差とにより前記複
数のビームを回転させるビーム回転手段とを備えたもの
である。
【0009】
【作用】請求項1記載の発明では、ビーム検知手段が記
録走査領域外で複数のビームを検知し、ビーム検知時間
差測定手段がビーム検知手段の複数のビームに対する検
知時間差を測定する。表示手段はビーム検知時間差測定
手段の測定結果を表示し、複数のビームはその測定結果
により回転させられる。
録走査領域外で複数のビームを検知し、ビーム検知時間
差測定手段がビーム検知手段の複数のビームに対する検
知時間差を測定する。表示手段はビーム検知時間差測定
手段の測定結果を表示し、複数のビームはその測定結果
により回転させられる。
【0010】請求項2記載の発明では、ビーム検知手段
が記録走査領域外で複数のビームを検知し、ビーム検知
時間差測定手段がビーム検知手段の複数のビームに対す
る検知時間差を測定する。記憶手段は基準となる時間差
データを記憶しており、計算手段が記憶手段に記憶され
た基準となる時間差データとビーム検知時間差測定手段
により測定された検知時間差との誤差を計算する。計算
手段で計算された誤差は表示手段により表示され、複数
のビームはその誤差により回転させられる。
が記録走査領域外で複数のビームを検知し、ビーム検知
時間差測定手段がビーム検知手段の複数のビームに対す
る検知時間差を測定する。記憶手段は基準となる時間差
データを記憶しており、計算手段が記憶手段に記憶され
た基準となる時間差データとビーム検知時間差測定手段
により測定された検知時間差との誤差を計算する。計算
手段で計算された誤差は表示手段により表示され、複数
のビームはその誤差により回転させられる。
【0011】請求項3記載の発明では、ビーム検知手段
が記録走査領域外で複数のビームを検知し、ビーム検知
時間差測定手段がビーム検知手段の複数のビームに対す
る検知時間差を測定する。記憶手段は基準となる時間差
データを記憶しており、ビーム回転手段は記憶手段に記
憶された基準となる時間差データとビーム検知時間差測
定手段により測定された検知時間差とにより複数のビー
ムを回転させる。
が記録走査領域外で複数のビームを検知し、ビーム検知
時間差測定手段がビーム検知手段の複数のビームに対す
る検知時間差を測定する。記憶手段は基準となる時間差
データを記憶しており、ビーム回転手段は記憶手段に記
憶された基準となる時間差データとビーム検知時間差測
定手段により測定された検知時間差とにより複数のビー
ムを回転させる。
【0012】
【実施例】図3は本発明の第1実施例の概略を示す。こ
の第1実施例のマルチビーム記録装置は、請求項1,2
記載の発明の実施例である。複数の光ビームを出射する
光源11は例えば図4に示すようなレーザダイオードア
レイ(以下LDAと呼ぶ)12とコリメートレンズとを
組み合わせたものが用いられ、そのLDA12は2つの
発光部が所定の距離をおいて配置される。LDA12
は、ヘテロダイン接合面13が主走査方向に対して傾け
て配置され、各発光部からヘテロダイン接合面12と直
交する方向を長軸とする2つの楕円ビームB1,B2を
照射する。
の第1実施例のマルチビーム記録装置は、請求項1,2
記載の発明の実施例である。複数の光ビームを出射する
光源11は例えば図4に示すようなレーザダイオードア
レイ(以下LDAと呼ぶ)12とコリメートレンズとを
組み合わせたものが用いられ、そのLDA12は2つの
発光部が所定の距離をおいて配置される。LDA12
は、ヘテロダイン接合面13が主走査方向に対して傾け
て配置され、各発光部からヘテロダイン接合面12と直
交する方向を長軸とする2つの楕円ビームB1,B2を
照射する。
【0013】結像光学系14は正の屈折力を持つ球面レ
ンズ15,16でシリンドリカルレンズ17,18を挟
んだ構成となっている。シリンドリカルレンズ17は偏
向面に直交する面内において正の屈折力を持ち、シリン
ドリカルレンズ18は偏向面に直交する面内において負
の屈折力を持つ。これらのシリンドリカルレンズ17,
18は、いずれも入射側であるコリメートレンズ側のレ
ンズ面が曲率を持ち、射出側のレンズ面が平面である。
ンズ15,16でシリンドリカルレンズ17,18を挟
んだ構成となっている。シリンドリカルレンズ17は偏
向面に直交する面内において正の屈折力を持ち、シリン
ドリカルレンズ18は偏向面に直交する面内において負
の屈折力を持つ。これらのシリンドリカルレンズ17,
18は、いずれも入射側であるコリメートレンズ側のレ
ンズ面が曲率を持ち、射出側のレンズ面が平面である。
【0014】LDA12からの2本の光ビームは、コリ
メートレンズにより平行化され、結像光学系14の球面
レンズ15により主走査方向、副走査方向とも第1の結
像点に一旦結像する。この第1の結像点は副走査方向に
おいては回転多面鏡からなる偏向器19の偏向反射面2
0の近傍にシリンドリカルレンズ17,18と球面レン
ズ16の作用により結像する。
メートレンズにより平行化され、結像光学系14の球面
レンズ15により主走査方向、副走査方向とも第1の結
像点に一旦結像する。この第1の結像点は副走査方向に
おいては回転多面鏡からなる偏向器19の偏向反射面2
0の近傍にシリンドリカルレンズ17,18と球面レン
ズ16の作用により結像する。
【0015】一方、シリンドリカルレンズ17,18
は、いずれも偏向面に直交する面内に屈折力を持つが、
偏向面内では屈折力を持たないので、主走査方向におい
ては結像光学系14以後の光ビームは平行ビームとな
る。従って、結像光学系14による各ビームの像は主走
査方向に平行な線状である。即ち、結像光学系14は、
偏向面内でアフォーカルで且つ偏向面と直交する面内で
コリメートレンズからの光ビームを線状に結像する。こ
のとき、コリメートレンズの射出瞳面と回転多面鏡19
の偏向反射面20とは共役関係にない。
は、いずれも偏向面に直交する面内に屈折力を持つが、
偏向面内では屈折力を持たないので、主走査方向におい
ては結像光学系14以後の光ビームは平行ビームとな
る。従って、結像光学系14による各ビームの像は主走
査方向に平行な線状である。即ち、結像光学系14は、
偏向面内でアフォーカルで且つ偏向面と直交する面内で
コリメートレンズからの光ビームを線状に結像する。こ
のとき、コリメートレンズの射出瞳面と回転多面鏡19
の偏向反射面20とは共役関係にない。
【0016】結像光学系21はアナモフィックな単レン
ズ22、正の屈折力を持つ球面単レンズ23、トーリッ
ク面を持つアナモフィックな単レンズ24により構成さ
れている。結像光学系14からの光ビームは、回転多面
鏡19の偏向反射面20により主走査方向へ偏向され、
結像光学系21により被走査面、すなわち、感光体から
なる記録媒体の表面25上に微小な光スポットとして結
像される。
ズ22、正の屈折力を持つ球面単レンズ23、トーリッ
ク面を持つアナモフィックな単レンズ24により構成さ
れている。結像光学系14からの光ビームは、回転多面
鏡19の偏向反射面20により主走査方向へ偏向され、
結像光学系21により被走査面、すなわち、感光体から
なる記録媒体の表面25上に微小な光スポットとして結
像される。
【0017】結像光学系21は、偏向面と直交する面内
で偏向反射面20の位置と被走査面25とを略共役な関
係にむすび付けるとともに、偏向面内では偏向反射面2
0からの平行な光ビームを被走査面25上に集光させ
る。このため、回転多面鏡19の面倒れは有効に補正さ
れる。また、結像光学系21は、回転多面鏡19の等速
回転に伴って光走査が等速に行われるように構成された
所謂fθレンズである。また、図示しない光検知センサ
からなるビーム検知手段は、記録走査領域外に設けら
れ、結像光学系21からの2つの光ビームを検知する。
で偏向反射面20の位置と被走査面25とを略共役な関
係にむすび付けるとともに、偏向面内では偏向反射面2
0からの平行な光ビームを被走査面25上に集光させ
る。このため、回転多面鏡19の面倒れは有効に補正さ
れる。また、結像光学系21は、回転多面鏡19の等速
回転に伴って光走査が等速に行われるように構成された
所謂fθレンズである。また、図示しない光検知センサ
からなるビーム検知手段は、記録走査領域外に設けら
れ、結像光学系21からの2つの光ビームを検知する。
【0018】感光体からなる記録媒体は、感光体ベルト
などが用いられ、複数のローラに掛け渡されて副走査方
向へ回転駆動される。LDA12の各発光部が半導体レ
ーザ駆動回路にて上記光検知センサからの検知信号に同
期してそれぞれ情報により駆動されることでLDA12
からの各光ビームが情報により変調される。感光体の表
面25は、従来装置と同様に帯電器により均一に帯電さ
れた後に結像光学系21からの2つの光ビームで走査さ
れて静電潜像が形成され、この静電潜像が現像装置によ
り現像されて転写装置により転写紙に転写される。この
転写紙は定着装置により画像が定着されて記録物として
排出され、また、感光体は画像転写後にクリーニング装
置によりクリーニングされて次の記録動作に備える。
などが用いられ、複数のローラに掛け渡されて副走査方
向へ回転駆動される。LDA12の各発光部が半導体レ
ーザ駆動回路にて上記光検知センサからの検知信号に同
期してそれぞれ情報により駆動されることでLDA12
からの各光ビームが情報により変調される。感光体の表
面25は、従来装置と同様に帯電器により均一に帯電さ
れた後に結像光学系21からの2つの光ビームで走査さ
れて静電潜像が形成され、この静電潜像が現像装置によ
り現像されて転写装置により転写紙に転写される。この
転写紙は定着装置により画像が定着されて記録物として
排出され、また、感光体は画像転写後にクリーニング装
置によりクリーニングされて次の記録動作に備える。
【0019】図5は被走査面25上の2つの光ビームの
ピッチと光ビームの配置を示す。LDA12の2つの発
光部LD1,LD2からの2つの光ビームのピッチをL
LDとすると、副走査方向のピッチをPとするには、L
DA12の副走査方向に対する配置角度θを P=LLDcosθ になるようにすればよい。このとき、主走査方向の距離
Lは L=LLDsinθ となる。本実施例は、発光部LD1,LD2からの2つ
の光ビームを上記光検知センサ26によりスリット27
を介して検知し、この光検知センサ26の検知信号から
Lを計測することによって、すなわち、光検知センサ2
6の2つの光ビームに対する検知時間の差を計測して表
示することによって、ビーム配置の調整作業を容易にし
たものである。ここに、発光部LD1,LD2からの2
つの光ビームは、LDA12が副走査方向に対して傾け
て配置されることにより、光検知センサ26により異な
るタイミングで検知される。
ピッチと光ビームの配置を示す。LDA12の2つの発
光部LD1,LD2からの2つの光ビームのピッチをL
LDとすると、副走査方向のピッチをPとするには、L
DA12の副走査方向に対する配置角度θを P=LLDcosθ になるようにすればよい。このとき、主走査方向の距離
Lは L=LLDsinθ となる。本実施例は、発光部LD1,LD2からの2つ
の光ビームを上記光検知センサ26によりスリット27
を介して検知し、この光検知センサ26の検知信号から
Lを計測することによって、すなわち、光検知センサ2
6の2つの光ビームに対する検知時間の差を計測して表
示することによって、ビーム配置の調整作業を容易にし
たものである。ここに、発光部LD1,LD2からの2
つの光ビームは、LDA12が副走査方向に対して傾け
て配置されることにより、光検知センサ26により異な
るタイミングで検知される。
【0020】図1は本実施例の回路構成を示し、図2は
そのタイミングチャートを示す。Dフリップフロップ2
9は、光検知センサ26から増幅器28を介して得られ
る検知信号DETPの立ち上がりでDフリップフロップ
29の反転出力をラッチして発光部LD1,LD2から
の2つの光ビームに対応した2つの検知信号DETPの
立ち上がり時間の差に応じたゲート信号GATEを求め
ることにより、発光部LD1,LD2からの2つの光ビ
ームに対する光検知センサ26の検知時間の差に応じた
信号を求める。
そのタイミングチャートを示す。Dフリップフロップ2
9は、光検知センサ26から増幅器28を介して得られ
る検知信号DETPの立ち上がりでDフリップフロップ
29の反転出力をラッチして発光部LD1,LD2から
の2つの光ビームに対応した2つの検知信号DETPの
立ち上がり時間の差に応じたゲート信号GATEを求め
ることにより、発光部LD1,LD2からの2つの光ビ
ームに対する光検知センサ26の検知時間の差に応じた
信号を求める。
【0021】ゲート回路30はDフリップフロップ29
からゲート信号GATEとして入力される非反転出力信
号によりクロック発生器からのクロックCLを通過さ
せ、カウンタ31はゲート回路30からのクロックCL
をカウントする。ゲート回路32は増幅器28からの検
知信号DETPとDフリップフロップ29からのゲート
信号GATEとの論理和をとって出力信号aをカウンタ
31及びマイクロコンピュータ(以下CPUと呼ぶ)3
3へ出力し、カウンタ31はゲート回路32の出力信号
aの立ち下がりでカウント値をラッチしてCPU33へ
出力する。CPU33はゲート回路32の出力信号aが
割り込み信号として割り込み端子INTに入力される。
ここに、カウンタ31のカウント値は発光部LD1,L
D2からの2つの光ビームに対応した2つの検知信号D
ETPの立ち上がり時間の差の測定値となり、Dフリッ
プフロップ29、ゲート回路30,32及びカウンタ3
1はビーム検知時間差測定手段を構成する。
からゲート信号GATEとして入力される非反転出力信
号によりクロック発生器からのクロックCLを通過さ
せ、カウンタ31はゲート回路30からのクロックCL
をカウントする。ゲート回路32は増幅器28からの検
知信号DETPとDフリップフロップ29からのゲート
信号GATEとの論理和をとって出力信号aをカウンタ
31及びマイクロコンピュータ(以下CPUと呼ぶ)3
3へ出力し、カウンタ31はゲート回路32の出力信号
aの立ち下がりでカウント値をラッチしてCPU33へ
出力する。CPU33はゲート回路32の出力信号aが
割り込み信号として割り込み端子INTに入力される。
ここに、カウンタ31のカウント値は発光部LD1,L
D2からの2つの光ビームに対応した2つの検知信号D
ETPの立ち上がり時間の差の測定値となり、Dフリッ
プフロップ29、ゲート回路30,32及びカウンタ3
1はビーム検知時間差測定手段を構成する。
【0022】CPU33は割り込みでカウンタ値表示処
理を行うが、このカウンタ値表示処理はLDA12の傾
き調整を行う時に実行すればよい。そこで、本実施例で
は、通常は割込み処理を禁止状態としておき、オペレー
タから表示要求があった時のみ割り込みを許可する。図
6はCPU33の検知時間差測定値表示入力判断ルーチ
ンを示す。CPU33は、オペレータから操作部による
検知時間差測定値の表示指示入力があるか否かを判断し
て検知時間差測定値の表示指示入力がない場合には割り
込みを禁止し、検知時間差測定値の表示指示入力がある
場合には割り込みを許可する。
理を行うが、このカウンタ値表示処理はLDA12の傾
き調整を行う時に実行すればよい。そこで、本実施例で
は、通常は割込み処理を禁止状態としておき、オペレー
タから表示要求があった時のみ割り込みを許可する。図
6はCPU33の検知時間差測定値表示入力判断ルーチ
ンを示す。CPU33は、オペレータから操作部による
検知時間差測定値の表示指示入力があるか否かを判断し
て検知時間差測定値の表示指示入力がない場合には割り
込みを禁止し、検知時間差測定値の表示指示入力がある
場合には割り込みを許可する。
【0023】CPU33は、一旦割り込みを許可する
と、次に割り込みが禁止されるまでは図7に示す表示処
理を繰り返して実行する。すなわち、CPU33は、ゲ
ート回路32の出力信号aが割り込み信号として割り込
み端子INTに入力されて割り込みがかかると、割り込
み許可時には図7に示す表示処理を繰り返して実行す
る。CPU33は、まず、ゲート回路32の出力信号a
の立ち下がりでカウンタ31のラッチされたカウント値
(上記検知時間差)を読み取り、カウンタ31のクリア
端子に接続されているポートを操作してカウンタ31へ
クリア信号CLRを出力し、カウンタ31をクリアす
る。
と、次に割り込みが禁止されるまでは図7に示す表示処
理を繰り返して実行する。すなわち、CPU33は、ゲ
ート回路32の出力信号aが割り込み信号として割り込
み端子INTに入力されて割り込みがかかると、割り込
み許可時には図7に示す表示処理を繰り返して実行す
る。CPU33は、まず、ゲート回路32の出力信号a
の立ち下がりでカウンタ31のラッチされたカウント値
(上記検知時間差)を読み取り、カウンタ31のクリア
端子に接続されているポートを操作してカウンタ31へ
クリア信号CLRを出力し、カウンタ31をクリアす
る。
【0024】次に、CPU33は、割り込み処理が1回
目のものか否かを判断する。図2に示すようにカウンタ
31のゲート信号GATE1個分のカウント値が正しい
値となるわけであるが、カウンタ31へのクリア信号C
LRは割り込み処理中に発生する。このため、割り込み
処理の1回目のカウンタ31のカウント値はゲート信号
GATE複数個分のカウント値が合算した値となってい
て正しくない値であることから、CPU33は、割り込
み処理が1回目であれば表示処理をパスする。
目のものか否かを判断する。図2に示すようにカウンタ
31のゲート信号GATE1個分のカウント値が正しい
値となるわけであるが、カウンタ31へのクリア信号C
LRは割り込み処理中に発生する。このため、割り込み
処理の1回目のカウンタ31のカウント値はゲート信号
GATE複数個分のカウント値が合算した値となってい
て正しくない値であることから、CPU33は、割り込
み処理が1回目であれば表示処理をパスする。
【0025】CPU33は、割り込み処理が1回目でな
ければ(2回目以降であれば)読み取ったカウント値
(上記検知時間差)を表示部34に出力して表示させ
る。次に、CPU33は、目標カウント値(基準となる
検知時間差、つまり、発光部LD1,LD2からの2つ
の光ビームに対する光検知センサ26の検知時間の差の
基準値)と読み取ったカウント値(検知時間差)との誤
差を計算し、この誤差を表示部34に出力して表示させ
る。従って、CPU33は記憶手段に記憶された目標カ
ウント値と読み取ったカウント値との誤差を計算する計
算手段を構成する。オペレータはその表示部34の表示
誤差がゼロになるようにマニュアルでLDA12の傾き
を調整して2つの光ビームの副走査方向のピッチを調整
する。従って、オペレータは画像記録を行わなくてもビ
ーム配置の調整を容易に行うことができる。なお、この
実施例において、CPU33は、読み取ったカウント値
を表示部34に表示させるだけで、目標カウント値と読
み取ったカウント値との誤差を求めて表示部34に表示
させるという処理を行わないようにしてもよい。この場
合、オペレータは表示部34に表示されたカウント値に
基づいてマニュアルでLDA12の傾きを調整すること
になり、画像記録を行わなくても表示部34に表示され
たカウント値からLDA傾き調整の目標値が分かってL
DA傾きの調整作業を容易に行うことが可能である。
ければ(2回目以降であれば)読み取ったカウント値
(上記検知時間差)を表示部34に出力して表示させ
る。次に、CPU33は、目標カウント値(基準となる
検知時間差、つまり、発光部LD1,LD2からの2つ
の光ビームに対する光検知センサ26の検知時間の差の
基準値)と読み取ったカウント値(検知時間差)との誤
差を計算し、この誤差を表示部34に出力して表示させ
る。従って、CPU33は記憶手段に記憶された目標カ
ウント値と読み取ったカウント値との誤差を計算する計
算手段を構成する。オペレータはその表示部34の表示
誤差がゼロになるようにマニュアルでLDA12の傾き
を調整して2つの光ビームの副走査方向のピッチを調整
する。従って、オペレータは画像記録を行わなくてもビ
ーム配置の調整を容易に行うことができる。なお、この
実施例において、CPU33は、読み取ったカウント値
を表示部34に表示させるだけで、目標カウント値と読
み取ったカウント値との誤差を求めて表示部34に表示
させるという処理を行わないようにしてもよい。この場
合、オペレータは表示部34に表示されたカウント値に
基づいてマニュアルでLDA12の傾きを調整すること
になり、画像記録を行わなくても表示部34に表示され
たカウント値からLDA傾き調整の目標値が分かってL
DA傾きの調整作業を容易に行うことが可能である。
【0026】本発明の第2実施例は、上記第1実施例に
おいて、LDA12の傾きを自動的に調整するようにし
たものであり、CPU33が図6及び図7に示す処理の
代りに図8及び図9に示す処理を行う。この第2実施例
は請求項3記載の発明の実施例であり、図10はその回
路構成を示す。CPU33は図9に示すような割り込み
による自動調整処理を行うが、この自動調整処理はLD
A12の傾きを自動的に調整する時に実行すればよい。
そこで、本実施例では、通常は割り込みを禁止状態にし
ておき、オペレータからのLDA自動調整要求があつた
時のみ割り込みを許可する。
おいて、LDA12の傾きを自動的に調整するようにし
たものであり、CPU33が図6及び図7に示す処理の
代りに図8及び図9に示す処理を行う。この第2実施例
は請求項3記載の発明の実施例であり、図10はその回
路構成を示す。CPU33は図9に示すような割り込み
による自動調整処理を行うが、この自動調整処理はLD
A12の傾きを自動的に調整する時に実行すればよい。
そこで、本実施例では、通常は割り込みを禁止状態にし
ておき、オペレータからのLDA自動調整要求があつた
時のみ割り込みを許可する。
【0027】図8はCPU33のLDA傾き自動調整入
力判断ルーチンを示す。CPU33は、オペレータから
操作部によるLDA傾き自動調整入力があるか否かを判
断してLDA傾き自動調整入力があった時には割り込み
を許可し、LDA傾き自動調整入力がない時には何等処
理を行わずに終了する。CPU33は、一旦割り込みを
許可すると、LDA傾き誤差の補正が完了するまで図9
に示す補正処理を繰り返して実行する。
力判断ルーチンを示す。CPU33は、オペレータから
操作部によるLDA傾き自動調整入力があるか否かを判
断してLDA傾き自動調整入力があった時には割り込み
を許可し、LDA傾き自動調整入力がない時には何等処
理を行わずに終了する。CPU33は、一旦割り込みを
許可すると、LDA傾き誤差の補正が完了するまで図9
に示す補正処理を繰り返して実行する。
【0028】すなわち、CPU33は、ゲート回路32
の出力信号aが割り込み信号として割り込み端子INT
に入力されて割り込みがかかると、割り込み許可時には
図9に示す補正処理を繰り返して実行する。CPU33
は、まず、ゲート回路32の出力信号aの立ち下がりで
カウンタ31のラッチされたカウント値(上記検知時間
差)を読み取り、カウンタ31のクリア端子に接続され
ているポートを操作してカウンタ31へクリア信号CL
Rを出力し、カウンタ31をクリアする。
の出力信号aが割り込み信号として割り込み端子INT
に入力されて割り込みがかかると、割り込み許可時には
図9に示す補正処理を繰り返して実行する。CPU33
は、まず、ゲート回路32の出力信号aの立ち下がりで
カウンタ31のラッチされたカウント値(上記検知時間
差)を読み取り、カウンタ31のクリア端子に接続され
ているポートを操作してカウンタ31へクリア信号CL
Rを出力し、カウンタ31をクリアする。
【0029】次に、CPU33は、割り込み処理が1回
目のものか否かを判断する。図2に示すようにカウンタ
31のゲート信号GATE1個分のカウント値が正しい
値となるわけであるが、カウンタ31へのクリア信号C
LRは割り込み処理中に発生する。このため、割り込み
処理の1回目のカウンタ31のカウント値はゲート信号
GATE複数個分のカウント値が合算した値となってい
て正しくない値であることから、CPU33は、割り込
み処理が1回目であれば補正処理をパスする。
目のものか否かを判断する。図2に示すようにカウンタ
31のゲート信号GATE1個分のカウント値が正しい
値となるわけであるが、カウンタ31へのクリア信号C
LRは割り込み処理中に発生する。このため、割り込み
処理の1回目のカウンタ31のカウント値はゲート信号
GATE複数個分のカウント値が合算した値となってい
て正しくない値であることから、CPU33は、割り込
み処理が1回目であれば補正処理をパスする。
【0030】CPU33は、割り込み処理が1回目でな
ければ(2回目以降であれば)、目標カウント値(基準
となる検知時間差、つまり、発光部LD1,LD2から
の2つの光ビームに対する光検知センサ26の検知時間
の差の基準値)と読み取ったカウント値(検知時間差)
との誤差を計算してこの誤差がゼロあるいは許容できる
範囲内であるか否かを判断する。
ければ(2回目以降であれば)、目標カウント値(基準
となる検知時間差、つまり、発光部LD1,LD2から
の2つの光ビームに対する光検知センサ26の検知時間
の差の基準値)と読み取ったカウント値(検知時間差)
との誤差を計算してこの誤差がゼロあるいは許容できる
範囲内であるか否かを判断する。
【0031】CPU33は、誤差がゼロあるいは許容で
きる範囲内である場合には割り込みを禁止してLDA傾
きの補正を行わずに終了する。また、CPU33は、誤
差が許容できる範囲より大きい場合にはその誤差に対応
した操作量だけLDA傾き調整用モータ35を駆動して
LDA12の傾きを調整する。ここに、図11に示すよ
うにLDA12は軸36を中心として回転可能なベース
37に取り付けられており、ベース37はバネ38によ
り押圧軸39に当接するまで回動される。
きる範囲内である場合には割り込みを禁止してLDA傾
きの補正を行わずに終了する。また、CPU33は、誤
差が許容できる範囲より大きい場合にはその誤差に対応
した操作量だけLDA傾き調整用モータ35を駆動して
LDA12の傾きを調整する。ここに、図11に示すよ
うにLDA12は軸36を中心として回転可能なベース
37に取り付けられており、ベース37はバネ38によ
り押圧軸39に当接するまで回動される。
【0032】押圧軸39は、直進運動でベース37を回
動させ得るように設けられ、外周にネジが切られてい
る。この押圧軸39のネジはLDA傾き調整用モータ3
5に連結されたネジ車40と螺合し、LDA傾き調整用
モータ35の回転により押圧軸39が直進運動を行って
ベース37が回動することによりLDA12の傾きが可
変される。従って、LDA傾き調整用モータ35は複数
のビームを回転させるビーム回転手段を構成する。CP
U33は、LDA傾き調整用モータ35の駆動を完了す
ると、割り込み処理を終了する。この割り込み処理が繰
り返して実行されることにより、LDA12の傾きが自
動的に補正される。
動させ得るように設けられ、外周にネジが切られてい
る。この押圧軸39のネジはLDA傾き調整用モータ3
5に連結されたネジ車40と螺合し、LDA傾き調整用
モータ35の回転により押圧軸39が直進運動を行って
ベース37が回動することによりLDA12の傾きが可
変される。従って、LDA傾き調整用モータ35は複数
のビームを回転させるビーム回転手段を構成する。CP
U33は、LDA傾き調整用モータ35の駆動を完了す
ると、割り込み処理を終了する。この割り込み処理が繰
り返して実行されることにより、LDA12の傾きが自
動的に補正される。
【0033】LDA12の角度あるいはビーム検知時間
差の目標値、つまり、上記割り込み処理ルーチン内の目
標カウンタ値は、機械間でのばらつきを無視できる場合
には一定値でよいことから記憶手段41内に固定値とし
て記憶させておく。記憶手段41はROMからなるメモ
リが用いられる。なお、LDA12の角度あるいはビー
ム検知時間差の目標値(上記割り込み処理ルーチン内の
目標カウンタ値)は、機械間でのばらつきを無視できな
い場合には図示しないデータ入力手段により機械毎に異
なった値を入力してRAMからなる記憶手段に記憶すれ
ばよい。
差の目標値、つまり、上記割り込み処理ルーチン内の目
標カウンタ値は、機械間でのばらつきを無視できる場合
には一定値でよいことから記憶手段41内に固定値とし
て記憶させておく。記憶手段41はROMからなるメモ
リが用いられる。なお、LDA12の角度あるいはビー
ム検知時間差の目標値(上記割り込み処理ルーチン内の
目標カウンタ値)は、機械間でのばらつきを無視できな
い場合には図示しないデータ入力手段により機械毎に異
なった値を入力してRAMからなる記憶手段に記憶すれ
ばよい。
【0034】図12は本発明の第3実施例におけるCP
Uの画素密度変更ルーチンを示す。この第3実施例は、
上記第2実施例において、CPU33が図12に示す画
素密度変更ルーチンを実行する。この第3実施例のマル
チビーム記録装置は、同一装置で複数の画素密度変換機
能を持ち、各画素密度毎に上記目標カウンタ値が異な
る。CPU33は、次回の記録工程の画素密度が現在設
定してある画素密度と異なる場合には、目標カウント値
を次回の記録工程の画素密度に対応した値、この例では
400dpiではC400、600dpiではC600
に設定して割り込みを許可する。CPU33は割り込み
が許可されると、図9に示す自動調整処理を実行する。
Uの画素密度変更ルーチンを示す。この第3実施例は、
上記第2実施例において、CPU33が図12に示す画
素密度変更ルーチンを実行する。この第3実施例のマル
チビーム記録装置は、同一装置で複数の画素密度変換機
能を持ち、各画素密度毎に上記目標カウンタ値が異な
る。CPU33は、次回の記録工程の画素密度が現在設
定してある画素密度と異なる場合には、目標カウント値
を次回の記録工程の画素密度に対応した値、この例では
400dpiではC400、600dpiではC600
に設定して割り込みを許可する。CPU33は割り込み
が許可されると、図9に示す自動調整処理を実行する。
【0035】
【発明の効果】以上のように請求項1記載の発明によれ
ば、複数のビームにより記録媒体上を走査して該記録媒
体上に情報記録を行うマルチビーム記録装置において、
記録走査領域外に設けられ前記複数のビームを検知する
ビーム検知手段と、このビーム検知手段の前記複数のビ
ームに対する検知時間差を測定するビーム検知時間差測
定手段と、このビーム検知時間差測定手段の測定結果を
表示する表示手段とを備えたので、画像記録を行わなく
てもオペレータが表示手段により表示された測定結果に
応じて複数のビームを回転させることによりビーム配置
を調整でき、ビーム配置の調整を容易に行うことができ
る。
ば、複数のビームにより記録媒体上を走査して該記録媒
体上に情報記録を行うマルチビーム記録装置において、
記録走査領域外に設けられ前記複数のビームを検知する
ビーム検知手段と、このビーム検知手段の前記複数のビ
ームに対する検知時間差を測定するビーム検知時間差測
定手段と、このビーム検知時間差測定手段の測定結果を
表示する表示手段とを備えたので、画像記録を行わなく
てもオペレータが表示手段により表示された測定結果に
応じて複数のビームを回転させることによりビーム配置
を調整でき、ビーム配置の調整を容易に行うことができ
る。
【0036】請求項2記載の発明によれば、複数のビー
ムにより記録媒体上を走査して該記録媒体上に情報記録
を行うマルチビーム記録装置において、記録走査領域外
に設けられ前記複数のビームを検知するビーム検知手段
と、このビーム検知手段の前記複数のビームに対する検
知時間差を測定するビーム検知時間差測定手段と、基準
となる時間差データを記憶する記憶手段と、この記憶手
段に記憶された基準となる時間差データと前記ビーム検
知時間差測定手段により測定された検知時間差との誤差
を計算する計算手段と、この計算手段で計算された誤差
を表示する表示手段とを備えたので、画像記録を行わな
くてもオペレータが表示手段により表示された誤差に応
じて複数のビームを回転させることによりビーム配置を
調整でき、ビーム配置の調整を容易に行うことができ
る。
ムにより記録媒体上を走査して該記録媒体上に情報記録
を行うマルチビーム記録装置において、記録走査領域外
に設けられ前記複数のビームを検知するビーム検知手段
と、このビーム検知手段の前記複数のビームに対する検
知時間差を測定するビーム検知時間差測定手段と、基準
となる時間差データを記憶する記憶手段と、この記憶手
段に記憶された基準となる時間差データと前記ビーム検
知時間差測定手段により測定された検知時間差との誤差
を計算する計算手段と、この計算手段で計算された誤差
を表示する表示手段とを備えたので、画像記録を行わな
くてもオペレータが表示手段により表示された誤差に応
じて複数のビームを回転させることによりビーム配置を
調整でき、ビーム配置の調整を容易に行うことができ
る。
【0037】請求項3記載の発明によれば、複数のビー
ムにより記録媒体上を走査して該記録媒体上に情報記録
を行うマルチビーム記録装置において、記録走査領域外
に設けられ前記複数のビームを検知するビーム検知手段
と、このビーム検知手段の前記複数のビームに対する検
知時間差を測定するビーム検知時間差測定手段と、基準
となる時間差データを記憶する記憶手段と、この記憶手
段に記憶された基準となる時間差データと前記ビーム検
知時間差測定手段により測定された検知時間差とにより
前記複数のビームを回転させるビーム回転手段とを備え
たので、ビーム配置の調整を自動的に行うことができ
る。
ムにより記録媒体上を走査して該記録媒体上に情報記録
を行うマルチビーム記録装置において、記録走査領域外
に設けられ前記複数のビームを検知するビーム検知手段
と、このビーム検知手段の前記複数のビームに対する検
知時間差を測定するビーム検知時間差測定手段と、基準
となる時間差データを記憶する記憶手段と、この記憶手
段に記憶された基準となる時間差データと前記ビーム検
知時間差測定手段により測定された検知時間差とにより
前記複数のビームを回転させるビーム回転手段とを備え
たので、ビーム配置の調整を自動的に行うことができ
る。
【図1】本発明の第1実施例の回路構成を示すブロック
図である。
図である。
【図2】同第1実施例の動作タイミングを示すタイミン
グチャートである。
グチャートである。
【図3】同第1実施例の概略を示す斜視図である。
【図4】同第1実施例のLDAを示す斜視図である。
【図5】同第1実施例を説明するための図である。
【図6】同第1実施例におけるCPUの検知時間差測定
値表示入力判断ルーチンを示すフローチャートである。
値表示入力判断ルーチンを示すフローチャートである。
【図7】同CPUの表示処理フローを示すフローチャー
トである。
トである。
【図8】本発明の第2実施例におけるCPUのLDA傾
き自動調整入力判断ルーチンを示すフローチャートであ
る。
き自動調整入力判断ルーチンを示すフローチャートであ
る。
【図9】同CPUの自動調整処理フローを示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図10】同第2実施例の回路構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図11】同第2実施例の一部を示す斜視図である。
【図12】本発明の第3実施例におけるCPUの画素密
度変更ルーチンを示すフローチャートである。
度変更ルーチンを示すフローチャートである。
12 LDA 26 光検知センサ 28 増幅器 29 Dフリップフロップ 30,32 ゲート回路 31 カウンタ 33 CPU 34 表示部 35 LDA傾き調整用モータ 41 メモリ
Claims (3)
- 【請求項1】複数のビームにより記録媒体上を走査して
該記録媒体上に情報記録を行うマルチビーム記録装置に
おいて、記録走査領域外に設けられ前記複数のビームを
検知するビーム検知手段と、このビーム検知手段の前記
複数のビームに対する検知時間差を測定するビーム検知
時間差測定手段と、このビーム検知時間差測定手段の測
定結果を表示する表示手段とを備え、この表示手段によ
り表示された測定結果に応じて前記複数のビームを回転
させることを特徴とするマルチビーム記録装置。 - 【請求項2】複数のビームにより記録媒体上を走査して
該記録媒体上に情報記録を行うマルチビーム記録装置に
おいて、記録走査領域外に設けられ前記複数のビームを
検知するビーム検知手段と、このビーム検知手段の前記
複数のビームに対する検知時間差を測定するビーム検知
時間差測定手段と、基準となる時間差データを記憶する
記憶手段と、この記憶手段に記憶された基準となる時間
差データと前記ビーム検知時間差測定手段により測定さ
れた検知時間差との誤差を計算する計算手段と、この計
算手段で計算された誤差を表示する表示手段とを備え、
この表示手段により表示された誤差に応じて前記複数の
ビームを回転させることを特徴とするマルチビーム記録
装置。 - 【請求項3】複数のビームにより記録媒体上を走査して
該記録媒体上に情報記録を行うマルチビーム記録装置に
おいて、記録走査領域外に設けられ前記複数のビームを
検知するビーム検知手段と、このビーム検知手段の前記
複数のビームに対する検知時間差を測定するビーム検知
時間差測定手段と、基準となる時間差データを記憶する
記憶手段と、この記憶手段に記憶された基準となる時間
差データと前記ビーム検知時間差測定手段により測定さ
れた検知時間差とにより前記複数のビームを回転させる
ビーム回転手段とを備えたことを特徴とするマルチビー
ム記録装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10708994A JPH07318829A (ja) | 1994-05-20 | 1994-05-20 | マルチビーム記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10708994A JPH07318829A (ja) | 1994-05-20 | 1994-05-20 | マルチビーム記録装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07318829A true JPH07318829A (ja) | 1995-12-08 |
Family
ID=14450194
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10708994A Pending JPH07318829A (ja) | 1994-05-20 | 1994-05-20 | マルチビーム記録装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07318829A (ja) |
-
1994
- 1994-05-20 JP JP10708994A patent/JPH07318829A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS63136017A (ja) | 光ビ−ム走査装置 | |
EP0580080B1 (en) | Disk for light beam recording device and light beam recording device | |
JP2000194082A (ja) | レンチキュラ―材料のプリントにおけるスキュ―補正 | |
JP2572300B2 (ja) | 画像走査装置 | |
JP3402010B2 (ja) | 光学走査装置 | |
JPH07318829A (ja) | マルチビーム記録装置 | |
JP2000180748A (ja) | 分割走査装置及び分割走査装置のビーム状態調整方法 | |
JP3719301B2 (ja) | 光走査装置 | |
JPH07253552A (ja) | 画像形成装置 | |
JP2000238330A (ja) | 画像形成装置 | |
JPH09218367A (ja) | 走査光学装置 | |
JP2757312B2 (ja) | 光走査装置 | |
JPH0973037A (ja) | マルチビーム記録装置 | |
JPH0519204A (ja) | 走査光学装置 | |
JPH06294935A (ja) | 光ビーム走査光学装置 | |
JP2017078800A (ja) | 光走査装置及びそれを用いた画像形成装置 | |
JP2713985B2 (ja) | レーザビームプリンタ装置 | |
JPS62183423A (ja) | 光走査装置の走査線むら補正方法および光走査装置 | |
JP3680891B2 (ja) | 光走査装置 | |
JPH05257077A (ja) | 回転多面鏡 | |
JPS62184433A (ja) | 光走査装置の走査線むら補正方法および光走査装置 | |
JP3715046B2 (ja) | 画像形成装置 | |
JPH09185003A (ja) | 光走査装置 | |
JPH06288819A (ja) | 走査光学系の面倒れ量測定方法 | |
JPH06118329A (ja) | 面だおれ量測定装置及び走査光学装置 |