JPH07318314A - 測長装置 - Google Patents

測長装置

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JPH07318314A
JPH07318314A JP10996794A JP10996794A JPH07318314A JP H07318314 A JPH07318314 A JP H07318314A JP 10996794 A JP10996794 A JP 10996794A JP 10996794 A JP10996794 A JP 10996794A JP H07318314 A JPH07318314 A JP H07318314A
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茂 安田
Koki Anpo
光喜 安保
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(57)【要約】 【目的】スケールの格子欠陥やごみの付着によって測定
精度が影響を受けにくい光学式の測長装置を提供する。 【構成】主スケール1は、その長手方向と鋭角θで交差
するピッチPの格子2を有する。検出スケール3は格子
2と同一ピッチPの格子4を有する。主スケール1の長
手方向と格子4が平行となるように両スケールを対面さ
せる。主スケール1の長手方向と直交する明暗のモアレ
縞が生じる。縞の間隔WはP/sin θである。検出スケー
ル3を主スケール1の長手方向に沿って移動させるとモ
アレ縞は移動方向と平行に動く。両スケールの相対移動
方向に沿って複数の検出部5が並ぶ。検出部は、位相が
互いに90度異なるA相・B相信号を出力する2個の光電
変換素子A,Bからなる検出部5aと、その反転信号を出
力する検出部5bからなる。複数の検出信号を処理すれば
両スケールの相対的な移動方向とその移動量を高い精度
で安定的に検出できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、対面して配設された2
つの格子の相対移動に伴って発生する干渉縞の変化を検
出し、各格子の相対移動量を測定する光学式の測長装置
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】例えば、工作機械等の加工テーブルの移
動量を高精度で読み取る装置として、光学格子を用いた
測長装置が知られている。
【0003】図2〜図4は、このような光学式の測長装
置の原理を説明するための図である。図2に示すよう
に、メインスケール10は細長い矩形板状のガラス基板
である。その表面には、その長手方向と直交する方向に
金属膜が同一ピッチで配設されてなる微細な格子11が
形成されている。インデックススケール12はメインス
ケール10よりも小さい矩形板状のガラス基板である。
その表面には、金属膜からなりメインスケール10の格
子11と同一ピッチの格子13が形成されている。メイ
ンスケール10に対してインデックススケール12を傾
斜させて平行に対面させると、格子11の方向とほぼ直
交する方向に明暗の縞模様ができる。これを一般にはモ
アレ縞と呼んでいる。図2においてインデックススケー
ル12をメインスケール10の長手方向に沿って移動さ
せると、モアレ縞はインデックススケール12の移動方
向と直交する図中上下方向に移動する。
【0004】図3に拡大して示すように、一般にモアレ
縞は2つの格子の重なり合いで生じ、両格子の重なった
交点の軌跡が縞模様の暗部となる。格子間隔をP、2つ
の格子の傾斜角をθ、縞の間隔をWとすると、次の式が
成り立つ。 W=(Pcos(θ/2))/sinθ (1)
【0005】(1)式においてθが十分に小さい時には
次の式が成り立つ。 W=P/θ(θ:ラジアン) (2)
【0006】(2)式から分かるように、モアレ縞の間
隔Wは、格子間隔Pを光学的に1/θ倍したものであ
る。これは、格子がメインスケールの長手方向にP移動
すると、モアレ縞はこれと直交する上下方向にW移動す
ることを表す。この拡大されたWの変化を読み取ること
により、格子の移動量を知ることができる。
【0007】図4は、モアレ縞の移動を読み取る測長装
置の構造例を示している。メインスケール10に関して
インデックススケール12の反対側には光源14があ
る。また、インデックススケール12に関してメインス
ケール10の反対側には検出部15がある。光源14と
インデックススケール12と検出部15は共通の基台1
6に設けられ、メインスケール10に対して相対的に移
動する。
【0008】前記検出部15は、移動量を計測するため
に2個の光電変換素子を有する。2個の光電変換素子は
メインスケール10の長手方向と直交する方向に沿って
並べられ、図2及び図3に示すモアレ縞の明部と暗部を
それぞれ検出する。モアレ縞の移動により検出部はsi
n波形の信号を出力するが、2個の光電変換素子の出力
する信号は互いに90度位相が異なっている。一方の光
電変換素子の信号をA相(sin波)、他方の光電変換
素子の信号をB相(cos波)と呼ぶ。両信号を得れ
ば、モアレ縞の移動量と共に両スケールの相対的な移動
方向も検出できる。
【0009】前述した従来の光学式の測長装置によれ
ば、測長装置の取付位置が工作機械の加工テーブル等で
あることから、加工テーブルの厚み以上に厚み(メイン
スケールの短辺方向の厚み)を厚くすることはできず、
できるかぎり薄く形成することが望まれている。また、
検出部を複数箇所設ければ安定した検出波形が得られる
が、従来の測長装置では、メインスケールの格子が短辺
方向に延在して設けられており、これに鋭角で傾斜して
インデックススケールの格子が設けられている。従っ
て、モアレ縞は、メインスケールのほぼ短辺方向に移動
するように形成される。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】そのため、従来の光学
式の測長装置によれば、検出部を複数設けようとする
と、どうしても、スケールの厚みが大きくなってしま
い、加工テーブル等に取り付ける際に、取り付けスペー
スを確保するのが困難になるという問題があった。そし
て、このスペースを確保するために、通常では、2個1
組の光電変換素子からなる検出部1個によってモアレ縞
の明暗を検出しているので、スケールの格子の欠陥やス
ケールに付着したごみによって検出波形が大きく影響さ
れてしまい、測長の精度が低下するという問題があっ
た。
【0011】本発明は、スケールの格子欠陥やごみの付
着によって測定精度が影響を受けにくい光学式の測長装
置を提供することを目的としている。
【0012】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載された測
長装置は、少なくとも測定する長さ全長に渡って微細な
格子を有するメインスケールと、メインスケールより長
さが短くメインスケールの格子に対して傾斜して位置す
る微細な格子を有するインデックススケールと、メイン
スケールとインデックススケールの相対的な移動によっ
て生ずる明暗の縞を検出して90度位相の異なる二つの
信号を出力する検出部とを備えた測長装置において、前
記メインスケールとインデックススケールの相対的な移
動方向に対してメインスケールの格子が鋭角をもって傾
斜しており、前記移動方向に沿って前記検出部が複数並
設されていることを特徴としている。
【0013】
【作用】メインスケールとインデックススケールの相対
的な移動方向に沿ってモアレ縞が移動する。同方向に沿
って並べられた複数個の検出部は、A相信号及びB相信
号からなる検出信号を複数の検出位置において複数組検
出する。
【0014】
【実施例】本発明の一実施例を図1(a)(b)(c)
を参照して説明する。本実施例の測長装置は、メインス
ケールとインデックススケールに形成された格子と、検
出部の数及び配置が従来と異なる。これ以外の構成、例
えば図4に示した機械的な構造等は従来と実質的に同一
である。
【0015】図1(a)に示すように、メインスケール
1は細長い矩形板状のガラス基板である。その表面に
は、その長手方向と鋭角θで交差する格子2がピッチP
で形成されている。メインスケール1の長手方向に平行
な一辺に達した隣接する格子2,2の間隔Wは、当然格
子2のピッチPよりも大きく、W=P/sinθとな
る。
【0016】図1(b)に示すように、インデックスス
ケール3はメインスケール1よりも小さい矩形板状のガ
ラス基板である。その表面には、メインスケール1の格
子2と同一ピッチPの格子4が形成されている。
【0017】メインスケール1の長手方向とインデック
ススケール3の格子4が平行となるように、メインスケ
ール1とインデックススケール3を所定間隔をおいて平
行に対面させる。図1(c)に示すように、インデック
ススケール3の格子4の方向又はメインスケール1の長
手方向に対し、これと直交する方向に延びる明暗の縞模
様(モアレ縞)が生じる。
【0018】図1において、インデックススケール3を
メインスケール1の長手方向(即ちインデックススケー
ル3の格子4と平行な方向)に沿って移動させると、モ
アレ縞はインデックススケール3の移動方向と平行に図
中左右方向に移動する。
【0019】インデックススケール3とメインスケール
1の相対移動量Pに対し、モアレ縞は相対移動方向と平
行にW移動する。θが鋭角であるから、WはPよりも大
きい。
【0020】メインスケール1の長手方向、又はインデ
ックススケール3の格子4の方向、又は両スケール1,
3の相対移動方向に沿って、複数個の検出部5が並べら
れている。本実施例の検出部は、位相が互いに90度異
なるA相信号とB相信号を出力する2個の光電変換素子
A,Bからなる検出部5aと、反転A相信号と反転B相
信号を出力する2個の光電変換素子a,bからなる検出
部5bからなる。図1(c)に示すように、本実施例で
は、モアレ縞の明暗に対応するように検出部5aと検出
部5bが交互に3個ずつ1列に並んでいる。
【0021】メインスケール1とインデックススケール
3が相対的に移動すれば、その移動方向に沿ってモアレ
縞の明暗が移動する。同方向に沿って並べられた複数個
の検出部5は、A相信号とB相信号からなる検出信号
と、反転A相信号と反転B相信号からなる検出信号を、
それぞれ複数の検出位置において検出する。
【0022】メインスケール1とインデックススケール
3の一部に何らかの損傷があったり、又はごみ等が付着
していても、本実施例の測長装置はこれら複数の検出信
号を処理することにより両スケールの相対的な移動方向
とその移動量を高い精度で安定的に検出することができ
る。
【0023】前記一実施例ではインデックススケール3
の格子4と移動方向が一致していたが、これは必ずしも
一致させる必要はない。メインスケール1とインデック
ススケール3の相対的な移動方向に対してメインスケー
ル1の格子2が鋭角をもって傾斜しており、このメイン
スケール1とインデックススケール3によって、メイン
スケール1の長手方向に沿って明暗の縞が並ぶモアレ縞
が形成されればよい。このように両スケール1,3を構
成すれば、両スケール1,3の相対移動方向に沿って複
数の検出部5(5a,5b)を並べられるので、前述の
ように安定した検出信号を得るために装置全体を大きく
することなく多数の検出部を配置することができる。
【0024】
【発明の効果】本発明の測長装置によれば、モアレ縞を
利用する光学的測長装置において、モアレ縞が両スケー
ルの相対移動方向と同方向に移動するようにし、検出部
を同方向に並べられるようにしたので、装置全体の寸法
(特にメインスケールの短辺方向の寸法)を大きくする
ことなく検出部を増やすことができ、これによって格子
の欠陥によって生じる検出波形のずれの悪影響を少なく
することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は本発明の一実施例におけるメインスケ
ール1、(b)は同インデックススケール3、(c)は
一実施例において得られるモアレ縞と、該モアレ縞に対
する検出部の配置例を示す図である。
【図2】従来の測長装置の概略の構造を示す正面図及び
側面図である。
【図3】従来の測長装置において得られるモアレ縞を示
す図である。
【図4】従来の測長装置のより具体的な構成を示す側面
図である。
【符号の説明】 1 メインスケール 2 メインスケールの格子 3 インデックススケール 4 インデックススケールの格子 5,5a,5b 検出部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも測定する長さ全長に渡って微
    細な格子を有するメインスケールと、メインスケールよ
    り長さが短くメインスケールの格子に対して傾斜して位
    置する微細な格子を有するインデックススケールと、メ
    インスケールとインデックススケールの相対的な移動に
    よって生ずる明暗の縞を検出して90度位相の異なる二
    つの信号を出力する検出部とを備えた測長装置におい
    て、前記メインスケールとインデックススケールの相対
    的な移動方向に対してメインスケールの格子が鋭角をも
    って傾斜しており、前記移動方向に沿って前記検出部が
    複数並設されていることを特徴とする測長装置。
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