JPH07307431A - リードフレームおよびそれを用いて構成された半導体装置 - Google Patents

リードフレームおよびそれを用いて構成された半導体装置

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JPH07307431A
JPH07307431A JP10035194A JP10035194A JPH07307431A JP H07307431 A JPH07307431 A JP H07307431A JP 10035194 A JP10035194 A JP 10035194A JP 10035194 A JP10035194 A JP 10035194A JP H07307431 A JPH07307431 A JP H07307431A
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JP
Japan
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lead frame
lead
insulating member
present
semiconductor device
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Pending
Application number
JP10035194A
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English (en)
Inventor
Fujiaki Nose
藤明 野瀬
Yasuki Tsutsumi
安己 堤
Eiji Yamaguchi
栄次 山口
Yuji Watanabe
祐二 渡辺
Kenji Sato
健司 佐藤
Mitsuhiro Sakuma
光廣 咲間
Atsushi Honda
厚 本多
Teruo Kitamura
輝夫 北村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Renesas Semiconductor Package and Test Solutions Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Hokkai Semiconductor Ltd
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Hokkai Semiconductor Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Hokkai Semiconductor Ltd
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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 樹脂モールド時において、リードフレームの
変形およびモールド樹脂流出を防止する。 【構成】 リードフレーム1のリードの表面側をハーフ
エッチングにより絶縁部材4が嵌合する形状に金属部を
除去し、溝5を形成する。その溝5に接着材を塗布し、
リードの表面と固定後の絶縁部材4の表面とが同一の高
さとなる絶縁部材4を嵌合、固定することにより、樹脂
モールド時のモールド用金型のクランプ圧力によるリー
ドの変形などを防止でき、この絶縁部材4がリードの幅
方向に介在することによるダムバー作用によってモール
ド樹脂の流出を防止する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、リードフレームおよび
それを用いて構成された半導体装置に関し、特に、多ピ
ンQFP形半導体装置用のリードやボンディングワイヤ
の変形を防止するリードフレームおよびそれを用いた半
導体装置に適用して有効な技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】たとえば、QFP形半導体装置において
は、小型化、高集積化および多機能化に伴い、多ピン
化、微細ピッチ化の傾向にある。
【0003】また、本発明者が検討したところによれ
ば、多ピン化および微細ピッチ化されたこの種のQFP
形半導体装置における樹脂モールド時のモールド樹脂流
出防止技術として、たとえば、図3(a),(b)に示す
ように、リードフレーム30に形成された複数のインナ
リード31およびアウタリード32の境目、すなわちパ
ッケージ本体の外周部に相当する位置に非導電性の樹脂
からなる樹脂ガイド33を成形し、ダムバーとしてい
る。
【0004】なお、このQFP形半導体装置における樹
脂モールド時のモールド樹脂流出防止技術について開示
されている文献の例として特開平5−90469号公報
がある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
なモールド樹脂流出防止技術では、次のような問題点が
あることが本発明者により見い出された。
【0006】すなわち、リードフレーム上に形成された
樹脂ガイドが、樹脂モールド時にモールド用金型により
クランプされることによって、樹脂ガイド部分のリード
フレームに圧力が掛かり、リードフレームやボンディン
グワイヤが変形および接触などの不良が発生する恐れが
生じてしまう。
【0007】本発明の目的は、樹脂モールド時に確実に
モールド樹脂流出を防止し、リードフレームおよびボン
ディングワイヤの変形や接触などの不良が生じないリー
ドフレームおよびそれを用いて構成された半導体装置を
提供することにある。
【0008】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0009】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0010】すなわち、本発明のリードフレームは、樹
脂モールド工程におけるモールド用金型に挟持されるリ
ードフレームのリード部分に相当する位置に、リードの
幅方向に延在されたテープ状または枠状の絶縁部材が嵌
合される溝を設けたものである。
【0011】また、本発明のリードフレームは、前記リ
ードフレームに設けられた溝の深さとモールド用金型に
挟持される絶縁部材の面に対して垂直方向の絶縁部材の
厚さとが同一なものである。
【0012】さらに、本発明のリードフレームは、前記
リードフレームに設けられた溝の深さが、リードフレー
ムの厚さ方向における厚さの1/2よりなるものであ
る。
【0013】また、本発明の半導体装置は、請求項1,
2または3記載のリードフレームを用いて構成されたも
のである。
【0014】
【作用】上記した本発明のリードフレームおよび半導体
装置によれば、リードフレームに形成された溝に嵌合さ
れたリードの幅方向に延在されたテープ状または枠状の
絶縁部材がモールド樹脂の流出を防止するダムバーとな
ることにより、樹脂モールド時におけるモールド樹脂の
流出を防止することができる。
【0015】また、上記した本発明のリードフレームお
よび半導体装置によれば、リードフレームに形成された
溝の深さとモールド用金型に挟持される絶縁部材の面に
対して垂直方向の絶縁部材の厚さとが同一であるので、
溝に嵌合した絶縁部材の表面がリードフレームの表面と
同じ位置となりリードフレーム上に突出しないので、樹
脂モールド時のモールド用金型のクランプ圧力によるリ
ードおよびタブ吊りリードの変形などが発生することな
く、モールド樹脂の流出を防止することができる。
【0016】さらに、上記した本発明のリードフレーム
および半導体装置によれば、リードフレームに形成する
溝の深さをリードフレームの厚さ方向の厚さの1/2と
することにより、リードフレームの強度を保ちながら、
樹脂モールド時のモールド用金型のクランプ圧力による
リードおよびタブ吊りリードの変形などが発生すること
なく、モールド樹脂の流出を防止することができる。
【0017】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。
【0018】図1(a)は、本発明の一実施例によるリ
ードフレームの要部平面図、(b)は、本発明の一実施
例によるリードフレームにおけるリード部分の要部断面
図、図2は、本発明の一実施例によるリードフレームに
おけるリード部分の要部拡大断面図である。
【0019】本実施例において、金属製のリボン構造よ
りなるリードフレーム1の中央部には、半導体チップ
(図示せず)を搭載するための平坦部であるタブ2が位
置しており、このタブ2はタブ吊りリード2aによって
固定されている。
【0020】また、タブ2の四辺の外周部には、複数の
リード3が形成され、このリード3はインナリード3a
とアウタリード3bとから構成されている。
【0021】さらに、インナリード3aとアウタリード
3bとの間には、たとえば、ポリイミドテープにより形
成されたテープ状の絶縁部材4がリード3に対して幅方
向に延在して設けられている。
【0022】また、この絶縁部材4は、図2に示すよう
に、インナリードとアウタリードとの境目に形成されて
いる溝5に嵌合するように設けられている。
【0023】この溝5の形成は、リードフレーム1のマ
スクパターンによるエッチング時にリード3の表面側を
ハーフエッチングにより絶縁部材4が嵌合する形状に金
属部を除去する。
【0024】そして、リードフレーム1に形成された溝
5に接着材(図示せず)を塗布し、絶縁部材4を嵌合さ
せ固定する。
【0025】また、これらリードフレーム1に形成され
た溝5の深さおよび絶縁部材4の厚さは、リード3の厚
さ方向における厚さLの1/2となるように形成されて
おり、溝5の深さおよび絶縁部材4の厚さは、それぞれ
L/2となる。
【0026】よって、リード3に形成されている溝5の
深さをL/2とすることによりリード3の強度が保た
れ、且つ、厚さL/2の絶縁部材4を溝5に嵌合、固定
することによって、リード3の表面と絶縁部材4の表面
とは同一の高さとなり、樹脂モールド時のモールド用金
型(図示せず)のクランプ圧力によるリードの変形など
を防止できる。
【0027】また、この絶縁部材4がリード3の幅方向
に介在することになり、ダムバーの作用をすることにな
る。
【0028】それによって、本実施例によれば、樹脂モ
ールド時にモールド用金型によるクランプ圧力が加わっ
ても、リード3に設けられた絶縁部材4がリード3と同
一面の高さとなっているので、インナリード3a、アウ
タリード3bおよびタブ吊りリード2aなどを変形させ
ずにモールド樹脂の流出を防止できる。
【0029】また、この絶縁部材4は、テープ状の絶縁
部材4以外にリードフレーム1の四辺に形成された溝5
に嵌合するように、予め枠状に形成された絶縁部材4を
固定するようにしてもよい。
【0030】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例
に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲
で種々変更可能であることはいうまでもない。
【0031】
【発明の効果】本願によって開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0032】(1)本発明によれば、リードフレームに
形成された溝に嵌合された絶縁部材がモールド樹脂の流
出を防止するダムバーとなることにより、樹脂モールド
時におけるモールド樹脂の流出を防止できる。
【0033】(2)また、本発明では、リードフレーム
に形成された溝に嵌合した絶縁部材の表面がリードフレ
ーム上に突出しないので、樹脂モールド時のモールド用
金型のクランプ圧力によるリードおよびタブ吊りリード
の変形などが発生することなく、モールド樹脂の流出を
防止できる。
【0034】(3)さらに、本発明においては、リード
フレームに形成する溝の深さをリードフレームの厚さ方
向の厚さの1/2にすることにより、リードフレームの
強度を保ちながら、樹脂モールド時のモールド用金型の
クランプ圧力によるリードおよびタブ吊りリードの変形
などが発生することなく、モールド樹脂の流出を防止で
きる。
【0035】(4)また、本発明によれば、上記(1)
〜(3)により、樹脂モールド工程に半導体装置の歩留
りおよび信頼性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は、本発明の一実施例によるリードフレ
ームの要部平面図、(b)は、本発明の一実施例による
リードフレームにおけるリード部分の要部断面図であ
る。
【図2】本発明の一実施例によるリードフレームにおけ
るリード部分の要部拡大断面図である。
【図3】(a)は、本発明者が検討したリードフレーム
の要部平面図、(b)は、本発明者が検討したリードフ
レームにおけるリード部分の要部断面図である。
【符号の説明】
1 リードフレーム 2 タブ 2a タブ吊りリード 3 リード 3a インナリード 3b アウタリード 4 絶縁部材 5 溝 30 リードフレーム 31 インナリード 32 アウタリード 33 樹脂ガイド
フロントページの続き (72)発明者 山口 栄次 東京都青梅市今井2326番地 株式会社日立 製作所デバイス開発センタ内 (72)発明者 渡辺 祐二 東京都青梅市今井2326番地 株式会社日立 製作所デバイス開発センタ内 (72)発明者 佐藤 健司 北海道亀田郡七飯町字中島145番地 日立 北海セミコンダクタ株式会社内 (72)発明者 咲間 光廣 東京都青梅市今井2326番地 株式会社日立 製作所デバイス開発センタ内 (72)発明者 本多 厚 東京都青梅市今井2326番地 株式会社日立 製作所デバイス開発センタ内 (72)発明者 北村 輝夫 東京都青梅市今井2326番地 株式会社日立 製作所デバイス開発センタ内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 樹脂モールド工程におけるモールド用金
    型に挟持されるリードフレームのリード部分に相当する
    位置に前記リードの幅方向に延在されたテープ状または
    枠状の絶縁部材が嵌合される溝を設けたことを特徴とす
    るリードフレーム。
  2. 【請求項2】 前記リードフレームに設けられた溝の深
    さと前記モールド用金型に挟持される前記絶縁部材の面
    に対して垂直方向の前記絶縁部材の厚さとが同一である
    ことを特徴とする請求項1記載のリードフレーム。
  3. 【請求項3】 前記リードフレームに設けられた溝の深
    さが、前記リードフレームの厚さ方向における厚さの1
    /2であることを特徴とする請求項1または2記載のリ
    ードフレーム。
  4. 【請求項4】 請求項1,2または3記載のリードフレ
    ームを用いて構成されたことを特徴とする半導体装置。
JP10035194A 1994-05-16 1994-05-16 リードフレームおよびそれを用いて構成された半導体装置 Pending JPH07307431A (ja)

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