JPH07301580A - ノイズレベルの測定方法 - Google Patents

ノイズレベルの測定方法

Info

Publication number
JPH07301580A
JPH07301580A JP7109086A JP10908695A JPH07301580A JP H07301580 A JPH07301580 A JP H07301580A JP 7109086 A JP7109086 A JP 7109086A JP 10908695 A JP10908695 A JP 10908695A JP H07301580 A JPH07301580 A JP H07301580A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
wavelength
noise level
noise
optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP7109086A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3549942B2 (ja
Inventor
Christian Hentschel
クリスチャン・ヘンチェル
Mueller Emmerich
エメリッチ・マーラー
Rueck Clemens
クレメンス・ルエック
Edgar Leckel
エドガー・レッケル
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HP Inc
Original Assignee
Hewlett Packard Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hewlett Packard Co filed Critical Hewlett Packard Co
Publication of JPH07301580A publication Critical patent/JPH07301580A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3549942B2 publication Critical patent/JP3549942B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
    • H04B10/073—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an out-of-service signal
    • H04B10/0731—Testing or characterisation of optical devices, e.g. amplifiers
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/0014—Monitoring arrangements not otherwise provided for
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/29—Repeaters
    • H04B10/291—Repeaters in which processing or amplification is carried out without conversion of the main signal from optical form
    • H04B10/2912—Repeaters in which processing or amplification is carried out without conversion of the main signal from optical form characterised by the medium used for amplification or processing
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S2301/00—Functional characteristics
    • H01S2301/02—ASE (amplified spontaneous emission), noise; Reduction thereof

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【目的】信号存在下でのノイズレベルの測定精度を高め
る 【構成】信号波長λｓｉｇｎａｌにおいて出力レベルを
複数の波長λにおいて測定する。次に信号波長をλｓｉ
ｇｎａｌとは異なる波長に離調して前記複数の波長λに
おいて出力レベルを測定する。離調前後の出力レベルの
差を波長λの関数として求める。離調時の波長λｓｉｇ
ｎａｌにおける出力レベルに前記関数の波長λｓｉｇｎ
ａｌにおける（補間）値を加算して信号波長λｓｉｇｎ
ａｌにおけるノイズレベルを決定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は信号の存在時のノイズレ
ベルの測定方法に関する。このような方法は、例えば光
増幅器のノイズ指数測定で用いられる。
【０００２】
【発明の背景】光増幅器は光送信回線網内で発生する損
失を補償するために光通信システムで使用される。特に
有利な種類の光学的増幅器はエルビウム・ドープ・ファ
イバ増幅器（ＥＤＦＡ）である。エルビウム・ドープ・
ファイバ増幅器及びその他の光増幅器の特性記述で重要
なパラメタは利得とノイズ指数である。ノイズ指数は種
々の設計の増幅器の性能を比較する上で、又、システム
設計上重要である。エルビウム・ドープ・ファイバ増幅
器で発生するノイズは光電子受信機での信号／ノイズ比
を低下させ、ひいては光通信システムのビット誤り率を
高める。ノイズ源の一つは、増倍自発放出（Amplified
spontaneous emission :ASE)と呼ばれるエルビウム
・ドープ・ファイバ増幅器で発生する非干渉性放射であ
る。
【０００３】光増幅器の利得の測定は比較的簡単である
が、ノイズ指数の測定には実質的な困難さが伴う。例え
ば、ノイズレベルは信号の存在時の光信号の波長（又は
周波数）にて確定されなければならない。通常信号とノ
イズは双方とも光の強度対波長のプロットとして光スペ
クトル分析器に表示される。信号の特定の波長でノイズ
と信号強度とが重なるので、その波長での実際のノイズ
強度を決定することは困難である。
【０００４】上記の問題点を解決する公知の方法は補間
法を利用することである。この方法では、信号の左と右
（最小と最大の波長）のノイズレベルが測定され、特定
の信号波長でのノイズレベルが補間によって決定され
る。この方法を改良した方法も公知である。すなわち、
信号波長の両側で特定の信号波長から種々の波長距離を
隔てて幾つかのサンプルを抽出し、スプライン近似又は
多項式近似によって特定の信号波長での値を補間する。
【０００５】エルビウム・ドープ・ファイバ増幅器の特
性記述に利用される光スペクトル分析器は、信号に加え
て増倍自発放出（ＡＳＥ）だけを表示することが望まれ
ている。実際には、ソースの自発放出（Spontaneous e
mission at source :ＳＳＥ）もエルビウム・ドープ
・ファイバ増幅器によって増幅され、ASEに付加され
る。SSEを除去する方法の一つは、ファイバ増幅器を挿
入する前にこれを測定し、表示された自発放出から(利
得×ソースの自発放出）を減ずる方法である。この方法
は“増倍自発放出補間／減算法”と呼ばれている。
【０００６】別の方法は偏光吸収方式である。この方法
は、増倍自発放出が全く偏光されず、一方、ソースの自
発放出が完全に偏光されるか、又は偏光子を使用して偏
光可能である、という事実に基づいている。次にソース
の偏光された自発放出を消滅させるために偏光制御器／
フィルタを使用して、偏光されない増倍自発放出（より
正確にはその半分）だけが通過するようにされる。この
方法の問題点は、エルビウム・ドープ・ファイバ増幅器
の偏光モード分散によって、特定の信号波長から離れた
波長でのソースの自発放出の抑制量が減少することにあ
る。波長差及び偏光モード分散の双方又は一方が大きい
ほど、抑制は不完全なものになる。それによって、偏光
消光方式を使用した場合、組合わせ：（ＡＳＥ＋利得×
ＳＳＥ）−信号：（信号波長での落ち込み））が光スペ
クトル分析器上で（場合によっては強く）波長に左右さ
れてしまう。
【０００７】特に、ノイズレベルが信号波長の近傍で強
く湾曲する場合があるので、公知のノイズレベル測定方
法は精度に限界がある。偏光消光方式では、それがこの
技術の生来の特性であるため、信号波長の近傍で強く湾
曲することがある。このような湾曲により、信号波長で
の実際のノイズ強度を決定することが困難になることは
明白である。光増幅器でノイズ指数を決定するための偏
光消光方式、及びその他のいくつかの方法はＤ．バーニ
ー、Ｃ．ヘンシェル、Ｊ．デュプレ著：”光ファイバ増
幅器”（光波シンポジウム、１９３３）に記載されてい
る。
【０００８】
【発明の目的】従って本発明の目的は、精度がより高
い、信号の存在時のノイズレベルの測定方法を提供する
ことにある。
【０００９】
【発明の概要】本発明の原理に従って、信号波長が例え
ば同調可能なレーザー光源を用いて離調され、それによ
って信号波長におけるノイズの真の波形への接近がなさ
れる。ノイズレベルの絶対値は離調の結果、変化するで
あろう。しかし、この作用は元のノイズ曲線と離調され
たノイズ曲線との曲線整合によって修正できる。
【００１０】本発明の一実施例では、ノイズレベルは離
調の前と後に複数の測定波長で光スペクトル分析器を使
用して測定され、そこから離調の前と後のノイズレベル
の差を示す差分関数が導出される。元の信号波長でのノ
イズレベルの測定と、この波長での差分関数の補間値と
から、真のノイズレベルが確定される。
【００１１】本発明の別の利点は次のとおりである。偏
光モード分散が大きい増幅器の場合、従来型の偏光消光
方式は、光スペクトル分析器に表示される前述の落ち込
みの最低点を決定するのに完全には適していない。本発
明の方法では、落ち込みは良好に表示される。落ち込み
の底ははソースの自発放出が最も強く抑制されるポイン
トを表す。
【００１２】
【実施例】図１はエルビウム・ドープ・ファイバ増幅器
１０のノイズレベルを測定する装置を示している。エル
ビウム・ドープ・ファイバ増幅器１０は光ファイバ３５
及び３６を介して増幅器試験セット１１に接続されてい
る。ファイバ３５及び３６のエルビウム・ドープ・ファ
イバ増幅器１０への接続、及び増幅器試験セット１１へ
の接続はそれぞれ光コネクタ４０，４１，４２及び４３
によって行われる。増幅器試験セット１１は光ファイバ
２０によって同調レーザー光源１４に接続されている。
同調レーザー光源１４は干渉性光ビームを放射し、その
波長は所望の値に調整できる。このような同調レーザー
光源の例には、ヒューレット・パッカード社のＨＰ８１
６８Ａ同調レーザー光源がある。
【００１３】増幅器試験セット１１は第１光カップラ１
５を備えており、このカップラが増幅器試験セット１１
に入射するレーザー光線の一部を出力計２２に導く。分
岐したレーザー光線は光ファイバ２１を経て出力計２２
に送られる。増幅器試験セット１１は更に第２光カップ
ラ１６を備えており、この第２光カップラは第１光カッ
プラ１５を透過し、次にエルビウム・ドープ・ファイバ
増幅器１０を透過したレーザー光線の一部を出力端子２
３に導く。エルビウム・ドープ・ファイバ増幅器１０の
利得を測定するときは出力端子２３が出力計に接続され
る。この目的のために例えば出力計２２を使用できる。
第１光カップラ１５及び第２光カップラ１６のそれぞれ
から分岐した光強度を比較することによって、増幅器の
利得が決定される。実際の例では、第１光カップラ１５
に入射した光強度の約１％、及び第２光カップラ１６に
入射した光強度の約９５％が分岐される。
【００１４】増幅器試験セット１１は更に、同調レーザ
ー光源１４からの信号と自発放出の一部を抑制する偏光
制御器／フィルタ１２を備えている。上記に概略を述べ
たように、偏光制御器／フィルタはソースの自発放出を
抑制するものと思われる。ソースの自発放出は信号と同
じ偏光状態にあるので、この偏光制御器／フィルタは信
号をも抑制する。しかし、信号の抑制は、信号波長で直
接測定できるほど強くはない。偏光制御器／フィルタ１
２からの光出力信号は光ファイバ２４を経て光スペクト
ル分析器１３に送られる。光スペクトル分析器は光強度
の対波長（又は周波数）特性を表示する。実際の例で
は、光スペクトル分析器１３はヒューレット・パッカー
ド社のＨＰ７１４５０光スペクトル分析器を用いること
ができる。
【００１５】エルビウム・ドープ・ファイバ増幅器１０
からの光信号を偏光制御器／フィルタ１２を通過させる
代わりに、光スペクトル分析器１３に直接送ることがで
きる。そのために、光伝送線１９を介して偏光制御器／
フィルタ１２をバイパスできるようにする切換え装置１
７，１８が備えられている。
【００１６】次に、ノイズレベルを測定する方法の個々
のステップを図２を参照して説明する。図２は光スペク
トル分析器１３での曲線を表示したグラフである。水平
軸は光信号の波長であり、垂直軸は光強度である。上部
曲線５０は波長λsignalでの信号ピーク５１を有してい
る。波長λsignalでのノイズレベルが決定される。
【００１７】本発明の第１ステップでは、所定の測定波
長での曲線５０上のいくつかのノイズ・サンプルが測定
される。これらのノイズ・サンプルには参照符号６０
ａ，６１ａ，６２ａ，６４ａ，６５ａ，６６ａが付され
ている。第２ステップでは、信号ピーク５１を含む曲線
全体がある波長だけ離調される。この離調は同調レーザ
ー光源１４の出力信号の波長を対応して変化させること
によって行われる。実際の実施例では、信号は約１−２
ナノメーターだけ離調される。光スペクトル分析器１３
に表示される曲線は信号ピーク５３を有する曲線５２で
ある。この曲線は信号ピーク５１を有する元の曲線５０
に対してある波長間隔だけシフトされている。次のステ
ップでは、離調された曲線５２でのノイズ・サンプル
が、元の曲線５０のノイズ・サンプルと同じ測定波長で
測定される。離調された曲線のノイズ・サンプルには、
参照符号６０ｂ，６１ｂ，６２ｂ，６４ｂ，６５ｂ，６
６ｂが付されている。更に、元の信号ピーク５１の波長
λsignalでのノイズ・サンプル６３が測定される。ノイ
ズ・サンプル６３の数値はＮ* （λsignal）で示すこと
にする。
【００１８】次のステップでは、差分関数Δ（λ）が決
定される。この差分関数は元の曲線５０で抽出されたノ
イズ・サンプルと、離調された曲線５２で抽出されたノ
イズ・サンプルの同一波長における差分値を波長の関数
としたものに相当する。次に、関数Δ（λ）の値が元の
信号ピーク５１の波長λsignalで決定される。この決定
は補間又はスプライン近似、又は、推奨実施例でのよう
に多項式近似によって行われる。
【００１９】最後に、波長λsignalでの差分関数値をノ
イズ・サンプル６３の値に加算することによって、波長
λsignalでの正しいノイズ・レベルＮ（λsignal）が確
定される。 Ｎ（λsignal）＝Δ（λsigna
l）＋Ｎ* （λsignal）
【００２０】上記のプロセスは自動化することができ
る。すなわち、元の曲線と離調された曲線でのノイズ・
サンプルの測定並びに必要な計算はコンピュータ制御の
もとで自動的に行われる。
【００２１】
【発明の効果】上記の本発明の１実施例によっても、補
間法を利用した従来の方法と比較して精度が大幅に向上
する。精度の向上はソースの自発的放出量、ファイバ増
幅器の偏光モード拡散、及び飽和度によって左右され
る。実際の例では、０．１から０．２ｄＢの向上が可能
である。
【００２２】本発明の方法は更に、増倍された自発放出
（ＡＳＥ）補間／減算方式と組み合わせて利用すること
もできる。何故ならば、波長に左右されるＡＳＥの強い
曲率が、エルビウム・ドープ・ファイバ増幅器の物理性
に起因する典型的な問題点であるからである。ＡＳＥ補
間／減算方式では偏光制御器／フィルタは必要ない。
【００２３】本発明の方法は光増幅器でのノイズ測定に
特に適しているが、この領域に限定されるものではな
く、信号の存在時のノイズを測定する必要がある別の用
途にも利用できることが理解されよう。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明を実施する装置の一実施例である。
【図２】本発明の原理を示した２つの光信号曲線のグラ
フである。
【符号の説明】
１０：エルビウム・ドープ・ファイバ増幅器 １１：増幅器試験セット１１ １２：偏光制御器／フィルタ １３：光スペクトル分析器 １４：同調レーザー光源 １５：第１光カップラ １６：第２光カップラ １７、１８：切換え装置 ２２：出力計
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 クレメンス・ルエック ドイツ連邦共和国ボンドーフ、71149 ホ ッチドーファーシュトラッセ ９ (72)発明者 エドガー・レッケル ドイツ連邦共和国ジェッティンゲン、 71131 ブランネンシュトラッセ 43

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】ある信号波長（λsignal）での信号（５
    １）中のノイズレベルの測定方法であって、 ａ）前記信号（５１）を前記信号波長とは異なる第２の
    信号波長に離調するステップと、 ｂ）前記離調の前後における前記ノイズレベルの差に対
    応する差分関数（Δ（λ））を波長の関数として決定す
    るステップと、 ｃ）前記ノイズレベルの前記信号波長（λsignal）にお
    ける測定値（Ｎ* （λsignal））を測定するステップ
    と、 ｄ）前記信号波長（λsignal）での前記差分関数の値を
    前記測定値（Ｎ* （λsignal））に加算するステップ、
    とからなる測定方法。
  2. 【請求項２】前記信号波長（λsignal）での前記差分関
    数の値が補間又は近似法によって決定されることを特徴
    とする請求項１に記載の方法。
  3. 【請求項３】前記差分関数を決定するステップ（ステッ
    プｂ）が、 ｂ１）前記離調の前に複数の測定波長で光の強度の変動
    を表す曲線のノイズレベル（６０ａ，６１ａ，６２ａ，
    ６４ａ，６５ａ，６６ａ）を測定するステップと、 ｂ２）前記離調の後で前記測定波長のそれぞれにおいて
    光の強度の変動を表す曲線のノイズレベル（６０ｂ，６
    １ｂ，６２ｂ，６４ｂ，６５ｂ，６６ｂ）を測定するス
    テップとからなることを特徴とする請求項１又は２に記
    載の方法。
  4. 【請求項４】例えばエルビウム・ドープしたファイバ増
    幅器のような光増幅器でのノイズレベルを測定するため
    の前記請求項１あるいは２、３、のいずれかに記載の方
    法。
JP10908695A 1994-04-11 1995-04-10 ノイズレベルの測定方法およびノイズレベルを測定するための装置 Expired - Fee Related JP3549942B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE94105533.7 1994-04-11
EP94105533A EP0678988B1 (en) 1994-04-11 1994-04-11 Method of measuring the noise level in the presence of a signal

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07301580A true JPH07301580A (ja) 1995-11-14
JP3549942B2 JP3549942B2 (ja) 2004-08-04

Family

ID=8215848

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10908695A Expired - Fee Related JP3549942B2 (ja) 1994-04-11 1995-04-10 ノイズレベルの測定方法およびノイズレベルを測定するための装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5696707A (ja)
EP (1) EP0678988B1 (ja)
JP (1) JP3549942B2 (ja)
DE (1) DE69416396T2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010093719A (ja) * 2008-10-10 2010-04-22 Nec Commun Syst Ltd 光信号受信機、光伝送装置、光信号の異常検出方法

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5825521A (en) * 1995-07-24 1998-10-20 Lucent Technologies Inc. Method of determining inter-symbol interference in transmission systems
JP3216519B2 (ja) * 1996-03-27 2001-10-09 安藤電気株式会社 光ファイバ増幅器の測定装置の較正方法
US6016213A (en) * 1996-07-08 2000-01-18 Ditech Corporation Method and apparatus for optical amplifier gain and noise figure measurement
EP0887954B1 (en) 1997-06-26 2000-09-13 Hewlett-Packard Company Noise figure measurement of optical amplifiers by power substitution
US5969834A (en) * 1997-09-03 1999-10-19 Ditech Corporation Method and apparatus for monitoring wavelength multiplexed optical signals
US6069718A (en) * 1997-09-19 2000-05-30 Nortel Networks Corporation Distortion penalty measurement procedure in optical systems using noise loading
EP0905490B1 (en) * 1998-04-21 2001-01-17 Hewlett-Packard Company Optical component tester
SE512370C2 (sv) * 1998-07-03 2000-03-06 Ericsson Telefon Ab L M Anordning och förfarande för att uppskatta total bruseffekt
JP3779502B2 (ja) * 1999-08-12 2006-05-31 富士通株式会社 光増幅装置、光送信装置、光伝送システム、光増幅方法および光入射方法
US6607689B1 (en) * 2000-08-29 2003-08-19 Micron Technology, Inc. Layer thickness control for stereolithography utilizing variable liquid elevation and laser focal length
JP2002168691A (ja) * 2000-11-28 2002-06-14 Ando Electric Co Ltd 雑音指数測定装置、及び、雑音指数測定方法
US6751012B1 (en) * 2000-12-14 2004-06-15 Tyco Telecommunications (Us) Inc. Method and apparatus for measuring noise figure in optical amplifiers
US6570894B2 (en) 2001-01-30 2003-05-27 Tektronix, Inc. Real-time wavelength calibration for swept lasers
US6671429B2 (en) * 2001-10-03 2003-12-30 Dorsal Networks, Inc. Balanced coupler for radiation sources
JP4301822B2 (ja) * 2003-01-24 2009-07-22 富士通株式会社 偏波モード分散補償機能を有する光増幅器
US20100174392A1 (en) * 2003-06-10 2010-07-08 Fink Jeffrey E Optimal dimensional and mechanical properties of laser sintered hardware by thermal analysis and parameter optimization
US20040254665A1 (en) * 2003-06-10 2004-12-16 Fink Jeffrey E. Optimal dimensional and mechanical properties of laser sintered hardware by thermal analysis and parameter optimization
US20050068612A1 (en) * 2003-09-30 2005-03-31 Gordon Wilson Pre-programmable optical filtering / amplifying method and apparatus
DE202004021208U1 (de) 2003-10-15 2007-04-12 Exfo Electro Optical Eng Inc Vorrichtung zum Testen optischer Netzwerke
FR2864386B1 (fr) * 2003-12-23 2006-04-21 Cit Alcatel Procede de gestion d'un reseau de transmission optique
WO2006096668A2 (en) * 2005-03-07 2006-09-14 Nettest North America, Inc. Passive optical network loss test apparatus and method of use thereof
US7508577B2 (en) * 2005-03-29 2009-03-24 Alcatel-Lucent Usa Inc. Method and system for suppressing ASE noise
US7457032B2 (en) * 2005-09-22 2008-11-25 Bti Photonic Systems Inc. Arrangement, system, and method for accurate power measurements using an optical performance monitor (OPM)
US8045861B1 (en) * 2006-11-17 2011-10-25 Hrl Laboratories, Llc Method and system for spectral suppression of noise in a communication signal
JP5035396B2 (ja) * 2009-11-10 2012-09-26 横河電機株式会社 スペクトラムデータ補正装置および方法
EP2717392A4 (en) * 2011-05-24 2015-03-11 Megaopto Co Ltd SOURCE OF PULSED LIGHT
US8873135B2 (en) * 2012-12-21 2014-10-28 Ciena Corporation Extended dynamic range optical amplifier
US10270554B2 (en) 2015-09-22 2019-04-23 Exfo Inc. Optical power measurement in a passive optical network
US9831948B2 (en) 2015-09-22 2017-11-28 Exfo Inc. Optical power measurement in a passive optical network

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1237135B (it) * 1989-10-30 1993-05-24 Pirelli Cavi Spa Gruppo di amplificazione ottico a basso rumore, con riflessione della potenza di pompaggio.
EP0515443B1 (en) * 1990-02-15 1995-06-07 BRITISH TELECOMMUNICATIONS public limited company Optical test apparatus comprising an OTDR
US5095281A (en) * 1990-11-13 1992-03-10 At&T Bell Laboratories Method and apparatus for determining the absolute noise figure of optical amplifiers
JP3018606B2 (ja) * 1991-06-20 2000-03-13 安藤電気株式会社 光パルス試験器
JPH05133841A (ja) * 1991-11-15 1993-05-28 Sumitomo Electric Ind Ltd 雑音指数の測定方法及び装置
JP3135999B2 (ja) * 1992-09-18 2001-02-19 リーダー電子株式会社 Ｃｎ比測定装置
US5340979A (en) * 1992-09-25 1994-08-23 Hewlett-Packard Company Technique for determining the amplified spontaneous emission noise of an optical circuit in the presence of an optical signal
US5471334A (en) * 1992-10-21 1995-11-28 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Method and apparatus for monitoring noise figure of optical amplifier
DE4305838A1 (de) * 1993-02-26 1994-09-01 Sel Alcatel Ag Mehrstufiger faseroptischer Verstärker
US5392153A (en) * 1993-08-31 1995-02-21 At&T Corp. Optical amplifier
US5430572A (en) * 1993-09-30 1995-07-04 At&T Corp. High power, high gain, low noise, two-stage optical amplifier
US5363234A (en) * 1993-10-14 1994-11-08 Corning Incorporated Amplifier having pump fiber filter
JP3203611B2 (ja) * 1994-02-14 2001-08-27 日本電信電話株式会社 雑音指数測定方法および装置
US5436759A (en) * 1994-06-14 1995-07-25 The Regents Of The University Of California Cross-talk free, low-noise optical amplifier
JP3531761B2 (ja) * 1994-10-14 2004-05-31 安藤電気株式会社 光増幅器雑音指数測定方法および装置
JPH08122208A (ja) * 1994-10-24 1996-05-17 Ando Electric Co Ltd 光増幅器の雑音指数測定装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010093719A (ja) * 2008-10-10 2010-04-22 Nec Commun Syst Ltd 光信号受信機、光伝送装置、光信号の異常検出方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP0678988B1 (en) 1999-02-03
US5696707A (en) 1997-12-09
DE69416396D1 (de) 1999-03-18
EP0678988A1 (en) 1995-10-25
DE69416396T2 (de) 1999-06-10
JP3549942B2 (ja) 2004-08-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH07301580A (ja) ノイズレベルの測定方法
Baney et al. Theory and measurement techniques for the noise figure of optical amplifiers
US5471334A (en) Method and apparatus for monitoring noise figure of optical amplifier
EP0586103B1 (en) Measurement of a parameter of an optical amplifier
CA2379434A1 (en) Method and apparatus for measuring raman gain, method and apparatus for controlling raman gain, and raman amplifier
US6016213A (en) Method and apparatus for optical amplifier gain and noise figure measurement
JP3257345B2 (ja) 光中継器の動作余裕測定装置および動作余裕測定方法
Movassaghi et al. Noise figure of erbium-doped fiber amplifiers in saturated operation
JPH04241328A (ja) 光増幅装置
US5706126A (en) Optical amplifier
US7012697B2 (en) Heterodyne based optical spectrum analysis with controlled optical attenuation
Fatome et al. Measurement of nonlinear and chromatic dispersion parameters of optical fibers using modulation instability
US20020089665A1 (en) Noise figure-measuring device and noise figure-measuring method
Śliwczyński et al. Modeling and optimization of bidirectional fiber-optic links for time and frequency transfer
US5896221A (en) Optical amplifying system having multiple branching units and method therefor
US20030147126A1 (en) Method and device for regulating a medium with an amplifying effect, especially a fiber optical waveguide
EP1702203B1 (en) Method, system and device for measuring the polarisation mode dispersion of an optical fibre
JPH08111664A (ja) 光増幅器の特性監視方法及び光増幅器の特性監視回路
JP4164070B2 (ja) 光ファイバの長手方向の偏波モード分散分布測定方法及び装置
JPH06132905A (ja) 線形中継器の雑音指数監視装置
Movassaghi Characterization and modeling of erbium-doped fiber amplifiers and impact of fiber dispersion on semiconductor laser noise
JP3392284B2 (ja) 光増幅器の評価方法
Bian et al. A novel Michelson interferometer of high interference degree with the application of bi‐direction erbium‐doped fiber amplifier
Jungerman et al. EDFA Noise Figure Standard
JP2000216458A (ja) 光ファイバ増幅器の増幅特性測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040330

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040402

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040422

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090430

Year of fee payment: 5

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees