JPH06132905A - 線形中継器の雑音指数監視装置 - Google Patents

線形中継器の雑音指数監視装置

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JPH06132905A
JPH06132905A JP28289092A JP28289092A JPH06132905A JP H06132905 A JPH06132905 A JP H06132905A JP 28289092 A JP28289092 A JP 28289092A JP 28289092 A JP28289092 A JP 28289092A JP H06132905 A JPH06132905 A JP H06132905A
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ase
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Koji Masuda
浩次 増田
Kazuo Aida
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光伝送システムで多段接続される線形中継器
の雑音指数の測定に用いる雑音指数監視装置に関し、簡
単な構成で線形中継器の雑音指数の測定を可能にするこ
とを目的とする。 【構成】 ASE光強度検出手段として、ASE光除去
用狭帯域光フィルタの入力光の一部を分岐する分波器
と、透過中心波長が信号光波長からずれて設定され、分
波器で分岐された光から光増幅器で発生したASE光を
切り出すASE光切り出し用狭帯域光フィルタと、AS
E光切り出し用狭帯域光フィルタから出力されるASE
光の強度を測定するASE光強度検出器とを備え、利得
検出手段で測定された利得とASE光強度とを用いて線
形中継器の雑音指数を算出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、線形中継器を多段に接
続した光伝送システムにおいて、線形中継器の雑音指数
の測定に用いる雑音指数監視装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図6は、線形中継器の基本構成を示すブ
ロック図である。なお、図6(a) は1段増幅構成の場合
であり、図6(b) は2段増幅構成の場合である。
【0003】図において、1段増幅構成の線形中継器3
0は、希土類添加光ファイバ増幅器や半導体レーザ増幅
器で構成される光増幅器31aと、光増幅器で発生する
自然放出光(本明細書ではASE光という)を除去する
狭帯域光フィルタ32とにより構成される。なお、狭帯
域光フィルタ32の透過中心波長λc,r は入力信号光の
波長λs に設定される。2段増幅構成の線形中継器30
は、狭帯域光フィルタ32の出力段にさらに光増幅器3
1bが配置される。
【0004】図7は、線形中継器を多段に接続した光伝
送システムの構成例を示すブロック図である。図におい
て、光送信器41から送出された信号光は、最初の光フ
ァイバ伝送路420 で減衰(損失L0 )して初段の線形
中継器301 に入力され、そこで増幅(利得G1 )され
て次の光ファイバ伝送路421 に送出される。以下同様
にして伝送された信号光は、n段目の線形中継器30n
および光ファイバ伝送路42nを介して光受信器43に
受信される。
【0005】このとき、2段目以降の線形中継器302
〜30n では、線形中継器の各狭帯域光フィルタの透過
帯域内で伝播してきたASE光についても増幅を行い、
ASE光が順次累積される。なお、線形中継器で発生し
たASE光を「発生ASE光」といい、信号光とともに
線形中継器に入力されるASE光を発生ASE光と区別
するために「伝播ASE光」という。
【0006】図8は、線形中継器の雑音指数監視装置の
従来構成例を示すブロック図である。図において、従来
の雑音指数監視装置は、線形中継器30の前段と後段に
またがる形で配置される利得検出部50と、ASE光強
度検出部60とにより構成される。
【0007】利得検出部50は、線形中継器30に入力
される光の一部を分岐する分波器51a,52aと、分
波器52aで分岐された光の強度を検出する受光器53
aと、線形中継器30から出力される光の一部を分岐す
る分波器51b,52bと、分波器52bで分岐された
光の強度を検出する受光器53bとにより構成される。
【0008】ASE光強度検出部60の前段は、利得検
出部50と共用する分波器51a,52aと、分波器5
2aで分岐された信号光の偏波状態を検出する信号光偏
波検出器61aと、信号光を所定の偏光方向を有する直
線偏光に変換する偏波制御器62aと、偏波制御器62
aで信号光の偏光方向を後段の偏光子で除去する方向に
設定する駆動器63aと、偏波制御器62aの出力光か
ら直線偏光となった信号光を除去する偏光子64aと、
偏光子64aの出力光からASE光を切り出す狭帯域光
フィルタ65aと、狭帯域光フィルタ65aで切り出さ
れたASE光の強度を検出する受光器66aとにより構
成される。ASE光強度検出部60の後段も同様に構成
される。
【0009】なお、偏光子64a,64bの出力には、
特定の偏光方向を持たないASE光が強度を半減されて
取り出される。また、狭帯域光フィルタ65a,65b
の透過中心波長λc,c は入力信号光の波長λs に設定さ
れる。
【0010】ここで、分波器51aの入力点(図8中A
点)における信号光および伝播ASE光のスペクトルを
図9(a) に示す。伝播ASE光は、前段の線形中継器3
0の狭帯域光フィルタ32の透過周波数幅に制限されて
いる。分波器51aでは、その入力光の一部を分岐し、
残りの大部分を線形中継器30に送出する。線形中継器
30では、発生ASE光を狭帯域光フィルタ32で帯域
制限し、その透過帯域以外の発生ASE光を除去する。
なお、狭帯域光フィルタ32の透過中心波長は信号光の
波長に設定されているので、増幅された信号光および伝
播ASE光はそのまま透過する。
【0011】線形中継器30が1段増幅構成の場合に
は、信号光と狭帯域光フィルタ32の透過周波数幅中に
ある伝播ASE光および発生ASE光が線形中継器30
の出力となり、線形中継器30が2段増幅構成の場合に
は、それらが光増幅器31bでさらに増幅されて線形中
継器30の出力となって分波器51bに送出される。分
波器51bの入力点(図8中D点)における信号光,伝
播ASE光および発生ASE光のスペクトルを図9(b)
に示す。分波器51bでは、その入力光の一部を分岐
し、残りの大部分を光ファイバ伝送路に送出する。
【0012】分波器51aで分岐された光は、分波器5
2aでさらに2分され、その一方が受光器53aに受光
される。受光器53aで検出される受光強度は、A点の
スペクトル(図9(a))からもわかるように、2つの分波
器51a,52aを介して到達した信号光の強度であ
る。したがって、この受光強度にA点から受光器53a
までの信号光損失分を加えることにより、線形中継器3
0の入力端における入力信号光強度Ps,inを求めること
ができる。
【0013】また、分波器51bで分岐された光は、分
波器52bでさらに2分され、その一方が受光器53b
に受光される。受光器53bで検出される受光強度は、
D点のスペクトル(図9(b))からもわかるように、2つ
の分波器51b,52bを介して到達した信号光の強度
である。したがって、この受光強度にD点から受光器5
3bまでの信号光損失分を加えることにより、線形中継
器30の出力端における出力信号光強度Ps,out を求め
ることができる。
【0014】分波器52aで分岐した他方の光は、信号
光偏波検出器61aで信号光の偏波状態が検出され、駆
動器63aおよび偏波制御器62aの制御によって直線
偏光となって偏光子64aに入射される。この直線偏光
の偏光方向は偏光子64aで除去される方向にあり、信
号光はほぼ偏光子64aで除去される。特定の偏光方向
をもたない伝播ASE光は、偏光子64aで強度が半減
され、さらに狭帯域光フィルタ65aで透過周波数幅Δ
νで切り出されて受光器66aに受光される。この受光
強度は、分波器51a〜狭帯域光フィルタ65aを通過
してきた伝播ASE光強度である。したがって、この受
光強度にA点から受光器66aまでの通過損失分を加え
ることにより、線形中継器30の入力端における周波数
幅Δν中の伝播ASE光強度PASE,inを求めることがで
きる。
【0015】また、分波器52bで分岐した他方の光
は、同様にして偏光子64bからASE光の強度が半減
されて取り出され、さらに狭帯域光フィルタ65bで透
過周波数幅Δνで切り出されて受光器66bに受光され
る。受光器66bに受光する光(図8中E点での光)の
スペクトルを図9(c) に示す。このように、受光器66
bで検出される受光強度は、分波器51b〜狭帯域光フ
ィルタ65bを通過してきた伝播ASE光強度および発
生ASE光強度である。したがって、この受光強度にD
点から受光器66bまでの通過損失分を加えることによ
り、線形中継器30の出力端における周波数幅Δν中の
全ASE光強度PASE,tot を求めることができる。
【0016】なお、ここでは簡単のために、伝送路中に
ある分波器や、図では省略されている光アイソレータな
どの光学部品での信号光過剰損失をゼロとする。さて、
線形中継器30の雑音指数Fは、ASE光の平均周波数
をν、線形中継器30で発生した周波数幅Δν中の発生
ASE光強度をPASE 、線形中継器30の利得をG、プ
ランク定数をhとすると、 F=PASE /(h・ν・Δν・G) …(1) と表すことができる。
【0017】この利得Gは、受光器53aの受光強度か
ら求まる線形中継器30の入力端における入力信号光強
度Ps,inと、受光器53bの受光強度から求まる線形中
継器30の出力端における出力信号光強度Ps,out とを
用いて G=Ps,out /Ps,in …(2) で求めることができる。
【0018】また、発生ASE光強度PASE は、線形中
継器30の出力端における周波数幅Δν中の伝播ASE
光強度をPASE,propとすると、受光器65bの受光強度
から求まる線形中継器30の出力端における周波数幅Δ
ν中の全ASE光強度PASE,tot との関係から PASE =PASE,tot −PASE,prop …(3) となる。
【0019】なお、線形中継器30の出力端における周
波数幅Δν中の伝播ASE光強度P ASE,propは、それの
みを直接検出することはできないので、線形中継器30
の利得Gと、受光器65aの受光強度から求まる線形中
継器30の入力端における周波数幅Δν中の伝播ASE
光強度PASE,inとを用いて、 PASE,prop=G・PASE,in …(4) で求めることができる。この(4) 式で得られたPASE,pr
opを(3) 式に代入することにより、線形中継器30の発
生ASE光強度PASE を求めることができる。さらに、
(2) 式および(3) 式で得られたGおよびPASE を(1) 式
に代入することにより、線形中継器30の雑音指数Fを
算出することができる。
【0020】
【発明が解決しようとする課題】従来の雑音指数監視装
置は、上述したように利得検出部50とASE光強度検
出部60とを用いて、線形中継器30の入力信号光強度
Ps,inおよび出力信号光強度Ps,out と、伝播ASE光
強度PASE,inと、線形中継器30から出力される全AS
E光強度PASE,tot とを測定し、線形中継器30の利得
Gおよび線形中継器30における発生ASE光強度P
ASE を求め、線形中継器30の雑音指数Fを算出する構
成になっていた。このように、従来の雑音指数監視装置
では、線形中継器30の前段と後段にそれぞれ同様の検
出部が必要であり、大がかりな装置構成で高価なものに
なっていた。
【0021】本発明は、簡単な構成で線形中継器の雑音
指数を測定することができる線形中継器の雑音指数監視
装置を提供することを目的とする。
【0022】
【課題を解決するための手段】線形中継器は、入力され
る信号光を増幅する少なくとも1つの光増幅器と、透過
中心波長が信号光波長に一致し、光増幅器で発生したA
SE光を除去するASE光除去用狭帯域光フィルタとに
より構成される。
【0023】この線形中継器の雑音指数監視装置は、線
形中継器の利得を測定する利得検出手段と、光増幅器で
発生したASE光強度を測定するASE光強度検出手段
とを備え、測定された利得とASE光強度とを用いて線
形中継器の雑音指数を算出する。
【0024】本発明では、ASE光強度検出手段とし
て、ASE光除去用狭帯域光フィルタの入力光の一部を
分岐する分波器と、透過中心波長が信号光波長からずれ
て設定され、分波器で分岐された光から光増幅器で発生
したASE光を切り出すASE光切り出し用狭帯域光フ
ィルタと、ASE光切り出し用狭帯域光フィルタから出
力されるASE光の強度を測定するASE光強度検出器
とを備える。
【0025】
【作用】本発明の雑音指数監視装置の基本構成による作
用について図1を参照して説明する。
【0026】図1において、本発明の雑音指数監視装置
は、線形中継器30の前段と、線形中継器の光増幅器3
1aと狭帯域光フィルタ32との間に割り込む形で配置
される利得検出部10およびASE光強度検出部20に
より構成される。
【0027】なお、図1に示す線形中継器30は2段増
幅構成のものであるが、1段増幅構成であっても同様
に、ASE光強度検出部20は線形中継器30の光増幅
器31aと狭帯域光フィルタ32との間に挿入される。
また、線形中継器30が3段以上の増幅構成の場合でも
同様に扱うことができ、例えばASE光強度検出部20
を最終段の狭帯域光フィルタの前段に挿入すれば1段増
幅構成と同様に扱うことができる。
【0028】利得検出部10は、線形中継器30に入力
される光の一部を分岐する分波器11と、分波器11で
分岐された光の強度を検出する受光器12と、線形中継
器30の光増幅器31aから出力される光の一部を分岐
する分波器13,14と、分波器14で分岐された光か
ら光増幅器31aで発生したASE光を除去する狭帯域
光フィルタ15と、狭帯域光フィルタ15から出力され
る光の強度を検出する受光器16とにより構成される。
なお、狭帯域光フィルタ15は、線形中継器30の狭帯
域光フィルタ32と同様に透過中心波長λc,r が入力信
号光の波長λsに設定される(λc,r =λs )。
【0029】ASE光強度検出部20は、利得検出部1
0と共用する分波器13,14と、分波器14を通過し
た光から光増幅器31aで発生したASE光を切り出す
狭帯域光フィルタ21と、狭帯域光フィルタ21から出
力される光の強度を検出する受光器22とにより構成さ
れる。なお、狭帯域光フィルタ21は、透過中心波長λ
c,c が入力信号光の波長λs からずらして設定される
(λc,c ≠λs )。
【0030】なお、以下の説明では簡単のために、伝送
路中にある分波器や、図では省略されている光アイソレ
ータなどの光学部品での信号光過剰損失をゼロとする。
ここで、分波器11の入力点(図1中A点)における信
号光および伝播ASE光のスペクトルを図2(a) に示
す。伝播ASE光は、前段の線形中継器30の狭帯域光
フィルタ32の透過周波数幅に制限されている。分波器
11では、その入力光の一部を分岐して受光器12に送
出し、残りの大部分を線形中継器30に送出する。受光
器12で検出される受光強度は、A点のスペクトル(図
2(a))からもわかるように、分波器11を介して到達し
た信号光の強度である。したがって、この受光強度にA
点から受光器12までの信号光損失分を加えることによ
り、線形中継器30の入力端における入力信号光強度P
s,inを求めることができる。
【0031】線形中継器30に入力された信号光と伝播
ASE光は光増幅器31aで増幅され、さらに光増幅器
31aで発生したASE光が加わって分波器13に送出
される。分波器13の入力点(図1中B点)における信
号光,伝播ASE光および発生ASE光のスペクトルを
図2(b) に示す。分波器13では、入力光の一部を分岐
して分波器14に送出し、残りの大部分をASE光を除
去する狭帯域光フィルタ32に送出する。狭帯域光フィ
ルタ32の出力は、さらに光増幅器31bを介して光フ
ァイバ伝送路に送出される。なお、線形中継器30が1
段増幅構成の場合には、狭帯域光フィルタ32の出力が
光ファイバ伝送路に送出される。
【0032】分波器14で分岐された光は、ASE光を
除去する狭帯域光フィルタ15を介して受光器16に受
光される。受光器16で検出される受光強度は、B点の
スペクトル(図2(b))からもわかるように、2つの分波
器13,14を介して到達した信号光の強度である。し
たがって、この受光強度にB点から受光器16までの信
号光損失分を加えることにより、線形中継器30の光増
幅器31aの出力端における信号光強度Ps,out-a を求
めることができる。
【0033】分波器14を通過した光は、発生ASE光
を切り出す狭帯域光フィルタ21に送出される。狭帯域
光フィルタ21の透過中心波長λc,c は信号光波長λs
からずらして設定されるので、λc,c 付近以外の光(信
号光および伝播ASE光)は狭帯域光フィルタ21でほ
とんど除去され、残りのλc,c 付近の光が受光器22に
受光される。受光器22に受光する光(図1中C点での
光)のスペクトルを図2(c) に示す。
【0034】図2(b),(c) からもわかるように、光増幅
器31aの発生ASE光は帯域制限されずに狭帯域光フ
ィルタ21に入力されるので、狭帯域光フィルタ21の
透過中心波長λc,c を信号光波長λs からずらすことに
より、受光器22で発生ASE光に対応する強度のみを
検出することができる。したがって、この受光強度にB
点から受光器22までの通過損失分を加えることによ
り、線形中継器30の光増幅器31aの出力端における
周波数幅Δν中の発生ASE光強度PASE-a を求めるこ
とができる。
【0035】なお、線形中継器30の出力端における発
生ASE光強度PASE は、透過中心波長λc,r の狭帯域
光フィルタ32を通過して得られるものであり、透過中
心波長λc,c の狭帯域光フィルタ21を通過して得られ
る発生ASE光強度PASE-aとは若干の違いがある。ま
た、線形中継器30の雑音指数は、初段の光増幅器31
aの雑音指数が線形中継器全体の雑音指数を決定するこ
とになるので、図1に示す2段増幅構成の場合でも、光
増幅器31aの利得Ga および光増幅器31aの出力端
における周波数幅Δν中の発生ASE光強度PASE-a か
ら線形中継器30の雑音指数を近似値で算出することが
できる。
【0036】すなわち、線形中継器30が1段増幅構成
の場合には、光増幅器31aの利得Ga が線形中継器3
0の利得Gとなるので、周波数幅Δν中の発生ASE光
強度PASE をPASE-a で近似し、(1) 式を用いて線形中
継器30の雑音指数Fを算出することができる。また、
線形中継器30が2段増幅構成の場合には、初段光増幅
器の雑音指数が線形中継器全体の雑音指数を決定するの
で、以下に示すように線形中継器30の雑音指数Fを近
似値で算出することができる。
【0037】光増幅器31aの利得Ga は、利得検出部
10で検出された光増幅器31aの入出力端における入
力信号光強度Ps,inと、出力信号光強度Ps,out-a とを
用いて Ga =Ps,out-a /Ps,in …(5) により得られる。したがって、線形中継器30の近似さ
れた雑音指数Fapr は、ASE光強度検出部20で求ま
る発生ASE光強度PASE-a を用いて、 Fapr =PASE-a /(h・ν・Δν・Ga ) …(6) により求めることができる。なお、この近似された雑音
指数Fapr と (1)式に対応する真の雑音指数Fとの差
は、発生ASE光強度PASE-a および利得Ga を用いた
ことによるが、高々0.2dB 程度である。
【0038】
【実施例】図3は、本発明の雑音指数監視装置を含む線
形中継器の第一実施例を示すブロック図である。
【0039】図において、本実施例の線形中継器は、光
増幅器にエルビウム添加光ファイバを用いた2段増幅構
成の場合であり、図1に示す基本構成に対応するものは
同一符号を付す。なお、信号光の波長λs は 1.552μm
である。また、ASE光の除去に用いる狭帯域光フィル
タ32,15の透過中心波長λc,r は 1.552μmであ
り、その透過周波数幅Δνは3nmである。また、AS
E光の切り出しに用いる狭帯域光フィルタ21の透過中
心波長λc,c は 1.548μmであり、その透過周波数幅Δ
νは1nmである。
【0040】受光器12,16,22はホトダイオード
を用いる。光増幅器31aは、エルビウム添加光ファイ
バ33a,励起光源として1.48μmの半導体レーザ(L
D)34a,励起光を後方からエルビウム添加光ファイ
バ33aに導く合波器35aを用いる。光増幅器31b
についても同様である。さらに、分波器11とエルビウ
ム添加光ファイバ33aとの間と、合波器35aと分波
器13との間と、線形中継器の出力段にレーザ発振を防
ぐための光アイソレータ36a,36b,36cが挿入
される。
【0041】以下、具体的な数値を用いて本実施例の動
作例について説明する。なお、すべての光アイソレー
タ,分波器および合波器の信号光波長およびASE光波
長における損失を簡単のためにそれぞれ1dBとする。ま
た、すべての狭帯域光フィルタの透過中心波長における
損失を簡単のために1dBとする。
【0042】本実施例の線形中継器が図7に示した2番
目の線形中継器302 としたときの入力点(A点)にお
けるスペクトルを図4(a) に示す。このように線形中継
器への入力光は、そのほとんどが信号光である。この入
力光を分波器11で分岐比13dBすなわち20:1により一
部分岐し、受光器12で受光する。その受光強度を−34
dBmとすると、A点における信号光強度はA点から受光
器12までの信号光過剰損失を含めた信号光損失が14dB
であるので、、(−34+14) dBm=−20dBmと求まる。
因みに、A点での全ASE光強度は、−40dBm程度であ
る。
【0043】分波器11を通過した光(信号光および伝
播ASE光)はエルビウム添加光ファイバ33aで増幅
され、同時に発生ASE光が加わってB点に出力され
る。B点におけるスペクトルを図4(b) に示す。これら
の光を分波器13で分岐比13dBすなわち20:1により一
部分岐し、さらに分波器14で分岐比10dBすなわち10:
1により一部分岐し、透過中心波長1.552 μm、透過周
波数幅3nmの狭帯域光フィルタ15を通してASE光
を除去し、受光器16で受光する。その受光強度を−30
dBmとすると、B点における信号光強度はB点から受光
器16までの信号光過剰損失を含めた信号光損失が26dB
であるので、(−30+26) dBm=−4dBmと求まる。な
お、受光器16の受光強度のうち、ASE光強度は−50
dBmと十分に小さい。したがって、エルビウム添加光フ
ァイバ33aの利得Ga は、−20−1−1+Ga −1−
1=−4より、20dBと求まる。
【0044】分波器14を通過した光は、ASE光を切
り出す狭帯域光フィルタ21を通過して受光器22に受
光される。この受光器22の入力点(C点)におけるス
ペクトルを図4(c) に示す。受光器22の受光強度を−
41dBmとする。その大部分が切り出されたASE光強度
であり、このASE光強度以外の光強度は−60dBm以下
であり無視できる。この受光器22の受光強度−41dBm
と、B点から受光器22までのASE光に対する過剰損
失を含めた損失16dBとにより、B点での透過周波数幅1
μmのASE光強度は−25dBmと求まる。したがって、
エルビウム添加光ファイバ33aの出力端での透過周波
数幅1μmのASE光強度PASE-a は、合波器35aお
よび光アイソレータ36bの信号光損失(合わせて2d
B)を加えて−23dBmと求まる。
【0045】以上求まったGa =20dB、PASE-a =−23
dBを (6)式に代入することにより、エルビウム添加光フ
ァイバ33aの雑音指数Fapr を5dBと算出することが
できる。したがって、この線形中継器の実効雑音指数
は、2段増幅構成と1段増幅構成とを問わず、雑音指数
Fapr =5dBにエルビウム添加光ファイバ33aの入力
段にある分波器11および光アイソレータ36aの信号
光損失(合わせて2dB)を加えて7dBとなる。
【0046】また、分波器13を通過した光は、狭帯域
光フィルタ32を通過することによって信号光付近以外
のASE光が除去される。ここで、線形中継器が1段増
幅構成の場合には、狭帯域光フィルタ32から出力され
る光が線形中継器の出力となるので、線形中継器の雑音
指数とともに利得も求まる。2段以上の増幅構成の場合
には、狭帯域光フィルタ32から出力される光は後段の
エルビウム添加光ファイバでさらに増幅された後に線形
中継器の出力となる。このときの線形中継器の雑音指数
は、初段のエルビウム添加光ファイバの雑音指数でほぼ
決定されるので、本実施例構成でも線形中継器全体の雑
音指数が求まる。多段増幅構成の線形中継器の実効利得
は、本構成とは別の方法、例えば線形中継器30の前段
と後段にまたがる形で配置される従来の利得検出部50
を用いて測定される。
【0047】なお、エルビウム添加光ファイバ33aの
利得は、例えば導波路外に漏れだしたASE光から求め
るなど、他の方法を用いて測定することもできる(特願
平3−131326号)。
【0048】また、多段増幅構成の線形中継器では、連
続して配置される光増幅器を1つの光増幅器として見な
せば、本発明による雑音指数監視装置により同様にして
線形中継器の雑音指数を測定することができる。また、
多段増幅構成でASE光を除去するための狭帯域光フィ
ルタ32を複数用いた場合には、最終段の狭帯域光フィ
ルタの前段にASE光強度検出部20を挿入すれば1段
増幅構成の場合と同様に扱うことができる。
【0049】図5は、本発明の雑音指数監視装置を含む
線形中継器の第二実施例を示すブロック図である。図に
おいて、本実施例の線形中継器は光増幅器に半導体レー
ザを用いた2段増幅構成の場合であり、図1に示す基本
構成に対応するものは同一符号を付す。なお、信号光波
長λs は 1.552μmである。また、ASE光の除去に用
いる狭帯域光フィルタ32,15の透過中心波長λc,r
は 1.552μmであり、その透過周波数幅は3nmであ
る。また、ASE光の切り出しに用いる狭帯域光フィル
タ21の透過中心波長λc,c は 1.548μmであり、その
透過周波数幅は1nmである。
【0050】受光器12,16,22はホトダイオード
を用いる。光増幅器31a,31bは、半導体レーザ3
7a,37bと、各半導体レーザを駆動する電流駆動回
路38で構成される。さらに、分波器11と半導体レー
ザ37aとの間と、半導体レーザ37aと分波器13と
の間と、半導体レーザ37bの出力段にレーザ発振を防
ぐための光アイソレータ36a,36b,36cが挿入
される。
【0051】以下、具体的な数値を用いて本実施例の動
作例について説明する。なお、すべての光アイソレータ
および分波器の信号光波長およびASE光波長における
損失を簡単のためにそれぞれ1dBとする。また、すべて
の狭帯域光フィルタの透過中心波長における損失を簡単
のために1dBとする。
【0052】本実施例では、図3に示す第一実施例と比
べて合波器がないので、受光器16の受光強度を−29dB
mとし、受光器22の受光強度を−40dBmとすれば、第
一実施例と同様にして半導体レーザ37aの利得Ga は
20dB、半導体レーザ37aの出力端におけるASE光強
度PASE-a は−23dBが得られる。さらに、これらの値を
(6)式に代入することにより、半導体レーザ37aの雑
音指数Fapr を5dBと算出することができる。したがっ
て、この線形中継器の実効雑音指数は、2段増幅構成と
1段増幅構成とを問わず、雑音指数Fapr =5dBに半導
体レーザ37aの入力段にある分波器11および光アイ
ソレータ36aの信号光損失(合わせて2dB)を加えて
7dBとなる。
【0053】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、簡単な構
成で線形中継器で発生するASE光強度を測定すること
ができ、別途測定される線形中継器の利得と合わせて線
形中継器の雑音指数を算出することができる。したがっ
て、線形中継器に雑音指数監視装置を内蔵させた場合で
も小規模な構成で対応することができ、低廉な雑音指数
監視機能付き線形中継器を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の雑音指数監視装置の基本構成を示すブ
ロック図。
【図2】図1に示す雑音指数監視装置のA点〜C点のス
ペクトルを示す図。
【図3】本発明の雑音指数監視装置を含む線形中継器の
第一実施例を示すブロック図。
【図4】図3に示す線形中継器のA点〜C点のスペクト
ルを示す図。
【図5】本発明の雑音指数監視装置を含む線形中継器の
第二実施例を示すブロック図。
【図6】線形中継器の基本構成を示すブロック図。
【図7】線形中継器を多段に接続した光伝送システムの
構成例を示すブロック図。
【図8】線形中継器の雑音指数監視装置の従来構成例を
示すブロック図。
【図9】図8に示す雑音指数監視装置のA点,D点,E
点のスペクトルを示す図。
【符号の説明】
10 利得検出部 11,13,14 分波器 12,16,22 受光器 15,32 狭帯域光フィルタ(ASE光除去用) 20 ASE光強度検出部 21 狭帯域光フィルタ(ASE光切り出し用) 30 線形中継器 31a,31b 光増幅器 33a,33b エルビウム添加光ファイバ 34a,34b 半導体レーザ(LD) 35a,35b 合波器 36a,36b,36c 光アイソレータ 37a,37b 半導体レーザ 38 電流駆動回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H04B 17/02 Z 7170−5K

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力される信号光を増幅する少なくとも
    1つの光増幅器と、透過中心波長が信号光波長に一致
    し、光増幅器で発生したASE光を除去するASE光除
    去用狭帯域光フィルタとを有する線形中継器における利
    得を測定する利得検出手段と、 光増幅器で発生したASE光強度を測定するASE光強
    度検出手段とを備え、 測定された利得とASE光強度とを用いて前記線形中継
    器の雑音指数を算出する線形中継器の雑音指数監視装置
    において、 前記ASE光強度検出手段は、 前記ASE光除去用狭帯域光フィルタの入力光の一部を
    分岐する分波器と、 透過中心波長が信号光波長からずれて設定され、前記分
    波器で分岐された光から前記光増幅器で発生したASE
    光を切り出すASE光切り出し用狭帯域光フィルタと、 前記ASE光切り出し用狭帯域光フィルタから出力され
    るASE光の強度を測定するASE光強度検出器とを備
    えたことを特徴とする線形中継器の雑音指数監視装置。
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