JPH07298121A - 合焦検出装置 - Google Patents
合焦検出装置Info
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- JPH07298121A JPH07298121A JP6288016A JP28801694A JPH07298121A JP H07298121 A JPH07298121 A JP H07298121A JP 6288016 A JP6288016 A JP 6288016A JP 28801694 A JP28801694 A JP 28801694A JP H07298121 A JPH07298121 A JP H07298121A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 手ぶれや被写体の動きによる鮮鋭度の低下に
よって生じる合焦検出動作の誤動作を防止することにあ
る。 【構成】 撮像素子１より出力された撮像信号をゲート
回路１７に供給して焦点検出領域内に相当する撮像信号
のみを抽出し、その焦点検出領域内の撮像信号中よりハ
イパスフィルター１８によって鮮鋭度信号を検出し、さ
らに検波回路１９、積分回路２０、Ａ／Ｄ変換器２１に
よって焦点信号を生成し、マイクロプロセサ３０によっ
て合焦検出動作を行う。また２値化回路２５、マルチプ
レクサ２６、メモリ２７、メモリ２８、速度検出回路２
９によって撮像信号中より動きベクトルを検出し、マイ
クロプロセサ３０により、動きベクトルの示す動きの方
向に焦点検出領域を移動するよう、ゲート回路１７を制
御するようにした合焦検出装置。
よって生じる合焦検出動作の誤動作を防止することにあ
る。 【構成】 撮像素子１より出力された撮像信号をゲート
回路１７に供給して焦点検出領域内に相当する撮像信号
のみを抽出し、その焦点検出領域内の撮像信号中よりハ
イパスフィルター１８によって鮮鋭度信号を検出し、さ
らに検波回路１９、積分回路２０、Ａ／Ｄ変換器２１に
よって焦点信号を生成し、マイクロプロセサ３０によっ
て合焦検出動作を行う。また２値化回路２５、マルチプ
レクサ２６、メモリ２７、メモリ２８、速度検出回路２
９によって撮像信号中より動きベクトルを検出し、マイ
クロプロセサ３０により、動きベクトルの示す動きの方
向に焦点検出領域を移動するよう、ゲート回路１７を制
御するようにした合焦検出装置。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばビデオカメラ等
に好適な合焦検出装置に関する。
に好適な合焦検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ビデオカメラ等において、撮像素
子より得られる画像信号より撮像面上の被写体像の鮮鋭
度を検出し、鮮鋭度が最も高くなるように光学系を駆動
して焦点合わせを行う種々の鮮鋭度検出方式が知られて
いる。
子より得られる画像信号より撮像面上の被写体像の鮮鋭
度を検出し、鮮鋭度が最も高くなるように光学系を駆動
して焦点合わせを行う種々の鮮鋭度検出方式が知られて
いる。
【０００３】例えば、ハイパスフィルター或は微分回路
等によって画像信号の高周波成分を抽出し高周波成分の
代償によって像の鮮鋭度を評価する方式であって、かか
る方式により焦点合わせを行う際には、光学系を駆動し
て得られる結像状態の異なる２つの像の鮮鋭度を比較す
ることにより光学系の駆動方向を決定し、鮮鋭度が最大
となった位置で光学系を停止し、光学系の合焦状態を得
るような合焦検出方式が知られている。
等によって画像信号の高周波成分を抽出し高周波成分の
代償によって像の鮮鋭度を評価する方式であって、かか
る方式により焦点合わせを行う際には、光学系を駆動し
て得られる結像状態の異なる２つの像の鮮鋭度を比較す
ることにより光学系の駆動方向を決定し、鮮鋭度が最大
となった位置で光学系を停止し、光学系の合焦状態を得
るような合焦検出方式が知られている。
【０００４】また特公昭５４−４４４１４号公報には、
被写体の中間濃度域の大きさが合焦の度合いに応じて変
化することを利用し、即ちボケた場合には中間濃度域が
大きくなり、焦点があった場合には小さくなることを利
用し、かかる中間濃度域が最も小さくなった場合に合焦
と判定する焦点検出装置が開示されている。
被写体の中間濃度域の大きさが合焦の度合いに応じて変
化することを利用し、即ちボケた場合には中間濃度域が
大きくなり、焦点があった場合には小さくなることを利
用し、かかる中間濃度域が最も小さくなった場合に合焦
と判定する焦点検出装置が開示されている。
【０００５】また特公昭５２−３０３２４号公報には、
前述の特公昭５４−４４４１４号公報における中間濃度
域の大きさを検出するのとは逆に被写体の高濃度域或は
低濃度域の大きさを検出し、かかる領域の大きさが合焦
の度合いに応じて変化することを利用して高濃度領域或
は低濃度領域の大きさが最も大きくなった場合に合焦と
判定する焦点検出装置が開示されている。
前述の特公昭５４−４４４１４号公報における中間濃度
域の大きさを検出するのとは逆に被写体の高濃度域或は
低濃度域の大きさを検出し、かかる領域の大きさが合焦
の度合いに応じて変化することを利用して高濃度領域或
は低濃度領域の大きさが最も大きくなった場合に合焦と
判定する焦点検出装置が開示されている。
【０００６】
【発明の解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ような画像信号を用いた合焦検出装置を用いたビデオカ
メラによれば、手ぶれや被写体の動きによりピントのあ
っていた被写体が一時的に画面の検出領域から出てしま
うと、非合焦と判断されてモータが駆動されてしまう
し、また被写体が検出領域内にとどまっていても振動し
たりしていると、撮像素子の蓄積作用によって検出され
る焦点信号が現像して合焦であるにもかかわらず、非合
焦と判断されてモータが駆動されてしまうような誤動作
を生じる。
ような画像信号を用いた合焦検出装置を用いたビデオカ
メラによれば、手ぶれや被写体の動きによりピントのあ
っていた被写体が一時的に画面の検出領域から出てしま
うと、非合焦と判断されてモータが駆動されてしまう
し、また被写体が検出領域内にとどまっていても振動し
たりしていると、撮像素子の蓄積作用によって検出され
る焦点信号が現像して合焦であるにもかかわらず、非合
焦と判断されてモータが駆動されてしまうような誤動作
を生じる。
【０００７】そこで本発明の課題は、このような手ぶれ
や被写体の動きによる誤動作を防止し得る合焦検出装置
を提供することにある。
や被写体の動きによる誤動作を防止し得る合焦検出装置
を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、本発明によれば、光電変換面に形成された物体像
を電気信号に変換する光電変換素子を有する光電変換手
段（実施例では撮像素子１に相当する）と、前記光電変
換手段より出力された前記電気信号中より、前記光電変
換面上の所定の検出領域内に相当する前記物体像の鮮鋭
度を表す信号を検出する検出手段（実施例ではゲート回
路１７、ハイパスフィルター１８、検波回路１９、積分
回路２０、Ａ／Ｄ変換器２１、マイクロプロセサ３０か
らなる構成に相当する）と、前記電気信号を所定周期で
サンプリングして、前記物体像の動きを検出する動き検
出手段（実施例では、２値化回路２５、マルチプレクサ
２６、メモリ２７、メモリ２８、速度検出回路２９の構
成に相当する）と、前記動き検出によって検出された前
記物体像の動きにしたがって、前記検出領域を前記動き
を相殺する方向に移動する制御手段（実施例ではマイク
ロプロセサ３０に相当する）とを備えた構成を用いる。
めに、本発明によれば、光電変換面に形成された物体像
を電気信号に変換する光電変換素子を有する光電変換手
段（実施例では撮像素子１に相当する）と、前記光電変
換手段より出力された前記電気信号中より、前記光電変
換面上の所定の検出領域内に相当する前記物体像の鮮鋭
度を表す信号を検出する検出手段（実施例ではゲート回
路１７、ハイパスフィルター１８、検波回路１９、積分
回路２０、Ａ／Ｄ変換器２１、マイクロプロセサ３０か
らなる構成に相当する）と、前記電気信号を所定周期で
サンプリングして、前記物体像の動きを検出する動き検
出手段（実施例では、２値化回路２５、マルチプレクサ
２６、メモリ２７、メモリ２８、速度検出回路２９の構
成に相当する）と、前記動き検出によって検出された前
記物体像の動きにしたがって、前記検出領域を前記動き
を相殺する方向に移動する制御手段（実施例ではマイク
ロプロセサ３０に相当する）とを備えた構成を用いる。
【０００９】
【作用】これによって、前記動き検出手段によって物体
像の動きを検出し、その動きに伴って焦点状態を検出す
る検出領域を移動することにより、手ぶれや被写体の動
きによって画面内において被写体像が移動しても、検出
領域内に被写体像をとらえ続けることができ、物体像の
動きによる鮮鋭度の低下を防止し、誤動作のない安定し
た合焦検出動作を行うことができる。
像の動きを検出し、その動きに伴って焦点状態を検出す
る検出領域を移動することにより、手ぶれや被写体の動
きによって画面内において被写体像が移動しても、検出
領域内に被写体像をとらえ続けることができ、物体像の
動きによる鮮鋭度の低下を防止し、誤動作のない安定し
た合焦検出動作を行うことができる。
【００１０】
【実施例】まず、図１（ａ）（ｂ）（ｃ）乃至図２
（ａ）（ｂ）（ｃ）を用いて本発明の原理を説明する。
図１（ａ）のような白黒パターンから成るエッヂ図形が
被写体であったとする。ｘ′は光学系の光軸と直交方向
の空間座標を示す。かかるエッヂ図形の像を光電変換す
る撮像素子より得られる画像信号のレベルＩ（ｘ）は光
学系が合焦の場合には図１（ｂ）のように鋭いエッヂを
持つが、非合焦の場合には図１（ｃ）のように鋭いエッ
ヂになる。なおｘは図１（ａ）に示したｘ′に対応した
撮像素子の撮像面上の座標である。また画像信号は通常
撮像素子の電気的走査によって時系列信号として取り出
されるが、説明の都合上、ここでは撮像面上の座標ｘに
関する信号とみなす。
（ａ）（ｂ）（ｃ）を用いて本発明の原理を説明する。
図１（ａ）のような白黒パターンから成るエッヂ図形が
被写体であったとする。ｘ′は光学系の光軸と直交方向
の空間座標を示す。かかるエッヂ図形の像を光電変換す
る撮像素子より得られる画像信号のレベルＩ（ｘ）は光
学系が合焦の場合には図１（ｂ）のように鋭いエッヂを
持つが、非合焦の場合には図１（ｃ）のように鋭いエッ
ヂになる。なおｘは図１（ａ）に示したｘ′に対応した
撮像素子の撮像面上の座標である。また画像信号は通常
撮像素子の電気的走査によって時系列信号として取り出
されるが、説明の都合上、ここでは撮像面上の座標ｘに
関する信号とみなす。
【００１１】図１（ｂ）、（ｃ）において、画像信号Ｉ
（ｘ）とエッヂ部分の幅Δｘは合焦状態で最も小さな値
ΔｘO となり、非合焦になるにつれて増大する。Δｘは
光学系の錯乱円径、撮像素子の解像力、画像信号処理回
路の帯域幅によって定まるが、後者の２つは光学系の合
焦状態に無関係であるから、画像信号のエッヂ部分の幅
Δｘを検出することにより光学系の合焦・非合焦を判定
できる。即ち
（ｘ）とエッヂ部分の幅Δｘは合焦状態で最も小さな値
ΔｘO となり、非合焦になるにつれて増大する。Δｘは
光学系の錯乱円径、撮像素子の解像力、画像信号処理回
路の帯域幅によって定まるが、後者の２つは光学系の合
焦状態に無関係であるから、画像信号のエッヂ部分の幅
Δｘを検出することにより光学系の合焦・非合焦を判定
できる。即ち
【００１２】
【外１】 なら合焦、Δｘ＞ΔｘO なら非合焦であり、この判定は
被写体であるエッヂ図形の平均明るさ、或はコントラス
トによらない。換言すれば被写体のエッヂ部分における
幅を検出し、該幅が大きい場合には非合焦、該幅が小さ
い場合には合焦と判断することができるわけである。
被写体であるエッヂ図形の平均明るさ、或はコントラス
トによらない。換言すれば被写体のエッヂ部分における
幅を検出し、該幅が大きい場合には非合焦、該幅が小さ
い場合には合焦と判断することができるわけである。
【００１３】また、図２（ａ）に示す一般的な被写体の
場合でも、人物や物体等の輪郭部分においては不連続な
明るさの変化が生じており、その近傍では図１のエッヂ
図形の場合と良く似た明るさ分布を持つ。したがって図
２（ｂ）、（ｃ）のように画像信号Ｉ（ｘ）のエッヂ部
分の幅Δｘを求め、既知の値ΔｘO 、即ち光学系が合焦
時となった際のエッヂ部分の幅の大きさと比較すること
により合焦・非合焦が判断できる。尚、図３のように微
細なパターンを持つ被写体においては、図３（ｃ）のよ
うに非合焦時においても２つのエッヂ部分からの寄与が
重なって被写体においては、図３（ｃ）のように非合焦
時においても２つのエッヂ部分からの寄与が重なってΔ
ｘが増大せず、合焦検出ができない。従って合焦検出を
行う様にするためには図１に示すように、エッヂを形成
する白・黒各部分の幅ＬがΔｘOに比して少し大きいこ
と、例えばΔｘO の２倍〜数倍程度必要である。ΔｘO
は光学系の最小錯乱円径程度の大きさであるから、Ｌは
全画面の大きさに比してかなり小さく、このようなエッ
ヂ部分はほとんどの被写体において存在している。従っ
てほとんどの場合は合焦検出を行うことが出来る。
場合でも、人物や物体等の輪郭部分においては不連続な
明るさの変化が生じており、その近傍では図１のエッヂ
図形の場合と良く似た明るさ分布を持つ。したがって図
２（ｂ）、（ｃ）のように画像信号Ｉ（ｘ）のエッヂ部
分の幅Δｘを求め、既知の値ΔｘO 、即ち光学系が合焦
時となった際のエッヂ部分の幅の大きさと比較すること
により合焦・非合焦が判断できる。尚、図３のように微
細なパターンを持つ被写体においては、図３（ｃ）のよ
うに非合焦時においても２つのエッヂ部分からの寄与が
重なって被写体においては、図３（ｃ）のように非合焦
時においても２つのエッヂ部分からの寄与が重なってΔ
ｘが増大せず、合焦検出ができない。従って合焦検出を
行う様にするためには図１に示すように、エッヂを形成
する白・黒各部分の幅ＬがΔｘOに比して少し大きいこ
と、例えばΔｘO の２倍〜数倍程度必要である。ΔｘO
は光学系の最小錯乱円径程度の大きさであるから、Ｌは
全画面の大きさに比してかなり小さく、このようなエッ
ヂ部分はほとんどの被写体において存在している。従っ
てほとんどの場合は合焦検出を行うことが出来る。
【００１４】本実施例においては、前述のエッヂ部分の
幅Δｘを求めるに際して、画像信号Ｉ（ｘ）よりエッヂ
部分の輝度の勾配ｄＩ／ｄｘと、図１、図２に示すエッ
ヂ部分における輝度差ΔＩを算出し、その比Ｐ＝（ｄＩ
／ｄｘ）／ΔＩを算出することにより、間接的にエッヂ
部分の幅Δｘを求める。即ちＰはエッヂ部分の幅Δｘの
逆数に相当し、エッヂ部分の鋭さを表わす。ここで、エ
ッヂ部分における輝度差ΔＩは図１（ｂ）、（ｃ）のよ
うに、光学系が多少非合焦であっても合焦時と変わらな
い値を持つから、非合焦時、即ち合焦時の画像信号の波
形がわからない場合においても検出可能であり、このΔ
Ｉによって合焦・非合焦によって鋭敏に変化するエッヂ
部分の勾配ｄＩ／ｄｘを正規化することによって、エッ
ヂ部分の幅Δｘを求めることが出来、更にかかる幅Δｘ
は被写体の平均明るさやコントラストに依存せず、光学
系の合焦・非合焦を判定できる。
幅Δｘを求めるに際して、画像信号Ｉ（ｘ）よりエッヂ
部分の輝度の勾配ｄＩ／ｄｘと、図１、図２に示すエッ
ヂ部分における輝度差ΔＩを算出し、その比Ｐ＝（ｄＩ
／ｄｘ）／ΔＩを算出することにより、間接的にエッヂ
部分の幅Δｘを求める。即ちＰはエッヂ部分の幅Δｘの
逆数に相当し、エッヂ部分の鋭さを表わす。ここで、エ
ッヂ部分における輝度差ΔＩは図１（ｂ）、（ｃ）のよ
うに、光学系が多少非合焦であっても合焦時と変わらな
い値を持つから、非合焦時、即ち合焦時の画像信号の波
形がわからない場合においても検出可能であり、このΔ
Ｉによって合焦・非合焦によって鋭敏に変化するエッヂ
部分の勾配ｄＩ／ｄｘを正規化することによって、エッ
ヂ部分の幅Δｘを求めることが出来、更にかかる幅Δｘ
は被写体の平均明るさやコントラストに依存せず、光学
系の合焦・非合焦を判定できる。
【００１５】次に以上の原理に基づいて合焦検出を行う
実施例を詳述する。
実施例を詳述する。
【００１６】図４は本発明の第１の実施例のブロック図
を示す。
を示す。
【００１７】この実施例においては、前述のＰ＝（ｄＩ
／ｄｘ）／ΔＩを求めるに際して撮像面上の各点ｘにつ
いてＰ（ｘ）＝（ｄＩ／ｄｘ）／ΔＩ（ｘ）を求め、こ
れを所定の閾値ＰO 〜１／ΔｘO と比較することによ
り、ピントの合ったエッヂの数を計数し、所定数以上あ
れば合焦と判断する。又、ΔＩ（ｘ）の算出は、
／ｄｘ）／ΔＩを求めるに際して撮像面上の各点ｘにつ
いてＰ（ｘ）＝（ｄＩ／ｄｘ）／ΔＩ（ｘ）を求め、こ
れを所定の閾値ＰO 〜１／ΔｘO と比較することによ
り、ピントの合ったエッヂの数を計数し、所定数以上あ
れば合焦と判断する。又、ΔＩ（ｘ）の算出は、
【００１８】
【外２】 により行っている。ここでＬは前述のように光学系の最
小錯乱円径の２〜数倍程度の大きさであり、従ってこの
積分は撮像素子の数画素〜１０画素程度の領域で行う。
かかるΔＩ（ｘ）は図１（ｂ）、（ｃ）に示したような
エッヂ部分に対してはそのエッヂの前後所定範囲におけ
る最高輝度と最低輝度の差ΔＩを与えるが、図３のよう
な微細なパターンに対しては常にその最高輝度と最低輝
度の差より大きい値をとるため、結果的にＰ（ｘ）の値
が小さくなるので誤って合焦と判断されることがない。
小錯乱円径の２〜数倍程度の大きさであり、従ってこの
積分は撮像素子の数画素〜１０画素程度の領域で行う。
かかるΔＩ（ｘ）は図１（ｂ）、（ｃ）に示したような
エッヂ部分に対してはそのエッヂの前後所定範囲におけ
る最高輝度と最低輝度の差ΔＩを与えるが、図３のよう
な微細なパターンに対しては常にその最高輝度と最低輝
度の差より大きい値をとるため、結果的にＰ（ｘ）の値
が小さくなるので誤って合焦と判断されることがない。
【００１９】図４において、１は撮像素子、２は撮像素
子より得られる画像信号Ｉ（ｔ）を微分して、画像信号
の勾配ｄＩ／ｄｔを求める微分あるいは差分回路、３は
絶対値回路であり、４は前述のΔＩ（ｘ）に対応する信
号ΔＩ（ｔ）を算出する回路である。尚、ｔは撮像素子
１から信号を読み出す際における読み出し開始時からの
時間を示す。図５にはΔＩ（ｔ）算出回路４の構成を示
す。図５において、１４は時間Ｔだけ信号を遅延させる
遅延回路、１５は減算回路、１６は積分回路であり。こ
の両回路により入力信号
子より得られる画像信号Ｉ（ｔ）を微分して、画像信号
の勾配ｄＩ／ｄｔを求める微分あるいは差分回路、３は
絶対値回路であり、４は前述のΔＩ（ｘ）に対応する信
号ΔＩ（ｔ）を算出する回路である。尚、ｔは撮像素子
１から信号を読み出す際における読み出し開始時からの
時間を示す。図５にはΔＩ（ｔ）算出回路４の構成を示
す。図５において、１４は時間Ｔだけ信号を遅延させる
遅延回路、１５は減算回路、１６は積分回路であり。こ
の両回路により入力信号
【００２０】
【外３】 の遅延差信号
【００２１】
【外４】 を積分することにより出力信号
【００２２】
【外５】 を得る。
【００２３】図４の６は
【００２４】
【外６】 を時間Ｔ／２程度遅延させる回路、５、７は対数回路、
８は減算回路であり、対数の差をとることにより、
８は減算回路であり、対数の差をとることにより、
【００２５】
【外７】 を得る。
【００２６】Ｐ（ｔ）は予め与えられた前述の閾値ＰO
と比較回路９によって比較され、ワンショット回路１０
はＰ（ｔ）＞ＰO のときに比較回路９の出力に基づきパ
ルスを発生し、そのパルス数がカウンタ１１によって計
数される。１２は撮像素子１の駆動クロック及び全系の
タイミング信号を発生するタイミング発生回路であり、
カウンタ１１は垂直同期信号によってリセットされ、１
フィールドあるいは１フレーム内の閾値ＰO をこえる鋭
さを持つエッヂ部分の数を計数し、計数値が所定値以上
ならば合焦、その他のときは非合焦と判断される。閾値
ＰO は固定でも良いが、光学系の結像性能が絞り値やズ
ーム状態によってかなり変動する場合には、それらのパ
ラメータを検出し、ＰO を最適な値に設定する手段を設
けることが望ましい。例えば絞り値が大きくなるほど光
学系の性能が悪化し、錯乱円径が大きくなるときには、
絞り値が大きくなるほど閾値ＰO を小さくする。尚通常
のＮＴＳＣ信号の場合、微分ないしは差分回路２の時定
数は１００ｎｓｅｃ〜５００ｎｓｅｃ程度、遅延回路１
４の遅延時間Ｔが５００ｎｓｅｃ〜２μｓｅｃ程度の値
が適当である。またΔＩ（ｔ）の求め方を例えば、
と比較回路９によって比較され、ワンショット回路１０
はＰ（ｔ）＞ＰO のときに比較回路９の出力に基づきパ
ルスを発生し、そのパルス数がカウンタ１１によって計
数される。１２は撮像素子１の駆動クロック及び全系の
タイミング信号を発生するタイミング発生回路であり、
カウンタ１１は垂直同期信号によってリセットされ、１
フィールドあるいは１フレーム内の閾値ＰO をこえる鋭
さを持つエッヂ部分の数を計数し、計数値が所定値以上
ならば合焦、その他のときは非合焦と判断される。閾値
ＰO は固定でも良いが、光学系の結像性能が絞り値やズ
ーム状態によってかなり変動する場合には、それらのパ
ラメータを検出し、ＰO を最適な値に設定する手段を設
けることが望ましい。例えば絞り値が大きくなるほど光
学系の性能が悪化し、錯乱円径が大きくなるときには、
絞り値が大きくなるほど閾値ＰO を小さくする。尚通常
のＮＴＳＣ信号の場合、微分ないしは差分回路２の時定
数は１００ｎｓｅｃ〜５００ｎｓｅｃ程度、遅延回路１
４の遅延時間Ｔが５００ｎｓｅｃ〜２μｓｅｃ程度の値
が適当である。またΔＩ（ｔ）の求め方を例えば、
【００２７】
【外８】 と変更しても良い。この場合
【００２８】
【外９】 が小さい部分はΔＩ（ｔ）の値にほとんど寄与しなくな
るため、図２（ｂ）のように多少リップルがのったエッ
ヂ部分に対しても、図１（ｂ）のような理想的なエッヂ
の場合と同様にエッヂ部の輝度差ΔＩが算出できる。こ
の場合には図４に示した絶対値回路３を２乗回路の置換
えれば良い。また、図４の絶対値回路３とΔＩ（ｔ）が
算出回路４の間にリミッタを設け、
るため、図２（ｂ）のように多少リップルがのったエッ
ヂ部分に対しても、図１（ｂ）のような理想的なエッヂ
の場合と同様にエッヂ部の輝度差ΔＩが算出できる。こ
の場合には図４に示した絶対値回路３を２乗回路の置換
えれば良い。また、図４の絶対値回路３とΔＩ（ｔ）が
算出回路４の間にリミッタを設け、
【００２９】
【外１０】 が所定値以下のときにはΔＩ（ｔ）算出回路４の入力信
号を強制的に０とすることによっても同様の効果が得ら
れる。
号を強制的に０とすることによっても同様の効果が得ら
れる。
【００３０】また、ΔＩ（ｔ）算出回路４によって算出
されたΔＩ（ｔ）の値が小さい場合には、対数回路７に
入力される
されたΔＩ（ｔ）の値が小さい場合には、対数回路７に
入力される
【００３１】
【外１１】 の値には画像信号のノイズ成分によって誤差が含まれて
いるため、検出されるＰ（ｔ）の精度が悪化する。これ
を除去するには、入力信号ΔＩ（ｔ）が小さいほど出力
信号がｌｏｇΔＩ（ｔ）より大きな方向にずれるよう
に、対数回路８の特性を変えて検出されるＰ（ｔ）の値
が小さくなるようにすればよい。
いるため、検出されるＰ（ｔ）の精度が悪化する。これ
を除去するには、入力信号ΔＩ（ｔ）が小さいほど出力
信号がｌｏｇΔＩ（ｔ）より大きな方向にずれるよう
に、対数回路８の特性を変えて検出されるＰ（ｔ）の値
が小さくなるようにすればよい。
【００３２】図６は本発明の第２の実施例のブロック図
であり、自動合焦装置に適用した場合を示す。尚図６に
おいては、メモリのアドレスカウンタやメモリ、Ａ／Ｄ
変換器の制御線等はわかりやすくするために省略されて
いる。図６において、撮像素子１より得られる画像信号
はゲート回路１７によって制御信号Ｇに応じて、画面の
所定の検出領域に対応した部分のみ通過させられる。１
８はハイパスフィルターであり、１９検波回路、２０は
積分回路であり、１フレームあるいは１フィールドにお
ける検出領域中の画像信号の高周波成分の強度を検出す
る。２１はＡ／Ｄ変換器であり、検出された高周波成分
の強度をＡ／Ｄ変換し、信号Ｂとしてマイクロプロセサ
３０に送出する。１３は図４に示したエッヂの鋭さＰ
（ｔ）を算出する回路、２２はピークホールド回路であ
り、１水平走査線中のＰ（ｔ）の最大値Ｐｉを保持し、
１水平走査毎にレベルが切り換わる信号ｆH によりリセ
ットされる。ここでｉは検出領域中の走査線の番号であ
る。２３はＡ／Ｄ変換器であり、水平走査ごとのＰ
（ｔ）の最大値ＰｉをＡ／Ｄ変換し、メモリ２４に順次
記録していく。メモリ２４の内容は１フレームあるいは
１フィールドの垂直帰線期間内にマイクロプロセサ３０
によって読み出される。２５〜２９は被写体像の移動速
度を算出するために設けられており、特にビデオカメラ
の場合、手ぶれや被写体の動きによって自動合焦の装置
が誤動作したり、あるいは不安定になったりするのを防
止するために設けられている。即ち、手ぶれや被写体の
移動によってピントの合っていた被写体が一時的に画面
の検出領域から出てしまうと、非合焦と判断されてモー
タが駆動されてしまうし、また被写体が検出領域内にと
どまっていても振動したりしていると、撮像素子１の蓄
積作用によって検出されるエッヂの鋭さＰ（ｔ）が減少
して合焦であるにもかかわらず、非合焦と判断してしま
うという欠点が生じる。２５〜２９はかかる欠点を解消
するため、像の移動速度を検出するために設けられた基
本的な回路である。２５は画像信号を２値化することに
より画像のパターンを抽出する２値化回路、２６はマル
チプレクサ、２７、２８は画像のパターンを記憶するメ
モリであり、抽出されたパターンは１フレームあるいは
１フィールドごとにレベルの切り換わる信号ｆV に応じ
てマルチプレクサによりメモリ２７、２８に交互に記録
される。メモリ２７、２８には継続する２つのフレーム
ないしはフィールドの画像パターンが記録されているか
ら、速度検出回路２９によってそのパターン間の相関演
算がなされ、１フレームないしは１フィールド間の像の
移動ベクトルＶが算出され、マイクロプロセサ３０へ送
出される。尚、本出願人による特願昭６０−１１１４７
２号公報では像の移動ベクトルＶを検出する具体的な手
段が詳述されている。
であり、自動合焦装置に適用した場合を示す。尚図６に
おいては、メモリのアドレスカウンタやメモリ、Ａ／Ｄ
変換器の制御線等はわかりやすくするために省略されて
いる。図６において、撮像素子１より得られる画像信号
はゲート回路１７によって制御信号Ｇに応じて、画面の
所定の検出領域に対応した部分のみ通過させられる。１
８はハイパスフィルターであり、１９検波回路、２０は
積分回路であり、１フレームあるいは１フィールドにお
ける検出領域中の画像信号の高周波成分の強度を検出す
る。２１はＡ／Ｄ変換器であり、検出された高周波成分
の強度をＡ／Ｄ変換し、信号Ｂとしてマイクロプロセサ
３０に送出する。１３は図４に示したエッヂの鋭さＰ
（ｔ）を算出する回路、２２はピークホールド回路であ
り、１水平走査線中のＰ（ｔ）の最大値Ｐｉを保持し、
１水平走査毎にレベルが切り換わる信号ｆH によりリセ
ットされる。ここでｉは検出領域中の走査線の番号であ
る。２３はＡ／Ｄ変換器であり、水平走査ごとのＰ
（ｔ）の最大値ＰｉをＡ／Ｄ変換し、メモリ２４に順次
記録していく。メモリ２４の内容は１フレームあるいは
１フィールドの垂直帰線期間内にマイクロプロセサ３０
によって読み出される。２５〜２９は被写体像の移動速
度を算出するために設けられており、特にビデオカメラ
の場合、手ぶれや被写体の動きによって自動合焦の装置
が誤動作したり、あるいは不安定になったりするのを防
止するために設けられている。即ち、手ぶれや被写体の
移動によってピントの合っていた被写体が一時的に画面
の検出領域から出てしまうと、非合焦と判断されてモー
タが駆動されてしまうし、また被写体が検出領域内にと
どまっていても振動したりしていると、撮像素子１の蓄
積作用によって検出されるエッヂの鋭さＰ（ｔ）が減少
して合焦であるにもかかわらず、非合焦と判断してしま
うという欠点が生じる。２５〜２９はかかる欠点を解消
するため、像の移動速度を検出するために設けられた基
本的な回路である。２５は画像信号を２値化することに
より画像のパターンを抽出する２値化回路、２６はマル
チプレクサ、２７、２８は画像のパターンを記憶するメ
モリであり、抽出されたパターンは１フレームあるいは
１フィールドごとにレベルの切り換わる信号ｆV に応じ
てマルチプレクサによりメモリ２７、２８に交互に記録
される。メモリ２７、２８には継続する２つのフレーム
ないしはフィールドの画像パターンが記録されているか
ら、速度検出回路２９によってそのパターン間の相関演
算がなされ、１フレームないしは１フィールド間の像の
移動ベクトルＶが算出され、マイクロプロセサ３０へ送
出される。尚、本出願人による特願昭６０−１１１４７
２号公報では像の移動ベクトルＶを検出する具体的な手
段が詳述されている。
【００３３】３１は光学系内のフォーカシングレンズを
移動させるためのモータであり、マイクロプロセサ３０
からの信号ＶM によってその速度及び方向が制御され
る。
移動させるためのモータであり、マイクロプロセサ３０
からの信号ＶM によってその速度及び方向が制御され
る。
【００３４】次にマイクロプロセサ３０により実行され
るフローについて図７乃至図９を用いて説明する。
るフローについて図７乃至図９を用いて説明する。
【００３５】図７はエッヂの幅を評価する評価値ｑを検
出し、高周波成分の強度Ｂ、像の移動ベクトルＶを取り
込むサブルーチンのフローチャートであり、図８は本実
施例の自動合焦装置の動作の流れを示すフローチャー
ト、図９は合焦が検出された際の自動合焦装置の動作を
示すフローチャートである。まず、図７に示すサブルー
チンについて説明する。
出し、高周波成分の強度Ｂ、像の移動ベクトルＶを取り
込むサブルーチンのフローチャートであり、図８は本実
施例の自動合焦装置の動作の流れを示すフローチャー
ト、図９は合焦が検出された際の自動合焦装置の動作を
示すフローチャートである。まず、図７に示すサブルー
チンについて説明する。
【００３６】Ｓ−２において設定されている検出領域内
の画像信号を抽出するためにフレームの開始時点でゲー
ト回路１７に制御信号Ｇを送出する。続いてＳ−３では
フレームの終了時点でメモリ２４に記録されるＰ1 、…
ＰN の値、Ａ／Ｄ変換器２１より高周波成分の強度Ｂ、
速度検出回路２９より像の移動ベクトルＶを入力し、次
いでＳ−４、Ｓ−５でエッヂの鋭さの評価値ｑを算出す
る。
の画像信号を抽出するためにフレームの開始時点でゲー
ト回路１７に制御信号Ｇを送出する。続いてＳ−３では
フレームの終了時点でメモリ２４に記録されるＰ1 、…
ＰN の値、Ａ／Ｄ変換器２１より高周波成分の強度Ｂ、
速度検出回路２９より像の移動ベクトルＶを入力し、次
いでＳ−４、Ｓ−５でエッヂの鋭さの評価値ｑを算出す
る。
【００３７】かかるステップＳ−３〜Ｓ−５においては
マイクロプロセサ３０は以下のような動作を行う。まず
メモリ２４の内容Ｐ1 、Ｐ2 、…、ＰN を順次読み出
し、更にＡ／Ｄ変換器２１により高周波成分の強度Ｂ、
速度検出回路２９により像の移動ベクトルＶを入力す
る。ここでＮは検出領域中に含まれる走査線の数であ
る。これらＰ1 、Ｐ2 …、ＰN に対し、
マイクロプロセサ３０は以下のような動作を行う。まず
メモリ２４の内容Ｐ1 、Ｐ2 、…、ＰN を順次読み出
し、更にＡ／Ｄ変換器２１により高周波成分の強度Ｂ、
速度検出回路２９により像の移動ベクトルＶを入力す
る。ここでＮは検出領域中に含まれる走査線の数であ
る。これらＰ1 、Ｐ2 …、ＰN に対し、
【００３８】
【外１２】 をｉ＝Ｍ＋１〜Ｎ−Ｍについて算出し（Ｓ−４）、さら
にｑｉの最大値ｑを求める（Ｓ−５）。ここでＭはＭ＜
Ｎのなる整数である。Ｐｋは第ｋ走査線中で検出された
エッヂの鋭さＰ（ｔ）の最大値のであるから、ｑｉは連
続するＭ本の走査線各々におけるＰ（ｔ）の最大値の平
均である。従って図１（ａ）のように画面垂直方向にあ
る程度長さをもった最も鋭いエッヂ部分の鋭さがｑとし
て算出され、このｑを光学系の合焦状態の尺度として使
用する。換言すればＳ−４で得たエッヂの鋭さの最大
値、換言すれば最もエッヂの幅の小さい箇所のエッヂの
幅を検出することになる。
にｑｉの最大値ｑを求める（Ｓ−５）。ここでＭはＭ＜
Ｎのなる整数である。Ｐｋは第ｋ走査線中で検出された
エッヂの鋭さＰ（ｔ）の最大値のであるから、ｑｉは連
続するＭ本の走査線各々におけるＰ（ｔ）の最大値の平
均である。従って図１（ａ）のように画面垂直方向にあ
る程度長さをもった最も鋭いエッヂ部分の鋭さがｑとし
て算出され、このｑを光学系の合焦状態の尺度として使
用する。換言すればＳ−４で得たエッヂの鋭さの最大
値、換言すれば最もエッヂの幅の小さい箇所のエッヂの
幅を検出することになる。
【００３９】なお通常のビデオカメラの場合、検出領域
の走査線の数Ｎは５０〜１００、平均をとる走査線の数
Ｍは５〜１０程度が適当である。
の走査線の数Ｎは５０〜１００、平均をとる走査線の数
Ｍは５〜１０程度が適当である。
【００４０】次いで図８を用いて自動合焦装置の動作の
流れを説明する。自動合焦装置の動作が開始されると
（Ｓ−７）、まず検出領域として標準値（通常画面の中
央部分）を設置し（Ｓ−８）即ち前述の図７に示したＳ
−２においてゲート回路における制御信号Ｇに応じてゲ
ート回路１７の動作する範囲を設定し、評価値ｑの値を
図７に示したフローに基づいて算出し（Ｓ−９）、ノイ
ズレベルｑ2 と比較する（Ｓ−１０）。ｑ＜ｑ2 ならば
即ち評価値ｑが所定値よりも小さい場合換言すれば被写
体のうちで最も狭いエッヂの幅においても像のボケによ
りかかるエッヂが大きい場合にはＳ−１１〜Ｓ−１６に
より高周波成分の強度Ｂが増大する方向にｑ＞ｑ2 とな
るまで光学系を駆動する。即ちｑの値は光学系が合焦よ
りはずれるに従い急激に減少するため、いわゆる大ボケ
状態ではノイズの影響で検出不可能になる。図６の１８
〜２１に示した回路はこの場合のために設けられてお
り、ｑの値が所定のノイズレベルを示すｑ2 以下の場合
には、画像信号の高周波成分の強度Ｂの値を取りこみ、
かかる強度Ｂに基づいて山登り制御が行われる。即ちＳ
−１１で任意方向にモータを駆動し、次に得られたＢの
値を前の値と比較して（Ｓ−１３）、Ｂが減少したなら
ばモータを逆転させ（Ｓ−１４）、検出されるｑの値が
ｑ2 をこえるまでモータの駆動を続け（Ｓ−１５、Ｓ−
１６）、ある程度合焦に近づきｑ＞ｑ2 となれば即ち被
写体のうちで最も狭いエッヂ部分の幅が所定よりも狭く
なった場合にはＳ−２７へ移行する。
流れを説明する。自動合焦装置の動作が開始されると
（Ｓ−７）、まず検出領域として標準値（通常画面の中
央部分）を設置し（Ｓ−８）即ち前述の図７に示したＳ
−２においてゲート回路における制御信号Ｇに応じてゲ
ート回路１７の動作する範囲を設定し、評価値ｑの値を
図７に示したフローに基づいて算出し（Ｓ−９）、ノイ
ズレベルｑ2 と比較する（Ｓ−１０）。ｑ＜ｑ2 ならば
即ち評価値ｑが所定値よりも小さい場合換言すれば被写
体のうちで最も狭いエッヂの幅においても像のボケによ
りかかるエッヂが大きい場合にはＳ−１１〜Ｓ−１６に
より高周波成分の強度Ｂが増大する方向にｑ＞ｑ2 とな
るまで光学系を駆動する。即ちｑの値は光学系が合焦よ
りはずれるに従い急激に減少するため、いわゆる大ボケ
状態ではノイズの影響で検出不可能になる。図６の１８
〜２１に示した回路はこの場合のために設けられてお
り、ｑの値が所定のノイズレベルを示すｑ2 以下の場合
には、画像信号の高周波成分の強度Ｂの値を取りこみ、
かかる強度Ｂに基づいて山登り制御が行われる。即ちＳ
−１１で任意方向にモータを駆動し、次に得られたＢの
値を前の値と比較して（Ｓ−１３）、Ｂが減少したなら
ばモータを逆転させ（Ｓ−１４）、検出されるｑの値が
ｑ2 をこえるまでモータの駆動を続け（Ｓ−１５、Ｓ−
１６）、ある程度合焦に近づきｑ＞ｑ2 となれば即ち被
写体のうちで最も狭いエッヂ部分の幅が所定よりも狭く
なった場合にはＳ−２７へ移行する。
【００４１】また一方Ｓ−１０においてｑ＞ｑ2 であっ
た場合、即ち被写体のうちで最も幅の狭いエッヂの幅が
所定よりも地位差場合にはＳ−１１〜Ｓ−１６に示す山
登り制御を行わずＳ−１７〜Ｓ−２６で評価値ｑが大き
くなるように制御を行う。
た場合、即ち被写体のうちで最も幅の狭いエッヂの幅が
所定よりも地位差場合にはＳ−１１〜Ｓ−１６に示す山
登り制御を行わずＳ−１７〜Ｓ−２６で評価値ｑが大き
くなるように制御を行う。
【００４２】まず所定量以上の移動ベクトルＶが検出さ
れた場合にはＳ−１７において被写体の移動に追従して
移動ベクトルＶだけ検出領域が移動されるようマイクロ
プロセッサ３０はゲート回路１７に制御信号Ｇを与え
る。続いてＳ−１８においては図７に示すフローを実行
し、評価値ｑ、移動ベクトルＶを検出し、次いでＳ−１
９において移動ベクトルＶに応じて評価値ｑを補正す
る。即ち像が水平方向に速度ＶH で移動している場合、
検出されるエッヂの幅はおよそＶH Δｔだけ増大する。
ここでΔｔは撮像素子１の蓄積時間である。従って算出
した値ｑに対してこの分を補正し、新たにｑとする。
れた場合にはＳ−１７において被写体の移動に追従して
移動ベクトルＶだけ検出領域が移動されるようマイクロ
プロセッサ３０はゲート回路１７に制御信号Ｇを与え
る。続いてＳ−１８においては図７に示すフローを実行
し、評価値ｑ、移動ベクトルＶを検出し、次いでＳ−１
９において移動ベクトルＶに応じて評価値ｑを補正す
る。即ち像が水平方向に速度ＶH で移動している場合、
検出されるエッヂの幅はおよそＶH Δｔだけ増大する。
ここでΔｔは撮像素子１の蓄積時間である。従って算出
した値ｑに対してこの分を補正し、新たにｑとする。
【００４３】Ｓ−２０においてｑ＞ｑ1 であるなら合焦
と判断されＳ−３３へ移行し、ｑ＞ｑ1 であるならまず
撮像レンズのピント位置を制御するモータを任意方向に
駆動し（Ｓ−２１）、検出されるｑの値が増加する方向
へモータを駆動する（Ｓ−２２〜Ｓ−２６）。尚Ｓ−２
２〜Ｓ−２４はＳ−１７〜Ｓ−１９と同様のステップで
ある。
と判断されＳ−３３へ移行し、ｑ＞ｑ1 であるならまず
撮像レンズのピント位置を制御するモータを任意方向に
駆動し（Ｓ−２１）、検出されるｑの値が増加する方向
へモータを駆動する（Ｓ−２２〜Ｓ−２６）。尚Ｓ−２
２〜Ｓ−２４はＳ−１７〜Ｓ−１９と同様のステップで
ある。
【００４４】Ｓ−２７〜Ｓ−３２は合焦を検出し、光学
系の駆動を停止させる過程である。Ｓ−２７〜Ｓ−２９
によりｑの値の検出を行い、ｑ＞ｑ1 となるか、または
ｑがｑ1 に達する以前に最大値が検出された場合にはＳ
−３３に移り、合焦と判定して合焦時の処理を行う。尚
この場合にはＳ−２１〜Ｓ−２６により指定された方向
にモータは回転している。他の場合にはＳ−３２におい
てｑとｑ1 との差に応じてｑがｑ1 に近づくほどモータ
速度を遅くなるよう変更し、再びｑの値の検出を行い、
合焦と判定されるまではＳ−２７〜Ｓ−３２のステップ
をくり返す。
系の駆動を停止させる過程である。Ｓ−２７〜Ｓ−２９
によりｑの値の検出を行い、ｑ＞ｑ1 となるか、または
ｑがｑ1 に達する以前に最大値が検出された場合にはＳ
−３３に移り、合焦と判定して合焦時の処理を行う。尚
この場合にはＳ−２１〜Ｓ−２６により指定された方向
にモータは回転している。他の場合にはＳ−３２におい
てｑとｑ1 との差に応じてｑがｑ1 に近づくほどモータ
速度を遅くなるよう変更し、再びｑの値の検出を行い、
合焦と判定されるまではＳ−２７〜Ｓ−３２のステップ
をくり返す。
【００４５】尚Ｓ−３１において合焦されＳ−３３にフ
ローが進む場合とは被写体としてほとんどエッヂ部分を
持たないものが選ばれた場合である。
ローが進む場合とは被写体としてほとんどエッヂ部分を
持たないものが選ばれた場合である。
【００４６】この様に本実施例に依ればエッヂ部分がほ
とんどないような被写体も合焦状態を検出することが出
来る場合もある。
とんどないような被写体も合焦状態を検出することが出
来る場合もある。
【００４７】以上のような手順により光学系が合焦状態
に達した場合には、マイクロプロセサ３０は被写体が光
軸方向に動いたり、あるいはパニングによって他の被写
体にピントを合わせ直す必要が生じたかどうかの監視に
入る。かかる監視を行うフローについて図９を用いて説
明する。まず合焦となった場合には直ちにモータの駆動
を停止する（Ｓ−３４）。次いでマイクロプロセサは合
焦時のｑの値ｑ′よりやや小さい値、例えばｑ3 ＝０．
９ｑ′を閾値とする（Ｓ−３５）。次いで像が動いてい
る場合にはそれに応じて検出領域を変更し（Ｓ−３
６）、前述の図７に示す様に評価値を検出し（Ｓ−３
７）、像の動きに応じてｑの値を補正する（Ｓ−３
８）。Ｓ−３９においてｑ＞ｑ3 となったときには、再
び自動焦点合わせ動作を行うが、Ｓ−４０においてｑ＞
ｑ2 であるときにはそれほどぼけていないから、Ｓ−４
１よりフォーカスの修正を行う。即ち図８に示すＳ−４
１にフローは進み、ｑ＜ｑ2 の場合にはぼけ量が大きい
から再びスタート（Ｓ−７）に戻って焦点合わせをやり
直す。尚ｑの値が閾値ｑ1 に達する以前に最大値をと
り、モータを停止させた状態では、次にエッヂ部分を持
った通常の被写体が検出領域に来た場合には多少ぼけて
いても合焦と判断されてしまう。従ってこの場合には所
定時間、例えば１秒ごとにモータを前後に強制的に駆動
し、実際にｑの値が最大値をとっているかどうかの確認
を行っても良い。また合焦時に検出領域を高速で移動す
る物体が横切ったり、急激なバニングが行われた場合な
どでは一時的にｑの値が閾値ｑ3 を下回り、必要がない
のにピントの合わせ直しのためにモータが駆動されてし
まうことがある。このような状況を避けるためにはｑの
値が所定値以上変化した場合には所定時間、例えば０．
５秒程度待機し、その間にｑの値が回復されないときの
みモータの駆動を始めるよう改良しても良い。
に達した場合には、マイクロプロセサ３０は被写体が光
軸方向に動いたり、あるいはパニングによって他の被写
体にピントを合わせ直す必要が生じたかどうかの監視に
入る。かかる監視を行うフローについて図９を用いて説
明する。まず合焦となった場合には直ちにモータの駆動
を停止する（Ｓ−３４）。次いでマイクロプロセサは合
焦時のｑの値ｑ′よりやや小さい値、例えばｑ3 ＝０．
９ｑ′を閾値とする（Ｓ−３５）。次いで像が動いてい
る場合にはそれに応じて検出領域を変更し（Ｓ−３
６）、前述の図７に示す様に評価値を検出し（Ｓ−３
７）、像の動きに応じてｑの値を補正する（Ｓ−３
８）。Ｓ−３９においてｑ＞ｑ3 となったときには、再
び自動焦点合わせ動作を行うが、Ｓ−４０においてｑ＞
ｑ2 であるときにはそれほどぼけていないから、Ｓ−４
１よりフォーカスの修正を行う。即ち図８に示すＳ−４
１にフローは進み、ｑ＜ｑ2 の場合にはぼけ量が大きい
から再びスタート（Ｓ−７）に戻って焦点合わせをやり
直す。尚ｑの値が閾値ｑ1 に達する以前に最大値をと
り、モータを停止させた状態では、次にエッヂ部分を持
った通常の被写体が検出領域に来た場合には多少ぼけて
いても合焦と判断されてしまう。従ってこの場合には所
定時間、例えば１秒ごとにモータを前後に強制的に駆動
し、実際にｑの値が最大値をとっているかどうかの確認
を行っても良い。また合焦時に検出領域を高速で移動す
る物体が横切ったり、急激なバニングが行われた場合な
どでは一時的にｑの値が閾値ｑ3 を下回り、必要がない
のにピントの合わせ直しのためにモータが駆動されてし
まうことがある。このような状況を避けるためにはｑの
値が所定値以上変化した場合には所定時間、例えば０．
５秒程度待機し、その間にｑの値が回復されないときの
みモータの駆動を始めるよう改良しても良い。
【００４８】
【発明の効果】以上述べたように、本発明における請求
項１に記載の合焦検出装置によれば、前記動き検出手段
によって物体像の動きを検出し、その動きに伴って焦点
状態を検出する検出領域を移動することにより、手ぶれ
や被写体の動きによって画面内において被写体像が移動
しても、検出領域内に被写体像をとらえ続けることがで
きるように構成したので、物体像の動きによって鮮鋭度
が低下し、合焦検出装置が誤動作することがなく、安定
な合焦検出動作を行うことができる。
項１に記載の合焦検出装置によれば、前記動き検出手段
によって物体像の動きを検出し、その動きに伴って焦点
状態を検出する検出領域を移動することにより、手ぶれ
や被写体の動きによって画面内において被写体像が移動
しても、検出領域内に被写体像をとらえ続けることがで
きるように構成したので、物体像の動きによって鮮鋭度
が低下し、合焦検出装置が誤動作することがなく、安定
な合焦検出動作を行うことができる。
【図１】本発明の原理を説明するための、被写体の様子
とその合焦時の画像信号の波形と非合焦時の画像信号の
波形をそれぞれ示す図である。
とその合焦時の画像信号の波形と非合焦時の画像信号の
波形をそれぞれ示す図である。
【図２】本発明の原理を説明するための、被写体の様子
とその合焦時の画像信号の波形と非合焦時の画像信号の
波形をそれぞれ示す図である。
とその合焦時の画像信号の波形と非合焦時の画像信号の
波形をそれぞれ示す図である。
【図３】本発明の原理を説明するための、被写体の様子
とその合焦時の画像信号の波形と非合焦時の画像信号の
波形をそれぞれ示す図である。
とその合焦時の画像信号の波形と非合焦時の画像信号の
波形をそれぞれ示す図である。
【図４】本発明の合焦検出装置の一実施例を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図５】本発明の合焦検出装置の一実施例を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図６】本発明を自動合焦装置に適用した第２の実施例
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図７】本発明の第２の実施例におけるマイクロプロセ
サ３０の評価値、高周波成分の強度、像の移動ベクトル
の検出動作を示すフローチャートである。
サ３０の評価値、高周波成分の強度、像の移動ベクトル
の検出動作を示すフローチャートである。
【図８】本発明の第２の実施例におけるマイクロプロセ
サ３０の自動合焦動作を示すフローチャートである。
サ３０の自動合焦動作を示すフローチャートである。
【図９】本発明の第２の実施例におけるマイクロプロセ
サ３０の再起動動作を示すフローチャートである。
サ３０の再起動動作を示すフローチャートである。
１ 撮像素子 １７ ゲート回路 １８ ハイパスフィルター １９ 検波回路 ２０ 積分回路 ２１ Ａ／Ｄ変換器 ２５ ２値化回路 ２６ マルチプレクサ ２７ メモリ ２８ メモリ ２９ 速度検出回路 ３０ マイクロプロセサ
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０３Ｂ 3/00 Ａ
Claims (1)
- 【請求項１】 光電変換面に形成された物体像を電気信
号に変換する光電変換素子を有する光電変換手段と、 前記光電変換手段より出力された前記電気信号中より、
前記光電変換面上の所定の検出領域内に相当する前記物
体像の鮮鋭度を表す信号を検出する検出手段と、 前記電気信号を所定周期でサンプリングして、前記物体
像の動きを検出する動き検出手段と、 前記動き検出手段によって検出された前記物体像の動き
にしたがって、前記検出領域を前記動きを相殺する方向
に移動する補正手段と、を備えたことを特徴とする合焦
検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6288016A JP2556671B2 (ja) | 1994-11-22 | 1994-11-22 | 合焦検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6288016A JP2556671B2 (ja) | 1994-11-22 | 1994-11-22 | 合焦検出装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60245239A Division JPH0754968B2 (ja) | 1985-10-30 | 1985-10-30 | 合焦検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07298121A true JPH07298121A (ja) | 1995-11-10 |
| JP2556671B2 JP2556671B2 (ja) | 1996-11-20 |
Family
ID=17724724
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6288016A Expired - Fee Related JP2556671B2 (ja) | 1994-11-22 | 1994-11-22 | 合焦検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2556671B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005331738A (ja) * | 2004-05-20 | 2005-12-02 | Seiko Epson Corp | ミスフォーカス判定方法およびこれに関するプログラム |
| JP2006208626A (ja) * | 2005-01-27 | 2006-08-10 | Sony Corp | オートフォーカス制御装置、オートフォーカス制御方法および撮像装置 |
-
1994
- 1994-11-22 JP JP6288016A patent/JP2556671B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP2556671B2 (ja) | 1996-11-20 |
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