JPH07276077A - ガスシールドアーク溶接メタル系フラックス入りワイヤ - Google Patents

ガスシールドアーク溶接メタル系フラックス入りワイヤ

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JPH07276077A
JPH07276077A JP8605994A JP8605994A JPH07276077A JP H07276077 A JPH07276077 A JP H07276077A JP 8605994 A JP8605994 A JP 8605994A JP 8605994 A JP8605994 A JP 8605994A JP H07276077 A JPH07276077 A JP H07276077A
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flux
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wire
welding
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JP8605994A
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Tsuyoshi Kurokawa
黒川剛志
Hideji Sasakura
笹倉秀司
Tetsuya Hashimoto
橋本哲哉
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Kobe Steel Ltd
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Kobe Steel Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 ヒューム発生量、スパッタ発生量の少ないガ
スシールド溶接用フラックス入りワイヤの提供。 【構成】 軟鉄製外皮は外皮全重量に対し、C:0.0
2%以下、Ti:0.01〜0.2%、Al:0.01
〜0.1%を含有し、且つTi/C≧1.0、Al/C
≧1.5を満足する鋼であり、フラックスは、ワイヤ全
重量に対し、Na及び/又はKの酸化物、弗化物の1種
以上の合計(Na、Kの元素換算値):0.01〜0.
30、TiO:0.1〜1.0%、鉄粉:5〜28
%、金属粉:≧92%(対フラックス全重量%)、Cs
及び/又はRbの化合物の1種以上の合計(Cs及び/
又はRbの元素換算値)0.001〜0.10%を含
み、更にC:0.3%以下、Mn:0.5〜3.6%、
Si:0.1〜1.8%を含み、(Cs+Rb)/(N
a+K):0.5以下を満足するフラックスを充填す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はフラックス入りワイヤに
関し、特にヒューム発生量及びスパッタ発生量を低減し
たガスシールドアーク溶接メタル系フラックス入りワイ
ヤに関するものである。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】近年、
ガスシールドアーク溶接フラックス入りワイヤは、溶接
の容易性と能率性の面から、その需要が急速に拡大しつ
つある。とりわけメタル系フラックス入りワイヤは、従
来の溶接用ワイヤに比較して高能率溶接が可能であるこ
とや、スラグ発生量が少ないという特長を有しているこ
とから、鉄骨・橋梁・産機などの分野への浸透ぶりには
目を見張るものがある。
【0003】しかしながら、この種のワイヤの最大の難
点は高能率性を得るため、比較的高い電流値で使用され
ることからヒューム発生量、更にはスパッタ発生量が多
く、溶接作業環境を悪化させ、脱3Kなどの観点より、
好ましくないと言わざるを得ない。
【0004】本発明は、これらの状況に鑑みて、ヒュー
ム発生量、更にスパッタ発生量の少ないガスシールドア
ーク溶接メタル系フラックス入りワイヤを提供すること
を目的とするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】溶接ヒュームを低減する
技術としては、本出願人による特許第1,403,569
号、同第1,572,313号、同第1,572,327号
等があり、特に外皮中のC量や酸素量を低減することが
有効であることが知られている。しかしながら、メタル
系フラックス入りワイヤの場合、高溶着速度を得るため
に高電流(例えば300〜500A)で適用され、溶接ヒ
ューム発生量が電流の増加につれて指数的に多くなるた
め、従来技術では十分対応できない。
【0006】そこで、本発明者らは、メタル系フラック
ス入りワイヤにおけるヒューム発生量の低減対策につい
て鋭意研究を行った結果、フラックスへのCs、Rbの添
加が効果的なことを見い出し、既に提案している(特願
平4−285033)。
【0007】一方、外皮中のC、Ti、Al量の調整、及
びフラックス中のTi、アルカリ金属の酸化物・弗化物
の調整もヒューム低減策として有効であることを明らか
にして提案している(特願平5−42168号)。
【0008】本発明者らは、更なる低ヒューム化・低ス
パッタ化を目指して検討した結果、C、Ti、Al量を適
切にコントロールした外皮を使い、充填フラックス中の
アルカリ金属としてCs及び/又はRbを添加することで
ヒューム量低減に著しい相乗効果があることを究明し、
ここに本発明を完成したものである。
【0009】すなわち、本発明は、軟鋼製外皮にフラッ
クスを充填してなるガスシールドアーク溶接メタル系フ
ラックス入りワイヤにおいて、 軟鋼製外皮は、外皮全重量に対する割合で、 C:0.02%以下 Ti:0.01〜0.20% Al:0.01〜0.10% を含有し、且つ Ti/C≧1.0 Al/C≧1.5 を満足する組成の鋼であり、 フラックスは、ワイヤ全重量に対する割合で、 Na及び/又はKの酸化物、弗化物の1種以上の合計 (Na及び/又はKの元素換算値):0.01〜0.30 TiO2:0.1〜1.0% 鉄粉:5〜28% 金属粉:≧92%(対フラックス全重量%) Cs及び/又はRbの化合物の1種以上の合計 (Cs及び/又はRbの元素換算値):0.001〜0.10
% を含み、更に C(軟鋼外皮中のC量も合計して):0.3%以下 Mn(軟鋼外皮中のMn量も合計して):0.5〜3.6% Si(軟鋼外皮中のSi量も合計して):0.1〜1.8% を含み、更に (Cs+Rb)/(Na+K):0.5以下 (ここで、Cs+RbはCs及び/又はRbの化合物の1種
以上の合計のCs及び/又はRbの元素換算値、Na+K
はNa及び/又はKの酸化物、弗化物の1種以上の合計
のNa及び/又はK元素換算値を表わす。)を満足する
メタル系フラックスであることを特徴とするガスシール
ドアーク溶接メタル系フラックス入りワイヤを要旨とし
ている。
【0010】
【作用】以下に本発明を更に詳述する。
【0011】以下に本発明について更に詳細に説明す
る。先ず、本発明のうち、ワイヤ外皮の成分を限定する
に至った理由を説明するが、外皮成分面からの溶接ヒュ
ーム低減を図る手段を検討するために各種実験を行い、
それにより得られた成果の骨子を示す実験結果例を以下
に示す。
【0012】これらの実験では、後述の表2中のNo.1
の組成のフラックス(フラックス率15%)を、種々のT
i、Al量の軟鋼外皮(C:0.003〜0.03%、Mn:
0.20〜0.30%、Si:0.01〜0.03%、P:
0.008〜0.011%、S:0.005〜0.007
%、N:0.002〜0.004%)と組合せて、1.4mm
径のフラックス入りワイヤを作製した。
【0013】次に、以下に示す一定の溶接条件で、試験
板JIS G3106 SM490A(板厚12mm)を使っ
て下向ビードオンプレート溶接を実施し、その間の溶接
ヒューム発生量をJIS Z3930に準拠して測定し
た。 (溶接条件) 溶接電流 :350A 溶接電圧 :36V 溶接速度 :30cm/分 ワイヤ突出し長さ:25mm 極 性 :DC(ワイヤプラス) シールドガス:CO2、流量25リットル/分
【0014】図1、図2、図3は、実験によって得られ
たデータをもとに溶接ヒューム発生量と外皮中のTi、
Al、C量との関係を求めたものである。図1、図2、
図3に示すように、溶接ヒューム発生量を減少させるた
めには、外皮成分について従来技術である低C%化に加
えて、Ti、Alをそれぞれ0.01%以上での複合添加
が有効な手段であることが確認された。このうち、Al
については単独では効果が少なく、Tiとの複合添加に
より始めて顕著な効果が生じることが判明した。更に、
Cs、Rbの添加により溶接ヒュームの低減効果はより顕
著となることも判明した。また、Ti、Alの溶接ヒュー
ム低減効果は、C≦0.02%、Ti/C≧1.0、Al/
C≧1.5で得られることも判明した。
【0015】これらTi、Alにより溶接ヒューム低減効
果が得られる理由としては、Ti、Alが酸素との親和性
が強く、高凝固点酸化物を生成するため、アーク溶接過
程においてワイヤ先端の懸垂溶滴表面に酸化皮膜を形成
し、Cと酸素との反応の結果として生じるヒューム発生
源であるCO、CO2の爆発的生成を抑制するためと考
えられる。
【0016】また、Ti、Al量の上限は、溶接金属へ歩
留った結果生じる延性低下、硬化等の材質劣化を避ける
ため、それぞれ0.20%、0.10%とする必要がある
ことも判明した。
【0017】以上の知見に基づいて、溶接ヒューム低減
に適切な軟鋼外皮としては、外皮全重量に対する割合
で、 C≦0.02% Ti:0.01〜0.20% Al:0.01〜0.10% を含有し、且つ Ti/C≧1.0 Al/C≧1.5 を満足する組成の鋼である。
【0018】より好ましい範囲を示すと、 C≦0.01% Ti:0.01〜0.10% Al:0.01〜0.05% を含有し、且つ Ti/C≧3.0% Al/C≧2.0% を満足する組成である。なお、ワイヤ製造上の圧延又は
/及び引抜工程における加工性を考慮すると、Mn:0.
10〜0.70%、Si≦0.35%の範囲が望ましい。
【0019】次に、高電流域でのスパッタ発生量を低減
すべくフラックス組成について種々検討した結果、以下
に示す如く、その支配因子として、特に、ワイヤ中の
C量、(Cs+Rb)/(Na+K)比が重量であることが
認められた。
【0020】なお、溶接条件は以下の如くである。 (供試ワイヤ) ワイヤ径 :1.4mmφ 外皮金属 :後述実施例の表中のNo.1 フラックス: 〃 No.2 (溶接条件) 溶接電流:350A 電 圧 :36V 速 度 :30cm/min ワイヤ突き出し長さ:25mm 極 性 :DC(ワイヤプラス) シールドガス:CO2、25リットル/min (スパッタ測定法)後述の実施例での測定法と同一。
【0021】図4、図5は、実験によって得られたデー
タをもとにスパッタ発生量とTiO2、{Cs+Rb/Na+
K}比の関係を求めたものである。図4、図5に示す如
く、高電流域での低スパッタ化にはワイヤ中のC量の
低減、(Cs+Rb)/(Na+K)比の規定が特に有効で
あることが判明した。
【0022】次に、充填するフラックス成分を限定する
に至った理由を説明する。なお、フラックス成分は、ワ
イヤ全体に対する重量%である。
【0023】Cs及び/又はRbの化合物:Cs及びRbの
化合物の1種又は2種の合計(Cs、Rb元素換算値)が
0.001%未満ではヒューム低減の効果がない(図3参
照)。しかし、0.10%を超えると耐吸湿性の悪化に伴
い、耐気孔性の低下や溶着金属の拡散性水素量が増大
し、耐割れ性が劣化し、且つビード外観形状も劣化す
る。したがって、Cs及びRbの化合物の1種又は2種の
合計(Cs、Rb元素換算値)を0.001〜0.10%の範
囲で添加する。なお、CsやRbは適当な形で添加される
が、特にCsはCs2CO3として、或いはTiO2、SiO2
等との複合酸化物の形で添加できる。
【0024】Na及び/又はKの酸化物、弗化物の1種
以上(アルカリ金属元素換算値):アーク安定性及びスパ
ッタ量低減を図るため、Li、Na、K等のアルカリ金属
成分を添加する。アルカリ金属は、吸湿性が著しいた
め、酸化物、弗化物の形で1種以上用いるのが好まし
い。しかし、Na及び/又はKの酸化物、弗化物の1種
以上(アルカリ金属元素換算値)が、0.01%未満では
アーク安定性向上及びスパッタ低減の効果が得られず、
また0.30%超えでは、これらアルカリ金属が高蒸気
圧を有するため、却ってスパッタが増大する他にTi、
Alによる溶接ヒューム低減効果が得られないため、0.
01〜0.30%の範囲とする。
【0025】なお、長石、無水硅酸ソーダ、水ガラス、
Na、K等の複合酸化物、氷晶石、珪弗化カリ、珪弗化
ソーダ等の弗化物や、少量のアルカリ金属の炭酸塩もア
ーク熱により分解して酸化物となるため、同様の効果が
得られる。
【0026】鉄粉:鉄粉量は、高溶着速度を得るために
フラックス率に応じて添加する。フラックス率(フラッ
クスの対ワイヤ全重量%)は、10%未満では外皮金属
の肉厚が厚すぎるため大粒のスパッタが増大する。一
方、30%超えでは外皮金属の肉厚の減少に伴いワイヤ
が柔らかくなるため、送給性が低下する他、アークの拡
がりが著しくなり、溶込み深さの低下やアンダーカット
が生じやすくなる。このため、フラックス率としては1
0〜30%の範囲が好ましい。
【0027】鉄粉は、上述のフラックス率に応じて添加
するが、5%未満ではメタル系フラックス入りワイヤの
特長である顕著な高溶着速度が得られず、また28%超
えでは脱酸剤など他の成分が不足し、所定の溶接金属の
機械的性質の確保やピット、ブローホール等の溶接欠陥
防止が困難となる。したがって、鉄粉量は5〜28%の
範囲とする。
【0028】金属粉:メタル系フラックス入りワイヤの
特長である高溶着速度特性及び連続多層溶接可能なスラ
グ量を確保するために、酸化物、弗化物、炭酸塩等の非
金属物質を除く、フラックス中の金属粉比率を92%以
上(対フラックス全重量比)にする必要がある。
【0029】Mn:Mnは、脱酸剤、強度や焼入性向上に
よる靭性改善及び溶融金属スラグの粘性増加によるビー
ド形状改善(特に水平すみ肉の場合)のために、外皮中の
Mn量も考慮して添加する。その場合、Mn量は、0.5
%未満では軟鋼用としても十分な強度が得られず、また
ビード形状も良好でない。また3.6%超えでは溶着金
属強度が過剰となり、低温割れが生じ易くなるので、上
記範囲とする。なお、Mn源としては、Mn、Fe−Mn、
Fe−Si−Mnなどが挙げられる。
【0030】Si:SiはMnと同様の作用効果を及ぼ
し、外皮中のSi量も考慮して添加する。その場合、Si
量は、0.1%未満では、脱酸剤、靭性改善及びビード
形状改善効果が得られず、また1.8%超えでは、溶着
金属中のSi量が過剰となり、逆に靭性や延性が低下す
るので、上記範囲とする。なお、Si源としては、Siや
Fe−Si、Fe−Si−Mn、Fe−Si−Mg等の合金が挙
げられる。
【0031】:前述のとおり、ワイヤ中のC量が0.
3%を超えるとスパッタが増加し(図4)、ヒュームも増
加するので、外皮中のC量も合計して、0.3%以下と
する。
【0032】(Cs+Rb)/(Na+K):前述のとおり、
(Cs+Rb)/(Na+K)の比が0.5を超えると大粒のス
パッタが増大するので(図5)、0.5以下とする。
【0033】TiO2TiO2は、対ワイヤ全重量比で
0.1%未満ではスラグの被包性が劣化し、ビード外観
が悪化する。またスパッタ発生量も増加する。また1.
0%を超えるとスラグの剥離性が劣化するので、対ワイ
ヤ全重量比で0.1〜1.0%とする。なお、TiO2はル
チール、ルコキシン、白チタン、更にはNa、K、Cs等
アルカリ金属の複合酸化物の形で添加される。
【0034】その他、上記金属粉の比率を満足する範囲
内で、ビード外観、形状を更に改善するためにSiO2
ZrO2、CaO、FeO等の酸化物を添加したり、スラグ
剥離性を改善するために高温割れの生じない範囲の0.
1%(対ワイヤ全重量%)以下の酸化ビスマス(Bi23)
を添加したり、ビード形状の劣化しない範囲の0.2%
(対ワイヤ全重量%)以下のMgOやMgを添加することも
できる。
【0035】更に、本発明の適用母材鋼種は主として軟
鋼、高張力鋼であるが、用途によりNi、Cr、Mo及び
Cuなどの金属又は合金を添加して低合金鋼、高合金鋼
などに拡大適用しても差し支えない。
【0036】また、シールドガスの種類としては、炭酸
ガスが主体であるが、Ar、He等でもよく、それらの混
合ガスでも適用できる。また、フラックス入りワイヤの
断面形状も何ら制限がなく、例えば、図6の(A)、
(B)、(C)、(D)等に例示する種々の形状のものが使用
できる。(D)の形状の場合はワイヤ表面にAl、Cu等の
メッキ処理を施してもよく、メッキ量は0.05〜0.3
0%が適当である。ワイヤ径も用途に応じて1.2mm
φ、1.4mmφ、1.6mmφ、2.0mmφ、2.4mmφ、
3.2mmφの中から任意に決めることができる。
【0037】次に本発明の実施例を示す。
【0038】
【実施例】表1に示す組成の鋼からなる外皮金属を用
い、表2に示す成分組成の充填フラックスを作成し、図
6中の(B)の断面形状にて供試ワイヤ(ワイヤ径1.4mm
φ)を作製した。次いで各フラックス入りワイヤを使用
し、以下の条件で溶接を行い、ヒューム発生量、作業性
等について調査した。
【0039】(溶接条件) 極 性 :DCワイヤ(+) 溶接電流:350A 電 圧 :38±3V 速 度 :30cm/min シールドガス:100%CO2、25リットル/min チップ母材間距離:25mm 試 験 板:JIS G 3106、SM490A(12mm
t) 溶 接 法:下向ビードオンプレート溶接
【0040】(ヒューム測定法)JIS Z 3930
「被覆アーク溶接棒の全ヒューム量測定方法」に準じ
て、1分間溶接した際に発生するヒュームの重量を測定
することにより、単位時間当たりの値(mg/min)(繰返し
回数=3の平均値)を求めた。ヒュームは図7に示す捕
集箱を備えた装置により回収した。
【0041】(スパッタ測定法)スパッタ測定法に準じ
て、1分間溶接した際に発生するスパッタの重量を測定
し、単位時間当たりの値(g/min)(繰返し=3の平均値)
を求めた。スパッタは図8に示す円板捕集により回収し
た。
【0042】(作業性)作業成形は官能判定により評価
した。
【0043】これらの実験結果を表3に示すが、下記の
如く考察できる。
【0044】実験No.1〜No.6は本発明例であり、い
ずれもヒューム発生量、スパッタ発生量が極めて少なく
なっている。
【0045】これに対して、比較例のうち、実験No.
7、No.8は、Cs、Rb量が本発明の範囲外にあるもの
で、少なすぎるとヒューム発生量が増加し、多すぎると
ワイヤの耐吸湿性が劣化し、耐気孔性、耐割れ性等が低
下する。
【0046】実験No.9、No.10は、Na、K量が本
発明の範囲外にあるもので少なすぎるとアーク安定性が
劣化する。多すぎても却ってスパッタ、ヒューム低減効
果が損なわれる。
【0047】実験No.11は(Cs+Rb)/(Na+K)比
が本発明を外れるもので、スパッタ発生量が増大する。
【0048】実験No.12及びNo.13は鉄粉量が本発
明の範囲外にあるもので、少なすぎると溶接の能率低下
やスパッタ増大を引き起こし、多すぎると溶接金属の機
械的性質の確保やピット・ブローホール等の溶接欠陥の
防止が困難となる。
【0049】実験No.17、No.18は、Mn量が本発
明範囲外にある例で、少なすぎると十分な強度が得られ
ず、またビード形状も劣化する。多すぎると強度が過剰
となり、低温割れが生じ易い。
【0050】実験No.19、No.20はSi量が本発明
範囲外にある例で、少なすぎるとビード形状が劣化し、
多すぎると溶接金属の靭性や延性が低下する。
【0051】実験No.21は、外皮金属のC量が本発明
範囲外にある例で、ヒューム発生量が増加している。
【0052】実験No.22、No.25は、外皮金属のA
l量が本発明範囲外にある例で、少なすぎるとヒューム
発生量が増加し、多すぎると溶接金属の延性が低下す
る。
【0053】実験No.23、No.24は、外皮金属のT
i量が本発明範囲外にある例で、少なすぎるとヒューム
発生量が増加し、多すぎると溶接金属への歩留りが高く
なり、延性が低下する。
【0054】実験No.14、No.15は、TiO2量が本
発明の範囲外にある例で、少なすぎると、ビード外観が
劣化し、多すぎるとスラグの剥離性が悪くなる。
【0055】No.16は、ワイヤ中のC量が本発明を外
れる例であり、スパッタ発生量が増大する他、ヒューム
発生量低減効果も損われる。
【0056】
【表1】
【0057】
【表2】
【0058】
【表3】
【0059】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
高溶着速度を得るために高電流で適用しても、従来より
もヒューム発生量、更にスパッタ発生量の少ないガスシ
ールドアーク溶接メタル系フラックス入りワイヤを提供
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】外皮中のC量とヒューム発生量の関係を示す図
である。
【図2】外皮中のTi量とヒューム発生量の関係を示す
図である。
【図3】フラックス中のCs、Rb量とヒューム発生量の
関係を示す図である。
【図4】ワイヤ中のC量とスパッタ発生量の関係を示す
図である。
【図5】(Cs+Rb)/(Na+K)の比とスパッタ発生量
の関係を示す図である。
【図6】フラックス入りワイヤの断面形状の例を示す図
である。
【図7】ヒューム補集箱を備えた装置を示す図である。
【図8】スパッタ補集箱を備えた装置を示す図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 軟鋼製外皮にフラックスを充填してなる
    ガスシールドアーク溶接メタル系フラックス入りワイヤ
    において、 軟鋼製外皮は、外皮全重量に対する割合で、 C:0.02%以下 Ti:0.01〜0.20% Al:0.01〜0.10% を含有し、且つ Ti/C≧1.0 Al/C≧1.5 を満足する組成の鋼であり、 フラックスは、ワイヤ全重量に対する割合で、 Na及び/又はKの酸化物、弗化物の1種以上の合計 (Na及び/又はKの元素換算値):0.01〜0.30 TiO2:0.1〜1.0% 鉄粉:5〜28% 金属粉:≧92%(対フラックス全重量%) Cs及び/又はRbの化合物の1種以上の合計 (Cs及び/又はRbの元素換算値):0.001〜0.10
    % を含み、更に C(軟鋼外皮中のC量も合計して):0.3%以下 Mn(軟鋼外皮中のMn量も合計して):0.5〜3.6% Si(軟鋼外皮中のSi量も合計して):0.1〜1.8% を含み、更に (Cs+Rb)/(Na+K):0.5以下 (ここで、Cs+RbはCs及び/又はRbの化合物の1種
    以上の合計のCs及び/又はRbの元素換算値、Na+K
    はNa及び/又はKの酸化物、弗化物の1種以上の合計
    のNa及び/又はK元素換算値を表わす。)を満足する
    メタル系フラックスであることを特徴とするガスシール
    ドアーク溶接メタル系フラックス入りワイヤ。
JP8605994A 1994-03-31 1994-03-31 ガスシールドアーク溶接メタル系フラックス入りワイヤ Pending JPH07276077A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005186138A (ja) * 2003-12-26 2005-07-14 Kobe Steel Ltd ガスシールドアーク溶接用メタル系フラックス入りワイヤ及びガスシールドアーク溶接方法
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