JPH07254901A - セル透過試験方式 - Google Patents
セル透過試験方式Info
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- JPH07254901A JPH07254901A JP6042950A JP4295094A JPH07254901A JP H07254901 A JPH07254901 A JP H07254901A JP 6042950 A JP6042950 A JP 6042950A JP 4295094 A JP4295094 A JP 4295094A JP H07254901 A JPH07254901 A JP H07254901A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＡＴＭ交換機におけるセル透過試験方式に関
し、ＡＴＭ交換機のセル透過試験を構成装置単体でも容
易に実行可能とすることを目的とする。 【構成】 ＡＴＭ交換機（１００）の各構成装置に、各
種の試験データを含む複数の試験セルを生成し、各構成
装置内に送信する試験セル送信手段（２００）と、各構
成装置内の試験セル送信手段（２００）から伝達される
試験セルを折返し返送する折返し経路を各装置内の予め
定められた位置に設定する試験セル折返し手段（３０
０）と、試験セル折返し手段（３００）を経由して折返
し返送される試験セルを受信し、試験セル送信手段（２
００）から送信された試験セルと比較して一致・不一致
の割合を検査する試験セル検査手段（４００）とを設け
ることにより、各構成装置単体でセル透過試験を実行可
能とする様に構成する。
し、ＡＴＭ交換機のセル透過試験を構成装置単体でも容
易に実行可能とすることを目的とする。 【構成】 ＡＴＭ交換機（１００）の各構成装置に、各
種の試験データを含む複数の試験セルを生成し、各構成
装置内に送信する試験セル送信手段（２００）と、各構
成装置内の試験セル送信手段（２００）から伝達される
試験セルを折返し返送する折返し経路を各装置内の予め
定められた位置に設定する試験セル折返し手段（３０
０）と、試験セル折返し手段（３００）を経由して折返
し返送される試験セルを受信し、試験セル送信手段（２
００）から送信された試験セルと比較して一致・不一致
の割合を検査する試験セル検査手段（４００）とを設け
ることにより、各構成装置単体でセル透過試験を実行可
能とする様に構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＡＴＭ〔Asynchronous
Transfer Mode（非同期転送モード）の略称〕交換機に
おけるセル透過試験方式に関し、特に複数種類の装置か
ら構成され、それぞれセルを送受信するＡＴＭ交換機に
おけるセル透過試験方式に関する。
Transfer Mode（非同期転送モード）の略称〕交換機に
おけるセル透過試験方式に関し、特に複数種類の装置か
ら構成され、それぞれセルを送受信するＡＴＭ交換機に
おけるセル透過試験方式に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４は本発明の対象となるＡＴＭ交換機
の一例を示す図である。図４に示されるＡＴＭ交換機
（１０）は、呼処理装置（１）、信号処理装置（２）、
ＡＴＭスイッチ（３）〔二重化された０系ＡＴＭスイッ
チを（３0 ）、１系ＡＴＭスイッチを（３1 ）と称す
る〕、加入者制御装置（４）、試験セル生成・検査装置
（５）から構成され、加入者線（６）を経由して端末装
置（７）を収容している。
の一例を示す図である。図４に示されるＡＴＭ交換機
（１０）は、呼処理装置（１）、信号処理装置（２）、
ＡＴＭスイッチ（３）〔二重化された０系ＡＴＭスイッ
チを（３0 ）、１系ＡＴＭスイッチを（３1 ）と称す
る〕、加入者制御装置（４）、試験セル生成・検査装置
（５）から構成され、加入者線（６）を経由して端末装
置（７）を収容している。
【０００３】呼処理装置（１）は、当該ＡＴＭ交換機
（１０）に生起する呼処理全般を司り、信号処理装置
（２）は、呼処理装置（１）からの制御の下に、ＡＴＭ
スイッチ（３）、加入者制御装置（４）および加入者線
（６）を経由して各端末装置（７）との間で、所定の通
信手順に従って各種メッセージをセル形式で送受信す
る。
（１０）に生起する呼処理全般を司り、信号処理装置
（２）は、呼処理装置（１）からの制御の下に、ＡＴＭ
スイッチ（３）、加入者制御装置（４）および加入者線
（６）を経由して各端末装置（７）との間で、所定の通
信手順に従って各種メッセージをセル形式で送受信す
る。
【０００４】従来あるＡＴＭ交換機（１０）において
は、試験セル生成・検査装置（５）が、試験セル送信部
および試験セル受信解析部を具備し、例えば特定の加入
者制御装置（４）内に試験用折返し経路を設定し、試験
セル生成・検査装置（５）から信号処理装置（２）、Ａ
ＴＭスイッチ（３）、加入者制御装置（４）内に設定さ
れた折返し経路、ＡＴＭスイッチ（３）および信号処理
装置（２）を経由して試験セル生成・検査装置（５）に
戻る試験用接続経路を設定した後、試験セル送信部から
各種の試験データを内蔵する試験セル（ＣT ）を生成
し、ＡＴＭ交換機（１０）内に設定した前述の試験用接
続経路を経由して前述の加入者制御装置（４）に送信
し、前記試験用接続経路および加入者制御装置（４）内
の試験用折返し経路を経由して返送される試験セルを試
験セル受信解析部により受信し、試験セル送信部から送
信した試験セルと比較し、一致・不一致の割合を解析す
るセル透過試験を実行していた。
は、試験セル生成・検査装置（５）が、試験セル送信部
および試験セル受信解析部を具備し、例えば特定の加入
者制御装置（４）内に試験用折返し経路を設定し、試験
セル生成・検査装置（５）から信号処理装置（２）、Ａ
ＴＭスイッチ（３）、加入者制御装置（４）内に設定さ
れた折返し経路、ＡＴＭスイッチ（３）および信号処理
装置（２）を経由して試験セル生成・検査装置（５）に
戻る試験用接続経路を設定した後、試験セル送信部から
各種の試験データを内蔵する試験セル（ＣT ）を生成
し、ＡＴＭ交換機（１０）内に設定した前述の試験用接
続経路を経由して前述の加入者制御装置（４）に送信
し、前記試験用接続経路および加入者制御装置（４）内
の試験用折返し経路を経由して返送される試験セルを試
験セル受信解析部により受信し、試験セル送信部から送
信した試験セルと比較し、一致・不一致の割合を解析す
るセル透過試験を実行していた。
【０００５】然し、ＡＴＭ交換機（１０）の製造段階に
おいては、構成各装置は未だ接続されておらず、各装置
単体で試験を実行する必要があった。また各装置を結合
し始めた初期状態においては、各装置に障害が潜在する
可能性が高く、前述の如き各装置に跨がる試験用接続経
路を設定する場合にも障害が多発し、試験用接続経路の
設定も容易では無く、ＡＴＭ交換機（１０）が具備する
セル透過試験を実行可能とする迄に、多くの時間と労力
を費やすこととなる。
おいては、構成各装置は未だ接続されておらず、各装置
単体で試験を実行する必要があった。また各装置を結合
し始めた初期状態においては、各装置に障害が潜在する
可能性が高く、前述の如き各装置に跨がる試験用接続経
路を設定する場合にも障害が多発し、試験用接続経路の
設定も容易では無く、ＡＴＭ交換機（１０）が具備する
セル透過試験を実行可能とする迄に、多くの時間と労力
を費やすこととなる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】以上の説明から明らか
な如く、従来あるＡＴＭ交換機においては、構成各装置
を結合した状態で、試験セル生成・検査装置（５）を中
心とした試験用接続経路をＡＴＭ交換機（１０）内に設
定し、加入者制御装置（４）等に折返し経路を設定し、
呼処理装置（１）から試験セルを試験用接続経路に送信
し、加入者制御装置（４）等に設定された折返し経路を
経由して呼処理装置（１）に返送される試験セルを呼処
理装置（１）において受信・解析し、送信した試験セル
と比較し、一致・不一致の割合によりセル透過試験を実
施していたが、製造の初期段階においては、ＡＴＭ交換
機（１０）の構成各装置を取揃えることも容易では無
く、また各装置内に多くの障害が潜在している為、ＡＴ
Ｍ交換機（１０）全体を通した試験用接続経路を設定す
る為に多大の時間と労力を費やす結果となり、高品質の
セル透過試験を迅速、且つ効率的に実行出来ぬ問題があ
った。
な如く、従来あるＡＴＭ交換機においては、構成各装置
を結合した状態で、試験セル生成・検査装置（５）を中
心とした試験用接続経路をＡＴＭ交換機（１０）内に設
定し、加入者制御装置（４）等に折返し経路を設定し、
呼処理装置（１）から試験セルを試験用接続経路に送信
し、加入者制御装置（４）等に設定された折返し経路を
経由して呼処理装置（１）に返送される試験セルを呼処
理装置（１）において受信・解析し、送信した試験セル
と比較し、一致・不一致の割合によりセル透過試験を実
施していたが、製造の初期段階においては、ＡＴＭ交換
機（１０）の構成各装置を取揃えることも容易では無
く、また各装置内に多くの障害が潜在している為、ＡＴ
Ｍ交換機（１０）全体を通した試験用接続経路を設定す
る為に多大の時間と労力を費やす結果となり、高品質の
セル透過試験を迅速、且つ効率的に実行出来ぬ問題があ
った。
【０００７】本発明は、ＡＴＭ交換機のセル透過試験を
構成装置単体でも容易に実行可能とすることを目的とす
る。
構成装置単体でも容易に実行可能とすることを目的とす
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理を示
す図である。図１において、１００は本発明の対象とな
るＡＴＭ交換機、５は試験セル生成・検査装置、１０２
乃至１０４はＡＴＭ交換機（１００）を構成する各種装
置であり、例えば１０２は信号処理装置であり、１０３
はＡＴＭスイッチであり、１０４は加入者制御装置であ
る。
す図である。図１において、１００は本発明の対象とな
るＡＴＭ交換機、５は試験セル生成・検査装置、１０２
乃至１０４はＡＴＭ交換機（１００）を構成する各種装
置であり、例えば１０２は信号処理装置であり、１０３
はＡＴＭスイッチであり、１０４は加入者制御装置であ
る。
【０００９】２００は、本発明により各構成装置内に設
けられた試験セル送信手段である。３００は、本発明に
より各構成装置内に設けられた試験セル折返し手段であ
る。
けられた試験セル送信手段である。３００は、本発明に
より各構成装置内に設けられた試験セル折返し手段であ
る。
【００１０】４００は、本発明により各構成装置内に設
けられた試験セル検査手段である。
けられた試験セル検査手段である。
【００１１】
【作用】試験セル送信手段（２００）は、各種の試験デ
ータを含む複数の試験セルを生成し、各構成装置内に送
信する。
ータを含む複数の試験セルを生成し、各構成装置内に送
信する。
【００１２】試験セル折返し手段（３００）は、各構成
装置内の試験セル送信手段（２００）から伝達される試
験セルを折返し返送する折返し経路を、各装置内の予め
定められた位置に設定する。
装置内の試験セル送信手段（２００）から伝達される試
験セルを折返し返送する折返し経路を、各装置内の予め
定められた位置に設定する。
【００１３】試験セル検査手段（４００）は、試験セル
折返し手段（３００）を経由して折返し返送される試験
セルを受信し、試験セル送信手段（２００）から送信さ
れた試験セルと比較して一致・不一致の割合を検査す
る。
折返し手段（３００）を経由して折返し返送される試験
セルを受信し、試験セル送信手段（２００）から送信さ
れた試験セルと比較して一致・不一致の割合を検査す
る。
【００１４】以上により、各構成装置単体でセル透過試
験を実行可能とする。なお試験セル送信手段（２０
０）、試験セル折返し手段（３００）および試験セル検
査手段（４００）は、複数の構成装置を結合した場合
に、特定の構成装置内に設けられた試験セル送信手段
（２００）から送信された試験セルを、特定の構成装置
以外の構成装置内に伝達し、該特定の構成装置以外の構
成装置内に設けられた試験セル折返し手段（３００）に
より特定の構成装置に折返し返送し、特定の構成装置内
に設けられている試験セル検査手段（４００）により検
査することにより、複数の構成装置を結合したセル透過
試験を実行可能とすることが考慮される。
験を実行可能とする。なお試験セル送信手段（２０
０）、試験セル折返し手段（３００）および試験セル検
査手段（４００）は、複数の構成装置を結合した場合
に、特定の構成装置内に設けられた試験セル送信手段
（２００）から送信された試験セルを、特定の構成装置
以外の構成装置内に伝達し、該特定の構成装置以外の構
成装置内に設けられた試験セル折返し手段（３００）に
より特定の構成装置に折返し返送し、特定の構成装置内
に設けられている試験セル検査手段（４００）により検
査することにより、複数の構成装置を結合したセル透過
試験を実行可能とすることが考慮される。
【００１５】また試験セル送信手段（２００）、試験セ
ル折返し手段（３００）および試験セル検査手段（４０
０）は、ＡＴＭ交換機（１００）を構成する信号処理装
置（１０２）、ＡＴＭスイッチ（１０３）、加入者制御
装置（１０４）の少なくも何れかに設けることが考慮さ
れる。
ル折返し手段（３００）および試験セル検査手段（４０
０）は、ＡＴＭ交換機（１００）を構成する信号処理装
置（１０２）、ＡＴＭスイッチ（１０３）、加入者制御
装置（１０４）の少なくも何れかに設けることが考慮さ
れる。
【００１６】従って、本発明によれば、ＡＴＭ交換機を
構成する各装置単体でセル透過試験が実行可能となり、
当該ＡＴＭ交換機を実現する各段階において同試験を実
施可能となる為、当該ＡＴＭ交換機の信頼性が大幅に向
上する。
構成する各装置単体でセル透過試験が実行可能となり、
当該ＡＴＭ交換機を実現する各段階において同試験を実
施可能となる為、当該ＡＴＭ交換機の信頼性が大幅に向
上する。
【００１７】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面により説明す
る。図２は本発明の一実施例による信号処理装置を示す
図であり、図３は構成装置結合状態におけるセル透過試
験を説明する図である。なお、全図を通じて同一符号は
同一対象物を示す。また対象とするＡＴＭ交換機は、図
４に示す通りとする。
る。図２は本発明の一実施例による信号処理装置を示す
図であり、図３は構成装置結合状態におけるセル透過試
験を説明する図である。なお、全図を通じて同一符号は
同一対象物を示す。また対象とするＡＴＭ交換機は、図
４に示す通りとする。
【００１８】図４においては、図１におけるＡＴＭ交換
機（１００）としてＡＴＭ交換機（１０）が示され、ま
た図１における信号処理装置（１０２）、ＡＴＭスイッ
チ（１０３）および加入者制御装置（１０４）として、
それぞれ信号処理装置（２）、ＡＴＭスイッチ（３）お
よび加入者制御装置（４）が示されている。
機（１００）としてＡＴＭ交換機（１０）が示され、ま
た図１における信号処理装置（１０２）、ＡＴＭスイッ
チ（１０３）および加入者制御装置（１０４）として、
それぞれ信号処理装置（２）、ＡＴＭスイッチ（３）お
よび加入者制御装置（４）が示されている。
【００１９】図２には、ＡＴＭ交換機（１０）の各種構
成装置の内、信号処理装置（２）が代表として示されて
いる。なお図２に示される信号処理装置（２）は、０系
および１系の二重化構成となっており、各系は、それぞ
れ個別部（２１）〔各系を区別する場合には０系個別部
（２１0 ）および１系個別部（２１1 ）と称する、以下
同様〕および共通部（２２）から構成され、個別部（２
１）は、処理部（ＭＰＵ）（２１１）、記憶部（ＭＥ
Ｍ）（２１２）、セル送受信部（ＣＳＲ）（２１３）お
よび折返し設定レジスタ（ＬＳＲ）（２１４）から構成
され、また共通部（２２）は、セレクタ（ＳＬ）（２２
１）、バッファ部（ＦＩＦＯ）（２２２D ）および（２
２２U ）、ＶＣＣ制御部（ＶＣＣ）（２２３）、折返し
制御部（ＬＢＣ）（２２４）および（２２７）、多重部
（ＭＵＸ）（２２５）、分離部（ＤＭＸ）（２２６）お
よび速度変換部（ＣＮＶ）（２２８）から構成されてい
る。
成装置の内、信号処理装置（２）が代表として示されて
いる。なお図２に示される信号処理装置（２）は、０系
および１系の二重化構成となっており、各系は、それぞ
れ個別部（２１）〔各系を区別する場合には０系個別部
（２１0 ）および１系個別部（２１1 ）と称する、以下
同様〕および共通部（２２）から構成され、個別部（２
１）は、処理部（ＭＰＵ）（２１１）、記憶部（ＭＥ
Ｍ）（２１２）、セル送受信部（ＣＳＲ）（２１３）お
よび折返し設定レジスタ（ＬＳＲ）（２１４）から構成
され、また共通部（２２）は、セレクタ（ＳＬ）（２２
１）、バッファ部（ＦＩＦＯ）（２２２D ）および（２
２２U ）、ＶＣＣ制御部（ＶＣＣ）（２２３）、折返し
制御部（ＬＢＣ）（２２４）および（２２７）、多重部
（ＭＵＸ）（２２５）、分離部（ＤＭＸ）（２２６）お
よび速度変換部（ＣＮＶ）（２２８）から構成されてい
る。
【００２０】なお速度変換部（ＣＮＶ）（２２８）は、
具体的には二段階から構成されており、第一段階におい
て毎秒４８ビット／語×１３メガ語を、毎秒１６ビット
／語×３９メガ語に語長を変換した後、第二段階におい
て、更に毎秒１６ビット／語×３９メガ語を、毎秒８ビ
ット／語×７８メガ語に語長を変換しており、折返し制
御部（ＬＢＣ）（２２７）は、前述の第一段階の速度変
換機能をも分担しているものとする。
具体的には二段階から構成されており、第一段階におい
て毎秒４８ビット／語×１３メガ語を、毎秒１６ビット
／語×３９メガ語に語長を変換した後、第二段階におい
て、更に毎秒１６ビット／語×３９メガ語を、毎秒８ビ
ット／語×７８メガ語に語長を変換しており、折返し制
御部（ＬＢＣ）（２２７）は、前述の第一段階の速度変
換機能をも分担しているものとする。
【００２１】なお各処理部（ＭＰＵ）（２１１）には、
それぞれ試験セル送信部（ＴＣＧ）（２１５）および試
験セル受信解析部（ＴＣＡ）（２１６）が、図１におけ
る試験セル送信手段（２００）および試験セル検査手段
（４００）として設けられ、また各共通部（２２）内の
折返し制御部（ＬＢＣ）（２２４）および（２２７）
は、図１における試験セル折返し手段（３００）に対応
する。
それぞれ試験セル送信部（ＴＣＧ）（２１５）および試
験セル受信解析部（ＴＣＡ）（２１６）が、図１におけ
る試験セル送信手段（２００）および試験セル検査手段
（４００）として設けられ、また各共通部（２２）内の
折返し制御部（ＬＢＣ）（２２４）および（２２７）
は、図１における試験セル折返し手段（３００）に対応
する。
【００２２】信号処理装置（２）は、単体で外部から電
源が供給されることにより、前述の各部が動作を開始す
る。また折返し制御部（ＬＢＣ）（２２４）は、折返し
設定レジスタ（ＬＳＲ）（２１４）に折返し設定信号
（ＬＰ1 ）が蓄積されぬ状態では、分離部（ＤＭＸ）
（２２６）から出力される上り方向のセルをバッファ部
（ＦＩＦＯ）（２２２U）に転送し、ＶＣＣ制御部（Ｖ
ＣＣ）（２２３）から出力される下り方向のセルを上り
方向のセルとしてバッファ部（ＦＩＦＯ）（２２２U ）
に折返し転送することは無いが、折返し設定レジスタ
（ＬＳＲ）（２１４）に折返し設定信号（ＬＰ1 ）が蓄
積された状態では、ＶＣＣ制御部（ＶＣＣ）（２２３）
から出力される下り方向のセルを上り方向のセルとして
バッファ部（ＦＩＦＯ）（２２２U ）に折返し転送し、
分離部（ＤＭＸ）（２２６）から出力される上り方向の
セルをバッファ部（ＦＩＦＯ）（２２２U ）に転送する
ことは無い。
源が供給されることにより、前述の各部が動作を開始す
る。また折返し制御部（ＬＢＣ）（２２４）は、折返し
設定レジスタ（ＬＳＲ）（２１４）に折返し設定信号
（ＬＰ1 ）が蓄積されぬ状態では、分離部（ＤＭＸ）
（２２６）から出力される上り方向のセルをバッファ部
（ＦＩＦＯ）（２２２U）に転送し、ＶＣＣ制御部（Ｖ
ＣＣ）（２２３）から出力される下り方向のセルを上り
方向のセルとしてバッファ部（ＦＩＦＯ）（２２２U ）
に折返し転送することは無いが、折返し設定レジスタ
（ＬＳＲ）（２１４）に折返し設定信号（ＬＰ1 ）が蓄
積された状態では、ＶＣＣ制御部（ＶＣＣ）（２２３）
から出力される下り方向のセルを上り方向のセルとして
バッファ部（ＦＩＦＯ）（２２２U ）に折返し転送し、
分離部（ＤＭＸ）（２２６）から出力される上り方向の
セルをバッファ部（ＦＩＦＯ）（２２２U ）に転送する
ことは無い。
【００２３】また折返し制御部（ＬＢＣ）（２２７）
は、折返し設定レジスタ（ＬＳＲ）（２１４）に折返し
設定信号（ＬＰ2 ）が蓄積されぬ状態では、多重部（Ｍ
ＵＸ）（２２５）から出力される下り方向のセルを速度
変換部（ＣＮＶ）（２２８）に転送すると共に、速度変
換部（ＣＮＶ）（２２８）から出力される上り方向のセ
ルを分離部（ＤＭＸ）（２２６）に転送し、多重部（Ｍ
ＵＸ）（２２５）から出力される上り方向のセルを、下
り方向のセルとして分離部（ＤＭＸ）（２２６）に折返
し転送することは無いが、折返し設定レジスタ（ＬＳ
Ｒ）（２１４）に折返し設定信号（ＬＰ2 ）が蓄積され
た状態では、多重部（ＭＵＸ）（２２５）から出力され
る上り方向のセルを、下り方向のセルとして分離部（Ｄ
ＭＸ）（２２６）に折返し転送し、多重部（ＭＵＸ）
（２２５）から出力される下り方向のセルを速度変換部
（ＣＮＶ）（２２８）に転送することも、速度変換部
（ＣＮＶ）（２２８）から出力される上り方向のセルを
分離部（ＤＭＸ）（２２６）に転送することも無い。
は、折返し設定レジスタ（ＬＳＲ）（２１４）に折返し
設定信号（ＬＰ2 ）が蓄積されぬ状態では、多重部（Ｍ
ＵＸ）（２２５）から出力される下り方向のセルを速度
変換部（ＣＮＶ）（２２８）に転送すると共に、速度変
換部（ＣＮＶ）（２２８）から出力される上り方向のセ
ルを分離部（ＤＭＸ）（２２６）に転送し、多重部（Ｍ
ＵＸ）（２２５）から出力される上り方向のセルを、下
り方向のセルとして分離部（ＤＭＸ）（２２６）に折返
し転送することは無いが、折返し設定レジスタ（ＬＳ
Ｒ）（２１４）に折返し設定信号（ＬＰ2 ）が蓄積され
た状態では、多重部（ＭＵＸ）（２２５）から出力され
る上り方向のセルを、下り方向のセルとして分離部（Ｄ
ＭＸ）（２２６）に折返し転送し、多重部（ＭＵＸ）
（２２５）から出力される下り方向のセルを速度変換部
（ＣＮＶ）（２２８）に転送することも、速度変換部
（ＣＮＶ）（２２８）から出力される上り方向のセルを
分離部（ＤＭＸ）（２２６）に転送することも無い。
【００２４】従って、折返し設定レジスタ（ＬＳＲ）
（２１４）に折返し設定信号（ＬＰ1）および（Ｌ
Ｐ2 ）が蓄積されていない通常の状態では、共通バス
（８）の接続端子から入力される上り方向のセルが、処
理部（ＭＰＵ）（２１１）、記憶部（ＭＥＭ）（２１
２）、セル送受信部（ＣＳＲ）（２１３）、セレクタ
（ＳＬ）（２２１）、バッファ部（ＦＩＦＯ）（２２２
D ）、ＶＣＣ制御部（ＶＣＣ）（２２３）、多重部（Ｍ
ＵＸ）（２２５）、折返し制御部（ＬＢＣ）（２２４）
および速度変換部（ＣＮＶ）（２２８）を介してＡＴＭ
スイッチ（３）への送信端子に送出され、またＡＴＭス
イッチ（３）からの受信端子から入力される下り方向の
セルが、速度変換部（ＣＮＶ）（２２８）、折返し制御
部（ＬＢＣ）（２２７）、分離部（ＤＭＸ）（２２
６）、折返し制御部（ＬＢＣ）（２２４）、バッファ部
（ＦＩＦＯ）（２２２U ）、セル送受信部（ＣＳＲ）
（２１３）、記憶部（ＭＥＭ）（２１２）および処理部
（ＭＰＵ）（２１１）を介して共通バス（８）の接続端
子に送出される。
（２１４）に折返し設定信号（ＬＰ1）および（Ｌ
Ｐ2 ）が蓄積されていない通常の状態では、共通バス
（８）の接続端子から入力される上り方向のセルが、処
理部（ＭＰＵ）（２１１）、記憶部（ＭＥＭ）（２１
２）、セル送受信部（ＣＳＲ）（２１３）、セレクタ
（ＳＬ）（２２１）、バッファ部（ＦＩＦＯ）（２２２
D ）、ＶＣＣ制御部（ＶＣＣ）（２２３）、多重部（Ｍ
ＵＸ）（２２５）、折返し制御部（ＬＢＣ）（２２４）
および速度変換部（ＣＮＶ）（２２８）を介してＡＴＭ
スイッチ（３）への送信端子に送出され、またＡＴＭス
イッチ（３）からの受信端子から入力される下り方向の
セルが、速度変換部（ＣＮＶ）（２２８）、折返し制御
部（ＬＢＣ）（２２７）、分離部（ＤＭＸ）（２２
６）、折返し制御部（ＬＢＣ）（２２４）、バッファ部
（ＦＩＦＯ）（２２２U ）、セル送受信部（ＣＳＲ）
（２１３）、記憶部（ＭＥＭ）（２１２）および処理部
（ＭＰＵ）（２１１）を介して共通バス（８）の接続端
子に送出される。
【００２５】一方、信号処理装置（２）を単体でセル透
過試験を実行する為に、処理部（ＭＰＵ）（２１１）か
ら折返し設定レジスタ（ＬＳＲ）（２１４）に、または
外部から折返し設定レジスタ（ＬＳＲ）（２１４）に折
返し設定信号（ＬＰ1 ）を蓄積すると、前述の如く、折
返し制御部（ＬＢＣ）（２２４）に試験用折返し経路が
設定される。
過試験を実行する為に、処理部（ＭＰＵ）（２１１）か
ら折返し設定レジスタ（ＬＳＲ）（２１４）に、または
外部から折返し設定レジスタ（ＬＳＲ）（２１４）に折
返し設定信号（ＬＰ1 ）を蓄積すると、前述の如く、折
返し制御部（ＬＢＣ）（２２４）に試験用折返し経路が
設定される。
【００２６】かかる状態で、外部から処理部（ＭＰＵ）
（２１１）にセル透過試験の開始指示を伝達すると、処
理部（ＭＰＵ）（２１１）内の試験セル送信部（ＴＣ
Ｇ）（２１５）が、各種試験データを含む試験セル（Ｃ
T ）を順次生成し、共通バス（８）に送出する。
（２１１）にセル透過試験の開始指示を伝達すると、処
理部（ＭＰＵ）（２１１）内の試験セル送信部（ＴＣ
Ｇ）（２１５）が、各種試験データを含む試験セル（Ｃ
T ）を順次生成し、共通バス（８）に送出する。
【００２７】試験セル（ＣT ）は、記憶部（ＭＥＭ）
（２１２）、セル送受信部（ＣＳＲ）（２１３）、セレ
クタ（ＳＬ）（２２１）、バッファ部（ＦＩＦＯ）（２
２２D）、ＶＣＣ制御部（ＶＣＣ）（２２３）を介して
折返し制御部（ＬＢＣ）（２２４）に転送され、折返し
制御部（ＬＢＣ）（２２４）に設定された試験用折返し
経路、バッファ部（ＦＩＦＯ）（２２２U ）、セル送受
信部（ＣＳＲ）（２１３）および記憶部（ＭＥＭ）（２
１２）を介して処理部（ＭＰＵ）（２１１）内の試験セ
ル受信解析部（ＴＣＡ）（２１６）により順次受信され
る。
（２１２）、セル送受信部（ＣＳＲ）（２１３）、セレ
クタ（ＳＬ）（２２１）、バッファ部（ＦＩＦＯ）（２
２２D）、ＶＣＣ制御部（ＶＣＣ）（２２３）を介して
折返し制御部（ＬＢＣ）（２２４）に転送され、折返し
制御部（ＬＢＣ）（２２４）に設定された試験用折返し
経路、バッファ部（ＦＩＦＯ）（２２２U ）、セル送受
信部（ＣＳＲ）（２１３）および記憶部（ＭＥＭ）（２
１２）を介して処理部（ＭＰＵ）（２１１）内の試験セ
ル受信解析部（ＴＣＡ）（２１６）により順次受信され
る。
【００２８】試験セル受信解析部（ＴＣＡ）（２１６）
は、受信した試験セル（ＣT ）を、試験セル送信部（Ｔ
ＣＧ）（２１５）が生成し、送信した試験セル（ＣT ）
と比較し、一致・不一致数を計数し、試験セル（ＣT ）
の生成総数に対する一致数の割合をセル透過率として外
部に出力する。
は、受信した試験セル（ＣT ）を、試験セル送信部（Ｔ
ＣＧ）（２１５）が生成し、送信した試験セル（ＣT ）
と比較し、一致・不一致数を計数し、試験セル（ＣT ）
の生成総数に対する一致数の割合をセル透過率として外
部に出力する。
【００２９】また、信号処理装置（２）を単体でセル透
過試験を実行する為に、処理部（ＭＰＵ）（２１１）か
ら折返し設定レジスタ（ＬＳＲ）（２１４）に、または
外部から折返し設定レジスタ（ＬＳＲ）（２１４）に折
返し設定信号（ＬＰ2 ）を蓄積すると、前述の如く、折
返し制御部（ＬＢＣ）（２２７）に試験用折返し経路が
設定される。
過試験を実行する為に、処理部（ＭＰＵ）（２１１）か
ら折返し設定レジスタ（ＬＳＲ）（２１４）に、または
外部から折返し設定レジスタ（ＬＳＲ）（２１４）に折
返し設定信号（ＬＰ2 ）を蓄積すると、前述の如く、折
返し制御部（ＬＢＣ）（２２７）に試験用折返し経路が
設定される。
【００３０】かかる状態で、外部から処理部（ＭＰＵ）
（２１１）にセル透過試験の開始指示を伝達すると、処
理部（ＭＰＵ）（２１１）内の試験セル送信部（ＴＣ
Ｇ）（２１５）が、前述と同様に、各種試験データを含
む試験セル（ＣT ）を順次生成し、共通バス（８）に送
出する。
（２１１）にセル透過試験の開始指示を伝達すると、処
理部（ＭＰＵ）（２１１）内の試験セル送信部（ＴＣ
Ｇ）（２１５）が、前述と同様に、各種試験データを含
む試験セル（ＣT ）を順次生成し、共通バス（８）に送
出する。
【００３１】試験セル（ＣT ）は、記憶部（ＭＥＭ）
（２１２）、セル送受信部（ＣＳＲ）（２１３）、セレ
クタ（ＳＬ）（２２１）、バッファ部（ＦＩＦＯ）（２
２２D）、ＶＣＣ制御部（ＶＣＣ）（２２３）を介して
折返し制御部（ＬＢＣ）（２２７）に転送され、折返し
制御部（ＬＢＣ）（２２７）内に設定された試験用折返
し経路、分離部（ＤＭＸ）（２２６）、折返し制御部
（ＬＢＣ）（２２４）、バッファ部（ＦＩＦＯ）（２２
２U ）、セル送受信部（ＣＳＲ）（２１３）および記憶
部（ＭＥＭ）（２１２）を介して処理部（ＭＰＵ）（２
１１）内の試験セル受信解析部（ＴＣＡ）（２１６）に
より順次受信される。
（２１２）、セル送受信部（ＣＳＲ）（２１３）、セレ
クタ（ＳＬ）（２２１）、バッファ部（ＦＩＦＯ）（２
２２D）、ＶＣＣ制御部（ＶＣＣ）（２２３）を介して
折返し制御部（ＬＢＣ）（２２７）に転送され、折返し
制御部（ＬＢＣ）（２２７）内に設定された試験用折返
し経路、分離部（ＤＭＸ）（２２６）、折返し制御部
（ＬＢＣ）（２２４）、バッファ部（ＦＩＦＯ）（２２
２U ）、セル送受信部（ＣＳＲ）（２１３）および記憶
部（ＭＥＭ）（２１２）を介して処理部（ＭＰＵ）（２
１１）内の試験セル受信解析部（ＴＣＡ）（２１６）に
より順次受信される。
【００３２】試験セル受信解析部（ＴＣＡ）（２１６）
は、前述と同様に、受信した試験セル（ＣT ）を、試験
セル送信部（ＴＣＧ）（２１５）が生成した試験セル
（ＣT）と比較し、一致・不一致数を計数し、試験セル
（ＣT ）の生成総数に対する一致数の割合をセル透過率
として外部に出力する。
は、前述と同様に、受信した試験セル（ＣT ）を、試験
セル送信部（ＴＣＧ）（２１５）が生成した試験セル
（ＣT）と比較し、一致・不一致数を計数し、試験セル
（ＣT ）の生成総数に対する一致数の割合をセル透過率
として外部に出力する。
【００３３】以上により、信号処理装置（２）単体のセ
ル透過試験が、予め定められた二個所、即ち折返し制御
部（ＬＢＣ）（２２４）および（２２７）により試験用
折返し経路を設定した状態でそれぞれ実行可能となる。
ル透過試験が、予め定められた二個所、即ち折返し制御
部（ＬＢＣ）（２２４）および（２２７）により試験用
折返し経路を設定した状態でそれぞれ実行可能となる。
【００３４】ＡＴＭ交換機（１０）を構成するその他の
装置、例えばＡＴＭスイッチ（３）、加入者制御装置
（４）においても、信号処理装置（２）におけると同様
に、それぞれ試験セル送信部（ＴＣＧ）（２１５）、折
返し制御部（ＬＢＣ）（２２４）または（２２７）、並
びに試験セル受信解析部（ＴＣＡ）（２１６）に相当す
る回路を設けることにより、それぞれ単体でセル透過試
験が実行可能となる。
装置、例えばＡＴＭスイッチ（３）、加入者制御装置
（４）においても、信号処理装置（２）におけると同様
に、それぞれ試験セル送信部（ＴＣＧ）（２１５）、折
返し制御部（ＬＢＣ）（２２４）または（２２７）、並
びに試験セル受信解析部（ＴＣＡ）（２１６）に相当す
る回路を設けることにより、それぞれ単体でセル透過試
験が実行可能となる。
【００３５】次に、試験セル生成・検査装置（５）と信
号処理装置（２）とをＡＴＭスイッチ（３）により結合
した状態で、セル透過試験を実行する状況を、図２およ
び図３を用いて説明すると、ＡＴＭスイッチ（３）内の
折返し制御部（ＬＢＣ）（３２）には試験用折返し経路
を設定させず、一方信号処理装置（２）内の折返し設定
レジスタ（ＬＳＲ）（２１４）には折返し設定信号（Ｌ
Ｐ1 ）または（ＬＰ2）を蓄積し、その結果折返し制御
部（ＬＢＣ）（２２４）または（２２７）には試験用折
返し経路を設定させた状態で、試験セル生成・検査装置
（５）内に設けられている試験セル送信部（ＴＣＧ）
（５１）〔図２における試験セル送信部（ＴＣＧ）（２
１５）相当〕に試験セル（ＣT ）を生成・送信させ、Ａ
ＴＭスイッチ（３）を介して信号処理装置（２）に入力
させ、信号処理装置（２）内の折返し制御部（ＬＢＣ）
（２２４）または（２２７）に設定されている試験用折
返し経路と、ＡＴＭスイッチ（３）とを経由して試験セ
ル生成・検査装置（５）に返送し、試験セル生成・検査
装置（５）内に設けられている試験セル受信解析部（Ｔ
ＣＡ）（５２）〔図２における試験セル受信解析部（Ｔ
ＣＡ）（２１６）相当〕により受信させ、試験セル送信
部が生成・送信した試験セル（ＣT ）と比較させること
により、セル透過率を算出し、出力させる。
号処理装置（２）とをＡＴＭスイッチ（３）により結合
した状態で、セル透過試験を実行する状況を、図２およ
び図３を用いて説明すると、ＡＴＭスイッチ（３）内の
折返し制御部（ＬＢＣ）（３２）には試験用折返し経路
を設定させず、一方信号処理装置（２）内の折返し設定
レジスタ（ＬＳＲ）（２１４）には折返し設定信号（Ｌ
Ｐ1 ）または（ＬＰ2）を蓄積し、その結果折返し制御
部（ＬＢＣ）（２２４）または（２２７）には試験用折
返し経路を設定させた状態で、試験セル生成・検査装置
（５）内に設けられている試験セル送信部（ＴＣＧ）
（５１）〔図２における試験セル送信部（ＴＣＧ）（２
１５）相当〕に試験セル（ＣT ）を生成・送信させ、Ａ
ＴＭスイッチ（３）を介して信号処理装置（２）に入力
させ、信号処理装置（２）内の折返し制御部（ＬＢＣ）
（２２４）または（２２７）に設定されている試験用折
返し経路と、ＡＴＭスイッチ（３）とを経由して試験セ
ル生成・検査装置（５）に返送し、試験セル生成・検査
装置（５）内に設けられている試験セル受信解析部（Ｔ
ＣＡ）（５２）〔図２における試験セル受信解析部（Ｔ
ＣＡ）（２１６）相当〕により受信させ、試験セル送信
部が生成・送信した試験セル（ＣT ）と比較させること
により、セル透過率を算出し、出力させる。
【００３６】以上により、試験セル生成・検査装置
（５）と信号処理装置（２）とを結合したセル透過試験
も実行可能となる。以上の説明から明らかな如く、本実
施例によれば、ＡＴＭ交換機（１０）の構成装置である
信号処理装置（２）が単体でセル透過試験を実行可能と
なり、更に試験セル生成・検査装置（５）と信号処理装
置（２）とを結合した状態でのセル透過試験も実行可能
となる。
（５）と信号処理装置（２）とを結合したセル透過試験
も実行可能となる。以上の説明から明らかな如く、本実
施例によれば、ＡＴＭ交換機（１０）の構成装置である
信号処理装置（２）が単体でセル透過試験を実行可能と
なり、更に試験セル生成・検査装置（５）と信号処理装
置（２）とを結合した状態でのセル透過試験も実行可能
となる。
【００３７】なお、図２はあく迄本発明の一実施例に過
ぎず、例えば試験の対象は信号処理装置（２）に限定さ
れることは無く、呼処理装置（１）、ＡＴＭスイッチ
（３）、加入者制御装置（４）等、他に幾多の変形が考
慮されるが、何れの場合にも本発明の効果は変わらな
い。また結合する構成装置は試験セル生成・検査装置
（５）と信号処理装置（２）とに限定されることは無
く、信号処理装置（２）およびＡＴＭスイッチ（３）、
またはＡＴＭスイッチ（３）および加入者制御装置
（４）、または呼処理装置（１）、信号処理装置
（２）、ＡＴＭスイッチ（３）および加入者制御装置
（４）等、他に幾多の変形が考慮されるが、何れの場合
にも本発明の効果は変わらない。更に本発明の対象とな
るＡＴＭ交換機（１００）は、図示されるものに限定さ
れぬことは言う迄も無い。
ぎず、例えば試験の対象は信号処理装置（２）に限定さ
れることは無く、呼処理装置（１）、ＡＴＭスイッチ
（３）、加入者制御装置（４）等、他に幾多の変形が考
慮されるが、何れの場合にも本発明の効果は変わらな
い。また結合する構成装置は試験セル生成・検査装置
（５）と信号処理装置（２）とに限定されることは無
く、信号処理装置（２）およびＡＴＭスイッチ（３）、
またはＡＴＭスイッチ（３）および加入者制御装置
（４）、または呼処理装置（１）、信号処理装置
（２）、ＡＴＭスイッチ（３）および加入者制御装置
（４）等、他に幾多の変形が考慮されるが、何れの場合
にも本発明の効果は変わらない。更に本発明の対象とな
るＡＴＭ交換機（１００）は、図示されるものに限定さ
れぬことは言う迄も無い。
【００３８】
【発明の効果】以上、本発明によれば、前記ＡＴＭ交換
機において、ＡＴＭ交換機を構成する各装置単体でセル
透過試験が実行可能となり、当該ＡＴＭ交換機を実現す
る各段階において同試験を実施可能となる為、当該ＡＴ
Ｍ交換機の信頼性が大幅に向上する。
機において、ＡＴＭ交換機を構成する各装置単体でセル
透過試験が実行可能となり、当該ＡＴＭ交換機を実現す
る各段階において同試験を実施可能となる為、当該ＡＴ
Ｍ交換機の信頼性が大幅に向上する。
【図１】 本発明の原理を示す図
【図２】 本発明の一実施例による信号処理装置を示す
図
図
【図３】 構成装置結合状態におけるセル透過試験を説
明する図
明する図
【図４】 本発明の対象となるＡＴＭ交換機の一例を示
す図
す図
１ 呼処理装置 ２、１０２ 信号処理装置 ３、１０３ ＡＴＭスイッチ ４、１０４ 加入者制御装置 ５ 試験セル生成・検査装置 ６ 加入者線 ７ 端末装置 ８ 共通バス １０、１００ ＡＴＭ交換機 ２１ 個別部 ２２ 共通部 ３１、２１４ 折返し設定レジスタ（ＬＳＲ） ３２、２２４、２２７ 折返し制御部（ＬＢＣ） ５１、２１５ 試験セル送信部（ＴＣＧ） ５２、２１６ 試験セル受信解析部（ＴＣＡ） ２００ 試験セル送信手段 ２１１ 処理部（ＭＰＵ） ２１２ 記憶部（ＭＥＭ） ２１３ セル送受信部（ＣＳＲ） ２２１ セレクタ（ＳＬ） ２２２D 、２２２U バッファ部（ＦＩＦＯ） ２２３ ＶＣＣ制御部（ＶＣＣ） ２２５ 多重部（ＭＵＸ） ２２６ 分離部（ＤＭＸ） ２２８ 速度変換部（ＣＮＶ） ３００ 試験セル折返し手段 ４００ 試験セル検査手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高実子 亮 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 ▲高▼木 綾 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内
Claims (3)
- 【請求項１】 それぞれセルを送受信する複数種類の装
置から構成されるＡＴＭ交換機（１００）において、 前記各構成装置に、各種の試験データを含む複数の試験
セルを生成し、前記各構成装置内に送信する試験セル送
信手段（２００）と、 前記各構成装置内の試験セル送信手段（２００）から伝
達される前記試験セルを折返し返送する折返し経路を、
前記各装置内の予め定められた位置に設定する試験セル
折返し手段（３００）と、 前記試験セル折返し手段（３００）を経由して折返し返
送される前記試験セルを受信し、前記試験セル送信手段
（２００）から送信された試験セルと比較して一致・不
一致の割合を検査する試験セル検査手段（４００）とを
設けることにより、前記各構成装置単体でセル透過試験
を実行可能とすることを特徴とするセル透過試験方式。 - 【請求項２】 前記試験セル送信手段（２００）、試験
セル折返し手段（３００）および試験セル検査手段（４
００）は、複数の前記構成装置を結合した場合に、特定
の前記構成装置内に設けられた前記試験セル送信手段
（２００）から送信された前記試験セルを、前記特定の
構成装置以外の構成装置内に伝達し、該特定の構成装置
以外の構成装置内に設けられた前記試験セル折返し手段
（３００）により前記特定の構成装置に折返し返送し、
前記特定の構成装置内に設けられている前記試験セル検
査手段（４００）により検査することにより、複数の前
記構成装置を結合したセル透過試験を実行可能とするこ
とを特徴とする請求項１記載のセル透過試験方式。 - 【請求項３】 前記試験セル送信手段（２００）、試験
セル折返し手段（３００）および試験セル検査手段（４
００）は、前記ＡＴＭ交換機（１００）を構成する信号
処理装置（１０２）、ＡＴＭスイッチ（１０３）、加入
者制御装置（１０４）の少なくも何れかに設けることを
特徴とする請求項１記載のセル透過試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6042950A JPH07254901A (ja) | 1994-03-15 | 1994-03-15 | セル透過試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6042950A JPH07254901A (ja) | 1994-03-15 | 1994-03-15 | セル透過試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07254901A true JPH07254901A (ja) | 1995-10-03 |
Family
ID=12650307
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6042950A Withdrawn JPH07254901A (ja) | 1994-03-15 | 1994-03-15 | セル透過試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07254901A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100269261B1 (ko) * | 1997-07-14 | 2000-10-16 | 이계철 | 에이티엠교환기가입자제어모듈의시험장치 |
| KR100419150B1 (ko) * | 1999-08-24 | 2004-02-14 | 엘지전자 주식회사 | 교환 시스템에서의 활성/대기 유 링크 시험 장치 |
-
1994
- 1994-03-15 JP JP6042950A patent/JPH07254901A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100269261B1 (ko) * | 1997-07-14 | 2000-10-16 | 이계철 | 에이티엠교환기가입자제어모듈의시험장치 |
| KR100419150B1 (ko) * | 1999-08-24 | 2004-02-14 | 엘지전자 주식회사 | 교환 시스템에서의 활성/대기 유 링크 시험 장치 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010605 |