JPH07253393A - 粉粒体用分光分析装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 前記サンプルセルの光透過部に微粉体が付着
したとしても自動的に除去出来る粉粒体用分光分析装置
を提供すること。 【構成】 サンプルセル１に粉粒体を供給する供給手段
２を、前記サンプルセル１内に挿入自在な筒状体５と、
前記筒状体５内に粉粒体を案内するためのホッパ６とか
ら構成し、前記筒状体５をサンプルセル１に対して相対
的に挿脱自在に取付け、前記サンプルセル１の光透過部
１ｂを除塵する除塵機構Ｂを前記筒状体５に設けてあ
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、対向する両側面に光透
過部を形成した筒部材からなり、かつ、内部に粉粒体を
収容および排出自在なサンプルセルと、そのサンプルセ
ルに粉粒体を供給する供給手段とを備えた測定部を設
け、かつ、前記測定部に測定用光線束を照射する光源
と、前記サンプルセルに粉粒体を収容した状態で、前記
光源から前記光透過部を通して前記粉粒体を経由した測
定用光線束を分析する分析手段とを設けた粉粒体用分光
分析装置に関し、例えば、前記測定用光線束の分光分析
により、殻粒の成分を解析し、品質、食味等を検出する
のに用いられる粉粒体用分光分析装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種の粉粒体用分光分析装置と
しては、前記供給装置を単に、前記筒状体内に粉粒体を
案内するためのホッパから構成してあるものがあった。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の粉粒体
用分光分析装置によれば、粉粒体を前記サンプルセル内
外に出し入れする際に、前記光透過部と前記粉粒体の摩
擦による静電気や、前記粉粒体の粘着性等によって、前
記サンプルセルに粉粒体や、その粉粒体から起因する微
粉体等の塵が付着して、前記光透過部の透光度が低下し
たり、分析すべき粉粒体が前記サンプルセル内で十分に
入れ替わらなかったりして、正確な分析が行えなかった
り、誤判断の原因になったりする可能性があった。

【０００４】そのため、このような事態を避け、正確な
分析をするためには、前記サンプルセルの光透過部を測
定ごとに除塵するなどの対策を講じざるを得ず、このよ
うな作業は煩わしく、かつ、分析に長い時間を要するこ
とにもなり、簡単に前記塵を取除くことができる粉粒体
用分光分析装置が望まれていた。

【０００５】従って、本発明の目的は、上記欠点に鑑
み、前記サンプルセルの光透過部に微粉体が付着したと
しても自動的に除去出来る粉粒体用分光分析装置を提供
することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
の本発明の特徴構成は、サンプルセルに粉粒体を供給す
る供給手段を、前記サンプルセル内に挿入自在な筒状体
と、前記筒状体内に粉粒体を案内するためのホッパとか
ら構成し、前記筒状体をサンプルセルに対して相対的に
挿脱自在に取付け、前記サンプルセルの光透過部を除塵
する除塵機構を前記筒状体に設けてあることにある。
尚、前記除塵機構は、前記サンプルセルと、前記供給装
置との相対移動時に機能するものであってもよく、サン
プルセル内面の前記光透過部に接当する除塵部材を備え
いてもよく、前記除塵機構が、導電性ゴムからなるスク
レーパであり、そのスクレーパは、アース接続してある
ものや、前記筒状体が前記サンプルセル内に挿入される
際に、前記光透過部に面する側が前記サンプルセルの前
記筒状体に対する移動方向に回転するブラシであるもの
であれば好適である。その作用効果は以下の通りであ
る。

【０００７】

【作用】つまり、前記供給装置の前記筒状体を前記サン
プルセル内に挿入した状態にして、前記ホッパから粉粒
体を排出すれば、前記サンプルセル内に前記粉粒体を供
給出来る。また、前記供給装置と、前記サンプルセルと
は挿脱自在に構成してあるから、これらを離間させる
と、前記サンプルセルに粉粒体を収容した状態で測定部
にそのサンプルセルを設置出来る。この状態で光源から
測定用光線束を測定部に照射すれば、その測定用光線束
は、前記サンプルセルの光透過部を通して前記粉粒体に
照射することになる。そして、前記粉粒体に照射され、
前記粉粒体を経由した測定用光線束は、測定用光線束を
分析する分析手段に導入して、分光分析可能となる。

【０００８】このあと、分光分析の終了した前記粉粒体
は、前記サンプルセルから排出され、再び前記サンプル
セルに前記供給装置の前記筒状体を挿入移動させれば、
前記サンプルセル内には新たな粉粒体を供給自在になる
のである。

【０００９】このとき、前記粉粒体を前記サンプルセル
から排出するときに、前記粉粒体から生じた微粉体が前
記光透過部に付着したとしても、前記筒状体に設けた除
塵機構がその微粉体を除塵するので、新たな粉粒体が前
記サンプルセル内に供給されるときには前記光透過部
は、除塵され、自動的に透光度が低下していない状態に
保持されるのである。

【００１０】

【発明の効果】従って、前記光透過部は測定用光線束の
透過する条件下で高い透光度を維持できるから、前記粉
粒体を正確に分析でき、その分析結果を誤判断するよう
な事態が起きにくくなった。

【００１１】また、前記光透過部は自動的に除塵可能な
ので測定の度に前記サンプルセルを取出して光透過部を
清掃するような手間をかけずとも、簡単に正確な分析を
行うことが出来るようになり、分光分析を連続的にかつ
迅速に出来る。

【００１２】尚、前記除塵機構は、前記サンプルセル
と、前記供給装置との相対移動時に機能するものであれ
ば、前記サンプルセルに粉粒体を収容する作業と前記光
透過部を除塵する作業を同時に行え、前記分光分析を迅
速に行えるという利点があり、前記除塵機構が、サンプ
ルセル内面の前記光透過部に接当する除塵部材を備えい
れば、前記光透過部の除塵が物理的に確実に行える。

【００１３】また、前記除塵機構が、導電性ゴムからな
るスクレーパであり、そのスクレーパは、アース接続し
てあれば、前記スクレーパが除塵した塵が静電気を帯び
ていたとしても、その静電気を放出することが出来るの
で、簡単に除去でき、かつ、前記光透過部の静電気も除
去できるという利点があるとともに、前記スクレーパ自
身に塵が付着しにくくなるので繰り返しの除塵操作によ
っても前記スクレーパがよごれにくく、除塵性能が低下
しにくい。また、前記筒状体が前記サンプルセル内に挿
入される際に、前記光透過部に面する側が前記サンプル
セルの前記筒状体に対する移動方向に回転するブラシで
あれば、前記光透過部に付着した塵を物理的に払い落と
す作業を連続的に繰り返して行えるので、高い除塵性能
を発揮することが出来る。

【００１４】尚、前記粉粒体は、前記筒状体を通じて前
記サンプルセルに供給されるので前記粉粒体は、前記サ
ンプルセル内に均一に充填されやすいという利点があ
る。

【００１５】

【実施例】以下に本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。 〔実施例１〕図１に示すように、本発明の粉粒体用分光
分析装置は、内部に殻粒や殻粒の粉末等のサンプルｓを
収容、排出自在なサンプルセル１と前記サンプルセルに
前記サンプルｓを供給自在な供給手段２とを設けた測定
部Ａを設け、前記測定部Ａに測定用光線束を照射する光
源部３と、前記光源部３から前記サンプルｓを透過した
測定用光線束を分光分析する分析部４とを設けて光軸Ｐ
に沿って配置して構成してある。

【００１６】前記光源部３は、タングステン−ハロゲン
電球からなる光源３ａと、前記光源３ａから前記測定部
Ａに向かう測定用光線束を集光して測定用光線束に変換
するレンズ３ｂを設けて構成してある。

【００１７】図２に示すように、前記サンプルセル１は
筒部材１ａからなり、対向する両側面の中央部を石英ガ
ラスで構成して光透過部１ｂを形成してある。また、前
記筒部材１ａの下端部には、蓋体１ｃを連設してあり、
さらにその蓋体１ｃには、前記筒部材１ａの下端開口部
を開閉自在に前記蓋体１ｃを搖動操作する搖動装置を連
設してサンプル排出自在に構成してある。

【００１８】図２に示すように、前記供給手段２は、前
記サンプルセル１に挿入自在な筒状体５と、前記筒状体
５の上端部に連設され、前記サンプルｓを前記サンプル
セル１内に案内自在なホッパ６とからなる。

【００１９】前記筒状体５と、ホッパ６との連結部に
は、シャッター７を設けてあり、前記シャッター７には
シャッター開閉装置８を連設してなり、シャッター７を
閉じた状態では、前記ホッパ６内に粉粒体を蓄積自在で
かつ、前記ホッパ６内に粉粒体を蓄積した状態で前記シ
ャッター７を開操作することで、前記ホッパ６内のサン
プルｓを前記筒状体５内に案内自在に構成してある。

【００２０】さらに、前記筒状体５の下端部には導電性
ゴムからなるスクレーパ９を設けてあり、そのスクレー
パ９はアース線１０にアース接続されている。

【００２１】また、前記サンプルセル１は上下移動自在
にして、上昇したときには前記サンプルセル１内に前記
筒状体５が挿入され、ホッパ６からのサンプルｓを受け
入れ自在に配置し、下降したときには、前記サンプルセ
ル１が前記光軸Ｐ上に光透過部を配置した状態で前記測
定部Ａに配置されるように構成してある。

【００２２】図１に示すように、前記分析部４は、アル
ミニウム製の暗室４ａを設け、その暗室４ａ内で、入射
した測定用光線束を分光反射する凹面回折格子４ｂと、
分光反射された各波長毎の光線束強度を検出するアレイ
型受光素子４ｃとを設けて構成してある。また、前記暗
室４ａ内の光軸上における前記入射孔４ｄと前記凹面回
折格子４ｂとの間には、前記入射孔４ｄからの測定用光
線束を凹面回折格子４ｂに向けて反射させる反射鏡４ｅ
を設けてある。即ち、前記分析部４はポリクロメータ型
の分光計である。

【００２３】前記アレイ型受光素子４ｃは、前記凹面回
折格子４ａによる光線束の分散光路上の前記暗室４ａに
設けた受光素子固定部４ｆに固定設置してあり、シリコ
ン（Ｓｉ）又は硫化鉛（ＰｂＳ）又はゲルマニウム（Ｇ
ｅ）センサで構成してある。

【００２４】また、前記サンプルセル１と前記暗室４ａ
との間には、前記サンプルセル１を透過した測定用光線
束を様々な状態に変化させ、前記サンプルの成分を、前
記測定用光線束の変化により解析可能にするフィルタ装
置１１を設けるとともに、前記サンプルｓを透過した光
線束を前記分析部４の入射孔４ｄ位置で集光させる集光
レンズ１２と、暗箱１３とを設けて光路への有害光の進
入を防止する構成にしてある。

【００２５】つまり、光源３ａから照射された測定用光
線束は前記レンズ３ｂ、光透過部１ｂを通って殻粒サン
プルｓを透過し、フィルタ装置ｓを通って前記集光レン
ズ１２、暗箱１３を介して前記分析部４に導入される。
その測定用光線束は、凹面回折格子４ｂで分光され、前
記アレイ型受光素子４ｃで検出され、その検出信号は処
理手段１４に送られて処理され、その処理済スペクト
ル、スペクトルの二次微分値等のスペクトル関連情報が
求められる。さらに、前述のフィルタ装置１１と処理手
段１４との連係が情報分別手段１５によって採られ、前
記殻粒サンプルｓの成分を解析自在にしてある。

【００２６】前記サンプルセル１に新たなサンプルｓを
供給する場合には、前記サンプルセル１内部から殻粒サ
ンプルｓを排出した状態で上昇させれば、前記スクレー
パ９が前記サンプルセル１の光透過部１ｂに接当して、
その光透過部１ｂに付着した殻粒微分末等の塵を自動的
に除塵するとともに、その塵を下方に落下させられる。
次いで前記サンプルセル１の下端部を蓋体１ｃで蓋した
状態で前記供給手段２のシャッタ７を開ければ、前記サ
ンプルセル１内に前記ホッパ６内に蓄積されたサンプル
ｓが前記サンプルセル１内に供給されることになる。そ
の後、前記サンプルセル１が下方に移動すれば前記サン
プルセル１内には前記サンプルｓが略均一に充填される
とともに、そのサンプルセル１は前記光軸上に配置さ
れ、測定用光線束を照射することで前記新たなサンプル
の分光分析が可能となる。

【００２７】〔実施例２〕先の実施例におけるサンプル
セル及び供給装置の筒状体を以下のように構成してあっ
てもよい。

【００２８】つまり、図３，４に示すように、サンプル
セル１の内部にラック１６および筒状体５の下端部には
前記ラック１６に接当して回転自在なピニオン１７を設
け、前記ピニオン１７にはその回動に伴って回動自在な
回転ブラシ１８を連設してあってもよい。

【００２９】つまり、サンプルセル１を上昇、下降させ
れば、前記ピニオン１７が前記ラック１６に接当して回
動し、回転ブラシ１８を回転させることができ、しか
も、このとき回転ブラシ１８は、サンプルセルの上昇時
には前記サンプルセルの光透過部１ｂに接当して、前記
光透過部１ｂに付着した塵を上から下向きに払い落とす
方向に回動することになるから、除塵には好適である。

【００３０】〔別実施例〕本発明における除塵機構Ｂと
は、実施例１、２におけるスクレーパ９、回転ブラシ１
８や、それらを駆動する機構等、光透過部１ｂを除塵す
る機構を総称するものとし、除塵機構Ｂとしては、これ
らの光透過部１ｂに接当して除塵するものに限らず、エ
ア供給して塵を吹き飛ばして除塵するような非接触型の
除塵機構であってもよい。このようにすれば、サンプル
セル１と筒状体５とが相対移動しない状態でも除塵操作
することが出来る。

【００３１】また、前記スクレーパ９は、前記供給装置
２の下端部を開閉自在に設けてあるものであってもよ
い。このとき、前記筒状体５が前記サンプルセル１に挿
入される際にスクレーパ９が上記実施例１におけるシャ
ッタ７の替わりとなり、前記スクレーパ９が光透過部１
ｂの下端部に達したところでスクレーパ９を開操作すれ
ば、サンプルｓを前記サンプルセル１内に供給するとと
もに、前記スクレーパｓを光透過部１ｂに接当させて除
塵操作可能な状態にできる。そして、前記筒状体５を前
記サンプルセル１から、脱離操作するときに前記光透過
部１ｂを除塵操作出来るのである。

【００３２】上記実施例２においては前記回転ブラシを
回転させるに、ラック１６とピニオン１７を用いたが、
ラックとピニオンに代え筒状体内壁に接当して回転する
ゴムローラーから構成してあってもよく、この場合に
は、さらに単純化して構成の除散り機構を構成すること
が出来る。またさらに、回転ブラシ１８を回転駆動する
電気駆動装置を設けて電動回転させるなど、前記回転ブ
ラシを回転駆動する方法についても様々に変形を行うこ
とが可能である。また、前記除塵機構自体を、上下移動
自在に前記筒状体５に取付け、前記サンプルセル１と前
記筒状体５とが相対移動しない状態で除塵操作を行うこ
ともできる。

【００３３】尚、実施例における分析部は分光手段の一
例であって、実施例の構成に限られるものではない。

【００３４】尚、特許請求の範囲の項に、図面との対照
を便利にするために符号を記すが、該記入により本発明
は添付図面の構成に限定されるものではない。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施例＜１＞の粉粒体用分光分析装置の全体側
面図

【図２】実施例＜１＞における粉粒体用分光分析装置の
要部斜視図

【図３】実施例＜２＞における粉粒体用分光分析装置の
要部縦断側面図

【図４】実施例＜２＞における粉粒体用分光分析装置の
要部横断面図

【符号の説明】

１ サンプルセル １ａ 筒部材 １ｂ 光透過部 ２ 供給手段 ３ａ 光源 ５ 筒状体 ６ ホッパ ９ スクレーパ １８ 回転ブラシ Ａ 測定部 Ｂ 除塵機構

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 対向する両側面に光透過部（１ｂ）を形
   成した筒部材（１ａ）からなり、かつ、内部に粉粒体を
   収容および排出自在なサンプルセル（１）と、そのサン
   プルセル（１）に粉粒体を供給する供給手段（２）とを
   備えた測定部（Ａ）を設け、かつ、前記測定部（Ａ）に
   測定用光線束を照射する光源（３ａ）と、前記サンプル
   セル（１）に粉粒体を収容した状態で、前記光源（３
   ａ）から前記光透過部（１ｂ）を通して前記粉粒体を経
   由した測定用光線束を分析する分析手段（４）とを設け
   た粉粒体用分光分析装置であって、 前記供給手段（２）を、前記サンプルセル（１）内に挿
   入自在な筒状体（５）と、前記筒状体（５）内に粉粒体
   を案内するためのホッパ（６）とから構成し、前記筒状
   体（５）をサンプルセル（１）に対して相対的に挿脱自
   在に取付け、前記サンプルセル（１）の光透過部（１
   ｂ）を除塵する除塵機構（Ｂ）を前記筒状体に設けてあ
   る粉粒体用分光分析装置。
2. 【請求項２】 前記除塵機構（Ｂ）が、前記サンプルセ
   ル（１）と、前記供給手段（２）との相対移動時に機能
   する請求項１記載の粉粒体用分光分析装置。
3. 【請求項３】 前記除塵機構（Ｂ）が、サンプルセル
   （１）内面の前記光透過部（１ｂ）に接当する請求項１
   〜２のいずれかに記載の粉粒体用分光分析装置。
4. 【請求項４】 前記除塵機構（Ｂ）が、導電性ゴムから
   なるスクレーパ（９）であり、そのスクレーパ（９）
   は、アース接続してある請求項１〜３のいずれかに記載
   の粉粒体用分光分析装置。
5. 【請求項５】 前記除塵機構（Ｂ）が、前記筒状体
   （５）が前記サンプルセル（１）内に挿入される際に、
   前記光透過部（１ｂ）に接当する側で前記サンプルセル
   （１）の前記筒状体（５）に対する移動方向に回転する
   回転ブラシ（１８）である請求項１〜３のいずれかに記
   載の粉粒体用分光分析装置。