JPH07249065A - 配線経路探索方法 - Google Patents

配線経路探索方法

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Publication number
JPH07249065A
JPH07249065A JP6040110A JP4011094A JPH07249065A JP H07249065 A JPH07249065 A JP H07249065A JP 6040110 A JP6040110 A JP 6040110A JP 4011094 A JP4011094 A JP 4011094A JP H07249065 A JPH07249065 A JP H07249065A
Authority
JP
Japan
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wiring
cost
parallel
length
layout
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP6040110A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazushige Itatsu
和茂 板津
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu VLSI Ltd, Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu VLSI Ltd
Priority to JP6040110A priority Critical patent/JPH07249065A/ja
Publication of JPH07249065A publication Critical patent/JPH07249065A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は制限値以上の並行配線長を有する配線
レイアウトを未然に防止し得る配線経路探索方法を提供
することを目的とする。 【構成】配線の長さに基づく配線長コストと、並行配線
の長さに基づく制限用コストとに基づいて配線コストが
演算され、同配線コストが最小となる配線経路が迷路探
索法により探索される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体集積回路の配
線レイアウトの設計方法に関するものである。
【0002】近年、半導体集積回路の設計に際し、CA
Dシステムが使用され、回路レイアウト及び配線レイア
ウトが設計される。集積回路内の配線は、各配線の配線
長、並行してレイアウトされる配線の配線長の増大にと
もなって寄生容量が増大し、その寄生容量により、伝達
される信号の遅延時間が増大する。従って、このような
遅延時間の増大を防止しながら配線レイアウトの設計を
効率的に行うことが必要となっている。
【0003】
【従来の技術】CADシステムによる配線レイアウトの
設計方法の一例である迷路探索法を図6〜図8に従って
説明する。
【0004】図6に示すように、既にレイアウトされた
既配線1に隣接して設けられた2つのコンタクトホール
2a,2b間に配線をレイアウトする場合を考える。ま
ず、1マスが最小配線間隔に対応する多数のマスでレイ
アウト面を区画する。この状態で、図8に示すようにコ
ンタクトホール2aから同2bに向かって複数の配線経
路が1マス毎に順次探索され(ステップ1)、1マス進
む毎に「1」の配線長コストが加算される(ステップ
2)。図6において、各マス中の数字は配線長コストの
加算値を示す。
【0005】前記配線経路は、既配線1に干渉する方向
を除いて、コンタクトホール2aを含むマスを起点とし
て、すべての隣接するマスに向かって1マスずつ探索さ
れる。そして、いずれかの経路がコンタクトホール2b
に到達するまで、このような動作が繰り返される(ステ
ップ1〜3)。
【0006】複数の経路の中からいずれかの経路がコン
タクトホール2bに到達すると(ステップ3)、配線長
コストが最小となる経路が選択される(ステップ4)。
従って、図7に示すようにコンタクトホール2a,2b
を直線で結ぶ配線3が、配線長コストの最も小さい配線
経路として選択されて、レイアウトされる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記のような迷路探索
法により選択されてレイアウトされた配線3は、既配線
1に対する並行配線長は考慮されていない。前記配線3
は既配線1に対し最小配線間隔で並行にレイアウトされ
ている。従って、両配線1,3で伝達される信号間にク
ロストークが発生して、両配線1,3で伝達される信号
が入力される回路で誤動作が生じる可能性がある。
【0008】また、前記配線3の下層に他の配線が並行
にレイアウトされていると、下層の配線長が長くなるほ
ど、アンテナ効果により両配線間に蓄積される電荷が増
大する。このような状態では、プロセス時の配線工程に
おいて素子破壊が発生することがある。
【0009】しかし、上記迷路探索法では下層配線との
並行配線長を考慮したレイアウトを行うことはできない
という問題点がある。また、配線3と既配線1との間に
寄生する寄生容量及び配線3とその下層配線との間に寄
生する寄生容量を考慮したレイアウトを行うこともでき
ないため、その寄生容量により回路の動作マージンを越
える遅延時間が発生して、誤動作の原因となることがあ
る。
【0010】この発明の目的は、制限値以上の並行配線
長を有する配線レイアウトを未然に防止し得る配線経路
探索方法を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】配線の長さに基づく配線
長コストと、並行配線の長さに基づく制限用コストとに
基づいて配線コストが演算され、同配線コストが最小と
なる配線経路が迷路探索法により探索される。
【0012】また、1マスが最小配線間隔に対応する多
数のマスでレイアウト面が区画され、配線起点から配線
終点に向かって複数の配線経路が1マス毎に順次探索さ
れ、1マス進む毎に「1」を加算する配線長コストと、
既配線に隣接して並行に1マス進む毎に「1」を加算す
る制限用コストとに基づいて配線コストが演算され、前
記配線コストが最小となる配線経路が迷路探索法により
探索される。
【0013】
【作用】配線長コストと制限用コストとに基づいて配線
コストが演算され、同配線コストが最小となる配線経路
が選択される。
【0014】
【実施例】図1〜図3は本発明を具体化した第一の実施
例を示す。なお、前記従来例と同一構成部分は同一符号
を付して説明する。
【0015】図1に示すように、前記従来例と同様に、
既にレイアウトされた既配線1に隣接して設けられた2
つのコンタクトホール2a,2b間に、並行配線長の制
限値を3マスとして配線をレイアウトする場合を考え
る。
【0016】まず、1マスが最小配線間隔に対応する多
数のマスでレイアウト面を区画する。この状態で、コン
タクトホール2aから同2bに向かって複数の配線経路
が1マス毎に順次探索される(ステップ11)。1マス
進む毎に「1」の配線長コストと、前記既配線1に隣接
して並行に進む毎に「1」の制限用コストがそれぞれ別
個に加算される(ステップ12)。
【0017】図1において、各マス中の大数字は配線長
コストの加算値を示し、添数字は制限用コストの加算値
を示す。各マス中の記号「∞」は制限用コストが「3」
を越えて配線不能となるマスを示す。
【0018】前記配線経路は、既配線1に干渉する方向
を除いて、コンタクトホール2aを含むマスを起点とし
て、すべての隣接するマスに向かって1マスずつ探索さ
れる。制限用コストが「3」を越えた配線経路は、それ
以上の探索が中止される(ステップ13)。そして、い
ずれかの経路がコンタクトホール2bに到達するまで、
このような動作が繰り返される(ステップ11〜1
4)。
【0019】複数の経路の中からいずれかの経路がコン
タクトホール2bに到達すると(ステップ14)、制限
用コストが「3」以下で、かつ配線長コストが最小とな
る経路が選択される(ステップ15)。
【0020】従って、図2に示すようにコンタクトホー
ル2a,2bを結ぶ配線4が、並行配線長の制限値を満
たしながら、配線長コストの最も小さい配線経路として
選択されて、レイアウトされる。
【0021】図4、図5は並行配線長の制限値を3マス
としながら、前記実施例とは配線長コスト及び制限用コ
ストの加算方法が異なる場合を示す。この探索方法は、
制限用コストが「3」を越えない範囲で、配線長コスト
と制限用コストとを合わせて加算し、その加算値が最小
となる配線経路を探索するものである。
【0022】図4において、各マス中の大数字は配線長
コストと制限用コストの加算値を示し、添数字は制限用
コストの加算値を示す。このような探索方法により、図
5に示す配線5が並行配線長の制限値を満たしながら、
配線長コストの最も小さい配線経路として選択されて、
レイアウトされる。
【0023】以上のような探索方法により、あらかじめ
設定された並行配線長の制限値を越えない範囲で、配線
長コストの最も小さい配線経路を探索することが可能と
なる。
【0024】従って、並行配線長の増大にともなう不具
合を未然に防止し得る配線レイアウトを設計することが
できる。また、異なる層の配線との並行配線長や、寄生
容量についても、同様な制限用コストを設定して、配線
長コストを演算することにより、所望制限値を満たしな
がら配線長コストの小さい配線経路を探索することがで
きる。
【0025】上記実施例から把握できる請求項以外の技
術思想について、以下にその効果とともに記載する。 (1)請求項2において、制限用コストと配線長コスト
とを別個に加算し、制限用コストが制限値を越えた経路
については、探索を中止する。制限用コストが制限値を
越える経路は自動的に選択されない。
【0026】(2)請求項2において、制限用コストは
配線長コストとは別個に加算し、さらに制限用コストと
配線長コストとを合わせて加算する。制限用コストの制
限値を満たしながら、制限用コストと配線長コストを加
算した配線コストの最も小さい配線経路を選択すること
ができる。
【0027】
【発明の効果】以上詳述したように、この発明は制限値
以上の並行配線長を有する配線レイアウトを未然に防止
し得る配線経路探索方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第一の実施例の配線経路探索方法を示す説明図
である。
【図2】第一の実施例の配線経路探索方法により探索さ
れた配線経路を示すレイアウト図である。
【図3】第一の実施例の配線経路探索方法を示すフロー
チャート図である。
【図4】第二の実施例の配線経路探索方法を示す説明図
である。
【図5】第二の実施例の配線経路探索方法により探索さ
れた配線経路を示すレイアウト図である。
【図6】従来の配線経路探索方法を示す説明図である。
【図7】従来の配線経路探索方法により探索された配線
経路を示すレイアウト図である。
【図8】従来の配線経路探索方法を示すフローチャート
図である。
【符号の説明】
1 既配線 2a,2b コンタクトホール 4,5 配線

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 配線の長さに基づく配線長コストと、並
    行配線の長さに基づく制限用コストとに基づいて配線コ
    ストを演算し、同配線コストが最小となる配線経路を迷
    路探索法により探索することを特徴とする配線経路探索
    方法。
  2. 【請求項2】 1マスが最小配線間隔に対応する多数の
    マスでレイアウト面を区画し、配線起点から配線終点に
    向かって複数の配線経路を1マス毎に順次探索し、1マ
    ス進む毎に「1」を加算する配線長コストと、既配線に
    隣接して並行に1マス進む毎に「1」を加算する制限用
    コストとに基づいて配線コストを演算し、前記配線コス
    トが最小となる配線経路を迷路探索法により探索するこ
    とを特徴とする配線経路探索方法。
JP6040110A 1994-03-10 1994-03-10 配線経路探索方法 Withdrawn JPH07249065A (ja)

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JP6040110A JPH07249065A (ja) 1994-03-10 1994-03-10 配線経路探索方法

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JP6040110A JPH07249065A (ja) 1994-03-10 1994-03-10 配線経路探索方法

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JPH07249065A true JPH07249065A (ja) 1995-09-26

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ID=12571725

Family Applications (1)

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JP6040110A Withdrawn JPH07249065A (ja) 1994-03-10 1994-03-10 配線経路探索方法

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JP (1) JPH07249065A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001063673A1 (en) * 2000-02-22 2001-08-30 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit and its manufacturing method
US6968521B2 (en) 2002-03-20 2005-11-22 Fujitsu Limited Method, apparatus and program product for automatic placement and routing of integrated circuit

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001063673A1 (en) * 2000-02-22 2001-08-30 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit and its manufacturing method
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