JPH07244295A - 液晶表示装置及びその製造方法 - Google Patents

液晶表示装置及びその製造方法

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JPH07244295A
JPH07244295A JP3270094A JP3270094A JPH07244295A JP H07244295 A JPH07244295 A JP H07244295A JP 3270094 A JP3270094 A JP 3270094A JP 3270094 A JP3270094 A JP 3270094A JP H07244295 A JPH07244295 A JP H07244295A
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健一 梁井
Kenichi Oki
賢一 沖
Hiroshi Ogata
公士 大形
Yutaka Takizawa
裕 瀧沢
Tamotsu Wada
保 和田
Mari Hodate
真理 甫立
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、アクテイブマトリクス型の液晶表示
装置の画素間を相互に配線する配線/電極を有する液晶
表示装置に関し、ドレインバスライン、ドレイン端子、
ゲート端子及び画素電極を形成する工程においてパター
ニング回数を減らしつつ、抵抗値の低いドレインバスラ
インと信頼性の高いドレイン端子やゲート端子を形成す
る。 【構成】薄膜トランジスタを介して画素電極21と接続
するドレインバスライン23と、ドレインバスライン2
3と接続するドレイン端子22と、薄膜トランジスタの
ゲート電極26aと接続するゲートバスライン26と、ゲ
ートバスライン26と接続するゲート端子25とを透明
基板51上に有する液晶表示装置であって、ドレイン端
子22は第1の導電体膜からなり、ドレインバスライン
23はドレイン端子22と分離して形成された第2の導
電体膜52及び53からなり、接続導電体層24により
ドレイン端子22に接続されていることを含む。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示装置及びその
製造方法に関し、より詳しくは、アクテイブマトリクス
型の液晶表示装置の画素間を相互に配線する配線/電極
を有する液晶表示装置及びその作成方法に関する。アク
ティブマトリクス型液晶表示装置は単純マトリクス型表
示装置とともに薄型の情報端末用表示装置として用いら
れており、表示媒体としては液晶が用いられている。
【0002】アクティブマトリクス型は多数ある画素を
それぞれ単独に駆動するのと同様の動作をさせることが
できる。そのため、表示容量の増大にともなってライン
数が増加しても、単純マトリクス型のように駆動のデュ
ーティー比が低下し、コントラストの低下や視野角の減
少をきたす等の問題が生じない。また、CRT並みのカ
ラー表示が得られる。
【0003】このため、アクティブマトリクス型液晶表
示装置は薄型のフラットディスプレイとして用途を広げ
つつあり、コスト低減が望まれている。
【0004】
【従来の技術】従来のアクティブマトリクス型液晶表示
装置には、主に図9(a)又は図9(b)に示すような
配線/電極の配置及び構造を有するドレインバスライ
ン、ドレイン端子、ゲート端子及び画素電極が用いられ
ている。どちらの配線/電極の配置及び構造において
も、画素電極はITO膜からなる透明電極を用いること
が必須条件であり、またドレインバスラインは大電流を
流すために低抵抗化を図ることが必要である。更に、コ
スト低減や歩留り向上を図るため、工程を簡略化するこ
とが重要である。
【0005】図9(a)の上図は上面図、下図はそのA
−A線断面図である。また、図9(b)の上図は上面
図、下図はそのB−B線断面図である。図9(a)にお
いて、ドレインバスライン1及びドレイン端子2は一体
的に形成されており、ドレインバスライン1,ドレイン
端子2及びゲート端子3はともに下部層のCr膜7と上
部層のITO膜8の2層構造となっている。また、画素
電極4はITO膜8一層からなる。
【0006】図9(a)の配線/電極を形成するには、
図10(a)に示すように、透明基板6上、画素電極4
を形成すべき領域を除いてドレインバスライン1,ドレ
イン端子2及びゲート端子3を形成すべき領域に、Cr
膜7からなる下部層をパターニングにより形成する。次
に、図10(b)に示すように、下部層を被覆してIT
O膜8を形成した後、ITO膜8をパターニングし、下
部層上にITO膜8からなる上部層を作成する。このと
き、同時にITO膜8からなる画素電極4を形成する。
【0007】一方、図9(b)において、ドレインバス
ライン11及びドレイン端子12とは一体的に形成され
ており、ドレインバスライン11及びドレイン端子12
はともに下部層のITO膜17と上部層のCr膜18の
2層構造となっている。また、ゲート端子13と画素電
極14は一層のITO膜8からなる。図9(b)の配線
/電極を形成するには、図11(a)に示すように、透
明基板16上、ドレインバスライン11,ドレイン端子
12,ゲート端子13及び画素電極14を形成すべき領
域にITO膜17からなる下部層をパターニングにより
形成する。
【0008】次に、図11(b)に示すように、電気メ
ッキ法によりドレインバスライン11及びドレイン端子
12のITO膜17上に選択的にCr膜18からなる上
部層を形成する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかし、図9(a)の
配線/電極を作成する場合、パターニングを2回行うこ
とになり、工程数が多い。また、図9(b)の配線/電
極の配置及び構造を有する液晶表示装置では、図11
(a),(b)に示すように、配線/電極を作成する場
合、パターニングは1回でよいが、ドレイン端子12に
外部リードを接続して放置しておくと、抵抗が高くな
り、周辺回路との接続に関して高い信頼性を確保するこ
とができないという問題が生じる。これはCr膜の表面
が酸化しやすく、薄い酸化膜が形成されたためであると
考えられる。
【0010】本発明は、係る従来例の問題点に鑑みて創
作されたものであり、ドレインバスライン、ドレイン端
子、ゲート端子及び画素電極を形成する工程においてパ
ターニング回数を減らしつつ、抵抗値の低いドレインバ
スラインと信頼性の高いドレイン端子やゲート端子を形
成することが可能な液晶表示装置及びその製造方法を提
供することを目的とするものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記課題は、第1に、薄
膜トランジスタを介して画素電極と接続するドレインバ
スラインと、前記ドレインバスラインと接続するドレイ
ン端子と、前記薄膜トランジスタのゲート電極と接続す
るゲートバスラインと、前記ゲートバスラインと接続す
るゲート端子とを透明基板上に有する液晶表示装置であ
って、前記ドレイン端子は第1の導電体膜からなり、前
記ドレインバスラインは前記ドレイン端子と分離して形
成された第2の導電体膜からなり、接続導電体層により
前記ドレイン端子に接続されていることを特徴とする液
晶表示装置によって達成され、第2に、前記第2の導電
体膜は前記第1の導電体膜及び第1の金属膜を有する多
層膜からなることを特徴とする第1の発明に記載の液晶
表示装置によって達成され、第3に、前記画素電極及び
前記ゲート端子は前記第1の導電体膜からなることを特
徴とする第1又は第2の発明に記載の液晶表示装置によ
って達成され、第4に、前記第1の導電体膜はITO膜
であることを特徴とする第1,第2又は第3の発明に記
載の液晶表示装置によって達成され、第5に、前記接続
導電体層は、前記薄膜トランジスタの構成材料である半
導体膜及び前記ゲート電極の構成材料である第2の金属
膜のうち少なくともいずれかを有することを特徴とする
第1,第2,第3又は第4の発明に記載の液晶表示装置
によって達成され、第6に、透明基板上に第1の導電体
膜を形成する工程と、前記第1の導電体膜上に第2の導
電体膜を形成する工程と、前記第1の導電体膜及び前記
第2の導電体膜をパターニングして画素電極,ドレイン
端子,ドレインバスライン及びゲート端子を形成すべき
領域に互いに分離して残す工程と、前記ドレインバスラ
インを形成すべき領域の前記第2の導電体膜上に選択的
に耐エッチング性膜を形成する工程と、前記耐エッチン
グ性膜をマスクとして前記画素電極,前記ドレイン端子
及び前記ゲート端子を形成すべき領域の前記第2の導電
体膜を除去する工程とを有する液晶表示装置の製造方
法。
【0012】第7に、前記第2の導電体膜は第1の金属
膜であることであることを特徴とする請求項6記載の液
晶表示装置の製造方法によって達成され、第8に、前記
第1の導電体膜はITO膜であることを特徴とする第6
又は第7の発明に記載の液晶表示装置の製造方法によっ
て達成され、第9に、前記耐エッチング性膜は電着性レ
ジスト膜であることを特徴とする第6,第7又は第8の
発明に記載の液晶表示装置の製造方法によって達成さ
れ、第10に、前記耐エッチング性膜は陽極酸化法によ
り前記第1の金属膜上に形成された酸化膜であることを
特徴とする第6,第7又は第8の発明に記載の液晶表示
装置の製造方法によって達成され、第11に、透明基板
上に第1の導電体膜を形成する工程と、前記第1の導電
体膜をパターニングして画素電極,ドレイン端子,ドレ
インバスライン及びゲート端子を形成すべき領域に互い
に分離して残す工程と、前記ドレインバスラインを形成
すべき領域の前記第1の導電体膜上に選択的に第1の金
属膜を形成する工程とを有する液晶表示装置の製造方法
によって達成され、第12に、前記第1の導電体膜はI
TO膜であることを特徴とする第11の発明に記載の液
晶表示装置の製造方法によって達成され、第13に、前
記第1の金属膜は、電気メッキ法により形成することを
特徴とする第11又は第12の発明に記載の液晶表示装
置の製造方法によって達成され、第14に、前記画素電
極,前記ドレイン端子,前記ドレインバスライン及び前
記ゲート端子を互いに分離して形成した後、接続導電体
層により前記ドレイン端子と前記ドレインバスラインと
を接続することを特徴とする第6,第7,第8,第9,
第10,第11,第12又は第13の発明に記載の液晶
表示装置の製造方法によって達成され、第15に、前記
接続導電体層は、前記薄膜トランジスタの構成材料であ
る半導体膜及び前記ゲート電極の構成材料である第2の
金属膜のうち少なくともいずれかを有することを特徴と
する第14の発明に記載の液晶表示装置の製造方法によ
って達成される。
【0013】
【作用】本発明の液晶表示装置によれば、ドレイン端子
及びゲート端子は第1の導電体膜からなり、ドレインバ
スラインは第2の導電体膜、例えば第1の導電体膜及び
第1の金属膜を有するので、第1の導電体膜に例えばI
TO膜を用い、かつ第1の金属膜に例えばCr膜等を用
いることにより、ドレイン端子及びゲート端子と周辺回
路との接続に関して信頼性を高くし、ドレインバスライ
ンの抵抗値を低くすることができる。
【0014】また、ドレイン端子とドレインバスライン
が分離されているので、以下に説明する本発明の液晶表
示装置の製造方法のように、第1の導電体膜のドレイン
端子と第1の導電体膜及び第1の金属膜を有する多層膜
のドレインバスラインをパターニング工程を増やすこと
なく形成することができる。更に、接続導電体層は薄膜
トランジスタの構成材料からなるので、薄膜トランジス
タを形成する際等に同時に形成することが可能であり、
特別な工程を必要としない。このため、工程の簡略化を
図ることが可能である。
【0015】また、本発明の液晶表示装置の製造方法に
よれば、第1の導電体膜と第2の導電体膜、例えば第1
の金属膜からなる2層膜をパターニングして画素電極,
ドレイン端子,ゲート端子,及びドレインバスラインを
形成すべき領域に互いに分離して残し、ドレインバスラ
インを形成すべき領域の第2の導電体膜上に選択的に耐
エッチング性膜を選択的に形成した後、耐エッチング性
膜をマスクとして第2の導電体膜を選択的に除去してい
る。耐エッチング性膜として例えば電着レジスト法によ
りレジスト膜を形成し、又は陽極酸化法により酸化膜を
形成することができる。
【0016】更に、パターニングにより画素電極,ドレ
イン端子,ゲート端子及びドレインバスラインを形成す
べき領域に第1の導電体膜を互いに分離して残し、ドレ
インバスラインを形成すべき領域の第1の導電体膜上に
第1の金属膜を例えば電気メッキ法により選択形成して
いる。上記の場合ともにパターニング回数は一回で済
む。従って、第1の導電体膜からなるドレイン端子及び
ゲート端子と、第1の導電体膜と第2の導電体膜又は第
1の金属膜とを有する多層構造のドレインバスラインと
を工程を増やすことなく形成することが可能である。
【0017】また、互いに分離して形成されているドレ
インバスラインとドレイン端子を接続する接続導電体層
は、薄膜トランジスタを形成する際又はゲートバスライ
ンを形成する際に同時に形成することが可能なので、特
別な工程を必要としない。このため、工程の簡略化を図
ることが可能である。
【0018】
【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の実施例に
係る液晶表示装置及びその製造方法について説明する。 (1)本発明の実施例に係る液晶表示装置についての説
明 図1(a),(b)及び図2(a),(b)は、本発明
の実施例に係る液晶表示装置について示す上面図及び断
面図である。
【0019】(i)第1の実施例 図1(a)は、本発明の第1の実施例に係る液晶表示装
置について示す上面図である。図1(b)はドレイン端
子とドレインバスラインとの接続部を示す断面図であ
る。ゲート電極の下には各画素を駆動するアクティブ素
子としてスタガ型薄膜トランジスタ(TFT)が形成さ
れている。
【0020】図1(a)において、21は縦並び及び横
並びに所定の周期で透明基板51上に設けられた、透明
なITO膜(第1の導電体膜)52からなる画素電極、
22は縦並びの画素電極21毎に画素電極21の集合領
域の上側(図面上上側の領域に相当する。)に設けられ
た透明なITO膜52からなるドレイン端子である。2
3は下部層のITO膜52と上部層のCr膜(第1の金
属膜)53との2層構造のドレインバスラインであり、
接続導電体層24を介してドレイン端子22と電気的に
接続している。ドレインバスライン23はドレイン端子
22側から各縦並びの画素電極21に沿って延び、画素
電極21を挟んでドレイン端子22と反対側にある共通
のドレインバスライン27に接続している。また、ドレ
インバスライン23は、透明基板51上、各画素電極2
1から延びるソース電極21aの両側にこのソース電極21
aに並行するように突出しているドレイン電極23a,23
bを有する。
【0021】上記接続導電体層24は、TFTやゲート
バスライン26の形成と同時に形成され、従ってそれら
を形成する材料と同じ材料を用いて形成されている。図
1(b)は接続導電体層を示す断面図である。図1
(b)に示すように、接続導電体層24はドレイン端子
22の端部とドレインバスライン23の端部とを架橋す
るように形成されており、下から順次、TFTのコンタ
クト層と同じ材料のn+a-Si 膜(半導体膜)54,活
性層と同じ材料のa-Si 膜(半導体膜)55及びゲート
絶縁膜と同じ材料のSiN 膜56が積層されている。ま
た、SiN 膜56上にはゲートバスライン26及びゲート
電極26aと同じ材料のAl膜(第2の金属膜)57が形
成されており、このAl膜57はドレイン端子22及び
ドレインバスライン23上に延び、それぞれコンタクト
ホール58a,58bを介してドレイン端子22及びドレイ
ンバスライン23と直接接触している。これにより、ド
レイン端子22とドレインバスライン23との間の電気
的接続は主にn+a-Si膜55及びAl膜57によりなさ
れる。
【0022】25は透明なITO膜52からなるゲート
端子、26はAl膜57からなるゲートバスラインであ
り、各ゲートバスライン26は各横並びの画素電極21
に沿って設けられており、各画素電極21の部分で突出
し、TFTのコンタクト層,活性層及びゲート絶縁膜を
介して前記ソース電極21a及びドレイン電極23a,23b
上に延びている。この突出した部分は前記ソース電極21
a及びドレイン電極23a,23bに直交するゲート電極26
aとなり、TFTを駆動する。また、各ゲートバスライ
ン26の端部はそれぞれゲート端子25上に形成され、
ゲート端子25との電気的接続がとられている。
【0023】以上のように、本発明の第1の実施例の液
晶表示装置によれば、ドレイン端子22及びゲート端子
25はITO膜52からなるため、従来例のCr膜の場
合と異なり、表面酸化膜の形成による接触抵抗値の増加
を抑制し、ドレイン端子22及びゲート端子25と周辺
回路との接続に関して信頼性を高めることができる。ま
た、ドレインバスライン23はITO膜52及びCr膜
53の2層構造となっているので、ドレインバスライン
23の抵抗値を低くすることができる。
【0024】更に、ドレイン端子22とドレインバスラ
イン23が分離されているので、以下に説明する本発明
の実施例の液晶表示装置の製造方法のように、ITO膜
52からなるドレイン端子22とITO膜52及びCr
膜又はTa膜53からなるドレインバスライン23をパ
ターニング工程を増やすことなく形成することができ
る。
【0025】また、接続導電体層24はTFTの構成材
料からなるので、TFTを形成する際等に同時に形成す
ることが可能であり、特別な工程を必要としない。この
ため、工程の簡略化を図ることが可能である。 (ii)第2の実施例 図2(a)は、本発明の第2の実施例に係る液晶表示装
置について示す上面図である。図2(b)はドレイン端
子とドレインバスラインとの接続部を示す断面図であ
る。
【0026】第1の実施例では、図1(a)に示すよう
に、マトリクス状に並んだ画素電極21が集合する領域
の片側の領域のみに(図面上の上側の領域を示す。)ド
レイン端子22が形成されているが、第2の実施例で
は、マトリクス状に並んだ画素電極21が集合する領域
の両側に(図面上の上側の領域及び下側の領域の両方を
示す。)ドレイン端子28a,28bが形成されていること
である。
【0027】これに伴い、共通のドレインバスライン30
a又は30bは、各ドレイン端子28a又は28b側に形成さ
れており、縦並びの画素電極21に沿った各ドレインバ
スライン29a又は29bはそれぞれドレイン端子28a又は
28bを迂回して共通のドレインバスライン30a又は30b
に接続する。また、各ドレインバスライン29a又は29b
はそれぞれ各ドレイン端子28a又は28bと接続導電体層
24a又は24bにより電気的に接続される。なお、接続部
の接続導電体層24a,24bは図1(b)に示す第1の実
施例と同じような積層構造を有する。図2(b)に接続
導電体層24aの断面構造を示す。
【0028】なお、図2(a),(b)中、図1
(a),(b)と同じ符号で示すものは図1(a),
(b)と同じものを示す。第2の実施例の場合、第1の
実施例と比べて、片側の領域に並ぶドレイン端子28a又
は28bの個数が少なくなるので、ドレイン端子28a又は
28bの幅を充分に大きくとれ、かつ横幅を狭められると
いう特徴を有する。
【0029】上記第2の実施例の場合も、第1の実施例
と同様に、ドレイン端子28a,28b及びゲート端子25
がITO膜52からなるので、ドレイン端子28a,28b
及びゲート端子25と周辺回路との接続に関して信頼性
が高い。また、ドレインバスライン29a,29bはITO
膜52とCr膜又はTa膜53との2層構造となってい
るので、電気抵抗値が低くなる。 (2)本発明の実施例に係る液晶表示装置の製造方法に
ついての説明 本発明の実施例に係る液晶表示装置の製造方法におい
て、電気化学的手法として、電着レジスト法,陽極酸化
法及びメッキ法を用いる。以下、各電気化学的手法を用
いた実施例について説明する。
【0030】(i)第3の実施例 図3(a),(b),図4(a),(b)は、本発明の
第3の実施例に係る液晶表示装置の製造方法についての
説明図で、各図面の上の図はドレイン端子等各要素の配
置を示す上面図であり、各要素の配置は図1(a)に示
すものと同じである。下の図はドレイン端子とドレイン
バスラインとの接続部を示す断面図である。電気化学的
手法として電着レジスト法を用いる。
【0031】まず、ガラス基板からなる透明基板51上
に膜厚500ÅのITO膜(第1の導電体膜)52と膜
厚1500ÅのCr膜(第1の金属膜)53とをスパッタ法
により順次形成する。次いで、図3(a)に示すよう
に、共通のマスクを用いたホトリソ工程とエッチング工
程により、ITO膜52及びCr膜53をともにパター
ニングし、画素電極21、ドレイン端子22,ドレイン
バスライン23及びゲート端子25を形成すべき領域に
互いに分離して残す。
【0032】次に、図3(b)に示すように、2層膜か
らなる導電体層の形成されたガラス基板51を電着性レ
ジストに浸し、ドレインバスライン23となる導電体層
に6Vの電圧を20秒間印加し、そのCr膜53上に選
択的にレジスト膜59を形成する。次いで、ガラス基板
51をCrエッチャント、例えば硝酸第2セリウムアン
モニウム,過塩素酸及び水の混合液に浸し、レジスト膜
59をマスクとして選択的にCr膜53をエッチングす
る。これにより、図4(a)に示すように、ドレイン端
子22、ゲート端子25、画素電極21を形成すべき領
域に形成された2層の導電体層のうち上層のCr膜53
のみをエッチングして、ITO膜52を露出する。な
お、ドレインバスライン23となる導電体層はレジスト
膜59により保護されているので、2層構造のままで残
る。続いて、レジスト膜59を剥離する。
【0033】次に、プラズマCVDにより、n+a−S
i膜(半導体膜)54,a−Si膜(半導体膜)55及
びSiN膜56を連続的に成膜する。次いで、図4
(b)に示すように、n+a−Si膜54,a−Si膜
55及びSiN膜56をパターニングして、ドレイン端
子22及びドレインバスライン23上にそれぞれコンタ
クトホール58a,58bを形成し、またゲート端子25上
にも不図示のコンタクトホールを形成する。
【0034】次に、膜厚約3000ÅのAl膜(第2の金属
膜)57をスパッタ法により形成する。このとき、Al
膜57はコンタクトホール58a,58bを介してドレイン
端子22及びドレインバスライン23と直接接続する。
また、コンタクトホールを介してゲート端子25とも直
接接続する。次いで、共通のマスクを用いたホトリソ工
程及びエッチング工程により、Al膜57,SiN膜5
6,a−Si膜55及びn+a−Si膜54をパターニ
ングして、前記ドレイン端子22とドレインバスライン
23との接続部に接続導電体層24を形成するととも
に、幅約10μmのゲートバスライン26を形成する。
このとき、ゲートバスライン26をゲート端子25上ま
で延ばし、ゲートバスライン26とゲート端子25を電
気的に接続する。更に、ゲートバスライン26からソー
ス電極21a及びドレイン電極23a,23bと直交する領域
に各膜57〜54を延ばし、それぞれTFTのゲート電
極26a,ゲート絶縁膜,活性層及びコンタクト層を形成
する。
【0035】なお、接続部の断面図を図4(b)の下の
図に示す。接続導電体層24の断面構造は上記説明した
図1(b)と同様な断面構造を有する。図中、図1
(b)と同じ符号で示すものは図1(b)と同じものを
示す。以上のように、本発明の液晶表示装置の製造方法
によれば、下部層のITO膜52と上部層のCr膜53
からなる2層膜を形成した後、パターニングによりドレ
イン端子22,ゲート端子25,ドレインバスライン2
3及び画素電極21をそれぞれ分離して形成し、その後
電着レジスト法によりドレインバスライン23のCr膜
53上にレジスト膜59を選択的に形成した後、レジス
ト膜59をマスクとしてCr膜53を選択的に除去して
いる。
【0036】従って、パターニング回数は一回で済む。
このため、ITO膜52からなる画素電極21,ドレイ
ン端子22及びゲート端子25と、ITO膜52及びC
r膜53からなる2層構造のドレインバスライン23と
を工程を増やすことなく形成することが可能である。ま
た、互いに分離して形成されているドレインバスライン
23とドレイン端子22を接続する接続導電体層24
は、TFTを形成する際又はゲートバスライン26を形
成する際に同時に形成することが可能なので、特別な工
程を必要としない。このため、工程の簡略化を図ること
が可能である。
【0037】しかも、ドレイン端子22及びゲート端子
25と周辺回路との接続に関してドレイン端子22及び
ゲート端子25の信頼性が高く、かつドレインバスライ
ン23の電気抵抗値が小さくなる。 (ii)第4の実施例 図5(a),(b),図6(a),(b)は、本発明の
第4の実施例に係る液晶表示装置の製造方法についての
説明図である。各図面の上の図はドレイン端子等各要素
の配置を示す上面図であり、各要素の配置は図2(a)
に示すものと同じである。下の図はドレイン端子とドレ
インバスラインとの接続部を示す断面図である。この場
合は、陽極酸化法について示す。
【0038】まず、ガラス基板からなる透明基板51上
に、膜厚500ÅのITO膜(第1の導電体膜)52と
膜厚1500ÅのTa膜(第1の金属膜)53とをスパッタ
法により連続形成する。次いで、図5(a)に示すよう
に、共通のマスクを用いたホトリソ工程とエッチング工
程により、ITO膜52及びTa膜53をともにパター
ニングし、画素電極21,ドレイン端子28a,28b,ド
レインバスライン29a,29b及びゲート端子25を形成
すべき領域にそれぞれ互いに分離されたITO膜52及
びTa膜53の2層膜からなる導電体層を形成する。
【0039】次に、図5(b)に示すように、画素電極
21等の形成されたガラス基板51をリン酸アンモニウ
ム水溶液に浸して、ドレインバスライン29a,29bとな
る導電体層に電流を流すことにより、ドレインバスライ
ン29a,29bとなる導電体層の上部層のTa膜53のみ
の表面を陽極酸化し、Ta2O5 膜53aを形成する。次い
で、Ta2O5 膜53aをマスクとして、塩素を含むガスでT
a膜53をドライエッチングする。これにより、図6
(a)に示すように、ドレイン端子28a,28b,ゲート
端子25及び画素電極21を形成すべき領域に形成され
た2層の導電体層のうち上部層のTa膜53のみをエッ
チングし、ITO膜52を露出する。なお、ドレインバ
スライン29a,29bとなる導電体層はTa2O5 膜53aによ
り保護されているので、2層構造のままで残る。続い
て、Ta2O5 膜53aを剥離する。
【0040】次に、図4(b)と同じ工程を経て、ドレ
イン端子28a,28bとドレインバスライン29a,29bと
の接続部に接続導電体層24a,24bを形成するととも
に、ゲートバスライン26を形成してゲートバスライン
26とゲート端子25を電気的に接続する。更に、ゲー
トバスライン26からソース電極21a及びドレイン電極
23a,23bと直交する領域に各膜を延ばし、TFTのゲ
ート電極26a,ゲート絶縁膜,活性層及びコンタクト層
を形成する。
【0041】なお、各接続部の接続導電体層24a,24b
は同じ断面構造を有する。図6(b)の下の図に接続導
電体層24aの断面構造を示す。接続導電体層24aの断面
構造は上記説明した図2(b)と同様な断面構造を有す
る。図中、図2(b)と同じ符号で示すものは図2
(b)と同じものを示す。以上のように、本発明の液晶
表示装置の製造方法によれば、下部層のITO膜52と
上部層のTa膜53からなる2層膜を形成した後、パタ
ーニングによりドレイン端子28a,28b,ゲート端子2
5,ドレインバスライン29a,29b及び画素電極21を
形成すべき領域に相互に分離して残し、ドレインバスラ
イン29a,29bのCr膜53上に陽極酸化法によりTa2O
5 膜53aを選択的に形成した後、Ta 2O5 膜53aをマスク
としてTa膜53を選択的に除去している。
【0042】従って、パターニング回数は一回で済む。
更に、互いに分離して形成されているドレインバスライ
ン29a,29bとドレイン端子28a,28bを接続する接続
導電体層24a,24bは、TFTを形成する際及びゲート
バスライン26を形成する際に同時に形成することが可
能なので、特別な工程を必要としない。このため、工程
簡略化を図ることが可能である。
【0043】しかも、ドレイン端子28a,28b及びゲー
ト端子25の露出面がITO膜52となり、かつドレイ
ンバスライン29a,29bはITO膜52とTa膜53と
の2層構造となる。従って、周辺回路との接続に関して
ドレイン端子28a,28b及びゲート端子25の信頼性が
高く、かつドレインバスライン29a,29bの電気抵抗値
が小さくなる。
【0044】(iii )第5の実施例 図7(a),(b),図8は、本発明の第5の実施例に
係る液晶表示装置の製造方法についての説明図である。
各図面の上の図はドレイン端子等各要素の配置を示す上
面図であり、各要素の配置は図1(a)に示すものと同
じである。下の図はドレイン端子とドレインバスライン
との接続部を示す断面図である。この場合は、電気メッ
キ法について示す。
【0045】まず、透明基板51上に、膜厚500Åの
ITO膜(第1の導電体膜)52をスパッタ法により形
成する。次いで、図7(a)に示すように、露光マスク
を用いたホトリソ工程とエッチング工程により、ITO
膜52をパターニングし、画素電極21,ドレイン端子
22,ドレインバスライン23及びゲート端子25を形
成すべき領域に相互に分離されたITO膜52からなる
導電体層を残す。
【0046】次に、図7(b)に示すように、Crを含
む金属塩溶液にガラス基板51を浸し、ドレインバスラ
イン23となる導電体層に正の電極を接続するととも
に、負の電極を溶液中に浸して電流を流す。これによ
り、ドレインバスライン23となる導電体層上にのみC
r膜(第1の金属膜)53が選択的に付着する。次に、
図4(b)と同じ工程を経て、ドレイン端子22とドレ
インバスライン23との接続部に接続導電体層24を形
成するとともに、ゲートバスライン26を形成してゲー
トバスライン26とゲート端子25を電気的に接続す
る。更に、ゲートバスライン26からソース電極21a及
びドレイン電極23a,23bと直交する領域に各膜を延ば
し、TFTのゲート電極26a,ゲート絶縁膜,活性層及
びコンタクト層を形成する。
【0047】なお、接続部の断面図を図8(b)の下の
図に示す。接続導電体層24の構造は上記説明した図1
(b)と同様な断面構造を有する。図中、図1(b)と
同じ符号で示すものは図1(b)と同じものを示す。以
上のように、本発明の第3の実施例の液晶表示装置の製
造方法によれば、パターニングによりドレイン端子2
2,ゲート端子25,ドレインバスライン23及び画素
電極21を形成すべき領域に互いに分離されたITO膜
52を残し、ドレインバスライン23のITO膜52上
にCr膜53を電気メッキにより選択的に形成してい
る。
【0048】従って、パターニング回数は一回で済む。
更に、互いに分離して形成されているドレインバスライ
ン23とドレイン端子22を接続する接続導電体層24
は、TFTを形成する際及びゲートバスライン26を形
成する際に同時に形成することが可能なので、特別な工
程を必要としない。このため、工程簡略化を図ることが
可能である。
【0049】しかも、ドレイン端子22及びゲート端子
25の露出面がITO膜52となり、かつドレインバス
ライン23はITO膜52とCr膜53との2層構造と
なる。従って、周辺回路との接続に関してドレイン端子
22及びゲート端子25の信頼性が高く、かつドレイン
バスライン23の電気抵抗値が小さくなる。
【0050】
【発明の効果】以上のように、本発明の液晶表示装置に
よれば、ドレイン端子及びゲート端子は第1の導電体膜
からなり、ドレインバスラインは第1の導電体膜及び第
1の金属膜を有するので、ドレイン端子及びゲート端子
と周辺回路との接続に関して信頼性を高くし、ドレイン
バスラインの抵抗値を低くすることができる。
【0051】また、ドレイン端子とドレインバスライン
が分離されているので、本発明の液晶表示装置の製造方
法のように、電着レジスト法,陽極酸化法や電気メッキ
法を用いることより、第1の導電体膜のドレイン端子と
第1の導電体膜及び第1の金属膜を有する多層膜のドレ
インバスラインをパターニング工程を増やすことなく形
成することができる。
【0052】更に、接続導電体層は薄膜トランジスタの
構成材料からなるので、本発明の液晶表示装置の製造方
法のように、薄膜トランジスタを形成する際等に同時に
形成することが可能であり、特別な工程を必要としな
い。このため、工程の簡略化を図ることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例に係る液晶表示装置の配
線/電極の配置及び構造について示す上面図及びドレイ
ン端子とドレインバスラインとの接続部の構造について
示す断面図である。
【図2】本発明の第2の実施例に係る液晶表示装置の配
線/電極の配置及び構造について示す上面図及びドレイ
ン端子とドレインバスラインとの接続部の構造について
示す断面図である。
【図3】本発明の第3の実施例に係る液晶表示装置の作
成方法について示す断面図(その1)である。
【図4】本発明の第3の実施例に係る液晶表示装置の作
成方法について示す断面図(その2)である。
【図5】本発明の第4の実施例に係る液晶表示装置の作
成方法について示す断面図(その1)である。
【図6】本発明の第4の実施例に係る液晶表示装置の作
成方法について示す断面図(その2)である。
【図7】本発明の第5の実施例に係る液晶表示装置の作
成方法について示す断面図(その1)である。
【図8】本発明の第5の実施例に係る液晶表示装置の作
成方法について示す断面図(その2)である。
【図9】従来例に係る液晶表示装置のの配線/電極の配
置及び構造について示す上面図及びドレイン端子とドレ
インバスラインとの接続部の構造について示す断面図で
ある。
【図10】従来例に係る液晶表示装置の作成方法につい
て示す断面図である。
【図11】他の従来例に係る液晶表示装置の作成方法に
ついて示す断面図である。
【符号の説明】
21 画素電極、 21a ソース電極、 22,28a,28b ドレイン端子、 23,29a,29b ドレインバスライン、 23a,23b ドレイン電極、 24,24a,24b 接続導電体層、 25 ゲート端子、 26 ゲートバスライン、 26a ゲート電極、 27,30a,30b 共通のドレインバスライン、 51 透明基板、 52 ITO膜(第1の導電体膜)、 53 Cr膜又はTa膜(第1の金属膜)、 53a Ta2O5 膜(酸化膜)、 54 n+a−Si膜(半導体膜)、 55 a−Si膜(半導体膜)、 56 SiN膜、 57 Al膜(第2の金属膜)、 58a,58b コンタクトホール、 59 レジスト膜。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大形 公士 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 瀧沢 裕 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 和田 保 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 甫立 真理 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 薄膜トランジスタを介して画素電極と接
    続するドレインバスラインと、前記ドレインバスライン
    と接続するドレイン端子と、前記薄膜トランジスタのゲ
    ート電極と接続するゲートバスラインと、前記ゲートバ
    スラインと接続するゲート端子とを透明基板上に有する
    液晶表示装置であって、 前記ドレイン端子は第1の導電体膜からなり、前記ドレ
    インバスラインは前記ドレイン端子と分離して形成され
    た第2の導電体膜からなり、接続導電体層により前記ド
    レイン端子に接続されていることを特徴とする液晶表示
    装置。
  2. 【請求項2】 前記第2の導電体膜は前記第1の導電体
    膜及び第1の金属膜を有する多層膜からなることを特徴
    とする請求項1記載の液晶表示装置。
  3. 【請求項3】 前記画素電極及び前記ゲート端子は前記
    第1の導電体膜からなることを特徴とする請求項1又は
    請求項2記載の液晶表示装置。
  4. 【請求項4】 前記第1の導電体膜はITO膜であるこ
    とを特徴とする請求項1,請求項2又は請求項3記載の
    液晶表示装置。
  5. 【請求項5】 前記接続導電体層は、前記薄膜トランジ
    スタの構成材料である半導体膜及び前記ゲート電極の構
    成材料である第2の金属膜のうち少なくともいずれかを
    有することを特徴とする請求項1,請求項2,請求項3
    又は請求項4記載の液晶表示装置。
  6. 【請求項6】 透明基板上に第1の導電体膜を形成する
    工程と、 前記第1の導電体膜上に第2の導電体膜を形成する工程
    と、 前記第1の導電体膜及び前記第2の導電体膜をパターニ
    ングして画素電極,ドレイン端子,ドレインバスライン
    及びゲート端子を形成すべき領域に互いに分離して残す
    工程と、 前記ドレインバスラインを形成すべき領域の前記第2の
    導電体膜上に選択的に耐エッチング性膜を形成する工程
    と、 前記耐エッチング性膜をマスクとして前記画素電極,前
    記ドレイン端子及び前記ゲート端子を形成すべき領域の
    前記第2の導電体膜を除去する工程とを有する液晶表示
    装置の製造方法。
  7. 【請求項7】 前記第2の導電体膜は第1の金属膜であ
    ることであることを特徴とする請求項6記載の液晶表示
    装置の製造方法。
  8. 【請求項8】 前記第1の導電体膜はITO膜であるこ
    とを特徴とする請求項6又は請求項7記載の液晶表示装
    置の製造方法。
  9. 【請求項9】 前記耐エッチング性膜は電着性レジスト
    膜であることを特徴とする請求項6,請求項7又は請求
    項8記載の液晶表示装置の製造方法。
  10. 【請求項10】 前記耐エッチング性膜は陽極酸化法に
    より前記第1の金属膜上に形成された酸化膜であること
    を特徴とする請求項6,請求項7又は請求項8記載の液
    晶表示装置の製造方法。
  11. 【請求項11】 透明基板上に第1の導電体膜を形成す
    る工程と、 前記第1の導電体膜をパターニングして画素電極,ドレ
    イン端子,ドレインバスライン及びゲート端子を形成す
    べき領域に互いに分離して残す工程と、 前記ドレインバスラインを形成すべき領域の前記第1の
    導電体膜上に選択的に第1の金属膜を形成する工程とを
    有する液晶表示装置の製造方法。
  12. 【請求項12】 前記第1の導電体膜はITO膜である
    ことを特徴とする請求項11記載の液晶表示装置の製造
    方法。
  13. 【請求項13】 前記第1の金属膜は、電気メッキ法に
    より形成することを特徴とする請求項11又は請求項1
    2記載の液晶表示装置の製造方法。
  14. 【請求項14】 前記画素電極,前記ドレイン端子,前
    記ドレインバスライン及び前記ゲート端子を互いに分離
    して形成した後、接続導電体層により前記ドレイン端子
    と前記ドレインバスラインとを接続することを特徴とす
    る請求項6,請求項7,請求項8,請求項9,請求項1
    0,請求項11,請求項12又は請求項13記載の液晶
    表示装置の製造方法。
  15. 【請求項15】 前記接続導電体層は、前記薄膜トラン
    ジスタの構成材料である半導体膜及び前記ゲート電極の
    構成材料である第2の金属膜のうち少なくともいずれか
    を有することを特徴とする請求項14記載の液晶表示装
    置の製造方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004519009A (ja) * 2001-02-03 2004-06-24 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 透明導体ラインの導電率を改善する方法
JP2004538618A (ja) * 1999-10-11 2004-12-24 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 集積回路
US7361927B2 (en) 2004-02-09 2008-04-22 Seiko Epson Corporation Transistor, circuit board, display and electronic equipment
US7575960B2 (en) 1995-05-31 2009-08-18 Sharp Kabushiki Kaisha Method for fabricating a thin film transistor matrix device

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7575960B2 (en) 1995-05-31 2009-08-18 Sharp Kabushiki Kaisha Method for fabricating a thin film transistor matrix device
US7947982B2 (en) 1995-05-31 2011-05-24 Sharp Kabushiki Kaisha Thin film transistor matrix device including a plurality of thin film transistors arranged on the substrate
US7947983B2 (en) 1995-05-31 2011-05-24 Sharp Kabushiki Kaisha Thin film transistor matrix device including first and second conducting connections formed outside an image display region
US8258513B2 (en) 1995-05-31 2012-09-04 Sharp Kabushiki Kaisha Thin film transistor matrix device including first and second connection lines
US8592816B2 (en) 1995-05-31 2013-11-26 Sharp Kabushiki Kaisha Thin film transistor matrix device including first and second connection lines
JP2004538618A (ja) * 1999-10-11 2004-12-24 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 集積回路
JP2004519009A (ja) * 2001-02-03 2004-06-24 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 透明導体ラインの導電率を改善する方法
US7361927B2 (en) 2004-02-09 2008-04-22 Seiko Epson Corporation Transistor, circuit board, display and electronic equipment

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