JPH07244244A - 顕微鏡写真撮影装置 - Google Patents

顕微鏡写真撮影装置

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JPH07244244A
JPH07244244A JP3454994A JP3454994A JPH07244244A JP H07244244 A JPH07244244 A JP H07244244A JP 3454994 A JP3454994 A JP 3454994A JP 3454994 A JP3454994 A JP 3454994A JP H07244244 A JPH07244244 A JP H07244244A
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JP
Japan
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photometric
area
image
area sensor
index image
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Withdrawn
Application number
JP3454994A
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English (en)
Inventor
Tomohiro Furukawa
智洋 古川
Akira Osawa
暁 大澤
Toru Takahashi
徹 高橋
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、指定された測光領域を正確に検出
し、その測光領域に対して正確な露出時間を決定する。 【構成】標本像を測光用光路を通してエリアセンサ(23)
に投影すると共に標本像中の所望領域を測光領域として
指定する指標像を測光用光路に合成したとき、エリアセ
ンサ(23)の測光出力から標本像のみのエリアセンサ(23)
の測光出力を減算して指標像のみの測光信号を得、この
測光信号におけるエリアセンサ(23)の各画素に対応した
各測光出力としきい値とをそれぞれ比較し、このしきい
値以上の画素を測光領域として決定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、顕微鏡で観察した標本
像に対する露出時間を決定して撮影を行なう顕微鏡写真
撮影装置に関する。
【0002】
【従来の技術】顕微鏡で観察する像は、検鏡法や標本に
より観察視野内での輝度差が大きく、特に検鏡法の1つ
である蛍光観察では、いわゆる夜空に星が点在している
ように、暗いバックグランドの中に蛍光を発っする高輝
度部が点在している。
【0003】このような観察像を写真撮影する場合は、
視野内の広い範囲を平均測光すると、バックグランドが
暗いため高輝度部が点在していても全体的に暗いと判断
され、露出オーバーな写真となってしまう。
【0004】これに対し測光する範囲を限定し、前記高
輝度部分のみを測光するような顕微鏡写真撮影装置が提
案されている。例えば特開平5−164971号公報に
記載されている技術は、測光位置を指標するための補助
光源を備え、この指標像を観察者により確認可能とし、
これと同時に測光素子であるエリアセンサに結像させて
いる。そしてエリアセンサを駆動し得られた指標像の出
力信号のうち、飽和レベルに達している画素、或いはあ
るレベルに達している画素を中心位置として、この中心
位置に基づいて予め指定されている領域を測光領域とし
て決定している。
【0005】又、特開平4−9815号公報に記載され
ている技術は、発光ダイオードのような補助光源と移動
可能な絞り機構とを備え、測光位置及び測光領域を指標
する指標像を顕微鏡観察像面上に形成するとともに光線
分割プリズムにより観察面と共役な位置に設けられたエ
リアセンサ上に結像している。
【0006】このような構成により標本観察するための
光源を遮光板により遮断し、エリアセンサに入射する像
を指標像のみとする。このとき、エリアセンサを駆動
し、エリアセンサの各画素のうち出力信号を少しでも得
た画素を測光対象画素として決定している。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、顕微鏡の写
真撮影装置では、測光素子にエリアセンサを用いる場
合、一般的に画素加算技術が用いられる。これはエリア
センサの画素出力信号を少くとも2画素以上加算するも
のである。
【0008】顕微鏡の観察像が、特に微弱な光量の場
合、エリアセンサの出力信号はノイズに埋もれたSN比
の悪いものとなってしまう。画素加算技術を用いる事に
よりエリアセンサの感度を上げることができ、得られる
出力信号のSN比も飛躍的に向上する。
【0009】さらに予め決められている測光範囲におい
て複数画素出力を加算して1データとして扱うため扱う
データの数も少くとも半減し、露出時間演算に費す処理
時間が大巾に短縮できるというメリットがある。
【0010】その反面、エリアセンサ内の受光格子(以
下ブロックという)が粗になってしまうという現象が発
生する。ところで、このような画素加算技術を前記の従
来技術に用いるとすると次のような欠点が生じる。
【0011】特開平5−164971号公報に記載され
ている技術は、エリアセンサ出力により検出された中心
ブロック位置に基づいて一義的に決まる領域を測光領域
として導き出しているため、この測光領域は観察者が指
定した指標像と必ずしも一致しなくなる。
【0012】又、中心位置を選択する手段としてエリア
センサの出力信号が飽和レベルあるいは予め決まってい
るレベル以上の画素としているが、この選択手段によっ
て選択された画素(ブロック)が複数ある時には更に指
標像と測光指定領域のズレが大きくなる。
【0013】一方、特開平4−9815号公報に記載さ
れている技術は、指標像に対するエリアセンサの出力信
号が少しでも得られた画素を測光対象画素としているた
め、出力信号にノイズが含まれていると、これが意に反
して測光領域として指定されてしまう。
【0014】又、指標像の端が前記したエリアセンサの
ブロックにわずかにかかっている場合も、出力信号が得
られるため測光対象画素として指定されてしまう。よっ
て、指標像に対し実際の測光領域が大きくなってしま
う。そこで本発明は、指定された測光領域を正確に検出
し、その測光領域に対して正確な露出時間を決定できる
顕微鏡写真撮影装置を提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】請求項1によれば、標本
像を測光用光路を通してエリアセンサに投影すると共に
標本像中の所望領域を測光領域として指定する指標像を
測光用光路に合成し、指標像により指定された標本像部
分のエリアセンサの測光出力から露光時間を決定する顕
微鏡写真撮影装置において、エリアセンサの測光出力か
ら指標像に対応する測光信号を得る撮像データ作成手段
と、この手段により得られた測光信号におけるエリアセ
ンサの各画素に対応した各測光出力としきい値とをそれ
ぞれ比較し、このしきい値以上の画素を測光領域として
決定する測光領域決定手段と、を備えて上記目的を達成
しようとする顕微鏡写真撮影装置である。
【0016】請求項2によれば、標本像を測光用光路を
通してエリアセンサに投影すると共に標本像中の所望領
域を測光領域として指定する指標像を測光用光路に合成
し、指標像により指定された標本像部分のエリアセンサ
の測光出力から露光時間を決定する顕微鏡写真撮影装置
において、エリアセンサの測光出力から指標像に対応す
る測光信号を得る撮像データ作成手段と、この手段によ
り得られた測光信号におけるエリアセンサの各画素の測
光出力を、その測光出力の大きい順に選別する選別手段
と、この選別手段により選別された順序に各測光出力を
加算し、この加算値がしきい値以上となったときに加算
を終了し、このときまでに選別された各測光出力に対応
する画素を測光領域として決定する測光領域決定手段
と、を備えて上記目的を達成しようとする顕微鏡写真撮
影装置である。
【0017】請求項3によれば、標本像を測光用光路を
通してエリアセンサに投影すると共に標本像中の所望領
域を測光領域として指定する指標像を測光用光路に合成
し、指標像により指定された標本像部分のエリアセンサ
の測光出力から露光時間を決定する顕微鏡写真撮影装置
において、エリアセンサの測光出力から指標像に対応す
る撮像信号を得る撮像データ作成手段と、この手段によ
り得られた測光信号に基づいてエリアセンサの各画素に
おける指標像の占有面積比を求める占有演算手段と、こ
の手段により求められる占有面積比に基づいて標本像に
対する各画素の測光出力に重み付けを行ってその平均照
度を求める平均照度演算手段と、この平均照度に基づい
て露出時間を決定する露出時間決定手段と、を備えて上
記目的を達成しようとする顕微鏡写真撮影装置である。
【0018】
【作用】請求項1によれば、標本像を測光用光路を通し
てエリアセンサに投影すると共に標本像中の所望領域を
測光領域として指定する指標像を測光用光路に合成した
とき、エリアセンサの測光出力から指標像に対応する測
光信号を得、この測光信号におけるエリアセンサの各画
素に対応した各測光出力としきい値とをそれぞれ比較
し、このしきい値以上の画素を測光領域として決定す
る。
【0019】請求項2によれば、上記同様にエリアセン
サの測光出力から指標像に対応する測光信号を得、この
測光信号におけるエリアセンサの各画素の測光出力を、
その測光出力の大きい順に選別する。そして、この選別
順に各測光出力を加算し、この加算値がしきい値以上と
なったときに加算を終了し、これら選別された各測光出
力に対応する画素を測光領域として決定する。
【0020】請求項3によれば、上記同様にエリアセン
サの測光出力から指標像に対応する撮像信号を得、この
測光信号に基づいてエリアセンサの各画素における指標
像の占有面積比を求める。そして、この占有面積比に基
づいて標本像に対する各画素の測光出力に重み付けを行
ってその平均照度を求めて露出時間を決定する。
【0021】
【実施例】
(1) 以下、本発明の第1の実施例について図面を参照し
て説明する。図1及び図2は顕微鏡写真撮影装置の構成
図である。顕微鏡写真撮影装置の光学系の構成を説明す
ると、図1に示す様に光源1が備えられ、この光源1か
ら放たれた光束は、測光用光路、すなわちコンタクトレ
ンズ2、リレーレンズ3、視野絞り4を介し、反射鏡5
へ入射し、ここで標本6を照射する方向へ反射してい
る。
【0022】この反射された光束は、リレーレンズ7、
明るさ絞り8、コンデンサレンズ9を介し標本6に対し
て均一照明を与えている。標本6を透過した光は、標本
6の上方に配置してある対物レンズ10により結像レン
ズ11へ向けて導かれ、さらに観察用の光学部材である
光路分割プリズム12にて観察用光路と写真用光路に分
割される。
【0023】このうち、観察用光路は光路分割プリズム
12を反射した後、接眼レンズ13により標本6の拡大
像を観察できるものとなっている。一方、写真用光路
は、光路分割プリズム12を透過した後撮影レンズ14
及びシャッタ15を介しフィルム面16で結像してい
る。
【0024】さらに、かかる光学系には、顕微鏡の観察
像上に測光指定部位を指定する指標像を形成する為の機
構、この指標像を検出する為及び写真撮影するために指
定された測光部位を測光する為の機構が備えられてい
る。すなわち、指標像を作り出す発光ダイオード等の補
助光源17が備えられている。この補助光源17からの
光束は、光軸と直交する面内を任意方向に移動可能で、
かつ指標像の大きさを自由に拡大・縮少可能な絞り部材
18を介しリレーレンズ19から反射プリズム20へ入
射するものとなっている。
【0025】この反射プリズム20は、測光用光路に配
置され、補助光源17からの光束を所定の方向に屈折
し、標本6からの透過光束と合成するものとなってい
る。この合成された光束は、光路分割プリズム12によ
り観察用光路と写真用光路に分割され、観察用光路にお
いて観察者が標本像と同時に指標像を確認できる。
【0026】又、写真用光路上には、挿脱可能な全反射
ミラー21が配置されており、これが光路上に挿入され
た場合、縮少レンズ22を介しフィルム面と共役な位置
に設けられたエリアセンサ23上に光束が結像する様に
構成されている。
【0027】図2は電気系の構成図である。CPU30
には、エリアセンサドライバ31、補助光源ドライバ3
2、ミラードライバ33、シャッタドライバ34が接続
されるとともにイメージメモリ35、第1のメモリ3
6、第2のメモリ37が接続されている。
【0028】又、CPU30には、イメージメモリ3
5、画素加算回路38、プリアンプ(P−AMP)39
を介してエリアセンサ23が接続されている。エリアセ
ンサドライバ31は、エリアセンサ23に対してエリア
センサ駆動信号を送出して、エリアセンサ23に入射し
た像の光電変換信号(以下、測光信号と称する)を得る
ための機能を有している。
【0029】補助光源ドライバ32は、補助光源17に
対して点灯信号を送出して発光ダイオード等の補助光源
17を点灯させる機能を有している。ミラードライバ3
3は、全反射ミラー21に対して全反射ミラー駆動信号
を送出して全反射ミラー21を測光光路上に挿脱する機
能を有している。
【0030】シャッタドライバ34は、シャッタ15に
対してシャッタ制御信号を送出してシャッタ15を開閉
制御する機能を有している。画素加算回路38は、エリ
アセンサ23からの画像出力信号を数画素加算して、C
PU30が扱うデータ量を減らすと共に、測光出力のS
N比を改善する機能を有している。
【0031】CPU30は、標本像及び指標像を合成し
たときのエリアセンサ23の測光出力から標本像のみの
エリアセンサ23の測光出力を減算して指標像のみの測
光信号を得る撮像データ作成手段としての機能と、この
手段により得られた測光信号におけるエリアセンサ23
の各画素に対応した各測光出力としきい値とをそれぞれ
比較し、このしきい値以上の画素を測光領域として決定
する測光領域決定手段としての機能を有している。
【0032】次に上記の如く構成された装置の作用につ
いて説明する。測光領域の検出や写真撮影等は、図3に
示す各動作ステップに応じてCPU30から各ドライバ
に対して指令が送られて中央制御される。エリアセンサ
23へ光束を導くためにステップ#1において、CPU
30からミラードライバ33に動作制御信号が与えられ
ると、このミラードライバ33はエリアセンサ23側へ
光路を確保するために光路上へ全反射ミラー21を挿入
する。
【0033】次に測光領域を指定する指標像を観察像上
に形成するために、ステップ#2において補助光源ドラ
イバ32に点灯制御を与えると、補助光源ドライバ32
は発光ダイオード等の補助光源17を点灯させる。
【0034】これにより観察者は、標本像と測光位置指
定のための指標像を接眼レンズ13より同時に観察で
き、光軸と直交する面内を任意の方向に移動可能な絞り
部材18を移動させ、所望する測光ポイントへ指標像を
移動させる。
【0035】次にCPU30は、ステップ#3において
エリアセンサ・ドライバ31へ駆動制御信号を伝達す
る。このエリアセンサ23は標本像と指標像との合成像
を撮像する。このエリアセンサ23は蓄積した蓄積電荷
をこのエリアセンサ23に入射した像の測光信号として
得、この測光信号をプリアンプ39を介して画素加算回
路38に入力する。
【0036】以上の様な動作ステップで得られた標本像
と指標像の合成像は、ステップ#5において測光信号と
してイメージメモリ35に入力され、更に、このイメー
ジデータはステップ#6において第1のメモリ36へ記
憶される。
【0037】ここで、画素加算回路38の直前には不図
示の補正回路が施されており、この補正回路はエリアセ
ンサ23の固定パターン・ノイズや暗出力の補正を行う
とともにアナログ信号として得られるエリアセンサ出力
をデジタル値に変換する。
【0038】次にCPU30は、測光領域指定されてい
る画素を検出するために図4に示す動作ステップの動作
を行う。なお、同図は、指標像のみの測光信号を得るた
めのステップであって、図3に示してあるステップと異
なるところを説明する。
【0039】ステップ#10で全反射ミラー21を測光
光路上に挿入した後、ステップ#11において指標像を
形成させる発光ダイオード17を消灯する。この消灯に
よりエリアセンサ23に入射する像は、標本像のみとな
る。この座標の測光出力を図3と同様のステップ#12
〜#14でイメージメモリ35まで取り込む。
【0040】ここで、図3に示す各ステップで得られた
標本と指標の合成像は既に第1のメモリ36に記憶され
ている。そして、ステップ#15においてCPU30
は、第1のメモリ36の内容からイメージメモリ35の
内容を減算処理する。この処理は、 (標本像+指標像)−標本像 …(1) の関係であり、指標像のみの撮像信号を得る事ができ
る。このようにして得られた指標像の撮像信号は、ステ
ップ#16において第2のメモリ37に記憶される。
【0041】図5はエリアセンサ格子(ブロック)と指
標像Sの関係を示す。画素加算技術を用いているために
エリアセンサ23の1つのブロックは複数の画素で構成
されている。エリアセンサ23は装置内に固定されてい
るのに対しエリアセンサ23に入射し、結像している指
標像Sはエリアセンサ面上を自由に移動可能である。よ
って、指標像Sの一部がエリアセンサ23の最少受光格
子を満たさない現象が発生する。図5に示す「1」〜
「4」,「7」〜「11」の各ブロックは指標像Sが確
認できるが1ブロックを満たしていない。
【0042】図6は図5に示すブロック「1」〜「1
1」までの撮像出力を示している。指標像Sがエリアセ
ンサ23の受光格子を占める割合が大きくなる程撮像出
力が大きくなり、受光格子を示める割合が小さくなる程
撮像出力が小さくなっている。ここで指標像Sがわずか
にかかっているだけのブロックを測光領域として指定し
てしまうと測光領域が指標像に対し、大きくなってしま
い正確な測光出力が得られない。
【0043】そこで、得られた指標像Sの撮像出力のピ
ーク値より、数割(ここでは3割)にあたる値がしきい
値αとして設定され、このしきい値αを設け、このしき
い値αよりも大きな撮像出力を持つブロックを測光指定
ブロックとして指定する。なお、しきい値αよりも小さ
な撮像出力を持つブロックは測光指定ブロックから除外
する。
【0044】この方法により測光領域指定されたエリア
センサ23のブロックは図7に示す領域「1」,
「2」,「5」〜「7」,「9」,「10」となり、指
標像Sに対する測光領域を考慮しつつ指標像の一部がエ
リアセンサ23の取込み最小ブロックを満たさない場合
の測光誤差を軽減することができる。
【0045】このように上記第1の実施例によれば、得
られた指標像Sの撮像出力に対してしきい値αを設定
し、このしきい値αよりも大きな撮像出力を得たブロッ
クを測光位置指定し、しきい値αよりも小さな撮像出力
を得たブロックは測光位置指定から除外するので、測光
指定ブロック領域がより指標像Sの大きさに近づける事
ができ、つまり指標像Sと測光領域決定されたエリアセ
ンサ3の領域の大きさが等しくでき、かつ指標像Sの位
置や大きさが変わっても測光指定ブロック領域の位置も
変わり、範囲も自由に拡大・縮少できる。
【0046】又、ノイズ等の影響で誤って意としないブ
ロックが測光位置指定されるのを防ぐ事ができるととも
にフレアー等でエリアセンサ23の隣接ブロックに出力
が有る場合の測光誤差を除去できる。なお、しきい値
は、指標像のピーク値より導き出され、このピーク値の
数割にあたる値が設定されるため、LEDの輝度ばらつ
きや劣化、又組み立て時の調整幅によって指標像のピー
ク値に変動が起こった場合でも、測光領域決定の誤差が
防止できる。
【0047】なお、しきい値αの設定の方法は応用可能
で、予め決められた固定的な値を不図示の判断回路へ設
定しても良い。ここで、しきい値αを予め決められた固
定的な値に設定すれば、指標像の端がエリアセンサ23
のブロックに僅かにかかっていた場合に、指標像の測光
出力は、しきい値αにより測光領域指定から除外される
ため、指標像の大きさに対応した測光領域が指定でき
る。
【0048】又、しきい値αは、指標像のピーク値より
導き出されるもので、このピーク値の数割にあたる値が
設定されるので、LEDの輝度ばらつきや劣化、又組み
立て時の調整中によって指標像のピーク値に変動が起こ
ってもピーク値からの割合でしきい値を設定することに
より、上記要因による測光領域決定の誤差が防止でき
る。
【0049】そのうえ、指標像ピーク値を示すエリアセ
ンサ23のブロックが100%満たされていなくても、
このブロックを測光領域として指定できその隣接する画
素もピーク値との割合で選別できるため指標像の大きさ
に対し測光領域が正確に検出できる。 (2) 次に本発明の第2の実施例について説明する。
【0050】この第2の実施例は、指標像Sとエリアセ
ンサ23の受光格子とが同等の大きさの場合についてで
ある。なお、顕微鏡写真撮影装置としての構成は図1及
び図2と同様であり、その異なるところを説明する。
【0051】CPU30は、標本像及び指標像を合成し
たときのエリアセンサ23の測光出力から標本像のみの
エリアセンサ23の測光出力を減算して指標像のみの測
光信号を得る撮像データ作成手段としての機能と、この
手段により得られた測光信号におけるエリアセンサ23
の各画素の測光出力を、その測光出力の大きい順に選別
する選別手段としての機能と、この選別手段により選別
された順序に各測光出力を加算し、この加算値がしきい
値以上となったときに加算を終了し、このときまでに選
別された各測光出力に対応する画素を測光領域として決
定する測光領域決定手段としての機能とを有している。
【0052】次にエリアセンサ23の受光格子と同等の
大きさの指標像Sであり、指標像Sが受光格子をまたが
った場合での測光位置を決定する迄の動作について図8
に示す動作ステップを参照して説明する。
【0053】図9(a)〜同図(d)は、エリアセンサ
23の受光格子と小さな指標像Sとの位置関係を示して
いる。測光位置を指定する指標像Sの大きさがエリアセ
ンサ23の受光格子と同等の大きさの場合、指標像Sが
結像する位置により測光対象となるブロック数が1〜4
ブロックと異ってくる。
【0054】ステップ#20においてCPU30は、指
標領域の大きさを確認するために上記第1の実施例と同
様に図6に示されている。あるしきい値α以上の撮像出
力信号を持つエリアセンサ23のブロック数が指標像の
大きさで決まるあらかじめ定められている数n個より少
なければ、この場合を指標像が極めて小さいと判断す
る。
【0055】この予め定められている数nとは、エリア
センサ23の受光格子と指標像Sの大きさとの関係から
導き出され、指標像Sが受光格子をまたがった場合に測
光指定ブロック領域が大巾に拡大してしまう時の測光指
定ブロック数が設定される。例えば、指標像が受光格子
と同程度の大きさの場合は指標像が受光格子にまたがっ
た場合の受光格子数は最大4ケであるので、この場合n
=4が設定される。
【0056】なお、測光領域の指標する指標像の大きさ
が不図示の選択手段により予めわかっている場合はn個
による判断ステップを省略する事もできる。図9(d)
は指標像Sがエリアセンサ23の受光格子「12」〜
「15」の4ブロックに渡って結像している。したがっ
て、各受光格子の撮像出力は、指標像が1つの受光格子
内に結像している場合の出力に対して各受光格子への投
影占有面積に比例した出力となる。
【0057】次にステップ#21において図10に示す
ように撮像出力の大きなものから「15」+「13」+
…のように順次、撮像出力を加算する。この加算値がス
テップ#23において予め定められているしきい値β以
上になったと判断された場合CPU30は、加算を終了
する。
【0058】しかるに、CPU30はステップ#24に
おいて図11に示すように加算した撮像出力に対応する
エリアセンサ23のブロック「13」〜「15」を測光
指定位置として決定する。
【0059】以上のような動作ステップで測光指定位置
として決定したブロック「13」,「14」,「15」
が指定され、わずかに指標像Sがかかっている「12」
のブロックは測光指定から除外される。
【0060】このように上記第2の実施例によれば、測
光位置を指定する指標像Sが小さい場合、指標像Sの撮
像出力のうち、大きいものから加算してゆきその加算値
が予め定められているしきい値βに達っした時に加算を
終了させ、このとき加算した撮像出力に対応するエリア
センサ23の受光格子を測光位置指定するので、指標像
Sの位置とエリアセンサ23の受光格子の位置がズレる
事なく測光位置として決定でき、又指標像Sの大きさに
対応した受光格子が測光領域として指定でき、測光精度
を高めることができる。 (3) 次に本発明の第3の実施例について説明する。
【0061】この第3の実施例における顕微鏡写真撮影
装置としての構成は、図1及び図2と同様であり、その
異なるところを説明する。CPU30は、標本像及び指
標像を合成したときのエリアセンサ23の測光出力から
標本像Sのみのエリアセンサ23の測光出力を減算して
指標像Sのみの撮像信号を得る撮像データ作成手段とし
ての機能と、この手段により得られた測光信号に基づい
てエリアセンサ23の各画素における指標像Sの占有面
積比を求める占有演算手段としての機能と、この手段に
より求められる占有面積比に基づいて標本像に対する各
画素の測光出力に重み付けを行ってその平均照度を求め
る平均照度演算手段としての機能と、この平均照度に基
づいて露出時間を決定する露出時間決定手段としての機
能を有している。
【0062】次に上記の如く構成された装置の作用につ
いて説明する。生体組織や細胞を蛍光染色し、染色され
たタンパクや遺伝子等を観察する検鏡法が知られてい
る。
【0063】この様な検鏡法の場合、一般的に図12に
示すように背景は暗く、蛍光色素で染色された部分が明
るく、点在している。又、指標像Sと標本像及びエリア
センサ23の受光格子との位置関係が同図のように分布
しているとすると、測光指定ブロックは「16」,「1
7」,「18」となる。そして指標像は図13に示すよ
うに受光格子に対して「18」ブロックの占有面積が最
大であるため撮像出力も「18」ブロックが最大とな
る。図14は、標本像の測光出力を示している。標本は
蛍光を発しその部分が明るくなっている。
【0064】ところで、測光位置指定された「16」,
「17」,「18」の3ブロックの標本の測光出力から
平均照度を求めると、その平均照度rは、 r=(D16+D17+D18)/3 …(2) により表わされる。ここでD16は「16」ブロックの出
力、D17は「17」ブロックの出力、D18は「18」ブ
ロックの出力である。しかし、ブロック「16」及びブ
ロック「17」には、背景の暗い部分が含まれているた
め標本の明るさに対し平均照度rは暗くなってしまい、
この平均照度rより露出時間を求めて写真撮影を行うと
露出オーバーな写真となる。
【0065】そこで、図13に示されている指標像Sの
撮像出力から指標像Sがエリアセンサ23の受光格子を
示める割合を導き出す。標本の平均照度を導き出す際に
は、標本の測光出力に対し指標像Sの占める割合を算出
し、不図示の平均照度重み付け演算回路により平均照度
r′を得る。
【0066】 r′=K1616+K1717+K1818 …(3) ここで、K16は指標像の受光格子「16」への占有面積
比、K17は指標像の受光格子「17」への占有面積比、
18は指標像の受光格子「18」への占有面積比であ
る。
【0067】よって、図14に示されるようにこの平均
照度r′は平均照度rに対し、標本が“明るい”と判断
される。この平均照度r′から露出時間を求め写真撮影
を行うとエリアセンサ23の受光格子内への指標像の占
有面積比に対応した測光出力を得る事ができ、測光誤差
をなくした最適な露出で良好な写真を得る事ができる。
【0068】従って、第3の実施例によれば、エリアセ
ンサ23の受光格子内への指標像Sの占有面積比に対応
した測光出力を得る事ができ、測光誤差をなくした最適
な露出で良好な写真を得ることができる。
【0069】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、指
定された測光領域を正確に検出し、その測光領域に対し
て正確な露出時間を決定できる顕微鏡写真撮影装置を提
供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる顕微鏡写真撮影装置の第1の実
施例を示す光学系の構成図。
【図2】同第1の実施例を示す電気系の構成図。
【図3】測光領域検出の動作ステップを示す流れ図。
【図4】測光領域の指定された画素検出の動作ステップ
を示す流れ図。
【図5】エリアセンサブロックと指標像との関係を示す
図。
【図6】エリアセンサの各ブロックの撮像出力を示す
図。
【図7】測光領域として決定した各ブロックを示す図。
【図8】本発明に係わる顕微鏡写真撮影装置の第2の実
施例における動作ステップを示す流れ図。
【図9】エリアセンサブロックと小さな指標像との位置
関係を示す図。
【図10】撮像出力の加算を示す図。
【図11】測光領域として決定した各ブロックを示す
図。
【図12】本発明に係わる顕微鏡写真撮影装置の第3の
実施例に適用する生体組織等を蛍光染色したときの観察
像を示す図。
【図13】エリアセンサブロックごとの指標像の撮像出
力を示す図。
【図14】エリアセンサブロックごとの標本像の撮像出
力を示す図。
【符号の説明】
1…光源、5…反射鏡、6…標本、10…対物レンズ、
12…光路分割プリズム、14…撮影レンズ、15…シ
ャッタ、16…フィルム面、17…補助光源、20…反
射プリズム、21…全反射ミラー、23…エリアセン
サ、30…CPU、31…エリアセンサドライバ、32
…補助光源ドライバ、33…ミラードライバ、34…シ
ャッタドライバ、35…イメージメモリ、36…第1の
メモリ、37…第2のメモリ、38…画像加算回路。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 標本像を測光用光路を通してエリアセン
    サに投影すると共に前記標本像中の所望領域を測光領域
    として指定する指標像を前記測光用光路に合成し、前記
    指標像により指定された前記標本像部分の前記エリアセ
    ンサの測光出力から露光時間を決定する顕微鏡写真撮影
    装置において、 前記エリアセンサの測光出力から前記指標像に対応する
    測光信号を得る撮像データ作成手段と、 この手段により得られた測光信号における前記エリアセ
    ンサの各画素に対応した各測光出力としきい値とをそれ
    ぞれ比較し、このしきい値以上の前記画素を前記測光領
    域として決定する測光領域決定手段と、 を具備したことを特徴とする顕微鏡写真撮影装置。
  2. 【請求項2】 標本像を測光用光路を通してエリアセン
    サに投影すると共に前記標本像中の所望領域を測光領域
    として指定する指標像を前記測光用光路に合成し、前記
    指標像により指定された前記標本像部分の前記エリアセ
    ンサの測光出力から露光時間を決定する顕微鏡写真撮影
    装置において、 前記エリアセンサの測光出力から前記指標像に対応する
    測光信号を得る撮像データ作成手段と、 この手段により得られた測光信号における前記エリアセ
    ンサの各画素の測光出力を、その測光出力の大きい順に
    選別する選別手段と、 この選別手段により選別された順序に前記各測光出力を
    加算し、この加算値がしきい値以上となったときに加算
    を終了し、このときまでに選別された前記各測光出力に
    対応する前記画素を前記測光領域として決定する測光領
    域決定手段と、を具備したことを特徴とする顕微鏡写真
    撮影装置。
  3. 【請求項3】 標本像を測光用光路を通してエリアセン
    サに投影すると共に前記標本像中の所望領域を測光領域
    として指定する指標像を前記測光用光路に合成し、前記
    指標像により指定された前記標本像部分の前記エリアセ
    ンサの測光出力から露光時間を決定する顕微鏡写真撮影
    装置において、 前記エリアセンサの測光出力から前記指標像に対応する
    撮像信号を得る撮像データ作成手段と、 この手段により得られた測光信号に基づいて前記エリア
    センサの各画素における前記指標像の占有面積比を求め
    る占有演算手段と、 この手段により求められる占有面積比に基づいて前記標
    本像に対する前記各画素の測光出力に重み付けを行って
    その平均照度を求める平均照度演算手段と、 この平均照度に基づいて露出時間を決定する露出時間決
    定手段と、を具備したことを特徴とする顕微鏡写真撮影
    装置。
JP3454994A 1994-03-04 1994-03-04 顕微鏡写真撮影装置 Withdrawn JPH07244244A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015055770A (ja) * 2013-09-12 2015-03-23 株式会社ミツトヨ 情報処理装置、情報処理方法、プログラム、及び画像測定装置

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