JP3384577B2 - 顕微鏡用写真撮影装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、顕微鏡で観察される像
を写真撮影するための撮影装置に係り、さらに詳しくは
露出制御の改良に関する。

【０００２】

【従来の技術】顕微鏡により得られる観察像を写真撮影
する場合に、標本あるいは検鏡法によっては標本の輝度
差が広く、かつ高輝度部分あるいは低輝度部分が点在す
る場合がある。この様な像を平均的に測光した測光値に
基づいた露出時間で撮影すると、点在する輝度値がバッ
クグラウンドに埋もれてしまい露出が不適正な写真とな
ってしまう。

【０００３】例えば、蛍光標本を撮影する場合は、暗い
バックの中に蛍光を発する高輝度部分が点在するので、
これを平均測光してその測光値から公知の計算式で単純
に算出される露出時間に基づいて撮影を実施すると、露
出オーバーな写真となってしまう。

【０００４】このような標本を撮影対象とする撮影装置
に対し従来から種々の改善がなされている。例えば、特
開昭５７−８２８２２号には、被写界を複数の領域に分
割して測光し、各領域の測光出力のうち最大値と最小値
との差又は比を算出し、その算出値で最大値，最小値又
は平均値に所定の補正を加えて露出を補正する方式が記
載されている。

【０００５】また特開昭６０−３１０２６号には、上記
した分割測光を行い、各分割領域の測光出力の最大値，
最小値，平均値及びフィルムのラチチュードを読取り、
最大値，最小値間の差とラチチュードとの大小関係によ
り、複数の補正演算を行うモードが選択される方式が記
載されている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上記した各公開公報に
記載された技術は、最大値，最小値，平均値等を露出の
基準値とし、その基準値の大小関係から基準値に対する
補正を行うものである。このため、基準値が被写界（顕
微鏡写真の場合は標本）に対して撮影者の撮りたい部分
に対応していない場合、例えば撮影対象が上記蛍光標本
でその標本に傷やゴミ等がある場合には、その部分が最
大輝度となってしまうので、最大輝度を露出の基準値と
したときには露出アンダーな写真となってしまう。すな
わち適正な露出が得られなくなるという欠点がある。

【０００７】本発明は以上のような実情に鑑みてなされ
たもので、標本の輝度差が大きく、かつ輝度の分布が点
在する被写体に対しても、適正で良好な露出が得られる
顕微鏡用写真撮影装置を提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明は、顕微鏡による
観察像を２次元的に配列された複数の受光素子で測光
し、該測光出力に基づいて露出制御を行う顕微鏡用写真
撮影装置において、前記各受光素子の測光出力から最大
値を検出する最大値検出回路と、前記各受光素子の測光
出力から最小値を検出する最小値検出回路と、前記最大
値検出回路で検出された最大値及び前記最小値検出回路
で検出された前記最小値とに基づいて前記観察像の輝度
分布に応じた比較判定条件であるしきい値を設定し、前
記しきい値に基づいて前記露出演算の対象とすべき前記
各受光素子の測光出力を選択的に抽出する抽出手段と、
前記抽出手段で抽出された各測光出力を平均化して平均
値を求める平均化手段と、前記平均化手段で求められた
平均値を用いて前記露出演算を行い、該露出演算で求め
られた露出時間に基づいて前記観察像中に点在する露出
演算の対象に対する露出制御を行う露出制御手段とを具
備したことを特徴とする顕微鏡用写真撮影装置である。
本発明は、顕微鏡による観察像を２次元的に配列された
複数の受光素子で測光し、該測光出力に基づいて露出制
御を行う顕微鏡用写真撮影装置において、前記各受光素
子の測光出力から最大値を検出する最大値検出回路と、
前記各受光素子の測光出力から最小値を検出する最小値
検出回路と、前記最大値検出回路で検出された最大値及
び前記最小値検出回路で検出された前記最小値とに基づ
いてしきい値を設定し、露出演算の対象とすべき前記し
きい値より大きい前記各受光素子の測光出力を選択的に
抽出する抽出手段と、前記抽出手段で抽出された各測光
出力を平均化して平均値を求める平均化手段と、前記平
均化手段で求められた平均値を用いて前記露出演算を行
い、該露出演算で求められた露出時間に基づいて露出制
御を行う露出制御手段とを具備したことを特徴とする顕
微鏡用写真撮影装置である。 本発明における顕微鏡用写
真撮影装置の前記抽出手段は、前記最大値検出回路で検
出された最大値及び前記最小値検出回路で検出された前
記最小値に基づいて前記観察像の輝度分布に応じて設定
された前記比較判定条件である前記しきい値を設定する
スレシホールド値設定回路と、前記スレシホールド値設
定回路で設定 された前記しきい値と前記各受光素子の測
光出力とを比較し、前記露出演算の対象とすべき前記各
受光素子の測光出力を選択的に抽出する比較回路とから
なる。

【０００９】本発明は、顕微鏡による観察像を２次元的
に配列された複数の受光素子で測光し、該測光出力に基
づいて露出制御を行う顕微鏡用写真撮影装置において、
前記各受光素子の測光出力から最大値を検出する最大値
検出回路と、前記各受光素子の測光出力から最小値を検
出する最小値検出回路と、前記最大値検出回路で検出し
た前記最大値及び前記最小値検出回路で検出した前記最
小値に基づいて前記観察像の輝度分布に応じた比較判定
条件である第１のしきい値を設定する第１のしきい値設
定回路と、前記最大値検出回路で検出した前記最大値及
び前記最小値検出回路で検出した前記最小値に基づいて
前記比較判定条件である第２のしきい値を設定する第２
のしきい値設定回路と、前記第１のしきい値設定回路で
設定した前記第１のしきい値及び前記第２のしきい値設
定回路で設定した前記第２のしきい値と、前記各受光素
子の測光出力とを比較し、前記観察像中の露出演算の対
象とすべき前記各受光素子の測光出力を選択的に抽出す
る比較回路と、前記抽出手段で抽出された各測光出力を
平均化して平均値を求める平均化手段と、前記平均化手
段で求められた平均値を用いて前記露出演算を行い、該
露出演算で求められた露出時間に基づいて前記露出演算
の対象に対する露出制御を行う露出制御手段とを具備し
たことを特徴とする顕微鏡用写真撮影装置である。 本発
明は、顕微鏡による観察像を２次元的に配列された複数
の受光素子で測光し、該測光出力に基づいて露出制御を
行う顕微鏡用写真撮影装置において、前記各受光素子か
ら出力される測光出力が当該各測光出力の大きさ順に読
出して格納する測光データ格納手段と、前記測光データ
格納手段から読み出される測光出力の読出し数をカウン
トするカウント手段と、予め所定のカウント値が設定さ
れ、前記測光データ格納手段より大きさ順に読み出され
た各測光出力の中から、前記カウント手段の前記カウン
ト値まで露出演算の対象とすべき前記各受光素子の測光
出力を抽出する抽出手段と、前記抽出手段で抽出された
各測光出力を平均化して平均値を求める平均化手段と、
前記平均化手段で求められた平均値を用いて前記露出演
算を行い、該露出演算で求められた露出時間に基づいて
露出制御を行う露出制御手段とを具備したことを特徴と
する顕微鏡用写真撮影装置である。 本発明における顕微
鏡用写真撮影装置の平均化手段は、前記抽出手段からの
測 光出力と前記各受光素子からの測光出力とを切り換え
る切り換え手段を備えており、観察像の輝度分布に応じ
た露出制御からそれ以外の通常の露出制御に切り換える
ようにしている。

【００１０】

【作用】本発明は、複数の受光素子の測光出力から検出
された観察像中における最大値及び最小値に基づいて観
察像の輝度分布に応じた比較判定条件となるしきい値を
設定し、このしきい値に基づいて露出演算の対象とすべ
き各受光素子の測光出力を選択的に抽出し、この抽出さ
れた各測光出力を平均化して平均値を求め、露出演算を
行うことにより、その露出時間に基づいて観察像中に点
在する露出演算の対象に対する露出制御を行う。これに
より、観察像中に点在する観察者が撮影したい部分の輝
度領域の測光出力を抽出でき、当該輝度領域に対する適
正な露出を行うことができる。しかるに、全受光素子を
平均測光することによる不具合や、最大値、最小値等を
基準とすることによる不具合を解消できる。 本発明は、
複数の受光素子の測光出力から検出された観察像中にお
ける最大値及び最小値に基づいてしきい値を設定し、露
出演算の対象とすべき前記しきい値より大きい前記各受
光素子の測光出力を選択的に抽出し、この抽出された各
測光出力を平均化して平均値を求め、露出演算を行うこ
とにより、その露出時間に基づいて観察像中に点在する
露出演算の対象に対する露出制御を行う。

【００１１】本発明の抽出手段は、最大値及び最小値に
基づいて観察像の輝度分布に応じて設定された比較判定
条件であるところのしきい値を設定し、このしきい値と
各受光素子の測光出力とを比較し、露出演算の対象とす
べき各受光素子の測光出力を選択的に抽出する。

【００１２】本発明は、複数の受光素子の測光出力から
検出された最大値及び最小値とに基づいて観察像の輝度
分布に応じた比較判定条件となる第１及び第２のしきい
値を設定し、これらしきい値に基づいて前記観察像中の
露出演算の対象とすべき各受光素子の測光出力を選択的
に抽出する。この抽出された各測光出力を平均化して平
均値を求め、露出演算を行うことにより、その露出時間
に基づいて観察像中に点在する露出演算の対象に対する
露出制御を行う。

【００１３】本発明は、各受光素子から出力される測光
出力を当該各測光出力の大きさ順に読出して測光データ
格納手段に格納し、この測光データ格納手段から読み出
される測光出力の読出し数をカウント手段によりカウン
トし、かつ前記大きさ順に読み出された各測光出力の中
から前記カウント値まで露出演算の対象とすべき各受光
素子の測光出力を抽出し、この抽出された各測光出力を
平均化して平均値を求め、この平均値を用いて露出演算
を行い、この露出演算で求められた露出時間に基づいて
露出制御を行う。 本発明の平均化手段は、抽出された測
光出力と各受光素子からの測光出力とを切り換え手段に
より切り換える、観察像の輝度分布に応じた露出制御か
らそれ以外の通常の露出制御に切り換える。

【００１４】

【実施例】以下、図面を参照しながら本発明の実施例に
ついて説明する。

【００１５】図１には本発明の第１実施例に係る顕微鏡
用写真撮影装置の光学系の概略図が示されている。本実
施例は、顕微鏡用写真撮影装置のプリズムボックス部１
に、顕微鏡の対物レンズ２からの光束を導き、プリズム
ボックス部１に入った光束を第１のプリズム３に入射し
て２方向へ分岐する。第１のプリズム３で反射した光束
を投影レンズ４を通過させＣＣＤイメージャー５に結像
している。ＣＣＤイメージャー５は、例えば図４に示す
ように、複数の受光素子５ａ〜５ｐが２次元的に配列さ
れたものからなる。ＣＣＤイメージャー５から出力され
る測光出力は露出制御部６に入力する。

【００１６】一方、第１のプリズム３を透過した光束を
第２のプリズム７に入射して同じく２方向に分岐してい
る。第２のプリズム７で分岐された光束のうち反射成分
は接眼レンズ８を通りビュアー９へ導かれている。また
第２のプリズム７を透過した光束は露光用シャッター１
１を介しカメラバック１２内に装填されているフィルム
面１３に結像する。上記露出制御部６に関連する制御部
の構成を図２に示す。

【００１７】露出制御回路２０は、ＣＣＤイメージャー
５から測光出力が入力すると共に、スイッチ入力手段で
構成される撮影情報入力部１４からＩＳＯ感度，露出補
正条件等の露出に関する設定条件が入力される。露出制
御回路２０では、後述する処理によって選択された測光
出力を、上記設定条件に基づく所定の露出演算に代入し
て最適な露出時間を算出し、上記設定条件及び露出時間
を表示部１５へ表示出力する。

【００１８】露出制御回路２０にはシャッター開閉駆動
回路１６が接続され、露出制御回路２０に外部からレリ
ーズが与えられると、上記露出時間によりシャッター開
閉駆動回路１６の駆動を行ってシャッター１７の開閉制
御を行う。また露出制御回路２０にはフィルム巻上モー
タ駆動回路１８が接続され、露出制御回路２０で露出終
了を判断すると、フィルム巻上モータ駆動回路１８の駆
動を行ってフィルムを巻上げるためのモータ１９を制御
する。なお露出制御回路２０では、このフィルムを巻上
げ動作の終了により一連の露出動作を終了させるように
構成されている。露出制御回路２０の内部構成が図３に
示されている。

【００１９】露出制御回路２０は、ＣＣＤイメージャー
５からの測光出力を受光回路２１に入力する。この受光
回路２１はＣＣＤ駆動回路及びＣＣＤ出力信号処理回路
に相当する。全受光素子の出力値は一度不図示の記憶回
路により記憶される。なお、受光素子をフォトダイオー
ドで構成するような場合には、受光回路は電流−電圧変
換回路が用いられることになる。

【００２０】受光回路２１の出力端に対し最大値検出回
路２２及び最小値検出回路２３が並列に接続されてい
る。その両回路２２，２３の出力がスレシホールド値設
定回路２４へ与えられている。スレシホールド値設定回
路２４から出力されるしきい値は比較回路２５の一方の
入力端子に入力され、その比較回路２５の他方の入力端
子に受光回路２１からの測光出力が与えられる。比較回
路２５の出力端子は切換えスイッチ２６の一方の端子に
印加される。その切換えスイッチ２６のもう一方の端子
には受光回路２１からの測光出力が印加されている。切
換えスイッチ２６の出力側に平均値演算回路２７が接続
され、その後段に露出時間演算回路２８が接続されてい
る。次に、以上のように構成された露出制御回路２０に
おける露出時間の算出動作について説明する。

【００２１】受光回路２１から出力された測光出力は最
大値検出回路２２及び最小値検出回路２３にそれぞれ入
力され、それぞれ最大値（Ｐmax ）及び最小値（Ｐmin
）が検出される。最大値（Ｐmax ）及び最小値（Ｐmin
）はスレシホールド値設定回路２４へ入力され、予め
設定されている係数αにより次式の演算が行われ、スレ
シホールド値（Ｐth）が設定される。 Ｐth＝αＰmax ＋（１−α）Ｐmin （０≦α≦
１）

【００２２】スレシホールド値（Ｐth）は比較回路２５
に入力される一方、不図示の記憶回路に記憶された全受
光素子の素子出力（測光出力）が時系列的に比較回路２
５の他方端に入力される。

【００２３】比較回路２５では、予め設定された比較判
定条件により比較が行われ、判定条件に合致した場合に
比較回路２５から該当受光素子の測光出力が出力され
る。例えば、比較判定条件を、Ｐｉ≧Ｐth （Ｐｉは各
受光素子の出力値）、とした場合は、全受光素子の測光
出力の中からスレシホールド値（Ｐth）を越える出力値
のみが抽出されることになる。

【００２４】この様にして比較回路２５において抽出さ
れた各測光出力、又は不図示の記憶回路に記憶されてい
る全受光素子の各測光出力の、いずれか一方が切換えス
イッチ２６で選択され、平均値演算回路２７に入力され
る。

【００２５】平均値演算回路２７では次式の平均化演算
が行われ切換えスイッチ２６を介して入力する測光出力
の平均値（Ｐave ）が算出される。なお、下式中のＰｋ
は測光出力、Ｎは演算対象となった測光出力の数を示し
ている。 Ｐave ＝ΣＰｋ／Ｎ

【００２６】なお、平均値演算回路２７にて算出される
平均値Ｐave は、切換えスイッチ２６が比較回路２５側
に接続されているときは比較回路２５で抽出した測光出
力、すなわちＰmax 及Ｐmin により設定されたスレシホ
ールド値Ｐth以上の測光出力の平均値である。また切換
えスイッチ２６が受光回路２１側に接続されているとき
は全受光素子の測光出力の平均値Ｐmeanである。

【００２７】平均値演算回路２７で算出された平均値Ｐ
ave は露出時間演算回路２８に入力され、そこで既に撮
影情報入力部１４から入力されている設定条件に基づい
て露出時間を演算する。

【００２８】ここで、標本上の輝度分布状態と算出され
る露出時間との関係について図８を参照して説明する。
例えば、図５に示す蛍光標本Ｒように，輝度の低い暗い
バック３１の中に斜線で示す蛍光発光部の高輝度部分３
２が点在した場合を考える。この様な場合には、多くの
受光素子が輝度の低いバックの中に存在し、少しの受光
素子のみが高輝度部分３２に存在するため、輝度（測光
出力）に対応した受光素子出力数の分布は図８に示すよ
うな分布となる。同図に示すように、図５のような蛍光
標本Ｒの場合には、輝度の低い部分に素子出力数が集中
し、輝度の中間レベルには素子出力数がなく、最大値側
に多少の出力数がある。

【００２９】そこで、本実施例ではスレシホールド値設
定回路２４で中間レベルの付近にスレシホールド値Ｐth
を設定し、スレシホールド値Ｐthを越えた測光出力（図
８の斜線部）のみを抽出して、それらの平均値Ｐave を
求め、これを露出時間演算に利用している。そのため、
図５に示す蛍光標本Ｒにおける高輝度部３２に露出を合
わせる形となり、高輝度部３２の撮影には最適な露出と
なる。

【００３０】なお、高輝度部３２に露出を合わせたくな
い場合や、輝度差が少ない場合には受光回路２１側に切
換えて通常の全測光出力による平均値Ｐmeanでの露出演
算を行えば良い。

【００３１】この様に本実施例によれば、全受光素子の
測光出力の中の最大値と最小値とから、標本上で注目す
る部分の測光出力を抽出可能なスレシホールド値Ｐthを
求め、そのスレシホールド値Ｐthに基づいて抽出された
測光出力のみの平均値Ｐaveから露出演算を行うように
したので、標本上で注目する部分に露出を合わせた露出
時間を算出でき、最適な露出を実現できる。

【００３２】なお、上記露出制御回路６を構成する各回
路と同等の機能をＣＰＵに持たせ、ソフト的に処理する
ように構成しても良い。またスレシホールド値Ｐthを算
出するための係数αを可変として、操作者が任意に設定
できるように構成しても良い。さらに上記実施例では、
比較回路２５における比較判定条件をＰｉ≧Ｐthとした
が、これに限ることなく適宜変更可能である。例えば、
標本の輝度分布が図５に示す場合と逆であれば、すなわ
ち標本バックが高輝度で、低輝度部分が点在するような
場合であり、点在する低輝度部分に露出を合わせたいと
きは、上記比較判定条件をＰｉ≦Ｐthとすれば、上記実
施例と同様の効果が得られる。

【００３３】次に、２つのスレシホールド値を使って測
光出力を抽出する場合を、図６に示す第２実施例により
説明する。従って、露出制御回路の内部構成を除いて、
上記第１実施例と同様であるので、ここでは異なる部分
についてのみ説明する。なお、露出制御回路の内部構成
おいて図３に示すものと同一部分には同一符号を付して
いる。

【００３４】本実施例は、最大値検出回路２２及び最小
値検出回路２３の出力端子に対し２つのスレシルホール
ド値設定回路２４−１，２４−２を並列に設け、双方の
出力を比較回路３３にしきい値として設定している。

【００３５】各スレシルホールド値設定回路２４−１，
２４−２は、予め設定された係数α１，α２（α１＜α
２）により、次式の演算が行われ、スレシホールド値
（Ｐth１，Ｐth２）が設定される。 Ｐth１＝α１Ｐmax ＋（１−α１）Ｐmin （０≦
α１≦１） Ｐth２＝α２Ｐmax ＋（１−α２）Ｐmin （０≦
α２≦１）

【００３６】比較回路３３は、スレシホールド値（Ｐth
１，Ｐth２）および受光回路２１からの全受光素子の測
光出力が入力され、予め設定された比較条件Ｐth１≦Ｐ
ｉ≦Ｐth２により比較が行われる。受光回路２１から入
力する測光出力のうち上記比較条件に合致した測光出力
のみを切換えスイッチ２６へ出力する。

【００３７】従って、本実施例は、スレシホールド値Ｐ
th１とスレシホールド値Ｐth２との間にある測光出力の
みを平均値演算回路２７で平均化し、その平均値Ｐave
を基準にして露出時間を算出している。

【００３８】本実施例が特に有効に機能するのは、図９
に示すような受光素子出力数分布を示す標本を撮影する
ような場合である。同図に示すような標本の場合、低輝
度域，中間輝度域，高輝度域の３種に標本分布があり、
スレシホールド値（Ｐth１，Ｐth２）を中間輝度域の測
光出力を選択するように設定しいてる。このように２つ
のスレシホールド値（Ｐth１，Ｐth２）を設定すること
により、標本の傷やゴミ等による高輝度域及び標本のバ
ックの低輝度域の各測光出力を除いて露出時間を算出で
きることになる。従って、蛍光標本の中に傷，ゴミ等が
混在していても注目部分に合わせた露出が可能になる。

【００３９】なお、上記説明では２つのスレシホールド
値の設定を中間輝度域を挟むように設定したがその他の
設定でも良い。例えば、上記α２をα２＝１とすれば、
スレシホールド値Ｐth２＝Ｐmax となり、前述した第１
実施例と同様の効果が得られる。またα１＝０とすれ
ば、スレシホールド値Ｐth１＝Ｐmin となり、第１実施
例の比較判定条件をＰｉ≦Ｐthとした場合と同様の効果
が得られる。

【００４０】次に、上述した第１，第２実施例の露出制
御回路とは異なる構成の露出制御回路を備えた顕微鏡用
写真撮影装置を第３実施例として説明する。なお、露出
制御回路以外の構成は第１実施例と同様であるので、こ
こでは異なる部分について説明する。

【００４１】図７には、本実施例の顕微鏡用撮影装置に
備えられる露出制御回路の構成が示されている。なお既
に説明した図３に示す露出制御回路と同一構成部分には
同一符号を付している。

【００４２】本実施例は、受光回路２１からの全受光素
子の測光出力をデータ配列回路４１に入力し、配列方向
設定回路４２で指定された配列方向で、例えば大きい順
にデータ配列された状態で格納する。このデータ配列回
路４１は、格納されている測光出力を、スタートデータ
設定回路４３から指定された読出し位置より配列順（例
えば大きい順に）に時系列的に出力する。スタートデー
タ設定回路４３は、データ配列回路４１の読出し開始位
置にあるデータ（スタートデータ）を、最大値又は最小
値等のように任意に指定する。なお以下の説明ではスタ
ートデータ設定回路４３が最大値を設定するように構成
されているものとして説明する。

【００４３】データ配列回路４１から読み出される測光
出力はデータ選択回路４４及びデータカウント回路４５
に入力する。データカウント回路４５は、データ選択回
路４４から測光出力が読み出される度に受光素子出力数
をカウントし、そのカウント値をデータ数比較回路４６
へ出力する。

【００４４】データ数比較回路４６は、累積データ数設
定回路４７から予め設定された累積データ数が入力され
ている。このデータ数比較回路４６では、累積データ数
とデータカウント回路４５から逐次送られてくるカウン
ト値とを比較し、カウント値が累積データ数を越えるま
で、データ選択回路４４に対し測光出力の出力を許可
し、累積データ数を越えた時点でデータ選択回路４４に
対しその出力を停止させるように制御を行う。ここで、
データ数比較回路４６により予め設定される累積データ
数（Ｎth）は Ｎth＝βＮ （０＜β≦１，Ｎは全受光素子数） で設定されるものとする。

【００４５】以上のように構成された本実施例では、デ
ータ配列回路４１から測光出力が最大値の測光出力から
順に読み出されてデータ選択回路４４に入力される。デ
ータ選択回路４４に入力される測光出力は読出し開始か
ら累積データ数（Ｎth）となるまで切換えスイッチ２６
への出力が許可される。従って、測光出力の最大値から
大きい順に累積データ数（Ｎth）に達するまでの測光出
力が平均値演算回路２７へ入力する。その平均値Ｐave
で露出時間が演算されることになる。

【００４６】標本輝度分布状態と受光素子出力数、及び
累積受光素子数の対応関係を図１０に示す。この場合、
平均化され露出時間演算の対象となる受光素子出力（測
光値）は、同図に斜線で示す輝度領域となる。すなわ
ち、前述した第１実施例と同様の効果が得られる。また
スタートデータ設定回路４３の設定を最小値とすれば、
第１実施例での判定条件をＰｉ≦Ｐthとした場合と同様
の効果を得ることができる。またスタートデータの設定
は受光素子出力データの順番で指定しても良い。本発明
は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨
を逸脱しない範囲内で種々変形実施可能である。

【００４７】

【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、観
察像の輝度分布に応じた比較判定条件となるしきい値を
設定することによって観察像中に点在する露出演算の対
象とすべき輝度領域内の測光出力を選択的に抽出でき、
これによって標本内における輝度差が大きく、かつ輝度
の分布が点在する被写体に対して適正で良好な露出が得
られる顕微鏡用写真撮影装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施例に係る顕微鏡用写真撮影装
置の光学系の概略的な構成図である。

【図２】図１に示す顕微鏡用写真撮影装置における露出
制御に係わる部分のブロック図である。

【図３】図１に示す顕微鏡用写真撮影装置に備えられた
露出制御回路のブロック図である。

【図４】図１に示す顕微鏡用写真撮影装置に備えられた
ＣＣＤイメージャーの平面図である。

【図５】蛍光標本のモデル図である。

【図６】本発明の第２実施例に係る顕微鏡用写真撮影装
置の要部の機能ブロック図である。

【図７】本発明の第３実施例に係る顕微鏡用写真撮影装
置の要部の機能ブロック図である。

【図８】図５に示す蛍光標本における標本輝度分布状態
と受光素子出力数との関係を示す図である。

【図９】傷などによる高輝度部が存在する蛍光標本の標
本輝度分布状態と受光素子出力数との関係を示す図であ
る。

【図１０】標本輝度分布状態と受光素子出力数、及び累
積受光素子数の対応関係を示す図である。

【符号の説明】

１…プリズムボックス、２…対物レンズ、３…第１のプ
リズム、４…ＣＣＤイメージャー、６…露出制御回路、
７…第２のプリズム、１１…露出制御用シャッター、１
３…フィルム面、２１…受光回路、２２…最大値検出回
路、２３…最小値検出回路、２４…スレシホールド値設
定回路、２５…比較回路、２７…平均値演算回路、２８
…露出時間演算回路。

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平２−18535（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−291615（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−289636（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−39636（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G02B 21/02 G03B 7/28

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 顕微鏡による観察像を２次元的に配列さ
   れた複数の受光素子で測光し、該測光出力に基づいて露
   出制御を行う顕微鏡用写真撮影装置において、前記各受光素子の測光出力から最大値を検出する最大値
   検出回路と、 前記各受光素子の測光出力から最小値を検出する最小値
   検出回路と、 前記最大値検出回路で検出された最大値及び前記最小値
   検出回路で検出された前記最小値とに基づいて前記観察
   像の輝度分布に応じた比較判定条件であるしきい値を設
   定し、前記しきい値に基づいて前記 露出演算の対象とす
   べき前記各受光素子の測光出力を選択的に抽出する抽出
   手段と、 前記抽出手段で抽出された各測光出力を平均化して平均
   値を求める平均化手段と、 前記平均化手段で求められた平均値を用いて前記露出演
   算を行い、該露出演算で求められた露出時間に基づいて
   前記観察像中に点在する露出演算の対象に対する露出制
   御を行う露出制御手段と、 を具備したことを特徴とする顕微鏡用写真撮影装置。
2. 【請求項２】 顕微鏡による観察像を２次元的に配列さ
   れた複数の受光素子で測光し、該測光出力に基づいて露
   出制御を行う顕微鏡用写真撮影装置において、 前記各受光素子の測光出力から最大値を検出する最大値
   検出回路と、 前記各受光素子の測光出力から最小値を検出する最小値
   検出回路と、 前記最大値検出回路で検出された最大値及び前記最小値
   検出回路で検出された前記最小値とに基づいてしきい値
   を設定し、露出演算の対象とすべき前記しきい値より大
   きい前記各受光素子の測光出力を選択的に抽出する抽出
   手段と、 前記抽出手段で抽出された各測光出力を平均化して平均
   値を求める平均化手段と、 前記平均化手段で求められた平均値を用いて前記露出演
   算を行い、該露出演算で求められた露出時間に基づいて
   露出制御を行う露出制御手段と、 を具備したことを特徴とする 顕微鏡用写真撮影装置。
3. 【請求項３】 前記抽出手段は、前記最大値検出回路で
   検出された最大値及び前記最小値検出回路で検出された
   前記最小値に基づいて前記観察像の輝度分布に応じて設
   定された前記比較判定条件である前記しきい値を設定す
   るスレシホールド値設定回路と、 前記スレシホールド値設定回路で設定された前記しきい
   値と前記各受光素子の測光出力とを比較し、前記露出演
   算の対象とすべき前記各受光素子の測光出力を選択的に
   抽出する比較回路と、 からなることを特徴とする請求項１又は２記載の 顕微鏡
   用写真撮影装置。
4. 【請求項４】 顕微鏡による観察像を２次元的に配列さ
   れた複数の受光素子で測光し、該測光出力に基づいて露
   出制御を行う顕微鏡用写真撮影装置において、 前記各受光素子の測光出力から最大値を検出する最大値
   検出回路と、 前記各受光素子の測光出力から最小値を検出する最小値
   検出回路と、 前記最大値検出回路で検出した前記最大値及び前記最小
   値検出回路で検出した前記最小値に基づいて前記観察像
   の輝度分布に応じた比較判定条件である第１のしきい値
   を設定する第１のしきい値設定回路と、 前記最大値検出回路で検出した前記最大値及び前記最小
   値検出回路で検出した前記最小値に基づいて前記比較判
   定条件である第２のしきい値を設定する第２のしきい値
   設定回路と、 前記第１のしきい値設定回路で設定した前記第１のしき
   い値及び前記第２のしきい値設定回路で設定した前記第
   ２のしきい値と、前記各受光素子の測光出力とを比較
   し、前記観察像中の露出演算の対象とすべき前記各受光
   素子の測光出力を選択的に抽出する比較回路と、 前記抽出手段で抽出された各測光出力を平均化して平均
   値を求める平均化手段と、 前記平均化手段で求められた平均値を用いて前記露出演
   算を行い、該露出演算で求められた露出時間に基づいて
   前記露出演算の対象に対する露出制御を行う露出制御手
   段と、 を具備したことを特徴とする顕微鏡用写真撮影装置。
5. 【請求項５】 顕微鏡による観察像を２次元的に配列さ
   れた複数の受光素子で測光し、該測光出力に基づいて露
   出制御を行う顕微鏡用写真撮影装置において、 前記各受光素子から出力される測光出力が当該各測光出
   力の大きさ順に読出して格納する測光データ格納手段
   と、 前記測光データ格納手段から読み出される測光出力の読
   出し数をカウントするカウント手段と、 予め所定のカウント値が設定され、前記測光データ格納
   手段より大きさ順に読み出された各測光出力の中から、
   前記カウント手段の前記カウント値まで露出演算の対象
   とすべき前記各受光素子の測光出力を抽出する抽出手段
   と、 前記抽出手段で抽出された各測光出力を平均化して平均
   値を求める平均化手段と、 前記平均化手段で求められた平均値を用いて前記露出演
   算を行い、該露出演算で求められた露出時間に基づいて
   露出制御を行う露出制御手段と、 を具備したことを特徴とする顕微鏡用写真撮影装置。
6. 【請求項６】 前記平均化手段は、前記抽出手段からの
   測光出力と前記各受光素子からの測光出力とを切り換え
   る切り換え手段を備え、 前記観察像の輝度分布に応じた露出制御からそれ以外の
   通常の露出制御に切り換えるようにしていることを特徴
   とする請求項１、２又は４のうちいずれか１項記載の顕
   微鏡用写真撮影装置。