JPH07243098A - ウエーハのめっき用ラック及びそれを用いためっき方法 - Google Patents

ウエーハのめっき用ラック及びそれを用いためっき方法

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JPH07243098A
JPH07243098A JP3614794A JP3614794A JPH07243098A JP H07243098 A JPH07243098 A JP H07243098A JP 3614794 A JP3614794 A JP 3614794A JP 3614794 A JP3614794 A JP 3614794A JP H07243098 A JPH07243098 A JP H07243098A
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Hirobumi Ishida
博文 石田
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Electroplating Engineers of Japan Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】ウエーハのめっき処理について、ウエーハ1枚
当たりのめっき液の使用量の節減や装置全体の小型化、
さらにはめっき槽やめっき液供給機構などの装置要素の
簡易化を図れるようにする。 【構成】保持対象のウエーハWの周縁部を一定の幅で支
持するための支持面4fを有する環状の支持部材4、及
びこの支持部材に支持されたウエーハの裏面をめっき液
からシールするためのシール機構5よりなる複数の保持
ユニット3をそれぞれの支持部材の周縁を介して複数本
の支柱2により多段状態に支持させてなる構造のめっき
用ラックを用い、その保持ユニットの数に応じた枚数の
ウエーハを1個のラックについて同時処理できるように
している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体用のウエーハに
めっきを施すための技術に関する。
【0002】
【従来の技術】ウエーハにバンプめっきなどのめっき処
理を施すについてはそのめっき対象面だけを選択的にめ
っき液に接触させるようにすることが重要な要素になっ
ている。そのため従来では一般に図6に示すような基本
構造を持つめっきシステムが用いられている。このシス
テムは、めっき槽20の中にウエーハWの支持手段でも
あるカップ状の噴射槽21を設け、この噴射槽21の上
端にウエーハWをそのめっき対象面が下側になる状態で
被せるようにして固定し、この状態で噴射槽21内にめ
っき液を加熱槽22から循環管路23を介して噴射状で
供給するようにしており、噴射槽21に供給されためっ
き液Mは、ウエーハWのめっき対象面に接触しつつ周辺
へ広がる流れを形成してめっき槽20に流れ出して行く
(例えば実公昭58−8774号公報、実開平3−19
70号公報、実開平4−44371号公報等を参照)。
【0003】これから分かるように、従来のシステムで
は、1個の噴射槽について1枚ずつしかウエーハを処理
することができない。このことは、処理効率上の問題、
特にウエーハ1枚につき使用するめっき液の量が多くな
るという問題をもたらし、また大量のウエーハを効率的
に処理するために多数の噴射槽を横方向に並べて設けな
ければならず、そのために装置全体が大型化するという
問題ももたらしている。
【0004】また従来のシステムでは、噴射槽内にめっ
き液を噴射供給する必要があるので、めっき槽やめっき
液供給機構などの装置要素が複雑になり、このことが、
装置全体の大型化の他の要因ともなると共に、装置の固
定的な配置を要求する所以となって工場スペースの効率
的利用を妨げることになっていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従って本発明の目的
は、複数枚のウエーハを1個の支持手段、具体的にはラ
ックで支持させて処理できるようにすることで、ウエー
ハ1枚当たりのめっき液の使用量の節減や装置全体の小
型化、さらにはめっき槽やめっき液供給機構などの装置
要素の簡易化を図れるようにすることにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】このような目的のため
に、本発明では、保持対象のウエーハの周縁部を一定の
幅で支持するための支持面を有する環状の支持部材、及
びこの支持部材に支持されたウエーハの裏面をめっき液
からシールするためのシール機構よりなる複数の保持ユ
ニットをそれぞれの支持部材の周縁を介して複数本の支
柱により多段状態に支持させてなる構造のめっき用ラッ
クを用いるものとしており、保持ユニットの数に応じた
枚数のウエーハを保持させたこのめっき用ラックをめっ
き槽内のめっき液に浸漬させ、この浸漬状態で各保持ユ
ニットのウエーハの表面にめっき液を流動的に接触させ
てめっきを施すようにしている。
【0007】このような本発明によると、一個の支持手
段、つまりラックで複数枚のウエーハを同時に処理でき
るので、ウエーハ1枚当たりのめっき液の使用量を大幅
に節減できるし、また処理能力当たりの装置サイズを小
さくできる。
【0008】また本発明によると、めっき用ラックをめ
っき槽内のめっき液に浸漬させた状態でめっき液をウエ
ーハに接触させるようにしているので、従来のようなめ
っき液の噴射供給を行なう必要がなく、従ってめっき槽
やめっき液供給機構などの装置要素の大幅な簡易化を図
ることができる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の一実施例について説明する。
図1〜図3に示すように、本実施例によるめっき用ラッ
ク1は、4本の支柱2、2、……に複数、この例では3
個の保持ユニット3(3a、3b、3c)を一定の間隔
で3段に支持させてなっている。
【0010】各保持ユニット3は、保持対象のウエーハ
Wの周縁部を2〜3mm程度の幅で支持するための支持
面4fを有する環状の支持部材4にシール機構5を組み
合わせた構造になっている。
【0011】支持部材4の支持面4fにはカソード用の
電極端子6が複数箇所についてその先端を僅かに突出す
るようにされており、後述のようにしてウエーハWを支
持面4fに押し付けた際に各電極端子6の先端でウエー
ハWの表面のレジスト膜を破ってウエーハWに対するカ
ソードの通電が得られるようにされている。
【0012】その電極端子6には、図4に示すような電
極ユニットを用いることができる。この電極ユニット
は、全体として細長い板状とされた電極針6p、この電
極針6pを前方に向けて上向き傾斜の状態で嵌合装着さ
せるための装着孔7pを有すると共に電源接続用の螺合
孔7nを有する細長い角棒状の電極ブロック7、それに
電極ブロック7を密着的に収納する電極箱よりなってい
る。その電極箱は、箱本体8と蓋9及びパッキング10
よりなるもので、その蓋9には開口9wを有する突出部
9dが設けられ、電極ブロック7の装着孔7pに装着し
た電極針6pの先端を開口9wから斜め前方に露出させ
ることができるようにされている。
【0013】シール機構5は、支持部材4の外周サイズ
にほぼ相応する広がりサイズの凹部11rを有し、その
下端部を支持部材4に接続されたカバー部材11とこの
カバー部材11の凹部11r内に納められたエアーバッ
グ12よりなっており、カバー部材11に設けられた給
・排経路13を介して供給される圧縮気体でエアーバッ
グ12が膨張することにより(図は膨張状態を示してい
る)、支持部材4上のウエーハWの裏面を液密的に覆い
つつ且つウエーハWの周縁部を支持部材4の支持面4f
に押し付けこの周縁部に同じく液密性を与えるようにな
っている。
【0014】各保持ユニット3a、3b、3cに保持さ
れたウエーハWにはそれぞれに対応するアノード電極を
必要とするが、本実施例では、めっき用ラック1にこれ
らを予め組み込むようにしている。具体的には、最下段
のウエーハW用にはめっき用ラック1の下端部にアノー
ド電極14aを設け、上段の2枚のウエーハWについて
はそれぞれ隣接の保持ユニット3a、3bのカバー部材
11に固定したアノード電極14b、14cを対応させ
るようにしている。
【0015】このようなめっき用ラック1を用いてのめ
っき処理は、図5に示すようにめっき用ラック1をめっ
き槽15内のめっき液Mに漬け、この状態でめっき液M
を適宜に攪拌しつつ進める。このめっき液Mの攪拌のた
めの機構は一般に知られている機構を用いることができ
るので、その説明及び図示は省略する。
【0016】
【発明の効果】以上説明したごとく本発明によると、一
個のラックで複数枚のウエーハを同時に処理できるの
で、ウエーハ1枚当たりのめっき液の使用量を大幅に節
減でき、また処理能力当たりの装置サイズを小さくでき
るし、さらに従来のようなめっき液の噴射的供給を行な
う必要がないので、めっき槽やめっき液供給機構などの
装置要素の大幅な簡易化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるめっき用ラックの一部断面を含む
側面図。
【図2】図1中の矢示A2 方向から見た平面図。
【図3】図1中の矢示A3 方向から見た底面図。
【図4】電極端子用の電極ユニットの分解斜視図。
【図5】本発明によるめっき用ラックを用いためっき処
理の状態を示す説明図。
【図6】従来のめっき処理システムの構成図。
【符号の説明】
1 めっき用ラック 2 支柱 3 保持ユニット 4 支持部材 4f 支持面 5 シール機構 11 カバー部材 12 エアーバッグ 15 めっき槽 M めっき液 W ウエーハ
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/68 N 21/321

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 めっき液にめっき対象面を選択的に接触
    させる状態でウエーハを保持するめっき用ラックにおい
    て、保持対象のウエーハの周縁部を一定の幅で支持する
    ための支持面を有する環状の支持部材、及びこの支持部
    材に支持されたウエーハの裏面をめっき液からシールす
    るためのシール機構よりなる複数の保持ユニットをそれ
    ぞれの支持部材の周縁を介して複数本の支柱により多段
    状態に支持させてなることを特徴とするめっき用ラッ
    ク。
  2. 【請求項2】 シール機構は、圧縮気体の供給により膨
    張するエアーバッグ、及びこのエアーバッグを支持部材
    との間で挟持するカバー部材よりなり、圧縮気体の供給
    で膨張させたエアーバッグにより支持部材上のウエーハ
    の裏面を覆い且つウエーハの周縁部を支持部材の支持面
    に押し付けるようになっている請求項1記載のめっき用
    ラック。
  3. 【請求項3】 請求項1又は請求項2記載のめっき用ラ
    ックを用いてウエーハにめっきを施すめっき方法であっ
    て、各保持ユニットにウエーハを保持させためっき用ラ
    ックをめっき槽内のめっき液に浸漬させ、この浸漬状態
    で各保持ユニットのウエーハの表面にめっき液を流動的
    に接触させてめっきを施すようにしてなるめっき方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000256896A (ja) * 1999-03-11 2000-09-19 Ebara Corp めっき装置
KR100423721B1 (ko) * 2001-10-11 2004-03-22 한국전자통신연구원 전극링을 가진 도금장치
AT510593B1 (de) * 2010-12-15 2012-05-15 Markus Dipl Ing Dr Hacksteiner Vorrichtung zum metallisieren von wafern

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000256896A (ja) * 1999-03-11 2000-09-19 Ebara Corp めっき装置
KR100423721B1 (ko) * 2001-10-11 2004-03-22 한국전자통신연구원 전극링을 가진 도금장치
AT510593B1 (de) * 2010-12-15 2012-05-15 Markus Dipl Ing Dr Hacksteiner Vorrichtung zum metallisieren von wafern
AT510593A4 (de) * 2010-12-15 2012-05-15 Markus Dipl Ing Dr Hacksteiner Vorrichtung zum metallisieren von wafern
US20130284602A1 (en) * 2010-12-15 2013-10-31 Markus Hacksteiner Device and method for metalizing wafers
US9506164B2 (en) 2010-12-15 2016-11-29 Markus Hacksteiner Device and method for metalizing wafers

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