JPH0723857B2 - 二光束干渉計 - Google Patents

二光束干渉計

Info

Publication number
JPH0723857B2
JPH0723857B2 JP33954890A JP33954890A JPH0723857B2 JP H0723857 B2 JPH0723857 B2 JP H0723857B2 JP 33954890 A JP33954890 A JP 33954890A JP 33954890 A JP33954890 A JP 33954890A JP H0723857 B2 JPH0723857 B2 JP H0723857B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
corner
plane
cubes
corner cube
plane mirrors
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP33954890A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH04190124A (ja
Inventor
治 吉川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to CA002038880A priority Critical patent/CA2038880C/en
Priority to US07/675,180 priority patent/US5243404A/en
Priority to DE69106470T priority patent/DE69106470T2/de
Priority to EP91104927A priority patent/EP0478880B1/en
Priority to CN91109595A priority patent/CN1025757C/zh
Publication of JPH04190124A publication Critical patent/JPH04190124A/ja
Publication of JPH0723857B2 publication Critical patent/JPH0723857B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はフーリエ変換型赤外分光光度計(FTIR)などに
用いられる二光束干渉計に関するものである。
(従来の技術) フーリエ変換型赤外分光光度計の二光束干渉計として
は、2枚の平面鏡とビームスプリッタで構成されるマイ
ケルソン干渉計が用いられる。2枚の平面鏡は一方が固
定鏡、他方が移動鏡であり、移動鏡は連続摺動がなされ
る。
このような二光束干渉計は、環境温度の変化や振動など
に特に敏感である。そこで、干渉条件を安定化させる1
つの手段としてレーザ光を利用したダイナミックアライ
メント法が採用されている。しかし、ダイナミックアラ
イメント法は装置が複雑になる欠点がある。
振動に対して強い光学系として、ミラーの代わりにコー
ナーキューブを用いる方式がある。コーナーキューブを
用いた二光束干渉計としては、マイケルソン干渉計の移
動鏡としてコーナーキューブを用い、そのコーナーキュ
ーブをメカニカルベアリングで支持して前後方向に摺動
させるようにしたものである。
コーナーキューブを用いた他の二光束干渉計としては、
2つのコーナーキューブが斜め方向に対向するようにそ
れぞれを金属製支持棒に取りつけ、それらのコーナーキ
ューブを対向させた状態で平面内で往復方向に回転させ
るようにしたものがある。
(発明が解決しようとする課題) 本発明の対象とするコーナーキューブを用いた二光束干
渉計のうち、メカニカルベアリングを利用したもので
は、コーナーキューブの頂点が入射光軸に対して変動す
るために生じる干渉条件のずれを避けることはできな
い。
2個のコーナーキューブを対向させて回転させる方式で
は、移動部分の組立て条件によって生じる干渉条件のず
れを避けることはできない。
本発明は2個のコーナーキューブを対向させた干渉計に
関し、組立て調整を容易にし、温度変化や振動など外乱
に対して安定した二光束干渉計を提供することを目的と
するものである。
(課題を解決するための手段) 本発明の二光束干渉計は、それぞれ3つの平面鏡からな
る2つのコーナーキューブ(4,8)のそれぞれの1つの
平面鏡(6)が共通の平面鏡となり、各コーナーキュー
ブ(4,8)では残りの2つの平面鏡(4a,4bと8a,8b)が
互いに直交するとともに共通の平面鏡(6)にも直交
し、両コーナーキューブ(4,8)間ではそれぞれの残り
の2つの平面鏡(4a,4bの対と8a,8bの対)が対向するよ
うに、2つのコーナーキューブ(4,8)が一体的に構成
された二連コーナーキューブ(2)と、両コーナーキュ
ーブ(4,8)の共通の平面鏡(6)以外のそれぞれ2つ
の平面鏡(4a,4bと8a,8b)により形成される稜(10,1
2)を含む平面(14)を一方向に保った状態で二連コー
ナーキューブ(2)を往復方向に回転可能に支持すると
ともに回転駆動する機構(18,20,22,24)と、共通の平
面鏡(6)の前方に設けられ、入射光の一部を反射させ
て一方のコーナーキューブ(4)に導き入射光の残部を
透過させて他方のコーナーキューブ(8)に導くととも
に、両コーナーキューブ(4,8)からの反射光を干渉さ
せるビームスプリッタ(26)とを備えている。
本発明の二光束干渉計はまた、それぞれ3つの平面鏡か
らなる2つのコーナーキューブ(44,49)のそれぞれの
2つの平面鏡(46,47)が共通の平面鏡となって、その
2つの平面鏡が互いに直交するとともに、各コーナーキ
ューブ(44,49)では残りの1つの平面鏡(45,48)が共
通の2つの平面鏡(46,47)に直交し、両コーナーキュ
ーブ(44,49)間ではそれぞれの残りの平面鏡(45,48)
が対向するように、2つのコーナーキューブが一体的に
構成された二連コーナーキューブ(42)と、2つの共通
の平面鏡(46,47)により形成される稜(50)を含む対
称面(54)を一方向に保った状態で二連コーナーキュー
ブ(42)を往復方向に回転可能に支持するとともに回転
駆動する機構(58,20,22,24)と、共通の2つの平面鏡
(46,47)の前方に設けられ、入射光の一部を反射させ
て一方のコーナーキューブ(44)に導き入射光の残部を
透過させて他方のコーナーキューブ(49)に導くととも
に、両コーナーキューブ(44,49)からの反射光を干渉
させるビームスプリッタ(26)とを備えている。
組立精度を高めるには、2つのコーナーキューブを切削
や研磨などの機械加工により製造すればよい。
(作用) 2つのコーナーキューブの共通平面が回転すると、干渉
計の2つのアーム間の光路差が変化する。その共通平面
を往復方向に連続して回転させると、連続摺動型二光束
干渉計となる。
振動などの外乱によりビームスプリッタへの入射光線が
シフトした場合でも2つのコーナーキューブからの反射
光はビームスプリッタで干渉する。
(実施例) 第1図は第1の実施例をす斜視図、第2図は同実施例の
ミラー部分を駆動機構とともに示す一部断面の平面図、
第3図は第2図の左側面図、第4図は第2図の正面図で
ある。
本発明の二光束干渉計は通常のマイケルソン干渉計とは
異なり、二連コーナーキューブ2を用いた干渉計であ
る。
二連コーナーキューブ2は、都合5枚の切削加工平面鏡
により組み立てられている。平面鏡4a,4b,6により一方
のコーナーキューブ4が構成され、平面鏡8a,8b,6によ
り他方のコーナーキューブ8が構成されている。平面鏡
6は両コーナーキューブ4,8で共通である。
コーナーキューブ4,8においては隣合う面が直角をなし
ており、直角からの組立て精度のずれ量は約2〜5秒
(角度)以内である。このような高精度に加工すること
は現在の技術では容易である。
一方のコーナーキューブ4の2つの鏡面4aと4bにより形
成される稜10と、他方のコーナーキューブ8の2つの鏡
面8aと8bにより作られる稜12は互いに平行であり、この
2つの陵10,12を含む平面14内には2つのコーナーキュ
ーブ4,8の共通鏡面6の裏面側に接続棒16がねじ止めさ
れている。接続棒16には、2つの稜10,12を含む平面14
を一方向(この例では水平方向)に保って回転できるよ
うに、回転ベアリング18が埋め込まれており、2個のコ
ーナーキューブ4,8はその平面14を一方向に保ったまま
で自由に回転することができる。
接続棒16の他端にはリニアモータの可動部分20がねじ止
めされており、その可動部分20にはコイル22が巻かれて
いる。可動部分20はリニアモータのステータ24と組み合
わされており、コイル22に電流を流すことによりステー
タ24との間に生じるローレンツ力により限られた範囲で
の往復運動を行ない、その往復運動は回転ベアリング18
を支点として接続棒16を第2図に矢印で示されるように
回転往復運動を生じさせる。
第1図に示されるように、二連コーナーキューブ4,8の
中央前方寄りには、干渉計を構成するために、ビームス
プリッタ26及びコンペンセータ28が設置されている。入
射光線30の一部はビームスプリッタ26で反射し、一方の
コーナーキューブ4で反射して再びビームスプリッタ26
に入射する。入射光線30のうちビームスプリッタ26を透
過した光線34は他方のコーナーキューブ8で反射して再
びビームスプリッタ26に入射する。両コーナーキューブ
4,8からの反射光はビームスプリッタ26で干渉光36とな
り、試料室へ導かれる。
次に、本実施例の動作について説明する。
第5図は干渉計の2つのアーム間で光路差をもたないと
きの状態を表わしている。一方、回転ベアリング18を中
心として二連コーナーキューブ4,8が回転し、2つのア
ーム間で光路差を生じると第6図に示されるような状態
となる。回転ベアリング18を中心として往復回転運動を
させることにより、連続摺動型二光束干渉計が構成され
る。ただし、第5図及び第6図はともに2次元モデルの
図である。
第5図には振動などの外乱により入射光線30がシフトし
た場合も示されているが、コーナーキューブ4,8を用い
ていることにより、その場合でも安定して干渉光を得る
ことができることが示されている。
第7図は第2の実施例を示す平面図、第8図は同実施例
のミラー部分を示す平面図、第9図はそのミラー部分の
正面図、第10図は第9図の左側面図である。
42は2連コーナーキューブであり、都合4枚の切削加工
平面鏡により組み立てられている。平面鏡45,46,47によ
り一方のコーナーキューブ44が構成され、平面鏡46,47,
48により他方のコーナーキューブ49が構成されている。
平面鏡46と47は両コーナーキューブ44,49で共通であ
り、互いに直交している。平面鏡45と48はともに両共通
平面鏡46,47と直交している。2つの共通平面鏡46,47に
より形成される稜50を含む上下方向の対称面54内には2
つの平面鏡46,47の裏面側に接続棒56が取りつけられて
いる。接続棒56が対称面54を一方向(この例では水平方
向)に保って回転できるように、接続棒56には回転ベア
リング58が埋め込まれており、これが回転中心となって
2個のコーナーキューブ44,49はその平面54を一方向に
保ったままで自由に回転することができる。
接続棒56の他端には第2図及び第3図に示されたのと同
じ回転駆動機構が設けられている。
2連コーナーキューブ44,49の中央前方寄りには、第7
図に示されるように、干渉計を構成するために、ビーム
スプリッタ26及びコンペンセイター28が設置されてい
る。
第7図の実施例における干渉計の動作は、第1図の実施
例と同じである。
第1の実施例では二連のコーナーキューブ4,8は5枚の
切削加工平面鏡が組み立てられて構成され、第2の実施
例では二連のコーナーキューブ44,49は4枚の切削加工
平面鏡が組み立てられて構成されているが、1つの母材
を切り出して一体型の二連コーナーキューブを製造する
こともできる。
実施例ではまた、2つのコーナーキューブの相対する稜
を含む平面又は2つの共通鏡面の稜を含む対称面が水平
面になるように設置しているが、それらの平面は必ずし
も水平状態に保つ必要はなく、垂直方向など他の任意の
方向であってもよい。
また、接続棒16又は56は相対する稜10,12を含む平面14
内又は稜50を含む平面54内の設けられているが、接続棒
16,56はその平面14又は54と平行な平面内に設けられて
いてもよい。
(発明の効果) 本発明では2つのコーナーキューブをそれぞれの1つの
鏡面又は2つの鏡面が共通になるように対向させて2組
のミラー群を一体的に構成し、その2つの相対する稜を
含む平面又は2つの共通鏡面を含む平面内で往復回転運
動をするようにしたものであるので、1つの回転中心を
もつ往復回転運動を行なわせるだけであり、組立ての際
の調整が極めて簡単で、かつ容易であり、安価に製造す
ることができる。
二連コーナーキューブを同一材質で構成することができ
るので、温度変化に対して安定である。
また、振動などの外乱に対しても安定である。
コーナーキューブを構成する平面鏡を切削や研磨などの
機械加工により製造すれば、高精度な組立てや加工を行
なうことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は第1の実施例の要部を示す斜視図、第2図は同
実施例のミラーと駆動機構を示す一部断面の平面図、第
3図は第2図の左側面図、第4図は第2図の正面図、第
5図及び第6図は同実施例の動作を示す概略図、第7図
は第2の実施例を示す斜視図、第8図は同実施例のミラ
ー部分を示す平面図、第9図はそのミラー部分の正面
図、第10図は第9図の左側面図である。 2,42……二連コーナーキューブ、4,8,44,49……コーナ
ーキューブ、4a,4b,6,8a,8b,45,46,47,48……コーナー
キューブを構成する平面鏡、10,12……2つのコーナー
キューブの対向する稜、14……2つの対向する稜を含む
平面、16,56……支持棒、18,58……回転ベアリング、20
……リニアモータの可動部分、24……リニアモータのス
テータ、50……2つの共通鏡面でできる稜、54……対称
面。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】それぞれ3つの平面鏡からなる2つのコー
    ナーキューブのそれぞれの1つの平面鏡が共通の平面鏡
    となり、各コーナーキューブでは残りの2つの平面鏡が
    互いに直交するとともに前記共通の平面鏡にも直交し、
    両コーナーキューブ間ではそれぞれの残りの2つの平面
    鏡が対向するように、2つのコーナーキューブが一体的
    に構成された二連コーナーキューブと、 両コーナーキューブの共通の平面鏡以外のそれぞれ2つ
    の平面鏡により形成される稜を含む平面を一方向に保っ
    た状態で前記二連コーナーキューブを往復方向に回転可
    能に支持するとともに回転駆動する機構と、 前記共通の平面鏡の前方に設けられ、入射光の一部を反
    射させて一方のコーナーキューブに導き入射光の残部を
    透過させて他方のコーナーキューブに導くとともに、両
    コーナーキューブからの反射光を干渉させるビームスプ
    リッタと、 を備えたことを特徴とする二光束干渉計。
  2. 【請求項2】それぞれ3つの平面鏡からなる2つのコー
    ナーキューブのそれぞれの2つの平面鏡が共通の平面鏡
    となって、その2つの平面鏡が互いに直交するととも
    に、各コーナーキューブでは残りの1つの平面鏡が前記
    共通の2つの平面鏡に直交し、両コーナーキューブ間で
    はそれぞれの残りの平面鏡が対向するように、2つのコ
    ーナーキューブが一体的に構成された二連コーナーキュ
    ーブと、 前記2つの共通の平面鏡により形成される稜を含む対称
    面を一方向に保った状態で前記二連コーナーキューブを
    往復方向に回転可能に支持するとともに回転駆動する機
    構と、 前記共通の2つの平面鏡の前方に設けられ、入射光の一
    部を反射させて一方のコーナーキューブに導き入射光の
    残部を透過させて他方のコーナーキューブに導くととも
    に、両コーナーキューブからの反射光を干渉させるビー
    ムスプリッタと、 を備えたことを特徴とする二光束干渉計。
  3. 【請求項3】2つのコーナーキューブは切削や研磨など
    の機械加工により製造されたものである請求項1又は2
    に記載の二光束干渉計。
JP33954890A 1990-09-29 1990-11-30 二光束干渉計 Expired - Fee Related JPH0723857B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CA002038880A CA2038880C (en) 1990-09-29 1991-03-22 Two-beam interferometer
US07/675,180 US5243404A (en) 1990-09-29 1991-03-26 Fourier transform spectrophotometer
DE69106470T DE69106470T2 (de) 1990-09-29 1991-03-27 Zweistrahl-Interferometer.
EP91104927A EP0478880B1 (en) 1990-09-29 1991-03-27 Two-beam interferometer
CN91109595A CN1025757C (zh) 1990-09-29 1991-09-28 双光束干涉仪

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2-261576 1990-09-29
JP26157690 1990-09-29

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04190124A JPH04190124A (ja) 1992-07-08
JPH0723857B2 true JPH0723857B2 (ja) 1995-03-15

Family

ID=17363839

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP33954890A Expired - Fee Related JPH0723857B2 (ja) 1990-09-29 1990-11-30 二光束干渉計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0723857B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU2003271850A1 (en) 2002-09-18 2004-04-08 Teraview Limited Apparatus for varying the path length of a beam of radiation
DE102008016905B3 (de) * 2008-04-02 2009-07-09 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Interferometer

Also Published As

Publication number Publication date
JPH04190124A (ja) 1992-07-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20060238769A1 (en) Tilt compensated interferometers
US5486917A (en) Flexture plate motion-transfer mechanism, beam-splitter assembly, and interferometer incorporating the same
CN101583857B (zh) 保持元件之间的光学关系的干涉仪
US3809481A (en) Single reflector interference spectrometer and drive system therefor
JPH05209790A (ja) マイケルソン干渉計
US8933406B2 (en) Interferometer having multiple scan carriages
JPS5815729B2 (ja) タジユウカンシヨウケイ
US5675412A (en) System including unified beamsplitter and parallel reflecting element, and retroreflecting component
KR20000023721A (ko) 간섭계
US9557221B1 (en) Interferometer for Fourier transform infrared spectrometry
JP2603429B2 (ja) 追尾式レーザ干渉計
EP0478880B1 (en) Two-beam interferometer
JPH0723857B2 (ja) 二光束干渉計
US7663791B2 (en) Rotary wedge scanner
JP3805787B2 (ja) 干渉計及びフーリエ変換分光計
EP0137206B1 (en) Assembly for adjusting an optical element
US2911470A (en) Oscillating optical scanner
JP3518376B2 (ja) 光干渉計
US20080068612A1 (en) Fourier-transform spectrometers
KR101529148B1 (ko) 휴대용 중적외선 퓨리에 변환 분광계를 위한 투-빔 간섭계
JP2001041822A (ja) 干渉分光光度計
JP2018128282A (ja) モノクロメータ
JPH04204334A (ja) 二光束干渉計
JP3327638B2 (ja) 回転型干渉計
JPS631221Y2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080315

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090315

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100315

Year of fee payment: 15

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees