JPH07218582A - Ｉｃピンの接続不良検出装置 - Google Patents
Ｉｃピンの接続不良検出装置Info
- Publication number
- JPH07218582A JPH07218582A JP6010471A JP1047194A JPH07218582A JP H07218582 A JPH07218582 A JP H07218582A JP 6010471 A JP6010471 A JP 6010471A JP 1047194 A JP1047194 A JP 1047194A JP H07218582 A JPH07218582 A JP H07218582A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pin
- resistor
- pull
- voltage
- power supply
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Connections Effected By Soldering, Adhesion, Or Permanent Deformation (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 プリント基板上にランドの分割パターンを形
成することなく、確実にＩＣピンの接続不良を検出する
ことができるＩＣピンの接続不良検出装置を提供するこ
と。 【構成】 ＩＣ１は、プルアップ抵抗３およびプルアッ
プ抵抗３の一端に接続された電源端子４を内蔵してい
る。電源端子４には電圧ＶCCが供給されるようになって
おり、プルアップ抵抗３の他端５には、電源端子４から
プルアップ抵抗３の電圧降下分を差し引いた電圧が供給
される。プルアップ抵抗３の他端５は、ＩＣピン２ｄお
よび出力を反転するヒステリシス付コンパレータ６に接
続されている。プリント基板２０には、ＩＣピン２ａに
対応したランド（図示せず）および配線パターン２１が
形成されている。配線パターン２１は、抵抗２２，２
３、トランジスタ２４、電源端子２５、検出端子２６を
備えている。
成することなく、確実にＩＣピンの接続不良を検出する
ことができるＩＣピンの接続不良検出装置を提供するこ
と。 【構成】 ＩＣ１は、プルアップ抵抗３およびプルアッ
プ抵抗３の一端に接続された電源端子４を内蔵してい
る。電源端子４には電圧ＶCCが供給されるようになって
おり、プルアップ抵抗３の他端５には、電源端子４から
プルアップ抵抗３の電圧降下分を差し引いた電圧が供給
される。プルアップ抵抗３の他端５は、ＩＣピン２ｄお
よび出力を反転するヒステリシス付コンパレータ６に接
続されている。プリント基板２０には、ＩＣピン２ａに
対応したランド（図示せず）および配線パターン２１が
形成されている。配線パターン２１は、抵抗２２，２
３、トランジスタ２４、電源端子２５、検出端子２６を
備えている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板にＩＣを
半田付けした際の接続状態を検出するＩＣピンの接続不
良検出装置に関する。
半田付けした際の接続状態を検出するＩＣピンの接続不
良検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】プリント基板にＩＣを半田付けした際
に、ＩＣピンのズレまたは浮きを検出する装置として、
特開平２−２２２１９２号に開示される装置がある。こ
の装置では、プリント基板のランド部を互いに絶縁され
２分割されるものとして形成し、２分割されたランド間
の電気導通状態をチェックすることによって、ＩＣピン
のズレまたは浮きといった接続不良を検出している。
に、ＩＣピンのズレまたは浮きを検出する装置として、
特開平２−２２２１９２号に開示される装置がある。こ
の装置では、プリント基板のランド部を互いに絶縁され
２分割されるものとして形成し、２分割されたランド間
の電気導通状態をチェックすることによって、ＩＣピン
のズレまたは浮きといった接続不良を検出している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の装置では、プリント基板に形成されている２分割さ
れたランドは近接して形成されているので、図２に示す
ように、ランド１０ａ，１０ｂ間でブリッジ半田１１が
できやすく、ブリッジ半田１１ができた場合には、ラン
ド１０ａ，１０ｂ間の電気導通状態をチェックしても、
ＩＣピン１２のズレまたは浮きといった接続不良を正確
に検出することができないという問題がある。
来の装置では、プリント基板に形成されている２分割さ
れたランドは近接して形成されているので、図２に示す
ように、ランド１０ａ，１０ｂ間でブリッジ半田１１が
できやすく、ブリッジ半田１１ができた場合には、ラン
ド１０ａ，１０ｂ間の電気導通状態をチェックしても、
ＩＣピン１２のズレまたは浮きといった接続不良を正確
に検出することができないという問題がある。
【０００４】そこで本発明は上記問題に鑑みてなされた
ものであって、プリント基板上にランドの分割パターン
を形成することなく、確実にＩＣピンの接続不良を検出
することができるＩＣピンの接続不良検出装置を提供す
ることを目的とする。
ものであって、プリント基板上にランドの分割パターン
を形成することなく、確実にＩＣピンの接続不良を検出
することができるＩＣピンの接続不良検出装置を提供す
ることを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的するために本発
明は、プルアップ抵抗と、前記プルアップ抵抗の一端に
接続された電源端子と、前記プルアップ抵抗の他端に接
続されたＩＣピンとを備えるＩＣと、前記電源端子から
ＩＣピンへの電源供給を検出する検出手段を備えるプリ
ント基板と、を備えるＩＣピンの接続不良検出装置をそ
の要旨とする。
明は、プルアップ抵抗と、前記プルアップ抵抗の一端に
接続された電源端子と、前記プルアップ抵抗の他端に接
続されたＩＣピンとを備えるＩＣと、前記電源端子から
ＩＣピンへの電源供給を検出する検出手段を備えるプリ
ント基板と、を備えるＩＣピンの接続不良検出装置をそ
の要旨とする。
【０００６】
【作用】上記構成により本発明では、ＩＣピンにプルア
ップ抵抗を介して電源端子から電源が供給され、ＩＣピ
ンへの電源供給状態をプリント板に備えられた検出手段
によって検出する。すなわち、検出手段によってＩＣピ
ンに電源が供給されていることが検出されれば、ＩＣピ
ンはプリント基板に半田付けされていると判断でき、一
方、ＩＣピンに電源が供給されていることが検出できな
ければ、ＩＣピンとプリント基板の接続は不良であると
判断できる。
ップ抵抗を介して電源端子から電源が供給され、ＩＣピ
ンへの電源供給状態をプリント板に備えられた検出手段
によって検出する。すなわち、検出手段によってＩＣピ
ンに電源が供給されていることが検出されれば、ＩＣピ
ンはプリント基板に半田付けされていると判断でき、一
方、ＩＣピンに電源が供給されていることが検出できな
ければ、ＩＣピンとプリント基板の接続は不良であると
判断できる。
【０００７】
【実施例】以下本発明の実施例を図面を用いて説明す
る。図１は、本発明の一実施例の構成を示す図である。
図１において、ＩＣ１は８本のＩＣピン２ａ〜２ｈを備
えており、プルアップ抵抗３およびプルアップ抵抗３の
一端に接続された電源端子４を内蔵している。電源端子
４には電圧ＶCCが供給されるようになっており、プルア
ップ抵抗３の他端５には、電源端子４からプルアップ抵
抗３の電圧降下分を差し引いた電圧が供給される。プル
アップ抵抗３の他端５は、ＩＣピン２ｄおよび出力を反
転するヒステリシス付コンパレータ６に接続されてい
る。
る。図１は、本発明の一実施例の構成を示す図である。
図１において、ＩＣ１は８本のＩＣピン２ａ〜２ｈを備
えており、プルアップ抵抗３およびプルアップ抵抗３の
一端に接続された電源端子４を内蔵している。電源端子
４には電圧ＶCCが供給されるようになっており、プルア
ップ抵抗３の他端５には、電源端子４からプルアップ抵
抗３の電圧降下分を差し引いた電圧が供給される。プル
アップ抵抗３の他端５は、ＩＣピン２ｄおよび出力を反
転するヒステリシス付コンパレータ６に接続されてい
る。
【０００８】プリント基板２０には、ＩＣピン２ａ〜２
ｈに対応したランド（図示せず）および配線パターン
（ＩＣピン２ａに対応するもののみ図示）が形成されて
いる。ＩＣピン２ａに対応する配線パターン２１は、抵
抗２２，２３、トランジスタ２４、電源端子２５、検出
端子２６を備えている。以下、これらの接続関係を説明
する。トランジスタ２４は、そのベースが、抵抗２２の
一端およびＩＣピン２ａに接続されており、エミッタが
グランドに接地されており、コレクタが検出端子２６お
よび抵抗２３を介して電源端子２５に接続されている。
電源端子２５には一定電圧が供給されている。
ｈに対応したランド（図示せず）および配線パターン
（ＩＣピン２ａに対応するもののみ図示）が形成されて
いる。ＩＣピン２ａに対応する配線パターン２１は、抵
抗２２，２３、トランジスタ２４、電源端子２５、検出
端子２６を備えている。以下、これらの接続関係を説明
する。トランジスタ２４は、そのベースが、抵抗２２の
一端およびＩＣピン２ａに接続されており、エミッタが
グランドに接地されており、コレクタが検出端子２６お
よび抵抗２３を介して電源端子２５に接続されている。
電源端子２５には一定電圧が供給されている。
【０００９】次に上記のように構成された本実施例の作
動を説明する。ＩＣピン２ａがランドに半田付けされて
いるときには、トランジスタ２４のベースがＩＣ１内の
電源端子４から電圧供給を受けて電位が上昇するため、
トランジスタ２４はオンする。すると、検出端子２６は
グランドレベルに降下するため、検出電圧はローとな
る。ＩＣピン２ａがランドに対してズレたり浮いたりす
ると、トランジスタ２４のベースは電圧供給を受けなく
なるため電位が下降するため、トランジスタ２４はオフ
となる。すると、検出端子２６は電源端子２５から抵抗
２３の抵抗降下分のレベルに上昇するため、検出電圧は
ハイとなる。
動を説明する。ＩＣピン２ａがランドに半田付けされて
いるときには、トランジスタ２４のベースがＩＣ１内の
電源端子４から電圧供給を受けて電位が上昇するため、
トランジスタ２４はオンする。すると、検出端子２６は
グランドレベルに降下するため、検出電圧はローとな
る。ＩＣピン２ａがランドに対してズレたり浮いたりす
ると、トランジスタ２４のベースは電圧供給を受けなく
なるため電位が下降するため、トランジスタ２４はオフ
となる。すると、検出端子２６は電源端子２５から抵抗
２３の抵抗降下分のレベルに上昇するため、検出電圧は
ハイとなる。
【００１０】検出端子２６の検出信号がローの場合には
ＩＣピン２ａがランドに半田付けされていると判断で
き、検出信号がハイの場合にはＩＣピン２ａがランドに
対してズレまたは浮いており、ＩＣピン２ａの接続は不
良であると判断できる。従って、本実施例によれば、プ
リント基板２０上のランドを分割したり、変更すること
なく確実にＩＣピン２ａの接続不良を検出することがで
きる。また、トランジスタ２４を含むプリント基板２０
上に形成された回路は極めて簡素であるために、誤動作
の可能性は極めて低い。
ＩＣピン２ａがランドに半田付けされていると判断で
き、検出信号がハイの場合にはＩＣピン２ａがランドに
対してズレまたは浮いており、ＩＣピン２ａの接続は不
良であると判断できる。従って、本実施例によれば、プ
リント基板２０上のランドを分割したり、変更すること
なく確実にＩＣピン２ａの接続不良を検出することがで
きる。また、トランジスタ２４を含むプリント基板２０
上に形成された回路は極めて簡素であるために、誤動作
の可能性は極めて低い。
【００１１】なお、本実施例では、配線パターン２１、
抵抗２２，２３、トランジスタ２４、電源端子２５、が
検出手段に相当している。上記実施例では、ＩＣピン２
ａのみに対して接続不良を検出するようにしているが、
接続不良を検出するＩＣピンとしては、例えば、ワンチ
ップマイコンの内バス、外バス動作モードを決定する重
要なモード端子に適用し、接続不良を検出した際、負荷
に割当てられた出力ポートが、外バスに切換わったとし
ても、この検出回路により負荷を強制的にオフすれば、
フェールセーフ対策として有効となる。
抵抗２２，２３、トランジスタ２４、電源端子２５、が
検出手段に相当している。上記実施例では、ＩＣピン２
ａのみに対して接続不良を検出するようにしているが、
接続不良を検出するＩＣピンとしては、例えば、ワンチ
ップマイコンの内バス、外バス動作モードを決定する重
要なモード端子に適用し、接続不良を検出した際、負荷
に割当てられた出力ポートが、外バスに切換わったとし
ても、この検出回路により負荷を強制的にオフすれば、
フェールセーフ対策として有効となる。
【００１２】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、Ｉ
Ｃは、プルアップ抵抗と、プルアップ抵抗の一端に接続
された電源端子と、プルアップ抵抗の他端に接続された
ＩＣピンとを備え、検出手段によってＩＣピンに電源が
供給されているか否かを検出することによって、ＩＣピ
ンのズレまたは浮きを検出できるので、ランドの分割パ
ターンを形成するといったプリント基板の配線パターン
を複雑にすることなく、確実にＩＣピンの接続不良を検
出することができるという優れた効果がある。
Ｃは、プルアップ抵抗と、プルアップ抵抗の一端に接続
された電源端子と、プルアップ抵抗の他端に接続された
ＩＣピンとを備え、検出手段によってＩＣピンに電源が
供給されているか否かを検出することによって、ＩＣピ
ンのズレまたは浮きを検出できるので、ランドの分割パ
ターンを形成するといったプリント基板の配線パターン
を複雑にすることなく、確実にＩＣピンの接続不良を検
出することができるという優れた効果がある。
【図１】本発明の一実施例の構成を示す図である。
【図２】従来技術の説明図である。
１ ＩＣ ２ａ〜２ｈ ＩＣピン ３ プルアップ抵抗 ４ 電源端子 ２０ プリント基板 ２１ 配線パターン ２２，２３ 抵抗 ２４ トランジスタ ２５ 電源端子 ２６ 検出端子
Claims (1)
- 【請求項１】 プルアップ抵抗と、前記プルアップ抵抗
の一端に接続された電源端子と、前記プルアップ抵抗の
他端に接続されたＩＣピンとを備えるＩＣと、 前記電源端子からＩＣピンへの電源供給を検出する検出
手段を備えるプリント基板と、 を備えるＩＣピンの接続不良検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6010471A JPH07218582A (ja) | 1994-02-01 | 1994-02-01 | Ｉｃピンの接続不良検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6010471A JPH07218582A (ja) | 1994-02-01 | 1994-02-01 | Ｉｃピンの接続不良検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07218582A true JPH07218582A (ja) | 1995-08-18 |
Family
ID=11751064
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6010471A Pending JPH07218582A (ja) | 1994-02-01 | 1994-02-01 | Ｉｃピンの接続不良検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07218582A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010271182A (ja) * | 2009-05-21 | 2010-12-02 | Mitsubishi Electric Corp | 接続異常検出装置およびそれを用いた車載用電子機器 |
| DE102016109523A1 (de) | 2015-05-27 | 2016-12-01 | Fanuc Corporation | Elektronisches Bauelement, das eine Funktion zum Detektieren von Herstellungsfehlern oder Schäden/Verschlechterung aufweist, und eine Leiterplatte |
-
1994
- 1994-02-01 JP JP6010471A patent/JPH07218582A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010271182A (ja) * | 2009-05-21 | 2010-12-02 | Mitsubishi Electric Corp | 接続異常検出装置およびそれを用いた車載用電子機器 |
| DE102016109523A1 (de) | 2015-05-27 | 2016-12-01 | Fanuc Corporation | Elektronisches Bauelement, das eine Funktion zum Detektieren von Herstellungsfehlern oder Schäden/Verschlechterung aufweist, und eine Leiterplatte |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20020716 |