JPH07211200A - 真空バルブ用接点材料 - Google Patents

真空バルブ用接点材料

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JPH07211200A
JPH07211200A JP6003347A JP334794A JPH07211200A JP H07211200 A JPH07211200 A JP H07211200A JP 6003347 A JP6003347 A JP 6003347A JP 334794 A JP334794 A JP 334794A JP H07211200 A JPH07211200 A JP H07211200A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 電流裁断特性および電流遮断特性を改善した
真空バルブ用接点材料を得る。 【構成】 遮断室1内に対向配置された一対の電極7、
8に取付けられた接点13a、13bの接点材料は次のよう
に構成される。すなわち、含有量が25〜50容積%で、こ
のうちのAgの比率[Ag/(Ag+Cu)]が40〜10
0 容積%である高導電性材料と、含有量が50〜75容積%
で、W、Zr、Hf、Taのうちのいずれか1種の炭化
物から成る耐弧性材料とで構成する。そして、耐弧性材
料は分散された直径30μm以下の長繊維状とし、その間
隙に高導電性材料を存在させると共に、この耐弧性材料
が同一方向に向くようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電流裁断特性および電
流遮断特性を改善した真空バルブ用接点材料に関する。
【0002】
【従来の技術】真空中でのアーク拡散性を利用して、高
真空中で電流遮断を行わせる真空バルブの接点は、対向
する固定、可動の2つの接点から構成されている。この
真空バルブを用いて、電動機負荷などの誘導性回路の電
流を遮断する時、過度の異常サージ電圧が発生し、負荷
機器を破壊させる恐れがある。
【0003】この異常サージ電圧の発生原因は、例え
ば、真空中における小電流遮断時に発生する裁断現象
(交流電流波形の自然ゼロ点を待たずに強制的に電流遮
断が行われる事)、あるいは高周波消弧現象などによる
ものである。裁断現象による異常サージ電圧の値Vs
は、回路のサージインピーダンスZo・Icで表され
る。従って、異常サージ電圧Vsを低くするためには電
流裁断値Icを小さくしなくてはならない。
【0004】低裁断電流特性を有する接点には、主とし
て溶解法によって作られるCu−Bi系の接点と、焼結
溶浸法によって作られるAg−WC系接点とがある。A
g−WC系合金接点(米国特許第3683138)は、 (1)WCの介在が電子放射を容易にさせる。 (2)電界放射電子の衝突による電極面の加熱に基づく
接点材料の蒸発を促進させる。 (3)接点材料の炭化物がアークにより分解し、荷電体
を生成してアークを接続する。 などの点で優れた低裁断電流特性を発揮し、この合金接
点を用いた真空開閉器が開発され、これが実用化されて
いる。
【0005】また、この接点にCuを複合化し、Agと
Cuとの比率をほぼ7:3としたAg−Cu−WC合金
がある(特公昭63−59212)。この合金におい
て、従来にない限定をしたAgとCuとの比率を選択す
るので、安定した裁断電流特性を発揮する。
【0006】さらに、特願昭60−216648には、
耐弧性材料の粒界(例えば、WCの粒界)を0.2 〜1μ
mとすることにより、低裁断電流特性の改善に有効であ
ることが示唆されている。
【0007】Cu−Bi系合金接点(特公昭35−14
974、特公昭41−12131)では、Biの選択蒸
発により電流裁断特性を改善している。この合金のう
ち、Biを10重量%(以下、wt%という。)としたも
の(特公昭35−14974)は、その適度な蒸気圧特
性を有するので低い裁断電流特性を発揮し、またBiを
0.5 wt%としたもの(特公昭41−12131)は、
結晶粒界に偏析して存在する結果、合金自体を脆化して
低い溶着引き外し力を実現し、大電流遮断性に優れてい
る。
【0008】一方、真空遮断器は本来の責務として大電
流遮断が行えなければならない。大電流遮断のために
は、接点材料表面全体にアークを点弧させ、接点材料の
単位表面積あたりの熱入力を小さくすることが重要とな
っている。その一手段として、接点材料をマウントして
いる電極部において、極間の電界と平行な方向に磁界を
発生させる縦磁界電極構造が、例えば特公昭54−22
813に開示されている。これには、このような方向に
磁界を適度に生じさせることにより、アークプラズマを
接点表面に均一に分布させることが可能となり、大電流
遮断能力が高められるとされている。
【0009】また接点材料自体については、Ag−Cu
−WC−Co系接点材料において、WC−Coの粒子間
距離を0.3 〜3μm程度とすることにより、アーク陰極
点の易動度が良好となり、大電流遮断特性の向上が図れ
ることが特開平4−206121に示されている。ま
た、Coなど鉄属の補助成分の含有量を高めることによ
り、遮断性能が高められることが示されている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】真空遮断器には低サー
ジ性が要求され、そのためには、従来では、上述のよう
に低裁断電流特性(低チョッピング特性)が要求されて
いた。しかしながら、真空バルブは、近年、大容量電動
機等の誘導性回路に適用されることが一層増えると共
に、高サージ・インピーダンス負荷も出現したため、一
層安定した低裁断特性を持つことが望まれるのは勿論の
こと、大電流遮断特性についても兼備しなくてはならな
い。
【0011】従来、これらの両特性を同時に満足させる
接点材料はなかった。すなわち、10wt%のBiとCu
とを複合化した合金(特公昭35−14974)では、
開閉回数の増大と共に電極空間への金属蒸気の供給量が
減少し、低裁断電流特性の劣化が現れ、高蒸気圧元素量
に依存して耐電圧特性の劣化も指摘されている。0.5w
t%のBiとCuとを複合化した合金(特公昭41−1
2131)では、要求される低裁断電流特性を満足する
には不十分である。このように、高蒸気圧成分の選択蒸
発のみによっては、安定した低裁断性を有することは不
可能である。
【0012】一方、WCとAgを複合化した合金の接点
(米国特許第3683138)、AgとCuとの重量比
率をほぼ7:3としたAg−Cu−WC合金(特公昭6
3−59212)、およびWC等の耐弧性成分の粒径を
0.2 〜1μmとする合金(特公平5−61338)で
は、大容量遮断特性の改善に何等配慮がなされていな
い。また、このような焼結法によるAg−WC系の接点
材料では、組織的なばらつきは避けられず、安定した低
裁断電流特性が得難い。
【0013】また、大電流遮断のために、縦磁界電極に
よって磁界を発生させると、接点材料内部にこの磁界を
打ち消すような渦電流を生じさせるため、従来では接点
にスリットを入れ、渦電流をもれにくくしているが、こ
のスリットのような接点表面の特異形状部は場合によっ
てはアークの集中を招き、遮断能力を低下させてしま
う。
【0014】接点材料のCo含有量の増加により遮断性
能の向上を図った場合には、これにより低電流裁断特性
が阻害されてしまうため、やはり大電流遮断特性と低裁
断電流特性とを兼備することはできない。本発明の目的
は、優れた低裁断特性と大電流遮断特性を兼備した真空
バルブ用接点材料を提供することである。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明者らが研究を進めた結果、高導電性材料であ
るAgもしくはCuの含有量およびこのうちのAgの比
率を最適化すると共に、耐弧性材料の存在形態を最適に
すれば良いことが判明した。すなわち、含有量が25〜50
容積%で、このうちのAgの比率[Ag/(Ag+C
u)]が40〜100容積%である高導電性材料と、含有
量が50〜75容積%で、W、Zr、Hf、Taのうちの
いずれか1種の炭化物から成る耐弧性材料とを有し、耐
弧性材料は分散された直径30μm以下の長繊維状とし、
その間隙に高導電性材料を存在させると共に、この耐弧
性材料が同一方向に向いていることを特徴とするもので
ある。
【0016】
【作用】接点材料の平均裁断電流値は、主として接点材
料の組成と表面形態で決定される。これは、裁断電流値
を支配する接点材料のイオン生成能力と熱電子放出能力
が材料組成と接点表面形態に関与しているためである。
組成的には、Ag−Cu−WC系接点が最適であり、最
も低い平均裁断電流値を有する。
【0017】しかし、裁断電流値のばらつきは、接点材
料の組織的均一性によるところがかなり大きい。このた
め、実用上最も問題となる裁断電流値の最大値は、組織
の均質性に依存する。従来、Ag−Cu−WC系接点の
製造に用いられている焼結溶浸法では、このばらつきを
十分に低減する程、組織を均質にすることは難しい。
【0018】本発明では、このような極めて高度な接点
材料組織の均質化の要求を考慮し、例えばAg−Cu−
WC接点の裁断電流値のばらつきを低減して最大裁断電
流値の低減を図るべく、Ag−Cuマトリックス中に繊
維状耐弧材料を均質に配置した組織を形成させた。
【0019】この耐弧成分繊維の方向を全て同一方向に
した場合、接点材料はその機械的および電気的特性に異
方性を有する。例えば、接点表面と垂直な方向にした場
合、接点表面に垂直な方向の導電率は、半径方向および
円周方向の導電率に比べて非常に大きくなる。このよう
な異方性を有すれば、通電方向における接点の導電率を
高い値に維持したまま、渦電流が流れる円周方向の導電
率を低くし、渦電流とこれによって生ずる発生磁界の低
下を抑制することができる。このことは、接点にこれま
で必要とされていた渦電流防止用スリットを不要とし、
このスリットに起因するアークの集中をも防ぐことがで
きる。
【0020】さらに、接点組織の繊維強化により、接点
材料の靭性を増加させ、大電流遮断時の熱衝撃によるク
ラック発生を抑制し、クラックによるアークの集中も防
ぐことが可能である。
【0021】また、この耐弧材料繊維の方向を半径方向
に垂直で表面と30〜90°をなすようにすると、接点材料
内部の電気伝導度の良い方向が螺旋方向となるため接点
自体によっても磁界を発生させることが可能となり、大
電流遮断にさらに有利となる。
【0022】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を参照しつ
つ、より具体的に説明する。図1は本発明の真空バルブ
用接点材料を適用した真空バルブの断面図である。同図
において、遮断室1は、絶縁材料によりほぼ円筒状に形
成された絶縁容器2と、この両端に封止金具3a、3b
を介して設けた金属製の蓋体4a、4bとで真空気密に
構成されている。
【0023】遮断室1内には、導電棒5,6の対向する
端部に取付けられた一対の電極7,8が配設され、上部
の電極7を固定電極、下部の電極8を可動電極としてい
る。また、この電極8の電極棒6には、ベローズ9が取
付けられ遮断室1内を真空密に保持しながら電極8の軸
方向の移動を可能にしている。ベローズ9上部には金属
製のアークシールド10が設けられ、ベローズ9がアーク
蒸気で覆われることを防止している。また、電極7,8
を覆うように、遮断室1内に金属製のアークシールド11
が設けられ、これにより絶縁容器2がアーク蒸気で覆わ
れることを防止している。さらに、電極8は図2に拡大
して示す如く、導電棒6にろう付け部12によって固定さ
れるか又は、かしめによって圧着接続されている。接点
13aは電極8にろう付け14によってろう付けで取付けら
れる。なお、接点13bは、電極7にろう付けにより取付
けられる。
【0024】次に、本発明の真空バルブ用接点材料の実
施例データを得た評価方法、および評価条件につき述べ
る。 (1)電流裁断特性 各接点を取付けて10Pa以下に排気した組立て式バルブ
を製作し、この装置を0.8 m/秒の開極速度で開極させ
遅れ小電流を遮断した時の裁断電流を測定した。遮断電
流は、20A(実効値)、50Hzとした。開極位相はラン
ダムに行い、500 回遮断されたときの裁断電流を接点数
3個につき測定し、その最大値を表1,表2に示した。
なお、数値は、実施例5の裁断電流値の最大値を1.0 と
した場合の相対値で示した。 (2)大電流遮断特性 遮断試験をJEC規格の5号試験により行い、これによ
り遮断特性を評価した。
【0025】次に耐弧成分がWCの場合を例にあげ、こ
の接点材料の製造方法の1例につき説明する。先ず、所
定の直径の耐弧成分繊維を束ね、これを高真空雰囲気ま
たは、水素雰囲気中において、所定温度、例えば1150
℃、1時間の条件にて仮焼結し、仮焼結体を得る。この
仮焼結体の残存空孔中に所定量および所定比率のAg−
Cuを1150℃、1時間で溶浸しAg−Cu−WC合金を
得る。
【0026】なお、合金中の導電成分量の比率Ag/
(Ag+Cu)の制御は、次の様にして行った。例えば
あらかじめ所定比率のAg/(Ag+Cu)を有するイ
ンゴットを、温度1200℃、真空度1.3 ×10Paで真空溶
解を行い、切断し溶浸用素材として用いる。
【0027】表1、表2に供試接点の材料内容とその対
応する特性データを示す。Ag−Cu−WC−Co合金
中の導電成分量、すなわちAg+Cu量を25.2〜70.2 v
ol%wt%、Agの導電成分中に占める割合いAg/
(Ag+Cu)を0〜100 vol%の範囲に変化さ
せ、また、耐弧成分繊維直径は、3〜100 μmの範
囲で変化させた。さらに、半径方向と垂直な方向に配向
する耐弧成分繊維が接点表面となす角度を0〜90°の範
囲で変化させた。
【0028】
【表1】
【0029】
【表2】
【0030】以下、実施例データを詳細に検討する。 実施例−1,2および比較例−1,2 高導電性成分の含有量を25.2〜70.2 vol%の範囲で変化
させ、高導電性成分中に占めるAgの割合を約69 vol
%、耐弧成分の繊維径を3μm、耐弧成分繊維が接点表
面となす角を90°で一定として評価を行った。高導電成
分が50 vol%以下の実施例1および2では、裁断特性、
遮断特性ともに良好であるが、高導電性成分が50 vol%
以上の比較例1および2では、裁断特性、遮断特性とも
に不良となる。これは、裁断特性が耐弧成分の含有量が
多いほど、また、遮断特性がその平均繊維間距離が小さ
いほど良好になるためである。 実施例−3,4,5および比較例−3,4 耐弧成分繊維直径を3〜100 μmの範囲で変化させ、高
導電成分の含有量を40vol%、高導電成分中に占めるA
gの割合を約69 vol%、耐弧成分繊維が接点表面となす
角を90°で一定として評価を行った。耐弧成分繊維直径
が30μm以下の実施例3,4および5では、裁断特性、
遮断特性ともに良好であるが、耐弧成分繊維直径が30μ
m以上の比較例3および4では、裁断特性、遮断特性と
もに不良となる。これは、耐弧成分繊維直径が大きくな
るほど裁断特性のばらつきが大きくなり、また、平均繊
維間距離も大きくなるため遮断特性が低下するためであ
る。 実施例−6,7,8,9および比較例−5,6 高導電成分中に占めるAgの割合を0〜100 vol %の範
囲で変化させ、高導電成分の含有量を約40 vol%、耐弧
成分繊維直径を3μm、耐弧成分繊維が接点表面となす
角を90°で一定として評価を行った。高導電成分中のA
gの割合が40 vol%以上の実施例6,7,8および9で
は、裁断特性、遮断特性ともに良好であるが、高導電性
成分中のAg含有量が40 vol%以下の比較例5および6
では、裁断特性が不良となる。これは、蒸気圧の高いA
gの含有量が大きいほど裁断特性が良くなる傾向にある
ためである。 実施例−10,11,12および比較例−7,8 耐弧成分繊維が接点表面となす角を0〜90°の範囲で変
化させ、高導電成分の含有量を約40 vol%、高導電成分
中に占めるAgの割合を約69 vol%、耐弧成分繊維直径
を3μmで一定として評価を行った。耐弧成分繊維が接
点表面となす角が30°以上の実施例10,11および12で
は、裁断特性、遮断特性ともに良好であるが、耐弧成分
繊維が接点表面となす角が30°以下の比較例7および8
では、裁断特性がやや不良となり、遮断特性は大きく低
下する。これは耐弧成分繊維が接点表面となす角が小さ
くなると接点表面に現れる耐弧成分が繊維状になるた
め、良好な遮断特性および裁断特性を得るために不可欠
な耐弧成分の分散性が損なわれるためである。 実施例−13,14,15 以上の実施例では、耐弧成分をWCとして示したが、こ
の他、耐弧成分として熱電子放出能力の優れるHfC、
TaC、ZrCを用いても同様な効果が得られる。この
うち、最も熱電子放出能力の優れるHfCを用いた実施
例−13では、最も良い裁断特性を示している。TaCを
用いた実施例−14、ZrCを用いた実施例−15でも、W
Cを用いた実施例−2よりも良好な裁断特性が得られて
いる。
【0031】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、含有量が
25〜50容積%で、このうちのAgの比率[Ag/(Ag
+Cu)]が40〜100 容積%である高導電性材料と、含
有量が50〜75容積%で、W、Zr、Hf、Taのうちの
いずれか1種の炭化物から成る耐弧性材料とを有し、耐
弧性材料は分散された直径30μm以下の長繊維状とし、
その間隙に高導電性材料を存在させると共に、この耐弧
性材料が同一方向に向くようにしたので、電流裁断特性
および電流遮断特性を改善することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の真空バルブ用接点材料を適用した真空
バルブの断面図。
【図2】[図1]の電極8の断面図。
【符号の説明】
7,8…電極、13a,13b…接点。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 含有量が25〜50容積%で、このうちのA
    gの比率[Ag/(Ag+Cu)]が40〜100 容積%で
    ある高導電性材料と、含有量が50〜75容積%で、W、Z
    r、Hf、Taのうちのいずれか1種の炭化物から成る
    耐弧性材料とを有し、前記耐弧性材料は分散された直径
    30μm以下の長繊維状とし、その間隙に前記高導電性材
    料を存在させると共に、この耐弧性材料が同一方向に向
    いていることを特徴とする真空バルブ用接点材料。
  2. 【請求項2】 前記耐弧性材料は、電極表面に垂直に向
    いていることを特徴とする請求項1記載の真空バルブ用
    接点材料。
  3. 【請求項3】 前記耐弧性材料は、電極半径方向に垂直
    で、且つ電極表面と30〜90°の方向を向いていることを
    特徴とする請求項1記載の真空バルブ用接点材料。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008171682A (ja) * 2007-01-11 2008-07-24 Toshiba Corp 接点材料の製造方法及び真空バルブの製造方法

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