JPH07201957A - Wafer tape mounter - Google Patents

Wafer tape mounter

Info

Publication number
JPH07201957A
JPH07201957A JP35316893A JP35316893A JPH07201957A JP H07201957 A JPH07201957 A JP H07201957A JP 35316893 A JP35316893 A JP 35316893A JP 35316893 A JP35316893 A JP 35316893A JP H07201957 A JPH07201957 A JP H07201957A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
tape
support
mounter
supporting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP35316893A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Kojima
宏之 小島
Satoshi Sakauchi
敏 坂内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP35316893A priority Critical patent/JPH07201957A/en
Publication of JPH07201957A publication Critical patent/JPH07201957A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C10/00Devitrified glass ceramics, i.e. glass ceramics having a crystalline phase dispersed in a glassy phase and constituting at least 50% by weight of the total composition
    • C03C10/0036Devitrified glass ceramics, i.e. glass ceramics having a crystalline phase dispersed in a glassy phase and constituting at least 50% by weight of the total composition containing SiO2, Al2O3 and a divalent metal oxide as main constituents
    • C03C10/0045Devitrified glass ceramics, i.e. glass ceramics having a crystalline phase dispersed in a glassy phase and constituting at least 50% by weight of the total composition containing SiO2, Al2O3 and a divalent metal oxide as main constituents containing SiO2, Al2O3 and MgO as main constituents

Abstract

PURPOSE:To stick to wafers having different dimensions without replacing a wafer support table by a method wherein the wafer support table which has a diameter matching the wafer, which has a multi-coaxial structure and which can be moved vertically is made to ascend and descend between a wafer attracting position and a separated retreating position. CONSTITUTION:A wafer tape mounter has an outer table 12 on which a tape is stuck to an 8'' wafer and an inner table 14 which is provided inside the outer table 12 coaxially and on which a tape is stuck to a 6'' wafer. Suction paths 28 are provided so as to pierce through the walls of an outer support part 18 and an inner support part 22 and connected to a negative pressure source. An air path 38 is provided in an outer table board 20 and connected to a pressurized air source. When the tape is stuck to the 8'' wafer, the inner table 14 is made to descend to a retreating position and, when the tape is stuck to the 6'' wafer, the inner table 14 is made to ascend to an attracting position.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置製造工程に
おいて、ウェーハのダイシング前にウェーハにテープを
貼着するために使用するウェーハ・テープ・マウンタに
関し、より詳細には、ウェーハ支持テーブルを取り替え
ることなく、一台のウェーハ・テープ・マウンタで寸法
の異なるウェーハにテープを貼着できるように改良した
ウェーハ・テープ・マウンタに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wafer tape mounter used to attach a tape to a wafer before dicing the wafer in a semiconductor device manufacturing process, and more particularly, to replace a wafer support table. The present invention relates to a wafer tape mounter improved so that a single wafer tape mounter can attach tapes to wafers having different sizes.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体の製造工程において、ウェーハを
個々のダイに分割すべく、ウェーハに切溝を生成するダ
イシング工程が知られている。かかるダイシング工程に
用いられる半導体組立装置として、テープをウェーハ上
に貼着するためのウェーハ・テープ・マウンタと、高速
回転するブレードにてウェーハを切断するダイシング装
置又はダイサーとを備えた構成のものが知られている。
2. Description of the Related Art In a semiconductor manufacturing process, a dicing process is known in which a kerf is formed in a wafer in order to divide the wafer into individual dies. As a semiconductor assembling apparatus used in such a dicing process, there is one having a configuration including a wafer tape mounter for sticking a tape onto a wafer and a dicing apparatus or a dicer for cutting the wafer with a blade rotating at high speed. Are known.

【0003】ウェーハ・テープ・マウンタは、テープと
ウェーハとの間に気泡を発生させることなく、ウェーハ
の全面にテープを密着して貼着させるために使用される
装置であって、筒状の支持部を備え、その上面に備えた
ウェーハ吸着手段によりウェーハを吸着保持すると共に
支持部内側に加圧空気を導入してウェーハを外方に押圧
するようにしたウェーハ支持テーブルと、ウェーハ支持
テーブルに保持されたウェーハにシート状のテープを貼
着するテープ貼着手段とを有する。以下に、図4、図5
及び図6を参照して、従来のウェーハ・テープ・マウン
タを説明する。
The wafer tape mounter is a device used for sticking the tape in close contact with the entire surface of the wafer without generating bubbles between the tape and the wafer. And a wafer support table that holds the wafer by the wafer suction means provided on the upper surface of the support section and pressurizes the wafer outward by introducing pressurized air into the support section. And a tape adhering means for adhering a sheet-shaped tape to the formed wafer. Below, FIG. 4 and FIG.
A conventional wafer tape mounter will be described with reference to FIG.

【0004】図4は、半導体組立装置における従来のウ
ェーハ・テープ・マウンタのウェーハ支持テーブル及び
テープ貼着手段を示す斜視図であり、図5は、図4に示
すウェーハ支持テーブルの縦断面図である。また、図6
は、テープを貼着したウェーハを回転ブレードで切断す
る工程を示す斜視図である。図4(a)に示す如く、ウ
ェーハ支持テーブル1は、全体的に円形の外周輪郭を有
する板状部材からなるテーブル基板3と、テーブル基板
3上に周方向に延在する略円筒状の支持部2とを備えて
いる。ウェーハW及びテープTは、支持部2の上端面に
載置される。テープ貼着手段を構成するローラ4が、図
4(b)及び図5(a)に示すように、テープT上を転
動しながらウェーハWの直径方向に移動し、テープTを
ウェーハWの上面に貼着する。
FIG. 4 is a perspective view showing a wafer supporting table and a tape attaching means of a conventional wafer tape mounter in a semiconductor assembling apparatus, and FIG. 5 is a vertical sectional view of the wafer supporting table shown in FIG. is there. In addition, FIG.
[FIG. 6] is a perspective view showing a step of cutting a wafer having a tape attached thereto with a rotary blade. As shown in FIG. 4A, the wafer support table 1 includes a table substrate 3 made of a plate-like member having a generally circular outer peripheral contour, and a substantially cylindrical support extending on the table substrate 3 in the circumferential direction. And part 2. The wafer W and the tape T are placed on the upper end surface of the support portion 2. As shown in FIGS. 4 (b) and 5 (a), the roller 4 constituting the tape adhering means moves in the diameter direction of the wafer W while rolling on the tape T, and the tape T of the wafer W is moved. Stick on top.

【0005】ウェーハ支持テーブル1は、ウェーハWを
支持部2上に保持するための真空チャック手段を備える
とともに、テープTとウェーハWの上面との密着を確保
するためのエア加圧手段を備えている。図5(a)に示
すように、真空チャック手段は、支持部2の上端面の開
口(図示せず)と、開口からテーブル基板の下面まで支
持部2の壁体を貫通する吸引通路5と、吸引通路5に接
続された負圧源(図示せず)とから略構成されている。
負圧が吸引通路5を介してウェーハWの外周部分に作用
することにより、ウェーハWは、支持部2の上端面に吸
着され、ウェーハ支持テーブル1上に保持される。
The wafer support table 1 is provided with a vacuum chuck means for holding the wafer W on the support portion 2 and an air pressure means for ensuring a close contact between the tape T and the upper surface of the wafer W. There is. As shown in FIG. 5A, the vacuum chuck means includes an opening (not shown) at the upper end surface of the support portion 2, and a suction passage 5 penetrating the wall of the support portion 2 from the opening to the lower surface of the table substrate. , And a negative pressure source (not shown) connected to the suction passage 5.
The negative pressure acts on the outer peripheral portion of the wafer W via the suction passage 5, so that the wafer W is attracted to the upper end surface of the support portion 2 and held on the wafer support table 1.

【0006】一方、エア押圧手段は、ウェーハ支持テー
ブル1を貫通するエア通路7と、エア通路7に接続され
た加圧源(図示せず)とから略構成され、エア通路7
は、ウェーハ支持テーブル1の中心部に配置されたボス
部6を介して支持部2内の加圧室8に連通している。ウ
ェーハWの下側には形成された支持部2内の加圧室8
は、エア通路7に接続された加圧源によって昇圧され
る。それにより、図5(b)に示す如く、ウェーハWの
中央領域は、加圧室8の昇圧によって上方に僅かに膨れ
る。かかる状態で、ローラ4をウェーハW上に転動させ
ると、テープTは、ローラ4に押圧されてウェーハWと
の間に気泡を形成することなく、ウェーハWの全面に密
着する。
On the other hand, the air pressing means is substantially composed of an air passage 7 penetrating the wafer support table 1 and a pressure source (not shown) connected to the air passage 7.
Are connected to the pressurizing chamber 8 in the supporting portion 2 via a boss portion 6 arranged at the center of the wafer supporting table 1. The pressurizing chamber 8 in the supporting portion 2 formed below the wafer W
Is pressurized by a pressure source connected to the air passage 7. As a result, as shown in FIG. 5B, the central region of the wafer W is slightly swollen upward due to the pressure increase in the pressure chamber 8. When the roller 4 is rolled on the wafer W in such a state, the tape T is brought into close contact with the entire surface of the wafer W without being pressed by the roller 4 and forming bubbles with the wafer W.

【0007】テープTに貼着されたウェーハWは、図6
に示す如く、ダイサーのリングR上に固定され、極薄の
外周切断刃を備えたダイサーの回転ブレード9によって
切断(フルカット)される。
The wafer W attached to the tape T is shown in FIG.
As shown in FIG. 3, the blade is fixed on the ring R of the dicer and cut (full cut) by the rotary blade 9 of the dicer equipped with an extremely thin outer peripheral cutting blade.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ような構造をした従来のウェーハ・テープ・マウンタで
は、支持部の直径より大きい寸法のウェーハに対しての
みテープを貼着し得るのであって、支持部の直径より小
さい寸法のウェーハにテープを貼着することは出来な
い。このため、6インチのウェーハ或いは8インチのウ
ェーハ等、大小様々のウェーハをダイシングする場合に
は、ウェーハの寸法に適応可能なウェーハ支持テーブル
を予め複数台用意し、ウェーハの寸法を変更する都度、
ウェーハ支持テーブルを交換しなければならなかった。
そのため、ダイシング工程が煩雑化し、ダイシング工程
の作業性又は生産性が低下していた。
However, in the conventional wafer tape mounter having the above-described structure, the tape can be attached only to the wafer having a size larger than the diameter of the supporting portion, The tape cannot be attached to a wafer having a size smaller than the diameter of the supporting portion. Therefore, when dicing large and small wafers such as 6-inch wafers or 8-inch wafers, a plurality of wafer support tables adaptable to the wafer size are prepared in advance, and each time the wafer size is changed,
The wafer support table had to be replaced.
Therefore, the dicing process is complicated and the workability or productivity of the dicing process is reduced.

【0009】本発明はかかる点に鑑みてなされたもので
あり、その目的とするところは、ウェーハ支持テーブル
を交換することなく、異なる寸法のウェーハにテープを
貼着できるようにしたウェーハ・テープ・マウンタを提
供することにある。
The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to attach a tape to wafers of different sizes without replacing the wafer support table. To provide a mounter.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係るウェーハ・テープ・マウンタは、筒状
の支持部を備え、その上面に備えたウェーハ吸着手段に
よりウェーハを吸着保持すると共に支持部内側に加圧空
気を導入してウェーハを外方に押圧するようにしたウェ
ーハ支持テーブルと、ウェーハ支持テーブルに保持され
たウェーハにシート状のテープを貼着するテープ貼着手
段とを有するウェーハ・テープ・マウンタにおいて、ウ
ェーハの大小に合わせて互いに異なる径寸法を有し、か
つ多重同心状に配置され、上下に相対的に変位可能なよ
うに形成された複数のウェーハ支持テーブルと、各ウェ
ーハ支持テーブルを個別に昇降させるテーブル昇降手段
とを備え、各ウェーハ支持テーブルは、そのウェーハ支
持テーブルの径寸法に対応する大きさの支持部を有し、
ウェーハを吸着可能な作動位置とウェーハから離間する
退避位置との間をテーブル昇降手段により選択的に昇降
することを特徴としている。
In order to achieve the above object, a wafer tape mounter according to the present invention is provided with a cylindrical support portion, and a wafer attracting means is provided on the upper surface thereof to attract and hold a wafer. Together with a wafer supporting table adapted to pressurize the wafer outward by introducing pressurized air to the inside of the supporting portion, and a tape attaching means for attaching a sheet-shaped tape to the wafer held on the wafer supporting table. In the wafer tape mounter that has, a plurality of wafer support tables that have different diameter dimensions according to the size of the wafer, and are arranged in multiple concentric fashion and are formed to be relatively displaceable vertically. Table lifting means for individually lifting and lowering each wafer support table is provided, and each wafer support table has a diameter of the wafer support table. A support portion for size corresponding to,
It is characterized in that the table elevating means selectively moves up and down between an operating position where the wafer can be sucked and a retracted position where it is separated from the wafer.

【0011】本発明で使用するウェーハ支持テーブル
は、従来のウェーハ支持テーブルとほぼ同様な構造を有
し、同心状のウェーハ支持テーブル間で相互に摺動しつ
つ昇降する。ウェーハ吸着手段は、ウェーハを吸着する
ために支持部のウェーハ支持面に設けられた常用の真空
吸引手段であって、例えばウェーハ支持面に開口を設
け、その開口を介してウェーハに負圧を作用させること
により、ウェーハを吸着できる。テーブル昇降手段は、
油圧アクチュエータ或いはピニオンとラックとの組み合
わせを用いたような常用の昇降機構であって、テーブル
の下側に設けられている。加圧空気を導入してウェーハ
を外方に押圧する手段は、従来の空気導入手段と同様で
あって、かかる空気導入手段を最も内側のウェーハ支持
テーブルに設けることにより、各ウェーハ支持テーブル
で共用できる。
The wafer support table used in the present invention has substantially the same structure as the conventional wafer support table, and moves up and down while sliding between the concentric wafer support tables. The wafer suction means is a commonly-used vacuum suction means provided on the wafer support surface of the support part for sucking the wafer, and for example, an opening is provided on the wafer support surface and a negative pressure is applied to the wafer through the opening. By doing so, the wafer can be adsorbed. The table lifting means is
It is a commonly used lifting mechanism that uses a hydraulic actuator or a combination of a pinion and a rack, and is provided below the table. The means for introducing the pressurized air to press the wafer outward is the same as the conventional air introducing means, and by providing such air introducing means on the innermost wafer supporting table, it is shared by each wafer supporting table. it can.

【0012】6インチウェーハと8インチウェーハとの
ように寸法が2種類の場合に好適に適用できるウェーハ
・テープ・マウンタは、上述のウェーハ・テープ・マウ
ンタにおいて、ウェーハ支持テーブルが、大小2個のウ
ェーハ支持テーブルから構成され、小さい方のウェーハ
支持テーブルが、ウェーハを吸着可能な作動位置とウェ
ーハから離間する退避位置との間をテーブル昇降手段に
より選択的に昇降することを特徴としている。
A wafer tape mounter that can be suitably applied when there are two types of dimensions such as a 6-inch wafer and an 8-inch wafer is a wafer tape mounter in which the wafer support table has two large and small wafer support tables. It is characterized in that it is composed of a wafer support table, and the smaller one of the wafer support tables is selectively moved up and down by a table elevating means between an operation position capable of adsorbing a wafer and a retracted position separated from the wafer.

【0013】[0013]

【作用】請求項1の発明では、各ウェーハ支持テーブル
が、ウェーハの大小に合わせて互いに異なる径寸法を有
し、かつ多重同心状に配置され、上下に相対的に変位可
能なように形成され、更にウェーハの大きさに対応した
支持部を有し、しかもウェーハ昇降手段によりウェーハ
吸着に不要のウェーハ支持テーブルを退避位置に下降さ
せて、所要のウェーハ支持テーブルのみをウェーハ吸着
位置に位置づけることにより、ウェーハの寸法に合致し
たウェーハ支持テーブルでウェーハを吸着保持できる。
請求項2の発明では、大小2個のウェーハにテープを貼
着するために、ウェーハ・テープ・マウンタが、大小2
個のウェーハ支持テーブルから構成されている。
According to the invention of claim 1, each wafer support table has different diameters according to the size of the wafer, and is arranged in multiple concentric shapes and is formed so as to be vertically displaceable relative to each other. By further lowering the wafer support table, which has a supporting part corresponding to the size of the wafer, and is not required for wafer suction by the wafer lifting means to the retracted position, and positioning only the required wafer support table at the wafer suction position. , The wafer can be held by suction on the wafer support table that matches the size of the wafer.
According to the invention of claim 2, the wafer tape mounter is large and small in order to attach the tape to the large and small wafers.
It consists of individual wafer support tables.

【0014】[0014]

【実施例】以下、添付図面を参照して、本発明の好まし
い実施例について詳細に説明する。図1は本発明の実施
例に係るウェーハ・テープ・マウンタのウェーハ支持テ
ーブルの斜視図、及び図2(a)と(b)はウェーハ・
テープ・マウンタとローラとを示す縦断面図と斜視図で
ある。ウェーハ・テープ・マウンタ10は、1台のウェ
ーハ・テープ・マウンタによって、大小2種類のウェー
ハ、即ち8インチウェーハW1と6インチウェーハW2
の双方ににテープを貼着できるように考案された装置で
ある。ウェーハ・テープ・マウンタ10は、図1に示す
如く、寸法の大きい8インチウェーハW1にテープを貼
着する場合に使用する外径の大きい外側ウェーハ支持テ
ーブル(以下、外側テーブルと称する)12と、外側テ
ーブル12の内側に同心状に配置されて、寸法の小さい
6インチウェーハW2にテープを貼着する場合に使用さ
れる、外径の小さい内側ウェーハ支持テーブル(以下、
内側テーブル)14とを備えた、2段式のテーブルを形
成している。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT A preferred embodiment of the present invention will now be described in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a perspective view of a wafer support table of a wafer tape mounter according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 2 (a) and 2 (b) are wafer perspective views.
It is a longitudinal cross-sectional view and a perspective view showing a tape mounter and a roller. The wafer tape mounter 10 has two types of wafers, that is, an 8-inch wafer W1 and a 6-inch wafer W2.
It is a device designed so that tapes can be attached to both sides. As shown in FIG. 1, the wafer tape mounter 10 includes an outer wafer support table (hereinafter, referred to as an outer table) 12 having a large outer diameter, which is used when a tape is attached to a large 8-inch wafer W1. An inner wafer support table (hereinafter, referred to as “inner wafer support table” having a small outer diameter, which is concentrically arranged inside the outer table 12 and is used when a tape is attached to a small 6-inch wafer W2.
Inner table) 14 and a two-stage table is formed.

【0015】外側テーブル12は、円形の平坦な外側テ
ーブル基板16と、テーブル基板上に同心状に配置され
た略円筒状の外側支持部18とを備えている。内側テー
ブル14は、外側テーブル12と同様に、円形の平坦な
内側テーブル基板20(図1では外側テーブル基板16
の下方に隠れているので(20)と符号を付してある)
と、内側テーブル基板14上にそれと同心状に配置され
た略円筒状の内側支持部22とを備えている。
The outer table 12 includes a circular flat outer table substrate 16 and a substantially cylindrical outer support portion 18 concentrically arranged on the table substrate. The inner table 14 has a circular flat inner table substrate 20 (the outer table substrate 16 in FIG. 1) similar to the outer table 12.
It is hidden underneath and is labeled as (20).
And a substantially cylindrical inner support portion 22 arranged concentrically on the inner table substrate 14.

【0016】外側テーブル12に設けられた外側支持部
18は、外側テーブル基板16の直径よりは小さい直径
を有する略円筒状の中空体であって、その内径は8イン
チウェーハW1の外形寸法より僅かに小さい寸法に形成
されている。外側支持部18の上端面は、外側ウェーハ
吸着面24を構成していて、ウェーハ吸着面としてウェ
ーハに馴染むように平坦な円環状の面に形成されてい
る。外側ウェーハ吸着面24には、その周方向に沿って
多数の小径の開口26が設けてある。ウェーハを吸着す
るために、吸引通路28が、それぞれ、各開口26から
外側テーブル基板16の下面まで外側支持部18の壁体
を上下に貫通して設けてあって、その下端で管路(図示
せず)を介して負圧源(図示せず)に接続されている。
The outer support portion 18 provided on the outer table 12 is a substantially cylindrical hollow body having a diameter smaller than that of the outer table substrate 16, and its inner diameter is slightly smaller than the outer dimension of the 8-inch wafer W1. It has a small size. The upper end surface of the outer supporting portion 18 constitutes the outer wafer suction surface 24, and is formed as a flat annular surface as a wafer suction surface so as to fit to the wafer. The outer wafer suction surface 24 is provided with a large number of small-diameter openings 26 along its circumferential direction. In order to adsorb the wafer, suction passages 28 are respectively provided through the walls of the outer supporting portion 18 from the respective openings 26 to the lower surface of the outer table substrate 16 in the vertical direction, and the pipes (see FIG. It is connected to a negative pressure source (not shown) via a not shown).

【0017】外側テーブル基板16の底部は、図2
(a)に示す如く、外周部に配置された比較的厚肉の円
環状の外側底壁30と、底壁の内側に配置された比較的
薄肉の内側底壁32とから形成されていて、外側底壁3
0の上面と内側底壁32の上面とは、同一の平面レベル
に整列している。外側支持部18は、外側底壁30から
直立しており、また、外側底壁30と内側底壁32との
間には、内側支持部22の壁体の横断面と同じ形状、寸
法の開口形状を備えた環状開口34が形成されている。
内側支持部22は、この環状開口34を上下に摺動自在
にかつ比較的気密に貫通している。
The bottom of the outer table substrate 16 is shown in FIG.
As shown in (a), it is formed of a relatively thick annular outer bottom wall 30 arranged on the outer peripheral portion and a relatively thin inner bottom wall 32 arranged inside the bottom wall, Outer bottom wall 3
The upper surface of 0 and the upper surface of the inner bottom wall 32 are aligned on the same plane level. The outer support portion 18 stands upright from the outer bottom wall 30, and between the outer bottom wall 30 and the inner bottom wall 32, an opening having the same shape and size as the cross section of the wall of the inner support portion 22 is formed. An annular opening 34 having a shape is formed.
The inner support portion 22 penetrates the annular opening 34 in a vertically slidable manner and in a relatively airtight manner.

【0018】外側底壁30と内側底壁32との間に環状
開口34を形成すると共に外側底壁30と内側底壁32
とを連結しておくために、両者は、簡単な連結手段、例
えばスポーク状の棒部材等(図示せず)により連結され
ていて、連結手段が、内側支持部18に設けられた上下
に長孔状の貫通孔(図示せず)を貫通するようになって
いる。内側底壁32の中心には、上下方向に隆起するボ
ス部36が形成されている。また、空気加圧手段を構成
するエア通路38が、ボス部36を上下方向に貫通して
いて、下端で管路(図示せず)を介して加圧源(図示せ
ず)に接続される。エア通路38を介して加圧空気を導
入すると、外側支持部18の内側及び内側支持部22の
内側には、空気による加圧室40が形成される。
An annular opening 34 is formed between the outer bottom wall 30 and the inner bottom wall 32, and the outer bottom wall 30 and the inner bottom wall 32 are formed.
In order to keep the connection between and, they are connected by a simple connection means, for example, a spoke-shaped rod member (not shown), and the connection means is provided vertically on the inner support portion 18. It penetrates through a hole-shaped through hole (not shown). A boss portion 36 is formed at the center of the inner bottom wall 32 so as to protrude vertically. Further, an air passage 38 which constitutes an air pressurizing unit penetrates the boss portion 36 in the vertical direction and is connected to a pressurizing source (not shown) at a lower end thereof via a pipe (not shown). . When pressurized air is introduced through the air passage 38, a pressure chamber 40 formed by air is formed inside the outer support portion 18 and inside the inner support portion 22.

【0019】内側テーブル14に設けられた内側支持部
22は、外側支持部18のほぼ同じ構造で構成されてお
り、内側テーブル基板20と同じ外径を有する略円筒状
の中空体であって、その内径は6インチウェーハW2の
外形寸法より僅かに小さい寸法に形成されている。内側
支持部22の上端面は、内側ウェーハ吸着面42を構成
していて、ウェーハ吸着面としてウェーハに馴染むよう
に平坦な円環状の面に形成されている。内側ウェーハ吸
着面42には、その周方向に沿って多数の小径の開口4
4が設けてある。ウェーハを吸着するために、吸引通路
46が、それぞれ、各開口から内側テーブル基板20の
下面まで内側支持部22の壁体を上下に貫通して設けて
あって、その下端で管路(図示せず)を介して負圧源
(図示せず)に接続されている。
The inner support portion 22 provided on the inner table 14 has substantially the same structure as the outer support portion 18, and is a substantially cylindrical hollow body having the same outer diameter as the inner table substrate 20. The inner diameter is formed to be slightly smaller than the outer dimension of the 6-inch wafer W2. The upper end surface of the inner support portion 22 constitutes an inner wafer suction surface 42, and is formed as a flat annular surface as a wafer suction surface so as to fit to the wafer. The inner wafer suction surface 42 has a large number of small-diameter openings 4 along its circumferential direction.
4 is provided. In order to adsorb the wafer, suction passages 46 are provided up and down through the wall of the inner support portion 22 from each opening to the lower surface of the inner table substrate 20, respectively, and a pipe line (not shown) is provided at the lower end thereof. Via a negative pressure source (not shown).

【0020】内側支持部22は、その下端で内側テーブ
ル基板20の外周部に連接している。内側テーブル基板
20は、外側テーブル12の外側テーブル基板16の下
方に位置し、外側テーブル基板16のボス部36の外周
面と摺接する貫通孔48を備えている。内側テーブル基
板20は、昇降機構(図示せず)により昇降する。内側
テーブル基板20が昇降すると、内側支持部22は、外
側テーブル基板16の環状開口34を通って内側テーブ
ル基板20と共に昇降する。外側テーブル基板16に環
状開口34を、内側テーブル基板20に貫通孔48を設
けたことにより、昇降装置(図示せず)により上下駆動
されると、内側テーブル基板20及び内側支持部22
は、自在に上下できる。
The inner support portion 22 is connected at its lower end to the outer peripheral portion of the inner table substrate 20. The inner table substrate 20 is provided below the outer table substrate 16 of the outer table 12, and has a through hole 48 that is in sliding contact with the outer peripheral surface of the boss portion 36 of the outer table substrate 16. The inner table substrate 20 is lifted and lowered by a lifting mechanism (not shown). When the inner table substrate 20 moves up and down, the inner support portion 22 moves up and down together with the inner table substrate 20 through the annular opening 34 of the outer table substrate 16. Since the outer table substrate 16 is provided with the annular opening 34 and the inner table substrate 20 is provided with the through hole 48, the inner table substrate 20 and the inner supporting portion 22 are vertically moved by an elevating device (not shown).
Can be moved up and down freely.

【0021】更に、ウェーハ・テープ・マウンタ10
は、従来からテープ貼着手段として使用されてきた円筒
形のローラ50を備えている。
Further, the wafer tape mounter 10
Includes a cylindrical roller 50 that has been conventionally used as a tape adhering means.

【0022】図2及び図3を参照しながら、以下に、本
実施例のウェーハ・テープ・マウンタ10の使用方法を
説明する。図2(a)に示すように、内側テーブル14
を下降させて、下方位置、即ち、退避位置に位置させ
る。この状態では、内側支持部22のウェーハ吸着面4
2は、外側支持部18のウェーハ吸着面24よりも下方
に位置する。次いで、8インチのウェーハW1を外側支
持部18のウェーハ吸着面24上に位置決めし、ウェー
ハW1の上面にテープTを載置する。吸引通路28を介
して負圧をウェーハ吸着面24に作用させると、ウェー
ハW1は、ウェーハ吸着面24に吸着される。ウェーハ
W1の下側に形成された加圧室40に、エア通路38を
介して加圧源の気体圧力を作用させ、加圧室40内を昇
圧する。この結果、ウェーハWの中央領域は、加圧室4
0の昇圧によって上方に僅かに膨れて湾曲する(図5
(b)参照)。
A method of using the wafer tape mounter 10 of this embodiment will be described below with reference to FIGS. 2 and 3. As shown in FIG. 2A, the inner table 14
Is lowered to the lower position, that is, the retracted position. In this state, the wafer suction surface 4 of the inner support 22 is
2 is located below the wafer suction surface 24 of the outer supporting portion 18. Next, the 8-inch wafer W1 is positioned on the wafer suction surface 24 of the outer supporting portion 18, and the tape T is placed on the upper surface of the wafer W1. When a negative pressure is applied to the wafer suction surface 24 via the suction passage 28, the wafer W1 is suctioned to the wafer suction surface 24. The gas pressure of the pressure source is applied to the pressure chamber 40 formed on the lower side of the wafer W1 through the air passage 38 to increase the pressure in the pressure chamber 40. As a result, the central region of the wafer W is
When the pressure is increased to 0, it slightly bulges upward and bends (Fig. 5).
(See (b)).

【0023】次いで、図2(a)及び図2(b)に示す
如く、テープT上にローラ50を転動させながらウェー
ハW1の直径方向に移動し、テープTをウェーハW1の
上面に貼着する。本実施例において、8インチウェーハ
W1のテープ貼着の時には、内側テーブル12を退避位
置に後退させているので、内側支持部22の存在にもか
かわらず、加圧室40が外側支持部18の内側全体に形
成される。よって、加圧空気の圧力をウェーハW1のほ
ぼ全面に作用させることができるので、ウェーハW1の
ほぼ全面が上方に僅かに膨れて反っているので、ローラ
50を転動させると、ウェーハW1との間に気泡を形成
することなく、ウェーハW1の全面にテープTを密着し
て、確実に貼着することができる。
Then, as shown in FIGS. 2A and 2B, the roller 50 is moved on the tape T in the diametrical direction of the wafer W1 while rolling, and the tape T is attached to the upper surface of the wafer W1. To do. In this embodiment, since the inner table 12 is retracted to the retracted position when the 8-inch wafer W1 is tape-attached, the pressurizing chamber 40 does not move to the outer support portion 18 in spite of the presence of the inner support portion 22. It is formed on the entire inside. Therefore, since the pressure of the pressurized air can be applied to almost the entire surface of the wafer W1, almost the entire surface of the wafer W1 is slightly swollen upward and warped. The tape T can be tightly adhered to the entire surface of the wafer W1 without forming bubbles between them, and can be reliably attached.

【0024】図3は、6インチのウェーハW2にテープ
Tを貼着する工程を示す縦断面図及び斜視図である。図
3(a)に示す如く、内側テーブル14を昇降機構の作
動により上方位置、即ち、作動位置まで上昇させる。作
動位置において、内側支持部22のウェーハ吸着面42
は、外側支持部18のウェーハ吸着面24と同一か僅か
に高い平面レベルまで上昇する。6インチのウェーハW
2を内側支持部22のウェーハ吸着面42上に位置決
し、ウェーハW2の上面にテープTを載置する。吸引通
路46を介して負圧をウェーハ吸着面42に作用させる
と、ウェーハW2は、ウェーハ吸着面に吸着される。エ
ア通路38を介して加圧室40に加圧空気を導入する。
加圧室40の圧力が昇圧すると、ウェーハW2は、膨れ
て僅かに上方に反る。
3A and 3B are a longitudinal sectional view and a perspective view showing a step of adhering the tape T to the 6-inch wafer W2. As shown in FIG. 3A, the inner table 14 is raised to an upper position, that is, an operating position by the operation of the lifting mechanism. In the operating position, the wafer suction surface 42 of the inner support 22 is
Rise to a plane level that is the same as or slightly higher than the wafer suction surface 24 of the outer support 18. 6 inch wafer W
2 is positioned on the wafer suction surface 42 of the inner support portion 22, and the tape T is placed on the upper surface of the wafer W2. When a negative pressure is applied to the wafer suction surface 42 via the suction passage 46, the wafer W2 is suctioned to the wafer suction surface. Pressurized air is introduced into the pressurizing chamber 40 via the air passage 38.
When the pressure in the pressurizing chamber 40 is increased, the wafer W2 swells and slightly warps upward.

【0025】次いで、図3(b)に示す如く、テープT
上にローラ50を転動しながらウェーハWの直径方向に
移動し、テープTをウェーハWの上面に貼着する。この
際、内側支持部22のウェーハ吸着面42が、外側支持
部18のウェーハ吸着面24と同じ位置がまたは僅かに
高い位置にあるので、テープTを貼着し、ローラ50を
転動させる時に、外側支持部18が障害とならない。以
上のようにして、ウェーハW1、W2にテープTを貼着
した後、ウェーハを、図6に示す如く、ダイサーのリン
グR上に固定し、極薄の外周切断刃を備えたダイサーの
回転ブレード9によって切断(フルカット)する。
Then, as shown in FIG. 3B, the tape T
While rolling the roller 50 upward, it moves in the diameter direction of the wafer W, and the tape T is attached to the upper surface of the wafer W. At this time, since the wafer suction surface 42 of the inner support portion 22 is at the same position as or slightly higher than the wafer suction surface 24 of the outer support portion 18, when the tape T is attached and the roller 50 is rolled. The outer supporting portion 18 does not become an obstacle. After the tape T is attached to the wafers W1 and W2 as described above, the wafer is fixed on the ring R of the dicer as shown in FIG. 6, and the rotary blade of the dicer equipped with an ultrathin outer peripheral cutting blade. Cut (full cut) with 9.

【0026】以上説明したように、ウェーハ・テープ・
マウンタ10は、8インチウェーハW1にテープTを貼
着する場合、内側テーブル14を退避位置に降下させ
て、外側テーブル12の支持部16の内側全体に空気に
よる押圧を作用させると共に内側テーブル14がローラ
50の転動の邪魔にならないようにすることにより、ウ
ェーハW1にテープTを完全密着させることができる。
一方、ウェーハ・テープ・マウンタ10は、6インチウ
ェーハW2にテープTを貼着する場合、内側テーブル1
4を作動位置に上昇させることにより、外側テーブル1
2に邪魔されることなく、ローラ50を動かすことがで
きる。以上のように、ウェーハ・テープ・マウンタ10
は、テーブル交換を行うことなく、8インチウェーハW
1及び6インチウェーハW2の双方にテープTを貼着す
ることができる。
As described above, the wafer tape,
When the tape T is attached to the 8-inch wafer W1, the mounter 10 lowers the inner table 14 to the retracted position to apply air pressure to the entire inner side of the support portion 16 of the outer table 12, and By not hindering the rolling of the roller 50, the tape T can be completely adhered to the wafer W1.
On the other hand, when the tape T is attached to the 6-inch wafer W2, the wafer tape mounter 10 uses the inner table 1
4 to the working position, the outer table 1
The roller 50 can be moved without being disturbed by 2. As described above, the wafer tape mounter 10
Is an 8-inch wafer W without changing the table.
The tape T can be attached to both the 1-inch and 6-inch wafers W2.

【0027】以上、本発明の好ましい実施例について詳
細に説明したが、本発明は、上記実施例に限定されるこ
となく特許請求の範囲に記載された本発明の範囲内で種
々の変更又は変形が可能であり、それらも本発明の範囲
内に含まれるものであることはいうまでもない。例え
ば、上記実施例では、ウェーハ・テープ・マウンタは、
2つのウェーハ支持テーブル12、14を備えている
が、ウェーハ・テープ・マウンタに更に多数のウェーハ
支持テーブルを設けても良い。
The preferred embodiments of the present invention have been described above in detail, but the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications and variations are possible within the scope of the present invention described in the claims. It goes without saying that these are also possible and they are also included within the scope of the present invention. For example, in the above embodiment, the wafer tape mounter is
Although two wafer support tables 12, 14 are provided, the wafer tape mounter may be provided with more wafer support tables.

【0028】[0028]

【発明の効果】本発明の上記構成によれば、ウェーハ・
テープ・マウンタは、テープ貼着手段を機能させるため
に、不要のウェーハ支持テーブルを退避位置に下降させ
ると共に必要なウェーハ支持テーブルのみをウェーハ吸
着作動位置に位置づけ、その位置でウェーハを吸着し、
加圧空気を作用させることができる。よって、本発明に
係るウェーハ・テープ・マウンタでは、ウェーハ支持テ
ーブルを交換することなく、大小様々な寸法のウェーハ
にテープを密着した状態で貼着することができる。本発
明のウェーハ・テープ・マウンタを使用すれば、従来の
ように、ウェーハの寸法に合わせてウェーハ支持テープ
を取り替える必要がないので、ウェーハのダイシング作
業の作業能率を向上させることができる。
According to the above configuration of the present invention, the wafer
The tape mounter lowers the unnecessary wafer support table to the retreat position and positions only the necessary wafer support table at the wafer suction operation position in order to operate the tape attaching means, and sucks the wafer at that position.
Pressurized air can be applied. Therefore, in the wafer tape mounter according to the present invention, the tape can be adhered to the wafers of various sizes in a close contact state without replacing the wafer support table. By using the wafer tape mounter of the present invention, it is not necessary to replace the wafer supporting tape according to the size of the wafer as in the conventional case, so that the work efficiency of the wafer dicing operation can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施例に係るウェーハ・テープ・マウ
ンタのウェーハ支持テーブルを示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a wafer support table of a wafer tape mounter according to an embodiment of the present invention.

【図2】図2(a)及び(b)は、それぞれウェーハ支
持テーブルの縦断面図及びウェーハ支持テーブルとテー
プ貼着手段を示す斜視図である。
2 (a) and 2 (b) are a longitudinal sectional view of a wafer supporting table and a perspective view showing a wafer supporting table and a tape adhering means, respectively.

【図3】図3(a)及び(b)は、それぞれ6インチの
ウェーハにテープを貼着する工程を示す縦断面図及びウ
ェーハ支持テーブルとテープ貼着手段を示す斜視図であ
る。
3 (a) and 3 (b) are a longitudinal sectional view showing a step of attaching a tape to a 6-inch wafer and a perspective view showing a wafer supporting table and a tape attaching means, respectively.

【図4】図4(a)及び(b)は、それぞれ従来のウェ
ーハ・テープ・マウンタのウェーハ支持テーブル及びテ
ープ貼着手段を示す斜視図である。
FIG. 4 (a) and FIG. 4 (b) are perspective views showing a wafer supporting table and a tape attaching means of a conventional wafer tape mounter, respectively.

【図5】図5(a)及び(b)は、それぞれ図4に示す
ウェーハ支持テーブルの縦断面図である。
5 (a) and 5 (b) are vertical sectional views of the wafer support table shown in FIG. 4, respectively.

【図6】テープを貼着したウェーハを回転ブレードで切
断する工程を示す斜視図である。
FIG. 6 is a perspective view showing a step of cutting a wafer having a tape attached thereto with a rotary blade.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

W1 8インチウェーハ W2 6インチウェーハ T テープ 10 ウェーハ・テープ・マウンタ 12 外側ウェーハ支持テーブル 14 内側ウェーハ支持テーブル 16 外側テーブル基板 18 外側支持部 20 内側テーブル基板 22 内側支持部 24 外側ウェーハ吸着面 26 開口 28 吸引通路 30 外側底壁 32 内側底壁 34 環状開口 36 ボス部 38 エア通路 40 加圧室 42 内側ウェーハ吸着面 44 開口 46 吸引通路 48 貫通孔 50 ローラ W1 8 inch wafer W2 6 inch wafer T tape 10 wafer tape mounter 12 outer wafer supporting table 14 inner wafer supporting table 16 outer table substrate 18 outer supporting portion 20 inner table substrate 22 inner supporting portion 24 outer wafer adsorbing surface 26 opening 28 Suction passage 30 Outer bottom wall 32 Inner bottom wall 34 Annular opening 36 Boss portion 38 Air passage 40 Pressurizing chamber 42 Inner wafer suction surface 44 Opening 46 Suction passage 48 Through hole 50 Roller

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 筒状の支持部を備え、その上面に備えた
ウェーハ吸着手段によりウェーハを吸着保持すると共に
支持部内側に加圧空気を導入してウェーハを外方に押圧
するようにしたウェーハ支持テーブルと、ウェーハ支持
テーブルに保持されたウェーハにシート状のテープを貼
着するテープ貼着手段とを有するウェーハ・テープ・マ
ウンタにおいて、 ウェーハの大小に合わせて互いに異なる径寸法を有し、
かつ多重同心状に配置され、上下に相対的に変位可能な
ように形成された複数のウェーハ支持テーブルと、各ウ
ェーハ支持テーブルを個別に昇降させるテーブル昇降手
段とを備え、 各ウェーハ支持テーブルは、そのウェーハ支持テーブル
の径寸法に対応する大きさの支持部を有し、ウェーハを
吸着可能な作動位置とウェーハから離間する退避位置と
の間をテーブル昇降手段により選択的に昇降することを
特徴とするウェーハ・テープ・マウンタ。
1. A wafer provided with a cylindrical support part, wherein a wafer adsorbing means provided on an upper surface of the support part adsorbs and holds the wafer and pressurizes air inside the support part to press the wafer outward. In a wafer tape mounter having a support table and a tape adhering means for adhering a sheet-shaped tape to the wafer held on the wafer support table, the wafer tape mounter has different diameters according to the size of the wafer,
And multiple concentrically arranged, a plurality of wafer support table formed to be relatively displaceable vertically, and a table elevating means for individually elevating each wafer support table, each wafer support table, The wafer supporting table has a supporting portion having a size corresponding to the diameter of the wafer supporting table, and selectively moves up and down between the operating position capable of sucking the wafer and the retracted position separated from the wafer by the table elevating means. Wafer tape mounter.
【請求項2】 ウェーハ支持テーブルが、大小2個のウ
ェーハ支持テーブルから構成され、 小さい方のウェーハ支持テーブルが、ウェーハを吸着可
能な作動位置とウェーハから離間する退避位置との間を
テーブル昇降手段により選択的に昇降することを特徴と
する請求項1に記載のウェーハ・テープ・マウンタ。
2. A wafer supporting table is composed of two large and small wafer supporting tables, and the smaller wafer supporting table moves between a working position capable of sucking a wafer and a retracted position separated from the wafer. The wafer tape mounter according to claim 1, wherein the wafer tape mounter is selectively moved up and down by means of.
JP35316893A 1993-12-29 1993-12-29 Wafer tape mounter Pending JPH07201957A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35316893A JPH07201957A (en) 1993-12-29 1993-12-29 Wafer tape mounter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35316893A JPH07201957A (en) 1993-12-29 1993-12-29 Wafer tape mounter

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07201957A true JPH07201957A (en) 1995-08-04

Family

ID=18429024

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP35316893A Pending JPH07201957A (en) 1993-12-29 1993-12-29 Wafer tape mounter

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07201957A (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999050891A1 (en) * 1998-03-30 1999-10-07 Progressive System Technologies, Inc. A programmable substrate support for a substrate system
JP2008034709A (en) * 2006-07-31 2008-02-14 Nitto Denko Corp Method for sticking adhesive tape to semiconductor wafer, and method for detaching protective tape from semiconductor wafer
CN101916739A (en) * 2010-07-13 2010-12-15 上海技美电子科技有限公司 Wafer carrying device
JP2014225535A (en) * 2013-05-15 2014-12-04 株式会社ディスコ Method for cutting work-piece
WO2022239570A1 (en) * 2021-05-14 2022-11-17 ローム株式会社 Support stage, support device, and method for manufacturing semiconductor device

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999050891A1 (en) * 1998-03-30 1999-10-07 Progressive System Technologies, Inc. A programmable substrate support for a substrate system
US6077026A (en) * 1998-03-30 2000-06-20 Progressive System Technologies, Inc. Programmable substrate support for a substrate positioning system
JP2008034709A (en) * 2006-07-31 2008-02-14 Nitto Denko Corp Method for sticking adhesive tape to semiconductor wafer, and method for detaching protective tape from semiconductor wafer
JP4641984B2 (en) * 2006-07-31 2011-03-02 日東電工株式会社 Adhesive tape affixing method to semiconductor wafer and protective tape peeling method from semiconductor wafer
CN101916739A (en) * 2010-07-13 2010-12-15 上海技美电子科技有限公司 Wafer carrying device
JP2014225535A (en) * 2013-05-15 2014-12-04 株式会社ディスコ Method for cutting work-piece
WO2022239570A1 (en) * 2021-05-14 2022-11-17 ローム株式会社 Support stage, support device, and method for manufacturing semiconductor device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20070293022A1 (en) Method of and apparatus for detaching semiconductor chips from a tape
JP2005311176A (en) Sucking equipment
KR20030045653A (en) Suction holding device
KR20000035283A (en) Sample separating apparatus and method, and substrate manufacturing method
KR20190012112A (en) Device for picking up semiconductor chip, device and method for mounting semiconductor chip
JP2007142267A (en) Method for extracting object to be processed, program storage medium, and placing mechanism
JP2012216606A (en) Substrate transfer method and substrate transfer device
JP4797027B2 (en) Substrate body sticking apparatus and substrate body handling method
JPH07201957A (en) Wafer tape mounter
JP5329916B2 (en) Semiconductor wafer support
JP3445243B2 (en) Apparatus and method for manipulating a substrate
JPS6298638A (en) Die-bonding device
CN209980012U (en) Movable vacuum substrate clamp for photoetching
JPS63131535A (en) Substrate supporting device
JP2011077098A (en) Die bonder device
JP3245581B2 (en) Pellet adsorption mechanism
JPH1133997A (en) Punch die
JP2008041761A (en) Separation method after treating object to be treated and installation device
JP4676247B2 (en) Tape applicator
JP7109844B1 (en) Transfer device
CN219800824U (en) Strong magnetic adsorption type thimble device
JP2006019566A (en) Semiconductor substrate adsorption hand and its operation method
JPH0217480Y2 (en)
JP2565673Y2 (en) Wafer holding device
WO2021240840A1 (en) Pickup device and pickup method