JPH07198477A - レーザセンサ - Google Patents

レーザセンサ

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JPH07198477A
JPH07198477A JP33567893A JP33567893A JPH07198477A JP H07198477 A JPH07198477 A JP H07198477A JP 33567893 A JP33567893 A JP 33567893A JP 33567893 A JP33567893 A JP 33567893A JP H07198477 A JPH07198477 A JP H07198477A
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laser
prism mirror
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laser beams
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Shigeo Usuda
茂男 臼田
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NEC Corp
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ピッチの狭い多数のポイントをセンシングす
るレーザセンサを提供する。 【構成】 複数のレーザ発振器1、2、3と、複数の設
置角度の異なるミラーからなり、複数の前記レーザ発振
器1、2、3から出射された複数のレーザ光5、6、7
をその光軸を一平面上に並べかつ、互いの光軸の間隔を
所定のピッチ13にするように反射するプリズムミラー
4と、前記プリズムミラー4により反射された複数の前
記レーザ光5、6、7を検知する検知器9、10、11
とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プリズムミラーを用い
て間隔の狭い多数のポイントをセンシングするレーザセ
ンサに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のセンサは、図5に示すよ
うに、レーザ発振器1、2、3を並列に配置し、前記レ
ーザ発振器1、2、3から出射されるレーザ光5、6、
7を検知する検知器9、10、11も同様に並列に配置
していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この従来のセンサにお
いては、多数のポイントを検知するために設置される複
数のレーザ発振器を並列に配置するために、それぞれの
レーザ発振器から出射されるレーザ光の互いの光軸間隔
は、設置するレーザ発振器の装置の大きさにより限定さ
れてしまい、所望の光軸間隔が得られず、間隔の狭い多
数のポイントを検知することができなかった。
【0004】例えば、図4に示すように、ICの前記レ
ーザ光の光軸方向に対し回転方向のズレを検知する場
合、3本のレーザ光をそのICの上面に等間隔で通過さ
せ、各レーザ光が遮断されるか否かでそのICのズレを
検知する。つまり、ICの幅Aの間に3本のレーザ光を
通過させなければならない。しかしながら、この従来の
レーザセンサでは、レーザ発振器の大きさによる制限の
ためにこのような狭ピッチのセンシングはできなかっ
た。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに、本発明のレーザセンサは、複数のレーザ発振器
と、複数の設置角度の異なるミラーからなり、複数の前
記レーザ発振器から出射された複数のレーザ光をその光
軸を一平面上に並べかつ、互いの光軸の間隔を所定のピ
ッチにするように反射するプリズムミラーと、前記プリ
ズムミラーにより反射された複数の前記レーザ光を検知
する検知器とを有する。
【0006】
【実施例】次に、本発明のレーザセンサの一実施例につ
いて図面を参照して詳細に説明する。
【0007】図1は、本発明の一実施例を示す構成図で
あり、レーザ発振器1、2、3は、所定の場所に設置さ
れ、その光軸径が1mm程度であるレーザ光5、6、7
をプリズムミラー4に向けて出力する。前記プリズムミ
ラー4は、複数のミラーからなる多面体であり、前記レ
ーザ発振器1、2、3から出力されたレーザ光5、6、
7を測定対象物12の方向に異なるミラーにおいて反射
し、そのレーザ光5、6、7の同一平面上における光軸
のピッチ13が所定の間隔となるようにする。プリズム
ミラー8は、前記プリズム4と同様に複数のミラーから
なる多面体であり、前記プリズム4において反射され、
前記測定対象物12の上面を通過したレーザ光5、6、
7を所定の方向に反射する。検出器9、10、11は、
前記プリズムミラー8において反射されたレーザ光5、
6、7を検出する。
【0008】次に、本発明のレーザセンサの動作につい
て図1を用いて説明する。
【0009】レーザ発振器1、2、3から出射されたレ
ーザ光5、6、7がプリズムミラー4において同一平面
上におけるそれぞれの光軸のピッチが所定の間隔となる
ように反射される。そのレーザ光5、6、7はプリズム
ミラー8においてそれぞれ所定の方向に反射され、その
反射されたレーザ光の進行方向に配置された検知器9、
10、11において検知される。
【0010】ここで、前記測定対象物12が正常な位置
に配置されていれば、前記レーザ光5、6、7は全て前
記検知器9、10、11において検知される。ところ
が、前記測定対象物12の位置が僅かにずれることによ
って、前記レーザ光5、6、7のうちのいずれかまたは
全てのレーザ光が遮断され、その結果、遮断されたレー
ザ光5または6または7は前記検知器9または10また
は11において検知されず、その結果から、前記測定対
象物12の位置がずれていることが検知される。
【0011】上記実施例においては、3つのレーザ発振
器を用いた3つポイントの検知を行う場合について説明
したが、プリズムミラーを構成するミラーの設置角度お
よびその枚数を変えれば、レーザ発振器の大きさに左右
されず、任意の数のポイントの検知を行うことができ
る。
【0012】次に、本発明のレーザセンサをIC成形装
置に適用した一実施例について図1、図2を用いて説明
する。
【0013】図2は、本発明のレーザセンサをIC成形
装置に適用した場合の一実施例を示す構成図であり、レ
ーザ発振器1、2、3、プリズムミラー4、プリズムミ
ラー8および検知器9、10、11を有するレーザセン
サの構成は前述の通りであるので重複部分の説明は省略
する。
【0014】吸着部17は、図示しない収納機構に収納
されたIC18を吸着し取り出す。前記吸着部が設置さ
れた搬送ハンド16は吸着された前記IC18を下金型
15上に載置する。上金型14は、上下に駆動し、前記
IC18を載置した前記下金型15と接合することでそ
のICを成形する。ここで、前記レーザセンサは、前記
下金型15上に載置された前記ICの位置のズレを検知
する。警報部19は検知部9または10または11にお
ける検知に基づいて警報を発する。
【0015】次に、本発明のレーザセンサをIC成形装
置に適用した一実施例の動作について、図1、図2、図
3および図4を用いて説明する。
【0016】まず、図示しない収納機構に収納されるI
C18を吸着部17で吸着することにより取り出し、搬
送ハンド16を駆動させて、この吸着されたIC18を
下金型15上に載置する。
【0017】次に、レーザ発振器1、2、3から出射さ
れたレーザ光5、6、7は、プリズムミラー4により反
射されて、前記下金型15上に載置されたIC18の上
面を通過する。この際、前記IC18の位置がずれてい
る場合は、このレーザ光5または6または7が遮断され
る。ここで、図3は、測定対象物である前記IC18の
位置がずれる場合の状態を示し、図4は、前記IC18
と前記レーザ光5、6、7との位置関係を示す。図3に
示すような3つのICのズレの状態を検知するために
は、図4に示すようにIC18の幅Aの中に3本のレー
ザ光を通過させなければならず、例えば、図3(a)に
示すようにずれている場合は、レーザ光5が遮断され、
検知器9においてこのレーザ光5は検知されない。同様
に図3(c)の場合は、レーザ光7が遮断され、検知器
11においてこのレーザ光7は検知されない。
【0018】次に、前記IC18の位置がずれていない
場合は、上金型14が下方に駆動し、前記下金型15と
接合する。前記IC18は、前記上金型14と下金型1
5とが接合することにより成形される。
【0019】また、前記IC18の位置がずれており、
前記レーザ光5または6または7が遮断されたことによ
り、検知器9、10、11のいずれかがレーザ光を検知
できなかった場合、警報部19は前記IC18の位置が
ずれている旨の警報を発する。
【0020】ここで、前記IC18の位置がずれている
と検知された場合に、前記上金型の駆動を停止させても
よい。
【0021】上記実施例においては、本発明のレーザセ
ンサをIC成形装置に適用した場合について説明した
が、本発明のレーザセンサの適用例はこの限りではな
く、微少な測定対象物がレーザ光の光軸に対して回転方
向の位置ずれを検知する場合に適用すると効果的であ
る。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のレーザセ
ンサは、プリズムミラーを介した反射光を用いて測定対
象物を検知するために、そのレーザセンサの大きさと関
係なく間隔の狭い多数のポイントを検知することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成を示す図。
【図2】本発明のレーザセンサを適用したIC成形装置
の一実施例の構成をを示す図。
【図3】測定対象物の一実施例を示す図。
【図4】ICのズレの状態を示す図。
【図5】従来の狭ピッチで多数の点をセンシングするセ
ンサの一実施例の構成を示す図。
【符号の説明】
1、2、3 レーザ発振器 4、8 プリズムミラー 5、6、7 レーザ光 9、10、11 検出器 12 測定対象物 13 ピッチ 14 上金型 15 下金型 16 搬送ハンド 17 吸着部 18 IC 19 警報部
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G01V 8/14 8/20 H01L 21/68 F 23/50 B H01S 3/00 F

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のレーザ発振器と、 複数の設置角度の異なるミラーからなり、複数の前記レ
    ーザ発振器から出射された複数のレーザ光をその光軸を
    一平面上に並べかつ、互いの光軸の間隔を所定のピッチ
    にするように反射する第1のプリズムミラーと、 前記第1のプリズムミラーにより反射された複数の前記
    レーザ光を検知する検知器とを有することを特徴とする
    レーザセンサ。
  2. 【請求項2】 複数の設置角度の異なるミラーからな
    り、前記第1のプリズムミラーにより反射された複数の
    前記レーザ光を所定の方向に反射する第2のプリズムミ
    ラーを有し、 前記検知部は、前記第2のプリズムミラーにより所定の
    方向に反射された複数の前記レーザ光の進行方向にそれ
    ぞれ設置され、それぞれのレーザ光を検知することを特
    徴とする前記請求項1に記載のレーザセンサ。
  3. 【請求項3】 前記レーザ発振器は、前記第1のプリズ
    ムミラーにより反射されてなる複数の前記レーザ光同士
    の光軸の間隔ピッチよりも、充分に広い間隔で設置され
    ることを特徴とする前記請求項1または2に記載のレー
    ザセンサ。
  4. 【請求項4】 前記レーザ発振器より出射されるレーザ
    光の光軸径は1mm以下であることを特徴とする前記請
    求項1または2または3に記載のレーザセンサ。
  5. 【請求項5】 接合することによりICを成形する上金
    型および下金型と、 前記ICを前記下金型上に載置する搬送手段と、 前記下金型上に載置されたICのその光軸方向に対し回
    転する方向へのズレを検知する前記請求項1または2ま
    たは3または4に記載のレーザセンサと、 前記レーザセンサにより前記下金型上に載置されたIC
    がずれていると検知された場合に警報を発する警報手段
    とを有することを特徴とするIC成形装置。
  6. 【請求項6】 前記請求項4に記載のレーザセンサによ
    り前記下金型上に載置されたICがずれていると検知さ
    れた場合に、前記上金型の駆動を停止することを特徴と
    する前記請求項5に記載のIC成形装置。
JP33567893A 1993-12-28 1993-12-28 レーザセンサ Expired - Lifetime JP2655478B2 (ja)

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JPH07198477A true JPH07198477A (ja) 1995-08-01
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220129094A (ko) * 2020-02-12 2022-09-22 크나프 아게 적어도 2개의 반사광 배리어 장치를 포함하는 광 배리어 시스템

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220129094A (ko) * 2020-02-12 2022-09-22 크나프 아게 적어도 2개의 반사광 배리어 장치를 포함하는 광 배리어 시스템

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