JPH07195035A - 供給装置 - Google Patents

供給装置

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JPH07195035A
JPH07195035A JP1208194A JP1208194A JPH07195035A JP H07195035 A JPH07195035 A JP H07195035A JP 1208194 A JP1208194 A JP 1208194A JP 1208194 A JP1208194 A JP 1208194A JP H07195035 A JPH07195035 A JP H07195035A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】粒体の選別供給を行うに際し、粒体より発生す
る粉塵を効果的に除去し、しかも選別された不良品粒体
によって供給処理が妨げられることなく連続して処理が
可能な供給装置を提供すること。 【構成】良品粒体と不良品粒体とを選別する選別板、該
選別板に粒体を進ませ更に良品粒体を次工程に供給する
フィード機構、粒体より発生する粉塵を空気流を用いて
除去する粉塵排除機構、粒体搬送路全体を実質的に密封
するカバーとからなる供給装置において、選別板によっ
て選別された不良品粒体を該供給装置外へ間歇的に排出
する不良品排出機構を設けたことを特徴とする供給装
置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、錠剤等の粒体の選別を
行なう粒体選別装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ホッパーに大量に貯留された錠剤
などの粒体を定量的にかつ整列して外観検査装置や包装
機等に送るには、振動フィーダに取り付けた皿状のトラ
フの上に前記ホッパーより粒体を落とし、振動を加えな
がら直進整列させて外観検査装置等へ供給していた。
【0003】例えば、このような供給機構として実開昭
63−197685号公報には、良品粒体より大きい穴
と小さな穴を空けた2枚のパンチング板を用いるものが
記載され、また実開平2−1284号公報には該供給機
構に粒体搬送時発生する粉塵を吸引排除する機構を設け
ることが記載されている。
【0004】図2は、実開平2−1284号公報に記載
された供給装置の説明図である。該供給装置は、良品粒
体が通過可能な形状寸法の孔を有する第1のパンチング
板1と、この第1のパンチング板1の下方に配置され、
前記良品粒体が通過不可能な形状寸法の孔を有する第2
のパンチング板2と、これら第1のパンチング板1及び
第2のパンチング板2を振動させて前記良品粒体を第1
のパンチング板1から第2のパンチング板2へと進ませ
る振動フィーダ3を有する。また、第2のパンチング板
2の下部に設けた通風性仕切り板7と、第2のパンチン
グ板2の粒体搬送方向後方に設けたエアー吹き出しノズ
ル8と、前記通風性仕切り板7の下部に設けたエアー吸
引口9によって粉塵排除機構が構成されている。更に、
粒体搬送路全体はトラフカバー11で覆われ、良品粒体
出口には高さ調節ゲート10を設けたことにより、装置
全体がほぼ完全な密封構造となっている。
【0005】かかる供給装置において、粒体4は粒体貯
留槽6より振動フィーダ3の上面にある振動トラフ5上
に落とされ、第1のパンチング板1へと進む。そして、
良品粒体やそれよりも粒径の小さな粒体は孔を通って下
方の第2のパンチング板2に落とされ、粒径の大きな不
良品粒体が第1のパンチング板1上に残される。第2の
パンチング板2上に落とされた粒体のうち径の小さな不
良品粒体は、更に通風性仕切り板7に落下し、良品粒体
のみが高さ調節ゲート10を経て次工程に供給される。
更に、粒体4の表面に付着した粉塵は、第2のパンチン
グ板2の周囲を還流する空気流により粒体4より除去さ
れてエアー吸引口9から排除される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ここで、実開平2−1
284号に記載された粉塵排除機構の効果を最大限に発
揮せしめるためには、前記の如く供給装置全体を密封す
ることが好ましい。しかしながら、装置全体がトラフカ
バー11で覆われた密封系においては系内に溜まってい
く不良品の除去が問題になる。
【0007】すなはち図2において、第1のパンチング
板1上に残された粒径の大きな不良品粒体が増えてゆく
と該不良品粒体が第1のパンチング板1を塞ぎ供給を続
けることができなくなる。さらに、このように貯留した
不良品粒体を取り除こうとすれば、装置全体がトラフカ
バ11に覆われているため、該トラフカバー11を一々
取り外さなければならず作業が煩雑となる。
【0008】本発明はかかる問題点を解決するものであ
って、その目的は、粒体の選別供給を行うに際し、粒体
より発生する粉塵を効果的に除去し、しかも選別された
不良品粒体によって供給処理が妨げられることなく連続
して処理が可能な供給装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、良品粒体と不
良品粒体とを選別する選別板、該選別板に粒体を進ませ
更に良品粒体を次工程に供給するフィード機構、粒体よ
り発生する粉塵を空気流を用いて除去する粉塵排除機
構、粒体搬送路全体を実質的に密封するカバーとからな
る供給装置において、選別板によって選別された不良品
粒体を該供給装置外へ間歇的に排出する不良品排出機構
を設けたことを特徴とする供給装置である。
【0010】
【作用】本発明では、フィード機構によって選別板へと
供給された粒体は、ここで良品粒体と不良品粒体とに選
別され、良品粒体は本供給装置から次工程へと供給され
る。また、該供給装置内部で発生した粉塵は粉塵排除機
構から発生した空気流によって該供給装置外へ排出され
る。そして、これらの装置はカバーによって実質的に密
封されているため、外部より粉塵等が混入することはな
く、更に粉塵排除機構によって形成された空気流も安定
したものとなる。
【0011】一方、選別板で選別され該供給装置内部に
残留した不良品粒体は、不良品排除機構によって間歇的
に該供給装置の外部に排出されるため、密封構造を崩す
ことなく、選別供給が連続して行われる。
【0012】
【実施例】以下、図面を用いて本発明を具体的に説明す
る。図1は本発明の供給装置の一実施例を示す説明図で
あり、前述した実開平2−1284号の供給装置と同一
の部分については同じ名称、符号を付している。
【0013】本実施例の供給装置は、良品粒体と不良品
粒体とを選別する選別板として、第1のパンチング板
1、第2のパンチング板2の2枚のパンチング板を用い
ており、前述の如く第1のパンチング板1には良品粒体
が通過可能な孔が、第2のパンチング板2には良品粒体
が通過不可能な多数の孔が夫々空けられている。そし
て、これらパンチング板はフィード機構である振動フィ
ーダ3によって振動せしめられ、粒体4を第1のパンチ
ング板1から第2のパンチング板2へと進ませ、良品粒
体を本供給装置から次工程へと供給する。
【0014】また、第2のパンチング板2は第1のパン
チング板1からの離隔距離が粒体搬送方向に沿って順次
大きくなるように傾斜して取り付けられており、これに
より第2のパンチング板2の孔径に近い大きさの不良品
粒体が落下せず孔にたまることが避けられる。更に、第
1のパンチング板1から落下した粒体が第2のパンチン
グ板2に接地する付近には、落下した粒体が第2のパン
チング板2上で跳ね返ることを防止するためゴムや軟質
樹脂を用いた柔軟なシート状物からなる垂れ幕12が設
けられている。
【0015】一方、本実施例の供給装置には、実開平2
−1284号の供給装置と同様に空気流を用いて粉塵を
除去する粉塵排除機構が設けられ、第2のパンチング板
2の粒体搬送方向後方に配置したエアー吹き出しノズル
8から噴出する空気流により、粉塵は前方に吹き流さ
れ、ついで第2のパンチング板2の下方に配置されたエ
アー吸引口9から吸引排除される。そして、以上の如き
粒体搬送路全体はトラフカバー11によって覆われ、実
質的に密封構造となっている。
【0016】さて、本発明において重要な点は、第1の
パンチング板1により選別された不良品粒体を本供給装
置の外部に排出する不良品排出機構にある。本実施例に
おいて、該不良品排出機構は、センサ21、エアノズル
22、エアノズル22に接続した回収容器23、エアノ
ズル22と回収容器23とを仕切るシャッター24、該
シャッター24をセンサ21の出力により開閉せしめる
シャッター制御部25からなり、センサ21及びエアノ
ズル22は、第1のパンチング板1に対向してトラフカ
バー11に設けられ、回収容器23はトラフカバー11
によって密封された部分の外部に設けられている。
【0017】センサ21は、光学式、静電容量式等のも
ので、その近傍に粒体が存在することを検知できるもの
であれば限定はされない。また、回収容器23は、その
一方がシャッター24を経てエアノズル22に接続さ
れ、他方が常時作動している吸引装置(図示しない)に
接続された密閉容器であり、シャッター24は、これを
開いた際、エアノズル22、回収容器23、吸引装置が
一連に繋がりエアノズル22の先端より粒体を吸引して
回収容器23内に格納する作用を生ぜしめるものであ
る。
【0018】次に該シャッター24の動作信号を発生す
るシャッター制御部25について説明する。図3はシャ
ッター制御部25の一例を示すブッロク図である。同図
に示す如く、本実施例のシャッター制御部25は入力信
号の立ち上がり及び立ち下がりを検出してパルスを発生
する第1微分回路251及び第2微分回路252、第1
微分回路251の出力によりセット、第2微分回路25
2の出力によりリセットされる時定数T1の第1タイマ
253、第1タイマ253の出力の立ち下がりを検出し
てパルスを発生する第3微分回路254、第3微分回路
254の出力と入力信号との論理和によってセットされ
る時定数T2の第2タイマ255とからなる。
【0019】図4は該シャッター制御部25内の各信号
を示すタイムチャートである。同図に示す如く、センサ
21により粒体が検知されるとパルスがシャッター制御
部25に入力される。このパルスの立ち上がりによって
第1タイマ253がセットされ設定時間T1だけカウン
トを行う、一方該パルスの立ち下がりによって同タイマ
はリセットされる。ここで、センサ出力Aあるいはセン
サ出力Bの如く、タイマの設定時間T1よりも出力信号
長が短い場合、すなはち粒体がセンサ直下を移動してい
る状態では出力信号は発生しない。しかし、センサ出力
Cの如くタイマの所定時間T1よりも出力信号長の方が
長い場合、すなはち粒体がセンサ直下に滞っている状態
では所定時間T2の出力信号が発生する。よって、該信
号が出力されている間シャッター24を作動させて開口
せしめれば良い。
【0020】
【発明の効果】本発明の供給装置によれば、粒体の選別
を行いつつ供給を行うに際し、粒体より発生する粉塵や
外部から混入する粉塵が粒体に付着することを防止する
ことにより安定な選別供給が可能であり、更に選別され
た不良品粒体を取り除くことが不要であるため、連続し
て選別供給が可能である。したがって、本発明の供給装
置によれば、安定して連続した選別供給ができ、自動化
検査装置等の供給装置として好適である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の供給装置の一実施例を示す説明図であ
る。
【図2】従来の供給装置を示す説明図である。
【図3】シャッター制御部の一例を示すブッロク図であ
る。
【図4】シャッター制御部内の各信号を示すタイムチャ
ートである。
【符号の説明】
1 第1のパンチング板 2 第1のパンチング板 3 振動フィーダ 21 センサ 22 エアノズル 23 回収容器 24 シャッター 25 シャッター制御部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 良品粒体と不良品粒体とを選別する選別
    板、該選別板に粒体を進ませ更に良品粒体を次工程に供
    給するフィード機構、粒体より発生する粉塵を空気流を
    用いて除去する粉塵排除機構、粒体搬送路全体を実質的
    に密封するカバーとからなる供給装置において、選別板
    によって選別された不良品粒体を該供給装置外へ間歇的
    に排出する不良品排出機構を設けたことを特徴とする供
    給装置。
JP1208194A 1994-01-06 1994-01-06 供給装置 Expired - Lifetime JP2848776B2 (ja)

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