JPH07192335A - 光磁気記録媒体およびその製造方法 - Google Patents

光磁気記録媒体およびその製造方法

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JPH07192335A
JPH07192335A JP5331362A JP33136293A JPH07192335A JP H07192335 A JPH07192335 A JP H07192335A JP 5331362 A JP5331362 A JP 5331362A JP 33136293 A JP33136293 A JP 33136293A JP H07192335 A JPH07192335 A JP H07192335A
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JP
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magneto
recording medium
optical recording
silicon nitride
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JP5331362A
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Chikayasu Fukushima
慎泰 福島
Yoshimasa Shimizu
佳昌 清水
Kazuichi Yamamura
和市 山村
Makoto Saito
誠 斉藤
Hiroki Yoshikawa
博樹 吉川
Toshimi Kobayashi
利美 小林
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Shin Etsu Chemical Co Ltd
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Shin Etsu Chemical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】本発明は、光磁気記録媒体において、プラスチ
ック基板面と第一窒化珪素誘電体層面間剥離強度が適切
で、耐久性としてのBER が小さく、チルト等の機械的特
性に優れた光磁気記録媒体を提供する。 【構成】プラスチック基板上に少なくとも該基板側から
第一窒化けい素誘電体層と記録層から成る光磁気記録媒
体の各層を単一真空槽内で対向式スパッタによって成膜
するスパッタ装置において、第一窒化けい素誘電体層の
ターゲットと該基板間の距離を30mm以上、75mm以下に設
定し、その成膜速度を10Å/sec. 以上、150 Å/sec. 以
下とすることを特徴とする光磁気記録媒体の製造方法、
及び前記製造方法で作製された光磁気記録媒体の複層成
膜面の第一窒化けい素誘電体層面と基板面間の剥離強度
がテープ剥離試験において50g/cm以上、400g/cm 以下で
ある光磁気記録媒体。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光磁気記録媒体および
その製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光磁気記録媒体は、一般に基板としてポ
リカーボネート(PC)等のプラスチックが用いられてお
り、通常その上に第一誘電体層、記録層、第二誘電体
層、反射層の順に、DCまたはRFスバッタリング法によっ
て成膜される。誘電体層の材質はは通常Si N(窒化け
い素)で、Si NスパッタまたはSi 反応性スパッタに
よって成膜される。従来、これら各層の付着強度を大き
くするには、成膜する前にプラスチック基板に逆スバッ
タ或はイオン照射(特開平 03-268249号参照)を行なう
という方法があり、これによって基板表面に微視的な凹
凸ができ付着力が増加する。また別法として基板の表面
を酸素プラズマで処理をすると、基板と成膜面間に酸素
結合した中間層ができ付着力が増加する。更に別法とし
ては、基板を加熱し薄膜と基板間で拡散を起こさせ付着
力を増加するという方法がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の様な方
法ではいずれも工程数が多くなるため生産性が低下し、
装置が複雑になるという欠点があった。また、剥離強度
が強くなれば耐久試験におけるBER (ビットエラーレー
トの略称)が少なくなるという結果が特開平03-268249
号等に記載されているが、これらはイオン照射や、剥離
強度を向上する等の何等かの措置を取らねばならなかっ
た。また、剥離強度があまりにも強過ぎると、基板が薄
膜の反りによって曲げられ、チルト等機械特性の劣化の
原因となるためこれを防止する必要があった。本発明
は、適度の剥離強度を持ち、機械特性に優れた光磁気記
録媒体と生産性が高い製造方法を提供しようとするもの
である。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明者等は、このよう
な問題点を解決するために、基板面と直接接触する第一
窒化けい素誘電体層の剥離強度(接着強度ともいう)を
適切な値とする成膜条件を詳細に検討して本発明を完成
したもので、その要旨は、プラスチック基板上に少なく
とも該基板側から第一窒化けい素誘電体層と記録層から
成る光磁気記録媒体の各層を単一真空槽内で対向式スパ
ッタによって成膜するスパッタ装置において、第一窒化
けい素誘電体層のターゲットと該基板間の距離を30mm以
上、75mm以下に設定し、その成膜速度を10Å/sec. 以
上、150 Å/sec. 以下とすることを特徴とする光磁気記
録媒体の製造方法、及び該製造方法で作製された光磁気
記録媒体の成膜面と基板面間の剥離強度がテープ剥離試
験において50g/cm以上、400g/cm 以下である光磁気記録
媒体にある。
【0005】以下、本発明を詳細に説明する。
【作用】本発明は光磁気記録媒体の製造方法及びそれに
よって作製された光磁気記録媒体に関するもので、プラ
スチック基板上に少なくとも基板側から第一窒化けい素
誘電体層と記録層が形成されている光磁気記録媒体にお
いて、各層が単一真空槽内で成膜される薄膜形成装置に
おいて、各層は該基板上に対向式スパッタによって成膜
されるが、その時の第一窒化けい素誘電体層の原料とな
る窒化けい素ターゲットと該基板間の距離を30mm以上75
mm以下とし、成膜速度を10Å/sec. 以上、150 Å/sec.
以下とすることによって適切な剥離強度が得られる。こ
の距離が30mm未満では成膜時に放電不良を生じ、 75mm
を越えると充分な成膜速度が得られなくなって剥離強度
が弱くなり適切な剥離強度が得られない。また、成膜速
度が10Å/sec. 未満では剥離強度が弱く、150 Å/sec.
を越えると剥離強度が強くなり適切な剥離強度が得られ
ない。また、成膜速度を上記範囲に制御することによっ
て、[従来の技術]欄で説明したように、適切な剥離強
度にするため、基板表面を粗らすためのイオン照射や、
基板と成膜面で中間相を形成するため基板表面を酸素プ
ラズマで処理したり、基板を加熱する等の工程を短縮で
き、かつそのために組み込まれている装置の構造をなく
し、簡略化することができる。
【0006】本発明における適切な剥離強度とは、プラ
スチック基板面と第一窒化けい素誘電体層面間の剥離強
度がテープ剥離試験において50g/cm以上、400g/cm 以下
の範囲であって、50g/cm未満では接着力が不足し該媒体
を使用中に複層成膜が剥離する恐れがあり、400g/cm を
越えると接着強度が強過ぎて該媒体全体に反りを生じ、
チルト等機械的特性の劣化の原因となる。このようにし
て作製した光磁気記録媒体は、耐久試験においてBER が
少なく、反り、チルト等の機械的特性に優れている。
【0007】
【実施例】次に本発明の実施態様を実施例を挙げて具体
的に説明するが、本発明はこれらに限定されるものでは
ない。 (実施例1〜2、比較例1〜2)PC(ポリカーボネー
ト)製基板にはトラッキンググルーブ付き(86mmφ×1.
2mmt)のものを用いた。このPC基板をディスクキャリア
に装着し、各層が単一真空槽内で成膜される対向式スパ
ッタ装置内にセットし、真空排気した。次いでこのPC基
板上に第一誘電体層として窒化けい素層を 350Å、希土
類と鉄族の非晶質合金からなる記録層を 130Å、第二誘
電体層として窒化けい素層を 300Å、Al 合金からなる
反射層を1000Åの4層をDCまたはRFスパッタリング法に
よって順次成膜した。最後にこの基板の成膜面にダイキ
ュアクリアーSD301 (大日本インキ社製商品名)のオー
バーコート約10μmを施し光磁気記録媒体を作製した。
各層の成膜条件及び第一Si N成膜面と基板面間剥離強
度を表1に示した。次に耐久試験による実施例と比較例
の結果を図2に示す。また機械特性(チルト)と剥離強
度との関係を図3に示す。
【0008】(実施例3)第一及び第二誘電体層の材質
を反応性Si とし、表1に示した成膜条件とした以外は
実施例と同様に成膜処理し、物性を測定して表1に併記
した。
【0009】
【表1】
【0010】(光磁気記録媒体物性測定方法) (1)成膜面と基板間の剥離強度(図1−(a)〜
(d)参照) 図1(a)に示したように基板の成膜面側に片刃の剃刀
で幅 1.8cmの切り込み線5を入れる。この時、各切り込
みの深さは基板にまで及ぶものとする。次にこの幅1.8c
m の切り込みに対して、正確に重なるよう、幅1.8 cmの
メンディングテープ2を貼る。テープは、端部に垂直な
切れ込みを入れた部分から、基板の延長線上に、10cmの
余分な部分を持たせておく(図1(b)参照)。この
時、テープの接着面が基板に密着していない箇所がない
ように注意する。膜を引き剥す際に、膜に切れ込みを入
れたにも拘らず剥離しない場合があるため、膜を剥す部
分の先端は予めテープを何回も往復動させて一部を剥離
しておく。テープに余分を持たせた箇所の先端にクリッ
プ6を止め、そのクリップをオートグラフに取り付け
る。基板はテープがオートグラフの引き剥し方向に対し
て180 度折り曲げられる方向に固定(図1(c),
(d)参照)し、オートグラフを30cm/min. の速度で始
動し薄膜の基板に対する剥離強度を測定する。
【0011】(2)耐久試験:BERを環境温度80℃、
湿度90%で測定した。BERはディスク上の全バイトに
対してエラーのバイトが何個有るかの割合で有り、EXPE
RT EOM-501S 光磁気媒体評価装置によって測定した。
【0012】(3)チルトは、JIS X 6272-1992 の9.4.
9 チルトに準拠し、LM-100A (小野測器社製商品名)光
ディスク機械特性測定装置によって測定した。
【0013】
【発明の効果】本発明によれば、第一窒化けい素誘電体
層面とプラスチック基板面間剥離強度が適切で、耐久性
としてのBER が小さく、機械的特性チルトに優れた光磁
気記録媒体を提供することができ、産業上その利用価値
は極めて高い。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光磁気記録媒体の薄膜剥離強度測定方
法を示す説明図である。 (a)試料の採取位置を示す上面図である。 (b)剥離用テープの貼り付け状態を示す上面図であ
る。 (c)オートグラフの剥離用テープの引っ張り方向を示
す正面図である。 (d)(c)図の側面図である。
【図2】実施例と比較例の耐久試験の経過時間とBER
との関係を示すグラフである。
【図3】本発明の薄膜の剥離強度とチルトとの関係を示
したグラフである。
【符号の説明】
1 光磁気記録媒体 2 メンデ
ィングテープ 3 基板固定治具 4 オート
グラフの引張り軸 5 切り込み線 6 クリッ
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成7年1月31日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0008
【補正方法】変更
【補正内容】
【0008】(実施例3、比較例3ターゲットの材質
を反応性Si とし、真空排気後窒素ガスを導入してスパ
ッタリングし、かつ表1に示した成膜条件とした以外は
実施例と同様に成膜処理し、物性を測定して表1に併
記した。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0009
【補正方法】変更
【補正内容】
【0009】
【表1】
【手続補正3】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図2
【補正方法】変更
【補正内容】
【図2】
【手続補正4】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図3
【補正方法】変更
【補正内容】
【図3】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 斉藤 誠 群馬県安中市磯部2丁目13番1号 信越化 学工業株式会社精密機能材料研究所内 (72)発明者 吉川 博樹 群馬県安中市磯部2丁目13番1号 信越化 学工業株式会社精密機能材料研究所内 (72)発明者 小林 利美 群馬県安中市磯部2丁目13番1号 信越化 学工業株式会社精密機能材料研究所内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】プラスチック基板上に少なくとも該基板側
    から第一窒化けい素誘電体層と記録層から成る光磁気記
    録媒体の各層を単一真空槽内で対向式スパッタによって
    成膜するスパッタ装置において、第一窒化けい素誘電体
    層のターゲットと該基板間の距離を30mm以上、75mm以下
    に設定し、その成膜速度を10Å/sec. 以上、150 Å/se
    c. 以下とすることを特徴とする光磁気記録媒体の製造
    方法。
  2. 【請求項2】請求項1に記載の製造方法で作製された光
    磁気記録媒体の複層成膜面の第一窒化けい素誘電体層面
    と基板面間の剥離強度がテープ剥離試験において50g/cm
    以上、400g/cm 以下である光磁気記録媒体。
JP5331362A 1993-12-27 1993-12-27 光磁気記録媒体およびその製造方法 Pending JPH07192335A (ja)

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