JPH0718226U - 距離限定反射形光電スイッチ - Google Patents

距離限定反射形光電スイッチ

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JPH0718226U
JPH0718226U JP4914993U JP4914993U JPH0718226U JP H0718226 U JPH0718226 U JP H0718226U JP 4914993 U JP4914993 U JP 4914993U JP 4914993 U JP4914993 U JP 4914993U JP H0718226 U JPH0718226 U JP H0718226U
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JP
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light
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photoelectric switch
light projecting
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JP4914993U
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直広 嶋地
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Hokuyo Automatic Co Ltd
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Hokuyo Automatic Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 検出精度のよい距離限定反射形光電スイッチ
11を提供する。 【構成】 投光素子12の前方に投射光を集束させる集
光レンズ13を配置した投光部14と、受光素子15の
前方に入射光を集束させる集光レンズ16を配置した受
光部17とを具備する。投光部14よりの投射光L1は
光軸K1との直交断面が幅狭の略長方形状の投光パター
ンに形成する。受光部17への入射光L2は光軸K2と
の直交断面が幅狭の略長方形状の集光パターンで受光す
る。被検出空間mに幅狭の略長方形状の検知エリアEを
形成する。投射光L1はプリント基板18表面のスリッ
ト孔22やピン穴23にクロスして投射し、プリント基
板18表面よりの反射光を得てこれを検出する。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案は反射形光電スイッチ、特に被検出物体の深さ方向に沿う検出距離範 囲を精度よく検出し、被検出物体の背面側に配置された他の物体から被検出物体 を識別して検出する、所謂距離限定反射形光電スイッチに関する。
【0002】
【従来の技術】
一般に、反射形光電スイッチは、投光素子からの光を被検出空間に投射し、上 記被検出空間を通過する物体による反射光を受光素子で受光することにより被検 出空間での物体の有無を検出するものであり、被検出物体には、例えばコンベア などで搬送される電子部品やプリント基板などのように、その背面側に他の物体 が配置される場合が多く、この場合、距離限定反射形光電スイッチが使用される 。
【0003】 図4は上記距離限定反射形光電スイッチ(以下光電スイッチと称す)1の基本 構成を示すものであり、光電スイッチ1は投光素子2の前方に投光素子2からの 投射光L1を集束させる集光レンズ3を配置した投光部4と、受光素子5の前方 に受光素子5への入射光L2を集束させる集光レンズ6を配置した受光部7とを 具備し、これらの投光部4と受光部7とを所定角度φ持たせてその光軸を被検出 空間mの方向に向けて筐体内に収容した構造である。
【0004】 上記光電スイッチ1は被検出空間mを通過する物体8による反射光が得られる 範囲、つまり光電スイッチ1の検知エリアEは、図中の斜線で示すように、集束 された投射光L1の投射範囲と入射光L2の受光範囲との交差部分となる。
【0005】 この交差部分において、上記光電スイッチ1と対向する被検出物体8の深さ方 向に該被検出物体8に近接して他の物体9が配置される場合、例えば被検出物体 8が電子部品搭載用のプリント基板8である場合、背面側に他の物体9としてプ リント基板8を搬送する搬送装置9があり、光電スイッチ1はプリント基板8と 架台9とを正確に識別しなければならない。このため、投光部4と受光部7とは その光軸を所定角度φ持たせて筐体内に収容し、所定の感度を得ると共に背景よ りの反射の影響を受けないように構成している。
【0006】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、上記従来の距離限定反射形光電スイッチの検出可能範囲は、検 出感度やスイッチの外形寸法上の制約から、通常30±5mmといった検出精度 であり、検出時に背景よりの反射の影響を受けて誤判定することがあった。この ため、例えば30±2mmといった検出精度を高めた光電スイッチの開発が要請 されてきた。
【0007】 この検出精度を高める方法には、例えば、図5に示すように、投、受光素子2 、5の光軸K1、K2のなす角度φ1を広くして、投射光L1の投射範囲と入射 光L2の受光範囲とを大きい角度で交差し、検知エリアEの上、下位置を狭くす る手法が考えられる。この場合、投、受光の集光レンズ3、6および投、受光素 子2、5間のレンズ間ピッチDを大きくする方法と、検出設定距離Cを短くする 方法がある。
【0008】 しかしながら、前者のレンズ間ピッチDを広くする方法は光電スイッチ1の外 形が大きくなる他、投、受光の光学通路の光路が長くなり、光電スイッチ1の感 度低下を招く。また、後者のレンズ間ピッチDを一定にして検出設定距離Cを短 くする方法は、例えば、被検出物体8がプリント基板8の場合、実装部品が搭載 されるために検出設定距離Cは30mm程度は必要であり、光電スイッチ1をプ リント基板8にあまり近付けることが出来ず、何れも採用出来ないものであった 。
【0009】 また、他の方法として、図6に示すように、投、受光の集光レンズ3、6に焦 点距離fの長いレンズを用い、投光素子2の投射光L1や受光素子5への入射光 L2の光の広がりを小さくして、投射光L1の投射範囲と入射光L2の受光範囲 の交差する検知エリアEを小さくする方法がある。しかしながら、このように焦 点距離fの長い光学系にすると、光電スイッチ1の筐体内のスペース上の制約が あり、上記と同様に、光電スイッチ1の外形が大きくなると共に、投、受光の光 学通路の光路が長くなって、光電スイッチ1の感度低下を招く。
【0010】 また、更に他の方法として、図6に点線図示するように、それぞれ投光面、受 光面を小さく形成した投光体2aと受光体5aを用い、これらの投光体2aと受 光体5aを集光レンズ3、6から近い所に配置する方法がある。投光面、受光面 を小さく形成した投光体2a、受光体5aとしては、例えば、投光素子2や受光 素子5の素子自体の寸法を小さく形成したり、あるいはスリット等のカバーを設 けることで形成できる。
【0011】 この方法によれば、スペース上の問題もなく、感度的には素子の光束率をあげ ればよく、前記光電スイッチ1の外形が大きくなる問題や検出設定距離Cの確保 の問題も生じない。しかしながら、このように投光面や受光面を小さく形成した 投光体2aや受光体5aを用いると、投射光のスポット径が小さくなり、検出エ リアEが極めて小さいものとなる。
【0012】 このため、被検出物体8が検出表面にスリット孔やピン穴などを形成したプリ ント基板の場合には、投射光のスポットがプリント基板のスリット孔やピン穴な どに落込んで、被検出物体の位置検出が出来ないといった新たな問題があった。
【0013】 したがって、本考案は上記光電スイッチの検出精度向上における諸問題に鑑み なされたものであり、光電スイッチの筐体サイズを大きくすることなく、また、 表面にスリット孔やピン穴などが形成されたプリント基板などの被検出物体に於 いても、確実に位置検出がなされる光電スイッチを提供することを目的としてい る。
【0014】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本考案の光電スイッチは、 投光素子の前方に投光素子からの投射光を集束させる集光レンズを配置した投 光部と、受光素子の前方に受光素子への入射光を集束させる集光レンズを配置し た受光部とを具備し、前記投光部よりの投射方向に対して受光部の受光方向を所 定角度を持たせ、被検出空間に投射範囲と受光範囲の交差した検知エリアを形成 し、前記検知エリアを通過する物体からの反射光による受光部の受光出力が所定 レベルを越えるか否かによって物体の有無を識別する距離限定反射形光電スイッ チにおいて、 前記投光部より投射される投射光は、その光軸と受光部の光軸を含む平面に直 交する断面が幅狭の略長方形状の投光パターンに形成され、前記受光部へ入射さ れる物体からの反射光は、その光軸と投光部の光軸を含む平面に直交する断面が 幅狭の略長方形状の集光パターンで受光され、前記被検出空間に幅狭の略長方形 状の検知エリアを形成したことを特徴としている。 また、本考案の光電スイッチは、 前記投光素子または、および前記受光素子は単品または複数個整列状に配置さ れ、投光面または、および受光面が略長方形状のパターンに形成されたことを特 徴としている。 また、本考案の光電スイッチは、 前記投光素子または、および受光素子の光学通路は長穴のスリットが配設され 、投光素子の投光面または、および受光素子の受光面が実質的に略長方形状のパ ターンに形成されたことを特徴としている。 また、本考案の光電スイッチは、 被検出物体がスリット孔を形成した搬送されるプリント基板であり、前記略長 方形状の検知エリアがこのスリット孔と直交するように投光部と受光部を配置し たことを特徴としている。
【0015】
【作用】
被検出空間に投射される投射光および受光素子に入射される反射光はそれぞれ 光軸との直交断面が幅狭の略長方形状の投光パターンおよび集光パターンに形成 されており、被検出空間に投射される投射光および受光素子に入射される反射光 はパターンの幅狭方向に指向角の狭い光となり、検出可能な距離範囲が狭くなり 、検出精度が向上する。また、指向角の絞り込みによる受光量の減少はパターン の長さ方向の寸法を適宜長さに設定することで対処でき、感度の裕度を持たせる ことができる。また、被検出空間に幅狭の略長方形状の検知エリアを形成してい るから、表面にスリット孔やピン穴等が形成されたプリント基板のような被検出 物の場合においても、投射光がこれらのスリット孔やピン穴上をクロスするよう に被検出物を配置することで、被検出物表面からの反射光が検出でき、被検出物 が確実に位置検出できる。
【0016】
【実施例】
以下、本考案の実施例を図面を参照しつつ詳述する。
【0017】 図1は本考案に係る光電スイッチ11の斜視図であり、表面に細孔状のスリッ ト孔やピン孔が形成された電子部品実装用のプリント基板等を位置検出するセン サとして使用される。
【0018】 この光電スイッチ11は、前記図4の光電スイッチ1と同様に、投光素子12 の前方に投光素子12からの投射光L1を集束させる集光レンズ13を配置した 投光部14と、受光素子15の前方に受光素子15への入射光L2を集束させる 集光レンズ16を配置した受光部17とを具備し、これらの投光部14と受光部 17の光軸K1、K2を所定角度φ持たせて被検出空間mの方向に向けて筐体内 に収容した構造である。
【0019】 この光電スイッチ11の特徴は、投光素子12と集光レンズ13で構成される 投光部14より被検出空間mに向けて投射される投射光L1を、その光軸K1と 受光部17の光軸K2を含む平面に直交する断面が幅狭の略長方形状となる投光 パターンに形成した点、および被検出物体18で反射され、受光部17の受光素 子15へ入射される入射光L2を、前記投光パターンと同様に、その光軸K2と 投光部14の光軸K1を含む平面に直交する断面が幅狭の略直方形状となる集光 パターンで受光させ、被検出空間mに幅狭の略長方形状の検知エリアEを形成し た点である。
【0020】 したがって、この光電スイッチ11で得られる検知エリアEは、図中の鎖線で 示すように、光軸と直交した断面が幅狭の略長方形状の投光パターンで形成され た投射光L1の投射範囲と、同様に光軸と直交した断面が幅狭の略長方形状の集 光パターンに形成された入射光L2の受光範囲との交差部分であり、被検出空間 m内に幅狭の略長方形状の検知パターンの検知エリアEが形成される。
【0021】 このように構成された光電スイッチ11は被検出空間mに投射される投射光L 1および受光素子15へ入射される入射光L2はそれぞれ光軸と直交した断面が 幅狭の略長方形状のパターンに形成されるから、それぞれパターンの光軸と直交 した幅狭方向で指向角が絞り込まれ、光の広がりが押さえられるため、検出精度 が得られる。また、照射光L1、L2を幅狭のパターンに形成することによる光 量の減少は、パターンの長手方向の長さを適宜の長さに設定することで所定の感 度特性が得られる。
【0022】 次に上記光電スイッチ11の幅狭の略長方形状の投光パターンおよび集光パタ ーンの照射光L1、L2を得る投光部14および受光部17の構成について説明 する。
【0023】 図2は上記投光パターンおよび集光パターンを形成するための投光素子12お よび受光素子15の構成例を示す。同図(a)は丸形または角形(図示せず)の 素子を複数個一列状に並べて配置して形成した投光素子12aおよび受光素子1 5aである。また、同図(b)は素子の発光面または受光面を長方形状に形成し た投光素子12bおよび受光素子15bである。
【0024】 上記構成の投光素子12a、12bは何れも略長方形状の発光面が得られ、被 検出空間mに光軸と直交した断面が幅狭の略長方形状の投光パターンが得られる 。また、上記構成の受光素子15a、15bは何れも略長方形状の集光パターン の受光面が得られ、これに対応して被検出空間m内に略長方形状の検知エリアE が得られる。
【0025】 図3は上記投光パターンおよび集光パターンを形成する他の実施例であり、投 光素子12または受光素子15の光学通路に集光レンズ13または16による光 の指向角を絞り込むスリットを配置したものである。すなわち、図示するように 、投光素子12または受光素子15の前方近傍の光軸上に長穴のスリット21を 配設し、投光素子12または受光素子15の周辺部に入る集光レンズ13または 16による光を遮光して、実質上の指向角θ1 を小さくするものである。
【0026】 このように、投光素子12または受光素子15の光学通路にスリット21を配 置した投光部14および受光部17は照射光の長穴のスリット21の幅狭側が遮 光され、上記図2の投光素子12または受光素子15と同様に、投光素子12の 投光面または受光素子15の受光面が実質的に略長方形状のパターンに形成され たものとなり、被検出空間mに光軸と直交した断面が幅狭の略長方形状の投光パ ターン、および略長方形状の検知エリアEが得られる。
【0027】 このように構成された光電スイッチ11はその被検出空間mに、図1に矢示す るように、被検出物体のプリント基板18が搬送されて通過すると、光電スイッ チ11の投光部14より投射された投射光L1はプリント基板18面で反射され 、その反射光が光電スイッチ11の受光部17に入射して検知される。この時、 投射光L1は光軸と直交した断面が幅狭の略長方形状の投光パターンに形成され て、指向角が幅狭方向で小さく絞り込まれているため、検出距離精度が向上し、 下方に搬送装置19が配置されていてもこれを十分識別することができる。また 、投射光L1の投射位置に、図示するように、プリント基板18に形成されたス リット孔22やピン穴23が配置されても、投射光L1が幅狭の略長方形状の投 光パターンに形成されているため、投光パターンをスリット孔22にクロスする ように投射することで、プリント基板18面での反射光が得られ、これを検出す ることができる。
【0028】
【考案の効果】
以上、本考案によれば、スポット的な投、受光パターンをライン状に形成し、 被検出空間にライン状の検知エリアを形成するように構成したから、感度の余裕 度が得られ、かつ検出距離精度の高い光電スイッチが得られる。また、表面にス リット孔やピン穴などが形成されたプリント基板のような被検出物体も、確実に 位置検出がなされる距離限定反射形光電スイッチを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の距離限定反射形光電スイッチの構成を
示す斜視図。
【図2】図1の構成要素例で、投光素子または受光素子
の形状を示す平面図。
【図3】図1の他の構成要素例で、投光素子または受光
素子の光学通路の構成を示す平面図。
【図4】距離限定反射形光電スイッチの基本構成を示す
図。
【図5】図4の光電スイッチの検出距離精度を改善する
検討案の構成を示す図。
【図6】図4の光電スイッチの検出距離精度を改善する
他の検討案の構成を示す図。
【符号の説明】
11 距離限定反射形光電スイッチ 12 投光素子 13 集光レンズ 14 投光部 15 受光素子 16 集光レンズ 17 受光部 18 プリント基板(被検出物体) 19 搬送装置(他の物体) 21 長穴のスリット 22 スリット孔 23 ピン穴 m 被検出空間 E 検知エリア L1 投射光 L2 入射光 K1、K2 光軸

Claims (4)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 投光素子の前方に投光素子からの投射光
    を集束させる集光レンズを配置した投光部と、受光素子
    の前方に受光素子への入射光を集束させる集光レンズを
    配置した受光部とを具備し、前記投光部よりの投射方向
    に対して受光部の受光方向を所定角度を持たせ、被検出
    空間に投射範囲と受光範囲の交差した検知エリアを形成
    し、前記検知エリアを通過する物体からの反射光による
    受光部の受光出力が所定レベルを越えるか否かによって
    物体の有無を識別する距離限定反射形光電スイッチにお
    いて、 前記投光部より投射される投射光は、その光軸と受光部
    の光軸を含む平面に直交する断面が幅狭の略長方形状の
    投光パターンに形成され、前記受光部へ入射される物体
    からの反射光は、その光軸と投光部の光軸を含む平面に
    直交する断面が幅狭の略長方形状の集光パターンで受光
    され、前記被検出空間に幅狭の略長方形状の検知エリア
    を形成したことを特徴とする距離限定反射形光電スイッ
    チ。
  2. 【請求項2】 前記投光素子または、および前記受光素
    子は単品または複数個整列状に配置され、投光面また
    は、および受光面が略長方形状のパターンに形成された
    ことを特徴とする請求項1記載の距離限定反射形光電ス
    イッチ。
  3. 【請求項3】 前記投光素子または、および受光素子の
    光学通路は長穴のスリットが配設され、投光素子の投光
    面または、および受光素子の受光面が実質的に略長方形
    状のパターンに形成されたことを特徴とする請求項1記
    載の距離限定反射形光電スイッチ。
  4. 【請求項4】 被検出物体がスリット孔を形成した搬送
    されるプリント基板であり、前記略長方形状の検知エリ
    アがこのスリット孔と直交するように投光部と受光部を
    配置したことを特徴とする請求項1乃至3記載の距離限
    定反射形光電スイッチ。
JP4914993U 1993-09-10 1993-09-10 距離限定反射形光電スイッチ Pending JPH0718226U (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000258243A (ja) * 1999-03-05 2000-09-22 Sharp Corp 反射光検出用光結合装置
JP2006064468A (ja) * 2004-08-25 2006-03-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd 立体形状測定装置

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