JPH07176056A - 光ピックアップ - Google Patents
光ピックアップInfo
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- JPH07176056A JPH07176056A JP5318392A JP31839293A JPH07176056A JP H07176056 A JPH07176056 A JP H07176056A JP 5318392 A JP5318392 A JP 5318392A JP 31839293 A JP31839293 A JP 31839293A JP H07176056 A JPH07176056 A JP H07176056A
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- Japan
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- light
- optical
- section
- movable
- light beam
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光学系が固定光学部と可動光学部とに分離さ
れた分離光学系の光ピックアップにおいて、可動光学部
２１の移動位置を高精度に検出する。 【構成】 固定光学部２０から可動光学部２１に移動位
置検出用の光ビームを出射する。その光ビームを、可動
光学部２１に搭載された反射プリズム１６で反射させて
固定光学部２０に戻す。反射プリズム１６は、入射光を
可動光学部２１の移動軸に対して異なる方向に傾斜した
２つの光ビームに分離する。２つの光ビームは、固定光
学部２０に搭載された２つの半導体位置センサ１０ａ、
１０ｂにそれぞれ受光される。可動光学部２１の移動位
置が変化すると、半導体位置センサ１０ａ、１０ｂにお
ける受光位置が異なる方向に移動する。可動光学部２１
が回転ずれを起こした場合は、半導体位置センサ１０
ａ、１０ｂにおける受光位置が同じ方向に移動するの
で、その移動による出力変化をキャンセルすることによ
り、可動光学部２１の回転ずれの影響が排除される。
れた分離光学系の光ピックアップにおいて、可動光学部
２１の移動位置を高精度に検出する。 【構成】 固定光学部２０から可動光学部２１に移動位
置検出用の光ビームを出射する。その光ビームを、可動
光学部２１に搭載された反射プリズム１６で反射させて
固定光学部２０に戻す。反射プリズム１６は、入射光を
可動光学部２１の移動軸に対して異なる方向に傾斜した
２つの光ビームに分離する。２つの光ビームは、固定光
学部２０に搭載された２つの半導体位置センサ１０ａ、
１０ｂにそれぞれ受光される。可動光学部２１の移動位
置が変化すると、半導体位置センサ１０ａ、１０ｂにお
ける受光位置が異なる方向に移動する。可動光学部２１
が回転ずれを起こした場合は、半導体位置センサ１０
ａ、１０ｂにおける受光位置が同じ方向に移動するの
で、その移動による出力変化をキャンセルすることによ
り、可動光学部２１の回転ずれの影響が排除される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク装置に使用
される分離光学系の光ピックアップの移動位置検出機構
に装備されて、その可動光学部の移動位置を検出する光
ピックアップの移動位置検出機構に関する。
される分離光学系の光ピックアップの移動位置検出機構
に装備されて、その可動光学部の移動位置を検出する光
ピックアップの移動位置検出機構に関する。
【０００２】
【従来の技術】高密度で多大の情報を記録することがで
きる光ディスクは、近年多くの分野において利用が進め
られている。このような光ディスクは、非接触で情報の
記録、再生が行え、かつ媒体交換が可能であるという優
れた特長を有する光情報記録媒体であるため、特に光フ
ァイルやコンピュータの外部記憶媒体として注目されて
いる。
きる光ディスクは、近年多くの分野において利用が進め
られている。このような光ディスクは、非接触で情報の
記録、再生が行え、かつ媒体交換が可能であるという優
れた特長を有する光情報記録媒体であるため、特に光フ
ァイルやコンピュータの外部記憶媒体として注目されて
いる。
【０００３】光ディスクでは、例えば、光源として半導
体レーザを用いた光ピックアップによって情報の記録又
は再生が行われ、媒体によっては一旦記録された情報が
消去され、また書き換えられる。この種のピックアップ
では、高速アクセス化が極めて重要な要素とされてい
る。しかし、光ピックアップは、ハードディスク等に用
いられている磁気ヘッドに比べて大型になり、重量が嵩
むために、高速アクセス化には不向きであると言われて
きた。
体レーザを用いた光ピックアップによって情報の記録又
は再生が行われ、媒体によっては一旦記録された情報が
消去され、また書き換えられる。この種のピックアップ
では、高速アクセス化が極めて重要な要素とされてい
る。しかし、光ピックアップは、ハードディスク等に用
いられている磁気ヘッドに比べて大型になり、重量が嵩
むために、高速アクセス化には不向きであると言われて
きた。
【０００４】そこで、この点を解決するために、光学系
を、光源および光ディスクからの反射光を検出する光検
出部を備えた固定光学部と、光偏向手段及び対物レンズ
を備えた可動光学部とに分離した分離光学方式の光ピッ
クアップが提案されている。
を、光源および光ディスクからの反射光を検出する光検
出部を備えた固定光学部と、光偏向手段及び対物レンズ
を備えた可動光学部とに分離した分離光学方式の光ピッ
クアップが提案されている。
【０００５】また、可動光学部を光ディスクの半径方向
にアクセス動作させる際、可動光学部を高速かつ正確に
位置決めするためには、可動光学部の移動位置、すなわ
ち集光ビームの光ディスク上での位置を検出する必要が
あることから、様々な可動光学部の移動位置検出手段が
提案されている。例えば、構成を簡略化したものとし
て、固定光学部にビームスプリッタと半導体位置センサ
とを搭載し、可動光学部に反射プリズムを搭載した位置
検出手段（移動位置検出手段）がある。
にアクセス動作させる際、可動光学部を高速かつ正確に
位置決めするためには、可動光学部の移動位置、すなわ
ち集光ビームの光ディスク上での位置を検出する必要が
あることから、様々な可動光学部の移動位置検出手段が
提案されている。例えば、構成を簡略化したものとし
て、固定光学部にビームスプリッタと半導体位置センサ
とを搭載し、可動光学部に反射プリズムを搭載した位置
検出手段（移動位置検出手段）がある。
【０００６】図１３はこの簡略型の位置検出手段が搭載
された分離光学方式の光ピックアップを示す。図におい
て、固定光学部２０には半導体レーザ１等が搭載されて
いる。また、可動光学部２１は図示しないリニアモータ
により、図中ｚで示されるディスク（光ディスク）１４
の半径方向に移動可能になっている。なお、ディスク１
４の表面に直角な方向をｙ、ｙ方向およびｚ方向のいず
れにも直角な方向をｘで示してある。以下にこの光ピッ
クアップの概略動作を説明する。
された分離光学方式の光ピックアップを示す。図におい
て、固定光学部２０には半導体レーザ１等が搭載されて
いる。また、可動光学部２１は図示しないリニアモータ
により、図中ｚで示されるディスク（光ディスク）１４
の半径方向に移動可能になっている。なお、ディスク１
４の表面に直角な方向をｙ、ｙ方向およびｚ方向のいず
れにも直角な方向をｘで示してある。以下にこの光ピッ
クアップの概略動作を説明する。
【０００７】固定光学部２０内の半導体レーザ１から出
射された光ビームは、コリメートレンズ２によって平行
光にされ、続いて整形プリズム３によって円形ビームに
された後、偏光ビームスプリッター４によって反射光Ｌ
1と透過光Ｌ2とに分離される。そして透過光Ｌ2は、固
定光学部２０から可動光学部２１に向けて、可動光学部
２１の移動軸の方向、すなわちｚ方向に向かう。
射された光ビームは、コリメートレンズ２によって平行
光にされ、続いて整形プリズム３によって円形ビームに
された後、偏光ビームスプリッター４によって反射光Ｌ
1と透過光Ｌ2とに分離される。そして透過光Ｌ2は、固
定光学部２０から可動光学部２１に向けて、可動光学部
２１の移動軸の方向、すなわちｚ方向に向かう。
【０００８】可動光学部２１に導かれた透過光Ｌ2は、
立ち上げ４５°ミラー１１によって光路をｙ方向に変更
され、続いて、対物レンズ１２によって上方のディスク
１４の情報記録面に集光された後、該情報記録面によっ
て反射される。この反射光は、再び対物レンズ１２を透
過し、立ち上げ４５°ミラー１１によって光路を９０°
変更された後、再び固定光学部２０内の偏光ビームスプ
リッター４に入射し、一部が反射されて、ウォーラスト
ンプリズム５、スポットレンズ６等を通過してディレク
ター７上に集光される。
立ち上げ４５°ミラー１１によって光路をｙ方向に変更
され、続いて、対物レンズ１２によって上方のディスク
１４の情報記録面に集光された後、該情報記録面によっ
て反射される。この反射光は、再び対物レンズ１２を透
過し、立ち上げ４５°ミラー１１によって光路を９０°
変更された後、再び固定光学部２０内の偏光ビームスプ
リッター４に入射し、一部が反射されて、ウォーラスト
ンプリズム５、スポットレンズ６等を通過してディレク
ター７上に集光される。
【０００９】一方、反射光Ｌ1は、一部が半導体レーザ
１の光出力を制御する自動出力制御装置（ＡＰＣ）用の
光検出器９に入射し、残りが反射ミラー８によって可動
光学部２１の方向へ移動位置検出用の光ビームＬ1′と
して反射される。この反射光Ｌ1′は、可動光学部２１
の移動軸に平行なｚ方向の光ビームであり、可動光学部
２１に搭載された反射プリズム１３によって反射されて
再び固定光学部２０に戻ってくる。
１の光出力を制御する自動出力制御装置（ＡＰＣ）用の
光検出器９に入射し、残りが反射ミラー８によって可動
光学部２１の方向へ移動位置検出用の光ビームＬ1′と
して反射される。この反射光Ｌ1′は、可動光学部２１
の移動軸に平行なｚ方向の光ビームであり、可動光学部
２１に搭載された反射プリズム１３によって反射されて
再び固定光学部２０に戻ってくる。
【００１０】ここで反射プリズム１３は、その反射光が
可動光学部２１の移動軸に対してｘ方向に傾斜するよう
に、反射面がディスク１４の表面に平行な面内で傾斜し
たウエッジプリズムになっている。そのため、反射プリ
ズム１３で反射された光は、固定光学部２０内の半導体
位置センサ１０に角度を持って入射する。
可動光学部２１の移動軸に対してｘ方向に傾斜するよう
に、反射面がディスク１４の表面に平行な面内で傾斜し
たウエッジプリズムになっている。そのため、反射プリ
ズム１３で反射された光は、固定光学部２０内の半導体
位置センサ１０に角度を持って入射する。
【００１１】図１４は上記位置検出手段の検出原理を示
す。半導体位置センサ１０は、ｘ方向の位置検出を行う
１次元のセンサである。半導体位置センサ１０には、反
射プリズム１３で反射された光が、可動光学部２１の移
動軸に対してｘ方向に傾斜して入射する。そのため、半
導体位置センサ１０に入射する光の傾斜角度をθとする
と、可動光学部２１がｚ方向に距離ｌだけ移動したとき
は、半導体位置センサ１０ではｌ×ｔａｎθだけ光ビー
ムがｘ方向に移動する。従って、半導体位置センサ１０
の出力信号から、可動光学部２１のｚ方向の位置が検出
される。
す。半導体位置センサ１０は、ｘ方向の位置検出を行う
１次元のセンサである。半導体位置センサ１０には、反
射プリズム１３で反射された光が、可動光学部２１の移
動軸に対してｘ方向に傾斜して入射する。そのため、半
導体位置センサ１０に入射する光の傾斜角度をθとする
と、可動光学部２１がｚ方向に距離ｌだけ移動したとき
は、半導体位置センサ１０ではｌ×ｔａｎθだけ光ビー
ムがｘ方向に移動する。従って、半導体位置センサ１０
の出力信号から、可動光学部２１のｚ方向の位置が検出
される。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな可動光学部の位置検出手段では、図１５に示すよう
に、可動光学部２１にｙ軸回りの回転ずれが生じると、
反射プリズム１３で反射された光の傾斜角度θが変化す
る。そのため、半導体位置センサ１０での受光位置がｘ
方向に移動し、可動光学部２１の検出位置に誤差が生じ
る。一般に、可動光学部２１と固定光学部２０内の半導
体位置センサ１０は部品の配置上、最接近した場合でも
ある程度は離れているため、離隔距離が長くなればなる
程、光ビームのシフト量は大きくなり、それに伴って位
置信号の誤差も大きくなる。
うな可動光学部の位置検出手段では、図１５に示すよう
に、可動光学部２１にｙ軸回りの回転ずれが生じると、
反射プリズム１３で反射された光の傾斜角度θが変化す
る。そのため、半導体位置センサ１０での受光位置がｘ
方向に移動し、可動光学部２１の検出位置に誤差が生じ
る。一般に、可動光学部２１と固定光学部２０内の半導
体位置センサ１０は部品の配置上、最接近した場合でも
ある程度は離れているため、離隔距離が長くなればなる
程、光ビームのシフト量は大きくなり、それに伴って位
置信号の誤差も大きくなる。
【００１３】本発明は上記従来技術の問題点を解決する
ものであり、その目的は、分離光学方式の光ピックアッ
プにおける可動光学部の回転ずれの影響を排除でき、該
可動光学部の位置を高精度に検出できる光ピックアップ
を提供することにある。
ものであり、その目的は、分離光学方式の光ピックアッ
プにおける可動光学部の回転ずれの影響を排除でき、該
可動光学部の位置を高精度に検出できる光ピックアップ
を提供することにある。
【００１４】
【課題を解決するための手段】本発明の光ピックアップ
は、光源及びディスクからの反射光を検出する光検出部
を備えた固定光学部と、光ビーム偏向手段及び対物レン
ズを備え、該ディスクの半径方向に移動可能になった可
動光学部に分離され、該可動光学部の位置検出手段を備
えた光ピックアップであって、該位置検出手段が、該光
源からの光ビームを該対物レンズに入射する光ビームと
は異なる方向に分離するビームスプリッターと、該異な
る方向に分離された光ビームのうち、該可動光学部に導
かれる光ビームを該固定光学部側に反射する反射手段
と、反射された光ビームを、該可動光学部の移動軸に対
して異なる方向に傾斜した２つの光ビームに分離する分
離手段と、該２つの光ビームを受光し、それぞれの位置
を検出する２つのセンサとを具備しており、そのことに
より上記目的が達成される。
は、光源及びディスクからの反射光を検出する光検出部
を備えた固定光学部と、光ビーム偏向手段及び対物レン
ズを備え、該ディスクの半径方向に移動可能になった可
動光学部に分離され、該可動光学部の位置検出手段を備
えた光ピックアップであって、該位置検出手段が、該光
源からの光ビームを該対物レンズに入射する光ビームと
は異なる方向に分離するビームスプリッターと、該異な
る方向に分離された光ビームのうち、該可動光学部に導
かれる光ビームを該固定光学部側に反射する反射手段
と、反射された光ビームを、該可動光学部の移動軸に対
して異なる方向に傾斜した２つの光ビームに分離する分
離手段と、該２つの光ビームを受光し、それぞれの位置
を検出する２つのセンサとを具備しており、そのことに
より上記目的が達成される。
【００１５】好ましくは、前記反射手段及び分離手段
を、前記可動光学部に設けられた１つのウェッジプリズ
ムで構成する。
を、前記可動光学部に設けられた１つのウェッジプリズ
ムで構成する。
【００１６】また、好ましくは、前記反射手段として、
前記可動光学部に設けられた平面ミラーを用い、前記分
離手段として、前記固定光学部に設けた回折格子を用い
る。
前記可動光学部に設けられた平面ミラーを用い、前記分
離手段として、前記固定光学部に設けた回折格子を用い
る。
【００１７】また、好ましくは、前記反射手段として、
前記可動光学部に設けられた平面ミラーを用い、前記分
離手段として、前記固定光学部に設けたウェッジプリズ
ムを用いる。
前記可動光学部に設けられた平面ミラーを用い、前記分
離手段として、前記固定光学部に設けたウェッジプリズ
ムを用いる。
【００１８】また、好ましくは、前記２つのセンサを前
記固定光学部に設ける。
記固定光学部に設ける。
【００１９】また、好ましくは、前記２つのセンサを前
記可動光学部に設ける。
記可動光学部に設ける。
【００２０】また、本発明の光ピックアップは、光源及
びディスクからの反射光を検出する光検出部を備えた固
定光学部と、光ビーム偏向手段及び対物レンズを備え、
該ディスクの半径方向に移動可能になった可動光学部に
分離され、該可動光学部の位置検出手段を備えた光ピッ
クアップであって、該位置検出手段が、該光源からの光
ビームを該対物レンズに入射する光ビームとは異なる方
向に分離するビームスプリッターと、該異なる方向に分
離された光ビームのうち、該可動光学部に導かれる光ビ
ームをその移動軸に対して傾斜して該固定光学部側に反
射する２つの面で構成された反射手段と、該光ビームを
受光し、その位置を検出するセンサとを具備しており、
そのことにより上記目的が達成される。
びディスクからの反射光を検出する光検出部を備えた固
定光学部と、光ビーム偏向手段及び対物レンズを備え、
該ディスクの半径方向に移動可能になった可動光学部に
分離され、該可動光学部の位置検出手段を備えた光ピッ
クアップであって、該位置検出手段が、該光源からの光
ビームを該対物レンズに入射する光ビームとは異なる方
向に分離するビームスプリッターと、該異なる方向に分
離された光ビームのうち、該可動光学部に導かれる光ビ
ームをその移動軸に対して傾斜して該固定光学部側に反
射する２つの面で構成された反射手段と、該光ビームを
受光し、その位置を検出するセンサとを具備しており、
そのことにより上記目的が達成される。
【００２１】また、本発明の光ピックアップは、光源及
びディスクからの反射光を検出する光検出部を備えた固
定光学部と、光ビーム偏向手段及び対物レンズを備え、
該ディスクの半径方向に移動可能になった可動光学部に
分離され、該可動光学部の位置検出手段を備えた光ピッ
クアップであって、該位置検出手段が、該光源からの光
ビームを該対物レンズに入射する光ビームとは異なる方
向に分離するビームスプリッターと、該異なる方向に分
離された光ビームのうち、該可動光学部に導かれる光ビ
ームをその移動軸に対して傾斜して該固定光学部に反射
する反射手段と、該可動光学部に設けられ、該光ビーム
を受光し、その位置を検出するセンサとを具備してお
り、そのことにより上記目的が達成される。
びディスクからの反射光を検出する光検出部を備えた固
定光学部と、光ビーム偏向手段及び対物レンズを備え、
該ディスクの半径方向に移動可能になった可動光学部に
分離され、該可動光学部の位置検出手段を備えた光ピッ
クアップであって、該位置検出手段が、該光源からの光
ビームを該対物レンズに入射する光ビームとは異なる方
向に分離するビームスプリッターと、該異なる方向に分
離された光ビームのうち、該可動光学部に導かれる光ビ
ームをその移動軸に対して傾斜して該固定光学部に反射
する反射手段と、該可動光学部に設けられ、該光ビーム
を受光し、その位置を検出するセンサとを具備してお
り、そのことにより上記目的が達成される。
【００２２】
【作用】上記の構成によれば、可動光学部の移動軸に対
して異なる方向に傾斜した２つの光ビームが固定光学部
に入射するので、可動光学部の移動位置が変化すると、
２つの半導体位置センサにおける受光位置が異なる方向
へ移動する。一方、分離された２つの光ビームを含む平
面内で可動光学部が回転ずれを起こした場合は、２つの
半導体位置センサにおける受光位置は同じ方向へ移動す
る。そのため、２つの半導体位置センサにおける受光位
置の変化から可動光学部の移動位置が検出されるように
しておけば、可動光学部の回転ずれによる受光位置変化
は互いに打ち消し合う。従って、検出された移動位置
は、可動光学部の回転ずれの影響を受けない。
して異なる方向に傾斜した２つの光ビームが固定光学部
に入射するので、可動光学部の移動位置が変化すると、
２つの半導体位置センサにおける受光位置が異なる方向
へ移動する。一方、分離された２つの光ビームを含む平
面内で可動光学部が回転ずれを起こした場合は、２つの
半導体位置センサにおける受光位置は同じ方向へ移動す
る。そのため、２つの半導体位置センサにおける受光位
置の変化から可動光学部の移動位置が検出されるように
しておけば、可動光学部の回転ずれによる受光位置変化
は互いに打ち消し合う。従って、検出された移動位置
は、可動光学部の回転ずれの影響を受けない。
【００２３】
【実施例】以下に本発明の実施例を説明する。
【００２４】（実施例１）図１に本発明光ピックアップ
実施例１を示す。この光ピックアップの位置検出手段以
外の構成は、上記図１３の従来例の光ピックアップの構
成と同様であるので、対応する部分に同一の番号を付
し、詳細な説明は省略する。
実施例１を示す。この光ピックアップの位置検出手段以
外の構成は、上記図１３の従来例の光ピックアップの構
成と同様であるので、対応する部分に同一の番号を付
し、詳細な説明は省略する。
【００２５】固定光学部２０内の半導体レーザ１から出
射した光は、コリメートレンズ２によって平行光にさ
れ、整形プリズム３によって円形ビームに整形された
後、偏光ビームスプリッタ４によって反射光Ｌ1と透過
光Ｌ2に分離される。透過光Ｌ2は、固定光学部２０から
可動光学部２１に導かれ、ディスク１４上に情報記録面
に集光される。一方、反射光Ｌ1は、一部がＡＰＣ用の
光検出器９に入射され、残りが反射ミラー８によって可
動光学部２１の方向へ移動位置検出用の光ビームとして
反射される。
射した光は、コリメートレンズ２によって平行光にさ
れ、整形プリズム３によって円形ビームに整形された
後、偏光ビームスプリッタ４によって反射光Ｌ1と透過
光Ｌ2に分離される。透過光Ｌ2は、固定光学部２０から
可動光学部２１に導かれ、ディスク１４上に情報記録面
に集光される。一方、反射光Ｌ1は、一部がＡＰＣ用の
光検出器９に入射され、残りが反射ミラー８によって可
動光学部２１の方向へ移動位置検出用の光ビームとして
反射される。
【００２６】可動光学部２１は、ディスク１４の半径方
向、すなわちｚ方向に移動する。この移動は、図示しな
いリニアモータにより行われる。反射ミラー８によって
反射された光は、可動光学部２１の移動軸に平行なｚ方
向の光ビームである。可動光学部２１に入射したこの光
ビームは、可動光学部２１に搭載されたウエッジプリズ
ム１５によって固定光学部２０の方向へ反射される。ウ
エッジプリズム１５は、入射光をディスク１４の表面に
平行な面内で、可動光学部２１の移動軸の方向に対して
異なる方向（＋ｘ方向，−ｘ方向）に等角度θで傾斜し
た２つの反射光Ｌ3、Ｌ4に分離して反射させる。そし
て、２つの反射光Ｌ3 、Ｌ4は、固定光学部２０に搭載
された２つの半導体位置センサ１０ａ、１０ｂにそれぞ
れ入射する。
向、すなわちｚ方向に移動する。この移動は、図示しな
いリニアモータにより行われる。反射ミラー８によって
反射された光は、可動光学部２１の移動軸に平行なｚ方
向の光ビームである。可動光学部２１に入射したこの光
ビームは、可動光学部２１に搭載されたウエッジプリズ
ム１５によって固定光学部２０の方向へ反射される。ウ
エッジプリズム１５は、入射光をディスク１４の表面に
平行な面内で、可動光学部２１の移動軸の方向に対して
異なる方向（＋ｘ方向，−ｘ方向）に等角度θで傾斜し
た２つの反射光Ｌ3、Ｌ4に分離して反射させる。そし
て、２つの反射光Ｌ3 、Ｌ4は、固定光学部２０に搭載
された２つの半導体位置センサ１０ａ、１０ｂにそれぞ
れ入射する。
【００２７】図２は可動光学部２１の移動位置の検出原
理を示す。また、図３は可動光学部２１の回転ずれの影
響が排除される原理を示す。２つの半導体位置センサ１
０ａ，１０ｂは、いずれもｘ方向の位置検出を行う１次
元のセンサであって、受光位置がｘの正方向へ移動する
と、どちらの出力も増加するようになっている。
理を示す。また、図３は可動光学部２１の回転ずれの影
響が排除される原理を示す。２つの半導体位置センサ１
０ａ，１０ｂは、いずれもｘ方向の位置検出を行う１次
元のセンサであって、受光位置がｘの正方向へ移動する
と、どちらの出力も増加するようになっている。
【００２８】今、図２に示すように、可動光学部２１が
ディスク１４の内周から外周側へ距離ｌだけ移動した場
合を仮定すると、反射光Ｌ3は半導体位置センサ１０ａ
上で正の方向へｌ×ｔａｎθだけ移動する。一方、反射
光Ｌ4は半導体位置センサ１０ｂ上で同じ量だけ負の方
向へ移動する。そのため、半導体位置センサ１０ａ、１
０ｂからの出力を差動増幅器３０で演算処理すると、２
ｌ×ｔａｎθに相当する出力が得られ、この出力から可
動光学部２１の移動位置が検出される。
ディスク１４の内周から外周側へ距離ｌだけ移動した場
合を仮定すると、反射光Ｌ3は半導体位置センサ１０ａ
上で正の方向へｌ×ｔａｎθだけ移動する。一方、反射
光Ｌ4は半導体位置センサ１０ｂ上で同じ量だけ負の方
向へ移動する。そのため、半導体位置センサ１０ａ、１
０ｂからの出力を差動増幅器３０で演算処理すると、２
ｌ×ｔａｎθに相当する出力が得られ、この出力から可
動光学部２１の移動位置が検出される。
【００２９】また、図３に示すように、可動光学部２１
がｙ軸回りの回転ずれを起こした場合は、反射光Ｌ3、
Ｌ4 のいずれもが、半導体位置センサ１０ａ、１０ｂ上
で同じ方向へほぼ同じ量だけ移動する。そのため、差動
増幅器３０からの出力は殆ど変化しない。従って、可動
光学部２１の検出位置は、可動光学部２１の回転ずれの
影響を殆ど受けることがない。従って、高精度の移動位
置の検出が可能になる。
がｙ軸回りの回転ずれを起こした場合は、反射光Ｌ3、
Ｌ4 のいずれもが、半導体位置センサ１０ａ、１０ｂ上
で同じ方向へほぼ同じ量だけ移動する。そのため、差動
増幅器３０からの出力は殆ど変化しない。従って、可動
光学部２１の検出位置は、可動光学部２１の回転ずれの
影響を殆ど受けることがない。従って、高精度の移動位
置の検出が可能になる。
【００３０】（実施例２）図４は本発明光ピックアップ
の実施例２を示す。本実施例２では、光ビームの分離手
段として、上記のウェッジプリズム１５に代えて、固定
光学部２０から可動光学部２１の移動軸に略平行に出射
される光ビームＬ1の光路中に配置された透過型回折格
子１６を用いている。
の実施例２を示す。本実施例２では、光ビームの分離手
段として、上記のウェッジプリズム１５に代えて、固定
光学部２０から可動光学部２１の移動軸に略平行に出射
される光ビームＬ1の光路中に配置された透過型回折格
子１６を用いている。
【００３１】透過型回折格子１６は、入射光をディスク
１４の表面に平行な面内で、可動光学部２１の移動軸の
方向に対して異なる方向（＋ｘ方向，−ｘ方向）に等角
度θで傾斜した＋１次光Ｌ3′と−１次光Ｌ4′とに分離
する。＋１次光Ｌ3′と−１次光Ｌ4′は、可動光学部２
１に搭載された平面ミラー１７によって反射されて、固
定光学部２０内の半導体位置センサ１０ａ、１０ｂにそ
れぞれ入射する。平面ミラー１７は、可動光学部２１の
移動軸に対して直角に配置されている。また、半導体位
置センサ１０ａ、１０ｂは、いずれもｘ方向の位置検出
を行う１次元のセンサであり、それぞれの出力は図示さ
れない差動増幅器で演算処理される。
１４の表面に平行な面内で、可動光学部２１の移動軸の
方向に対して異なる方向（＋ｘ方向，−ｘ方向）に等角
度θで傾斜した＋１次光Ｌ3′と−１次光Ｌ4′とに分離
する。＋１次光Ｌ3′と−１次光Ｌ4′は、可動光学部２
１に搭載された平面ミラー１７によって反射されて、固
定光学部２０内の半導体位置センサ１０ａ、１０ｂにそ
れぞれ入射する。平面ミラー１７は、可動光学部２１の
移動軸に対して直角に配置されている。また、半導体位
置センサ１０ａ、１０ｂは、いずれもｘ方向の位置検出
を行う１次元のセンサであり、それぞれの出力は図示さ
れない差動増幅器で演算処理される。
【００３２】本実施例２においても、上記第１実施例と
同様に、差動増幅器の出力から可動光学部２１の移動位
置が検出され、しかも、その検出位置は、可動光学部２
１の回転ずれの影響を殆ど受けない。
同様に、差動増幅器の出力から可動光学部２１の移動位
置が検出され、しかも、その検出位置は、可動光学部２
１の回転ずれの影響を殆ど受けない。
【００３３】透過型回折格子１６を、図５および図６に
示すような透過型ウエッジプリズム１８ａ、１８ｂに変
更しても同様の効果を得ることができる。
示すような透過型ウエッジプリズム１８ａ、１８ｂに変
更しても同様の効果を得ることができる。
【００３４】（実施例３）図７は本発明光ピックアップ
の実施例３を示す。また、図８に可動光学部２１の回転
ずれの影響が排除される原理を示す。本実施例３では、
可動光学部２１に入射された移動位置検出用の光ビーム
を、反射プリズム１９に反射させて固定光学部２０に戻
す構成をとっている。
の実施例３を示す。また、図８に可動光学部２１の回転
ずれの影響が排除される原理を示す。本実施例３では、
可動光学部２１に入射された移動位置検出用の光ビーム
を、反射プリズム１９に反射させて固定光学部２０に戻
す構成をとっている。
【００３５】反射プリズム１９は、所定の角度を持って
対向する２つの反射面１９ａ、１９ｂを有し、可動光学
部２１の移動軸に平行な入射光を反射面１９ａ、１９ｂ
で２回反射させて、移動軸に対して傾斜した反射光とす
る。この反射光は固定光学部２０内の半導体位置センサ
１０に入射され、その出力から可動光学部２１の移動位
置が検出される。
対向する２つの反射面１９ａ、１９ｂを有し、可動光学
部２１の移動軸に平行な入射光を反射面１９ａ、１９ｂ
で２回反射させて、移動軸に対して傾斜した反射光とす
る。この反射光は固定光学部２０内の半導体位置センサ
１０に入射され、その出力から可動光学部２１の移動位
置が検出される。
【００３６】可動光学部２１が回転ずれを起こした場合
は、反射プリズム１９の反射面１９ａ、１９ｂが同方向
に同じ量だけ傾斜するため、一方の反射面１９ａの光軸
移動が他方の反射面１９ｂの傾斜で吸収される。そのた
め、反射プリズム１９からの反射光の角度は変化しな
い。従って、本実施例においても、可動光学部２１の検
出位置が、その回転ずれの影響を受けない。
は、反射プリズム１９の反射面１９ａ、１９ｂが同方向
に同じ量だけ傾斜するため、一方の反射面１９ａの光軸
移動が他方の反射面１９ｂの傾斜で吸収される。そのた
め、反射プリズム１９からの反射光の角度は変化しな
い。従って、本実施例においても、可動光学部２１の検
出位置が、その回転ずれの影響を受けない。
【００３７】（実施例４）図９は本発明光ピックアップ
実施例４を示す。また、図１０は可動光学部の回転ずれ
の影響が排除される原理を示す。本実施例４では、固定
光学部２０から移動位置検出用の光ビームを、可動光学
部２１の移動軸に対してｘ方向に傾斜させて出射させる
構成をとっている。そして、その光ビームを可動光学部
２１に搭載した半導体位置センサ１０で受光している。
実施例４を示す。また、図１０は可動光学部の回転ずれ
の影響が排除される原理を示す。本実施例４では、固定
光学部２０から移動位置検出用の光ビームを、可動光学
部２１の移動軸に対してｘ方向に傾斜させて出射させる
構成をとっている。そして、その光ビームを可動光学部
２１に搭載した半導体位置センサ１０で受光している。
【００３８】このような構成によれば、半導体位置セン
サ１０の出力から可動光学部２１の移動位置が検出され
ると共に、可動光学部２１が回転ずれを起こしても半導
体位置センサ１０での受光位置は変化しない。従って、
可動光学部２１の検出位置が、その回転ずれの影響を受
けない。
サ１０の出力から可動光学部２１の移動位置が検出され
ると共に、可動光学部２１が回転ずれを起こしても半導
体位置センサ１０での受光位置は変化しない。従って、
可動光学部２１の検出位置が、その回転ずれの影響を受
けない。
【００３９】ただし、本実施例４では、可動光学部２１
のｘ方向の位置ずれが、可動光学部２１の検出位置に影
響する。これを除去するためには、図１１に示すよう
に、可動光学部２１に入射される光ビームを、異なる方
向に同じ角度で傾斜した２つのビームに分離し、それぞ
れを半導体位置センサ１０ａ、１０ｂに入射して、各出
力を図示されない差動増幅器で演算処理する。
のｘ方向の位置ずれが、可動光学部２１の検出位置に影
響する。これを除去するためには、図１１に示すよう
に、可動光学部２１に入射される光ビームを、異なる方
向に同じ角度で傾斜した２つのビームに分離し、それぞ
れを半導体位置センサ１０ａ、１０ｂに入射して、各出
力を図示されない差動増幅器で演算処理する。
【００４０】そうすると、図１２に示すように、可動光
学部２１がｘ方向に位置ずれを起こしても、半導体位置
センサ１０ａ、１０ｂでの受光位置で同じ方向へほぼ同
じ量だけ移動するため、差動増幅器からの出力は殆ど変
化しない。すなわち、上記の実施例１および実施例２に
おいて、可動光学部２１の回転ずれの影響が排除される
のと同じ原理で、可動光学部２１のｘ方向の位置ずれに
よる影響が排除され、高精度の移動位置検出が可能にな
る。
学部２１がｘ方向に位置ずれを起こしても、半導体位置
センサ１０ａ、１０ｂでの受光位置で同じ方向へほぼ同
じ量だけ移動するため、差動増幅器からの出力は殆ど変
化しない。すなわち、上記の実施例１および実施例２に
おいて、可動光学部２１の回転ずれの影響が排除される
のと同じ原理で、可動光学部２１のｘ方向の位置ずれに
よる影響が排除され、高精度の移動位置検出が可能にな
る。
【００４１】
【発明の効果】本発明の光ピックアップは、このよう
に、いずれも分離光学方式の光ピックアップにおける可
動光学部の回転ずれの影響を相殺することにより、その
影響が可動光学部の検出位置に及ぶのを防止することが
できる。これにより常に安定した状態で、可動光学部の
移動位置を高精度に検出できる。従って、高速かつ正確
なアクセス動作が可能になるので、光ピックアップの信
頼性を格段に向上できる。
に、いずれも分離光学方式の光ピックアップにおける可
動光学部の回転ずれの影響を相殺することにより、その
影響が可動光学部の検出位置に及ぶのを防止することが
できる。これにより常に安定した状態で、可動光学部の
移動位置を高精度に検出できる。従って、高速かつ正確
なアクセス動作が可能になるので、光ピックアップの信
頼性を格段に向上できる。
【図１】本発明の光ピックアップの実施例１を示す概略
構成図。
構成図。
【図２】実施例１の光ピックアップにおける可動光学部
の移動位置の検出原理を示す模式図。
の移動位置の検出原理を示す模式図。
【図３】実施例１の光ピックアップにおける可動光学部
の回転ずれの影響が排除される原理を示す模式図。
の回転ずれの影響が排除される原理を示す模式図。
【図４】本発明光ピックアップの実施例２を示す模式
図。
図。
【図５】実施例２の光ピックアップにおけるビーム分離
手段の他の例を示す模式図。
手段の他の例を示す模式図。
【図６】実施例２の光ピックアップにおけるビーム分離
手段の更に他の例を示す模式図。
手段の更に他の例を示す模式図。
【図７】本発明光ピックアップの実施例３を示す模式
図。
図。
【図８】実施例３の光ピックアップにおける可動光学部
の回転ずれの影響が排除される原理を示す模式図。
の回転ずれの影響が排除される原理を示す模式図。
【図９】本発明光ピックアップの実施例４を示す模式
図。
図。
【図１０】実施例４の光ピックアップにおける可動光学
部の回転ずれの影響が排除される原理を示す模式図。
部の回転ずれの影響が排除される原理を示す模式図。
【図１１】実施例４の光ピックアップにおける他の実施
例を示す模式図。
例を示す模式図。
【図１２】図１１に示す光ピックアップにおける可動光
学部の回転ずれの影響が排除される原理を示す模式図。
学部の回転ずれの影響が排除される原理を示す模式図。
【図１３】可動光学部の移動位置を検出する位置検出手
段を備えた分離光学方式の光ピックアップの従来例を示
す概略構成図。
段を備えた分離光学方式の光ピックアップの従来例を示
す概略構成図。
【図１４】従来例における可動光学部の移動位置検出原
理を示す模式図。
理を示す模式図。
【図１５】従来例における可動光学部の回転ずれの影響
を示す模式図。
を示す模式図。
１ 半導体レーザ ４ 偏光ビームスプリッタ ８ 反射ミラー １０、１０ａ、１０ｂ 半導体位置センサ １５ ウエッジプリズム（ビーム分離手段） １６ 透過型回折格子（ビーム分離手段） １８ａ、１８ｂ 透過型ウエッジプリズム（ビーム分離
手段） １９ 反射プリズム（ビーム反射手段） １９ａ、１９ｂ 反射面 ２０ 固定光学部 ２１ 可動光学部
手段） １９ 反射プリズム（ビーム反射手段） １９ａ、１９ｂ 反射面 ２０ 固定光学部 ２１ 可動光学部
Claims (7)
- 【請求項１】 光源及びディスクからの反射光を検出す
る光検出部を備えた固定光学部と、光ビーム偏向手段及
び対物レンズを備え、該ディスクの半径方向に移動可能
になった可動光学部に分離され、該可動光学部の位置検
出手段を備えた光ピックアップであって、 該位置検出手段が、 該光源からの光ビームを該対物レンズに入射する光ビー
ムとは異なる方向に分離するビームスプリッターと、 該異なる方向に分離された光ビームのうち、該可動光学
部に導かれる光ビームを該固定光学部側に反射する反射
手段と、 反射された光ビームを、該可動光学部の移動軸に対して
異なる方向に傾斜した２つの光ビームに分離する分離手
段と、 該２つの光ビームを受光し、それぞれの位置を検出する
２つのセンサとを具備する光ピックアップ。 - 【請求項２】 前記反射手段及び分離手段が、前記可動
光学部に設けられた１つのウェッジプリズムで構成され
ている請求項１記載の光ピックアップ。 - 【請求項３】 前記反射手段が前記可動光学部に設けら
れた平面ミラーであり、前記分離手段が前記固定光学部
に設けた回折格子である請求項１記載の光ピックアッ
プ。 - 【請求項４】 前記反射手段が前記可動光学部に設けら
れた平面ミラーであり、前記分離手段が前記固定光学部
に設けたウェッジプリズムである請求項１記載の光ピッ
クアップ。 - 【請求項５】 前記２つのセンサが前記固定光学部に設
けられている請求項１記載の光ピックアップ。 - 【請求項６】 光源及びディスクからの反射光を検出す
る光検出部を備えた固定光学部と、光ビーム偏向手段及
び対物レンズを備え、該ディスクの半径方向に移動可能
になった可動光学部に分離され、該可動光学部の位置検
出手段を備えた光ピックアップであって、 該位置検出手段が、 該光源からの光ビームを該対物レンズに入射する光ビー
ムとは異なる方向に分離するビームスプリッターと、 該異なる方向に分離された光ビームのうち、該可動光学
部に導かれる光ビームをその移動軸に対して傾斜して該
固定光学部側に反射する２つの面で構成された反射手段
と、 該光ビームを受光し、その位置を検出するセンサとを具
備する光ピックアップ。 - 【請求項７】 光源及びディスクからの反射光を検出す
る光検出部を備えた固定光学部と、光ビーム偏向手段及
び対物レンズを備え、該ディスクの半径方向に移動可能
になった可動光学部に分離され、該可動光学部の位置検
出手段を備えた光ピックアップであって、 該位置検出手段が、 該光源からの光ビームを該対物レンズに入射する光ビー
ムとは異なる方向に分離するビームスプリッターと、 該異なる方向に分離された光ビームのうち、該可動光学
部に導かれる光ビームをその移動軸に対して傾斜して該
固定光学部に反射する反射手段と、 該可動光学部に設けられ、該光ビームを受光し、その位
置を検出するセンサとを具備する光ピックアップ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5318392A JP3006987B2 (ja) | 1993-12-17 | 1993-12-17 | 光ピックアップ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5318392A JP3006987B2 (ja) | 1993-12-17 | 1993-12-17 | 光ピックアップ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07176056A true JPH07176056A (ja) | 1995-07-14 |
| JP3006987B2 JP3006987B2 (ja) | 2000-02-07 |
Family
ID=18098644
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5318392A Expired - Fee Related JP3006987B2 (ja) | 1993-12-17 | 1993-12-17 | 光ピックアップ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3006987B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100604014B1 (ko) * | 2004-06-21 | 2006-07-24 | 엘지전자 주식회사 | 홀로그래픽 데이터 저장 시스템 |
-
1993
- 1993-12-17 JP JP5318392A patent/JP3006987B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100604014B1 (ko) * | 2004-06-21 | 2006-07-24 | 엘지전자 주식회사 | 홀로그래픽 데이터 저장 시스템 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3006987B2 (ja) | 2000-02-07 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19991111 |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081126 Year of fee payment: 9 |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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