JPH07176056A - 光ピックアップ - Google Patents
光ピックアップInfo
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- JPH07176056A JPH07176056A JP5318392A JP31839293A JPH07176056A JP H07176056 A JPH07176056 A JP H07176056A JP 5318392 A JP5318392 A JP 5318392A JP 31839293 A JP31839293 A JP 31839293A JP H07176056 A JPH07176056 A JP H07176056A
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- Japan
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- light
- optical
- section
- movable
- light beam
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光学系が固定光学部と可動光学部とに分離さ
れた分離光学系の光ピックアップにおいて、可動光学部
21の移動位置を高精度に検出する。 【構成】 固定光学部20から可動光学部21に移動位
置検出用の光ビームを出射する。その光ビームを、可動
光学部21に搭載された反射プリズム16で反射させて
固定光学部20に戻す。反射プリズム16は、入射光を
可動光学部21の移動軸に対して異なる方向に傾斜した
2つの光ビームに分離する。2つの光ビームは、固定光
学部20に搭載された2つの半導体位置センサ10a、
10bにそれぞれ受光される。可動光学部21の移動位
置が変化すると、半導体位置センサ10a、10bにお
ける受光位置が異なる方向に移動する。可動光学部21
が回転ずれを起こした場合は、半導体位置センサ10
a、10bにおける受光位置が同じ方向に移動するの
で、その移動による出力変化をキャンセルすることによ
り、可動光学部21の回転ずれの影響が排除される。
れた分離光学系の光ピックアップにおいて、可動光学部
21の移動位置を高精度に検出する。 【構成】 固定光学部20から可動光学部21に移動位
置検出用の光ビームを出射する。その光ビームを、可動
光学部21に搭載された反射プリズム16で反射させて
固定光学部20に戻す。反射プリズム16は、入射光を
可動光学部21の移動軸に対して異なる方向に傾斜した
2つの光ビームに分離する。2つの光ビームは、固定光
学部20に搭載された2つの半導体位置センサ10a、
10bにそれぞれ受光される。可動光学部21の移動位
置が変化すると、半導体位置センサ10a、10bにお
ける受光位置が異なる方向に移動する。可動光学部21
が回転ずれを起こした場合は、半導体位置センサ10
a、10bにおける受光位置が同じ方向に移動するの
で、その移動による出力変化をキャンセルすることによ
り、可動光学部21の回転ずれの影響が排除される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク装置に使用
される分離光学系の光ピックアップの移動位置検出機構
に装備されて、その可動光学部の移動位置を検出する光
ピックアップの移動位置検出機構に関する。
される分離光学系の光ピックアップの移動位置検出機構
に装備されて、その可動光学部の移動位置を検出する光
ピックアップの移動位置検出機構に関する。
【0002】
【従来の技術】高密度で多大の情報を記録することがで
きる光ディスクは、近年多くの分野において利用が進め
られている。このような光ディスクは、非接触で情報の
記録、再生が行え、かつ媒体交換が可能であるという優
れた特長を有する光情報記録媒体であるため、特に光フ
ァイルやコンピュータの外部記憶媒体として注目されて
いる。
きる光ディスクは、近年多くの分野において利用が進め
られている。このような光ディスクは、非接触で情報の
記録、再生が行え、かつ媒体交換が可能であるという優
れた特長を有する光情報記録媒体であるため、特に光フ
ァイルやコンピュータの外部記憶媒体として注目されて
いる。
【0003】光ディスクでは、例えば、光源として半導
体レーザを用いた光ピックアップによって情報の記録又
は再生が行われ、媒体によっては一旦記録された情報が
消去され、また書き換えられる。この種のピックアップ
では、高速アクセス化が極めて重要な要素とされてい
る。しかし、光ピックアップは、ハードディスク等に用
いられている磁気ヘッドに比べて大型になり、重量が嵩
むために、高速アクセス化には不向きであると言われて
きた。
体レーザを用いた光ピックアップによって情報の記録又
は再生が行われ、媒体によっては一旦記録された情報が
消去され、また書き換えられる。この種のピックアップ
では、高速アクセス化が極めて重要な要素とされてい
る。しかし、光ピックアップは、ハードディスク等に用
いられている磁気ヘッドに比べて大型になり、重量が嵩
むために、高速アクセス化には不向きであると言われて
きた。
【0004】そこで、この点を解決するために、光学系
を、光源および光ディスクからの反射光を検出する光検
出部を備えた固定光学部と、光偏向手段及び対物レンズ
を備えた可動光学部とに分離した分離光学方式の光ピッ
クアップが提案されている。
を、光源および光ディスクからの反射光を検出する光検
出部を備えた固定光学部と、光偏向手段及び対物レンズ
を備えた可動光学部とに分離した分離光学方式の光ピッ
クアップが提案されている。
【0005】また、可動光学部を光ディスクの半径方向
にアクセス動作させる際、可動光学部を高速かつ正確に
位置決めするためには、可動光学部の移動位置、すなわ
ち集光ビームの光ディスク上での位置を検出する必要が
あることから、様々な可動光学部の移動位置検出手段が
提案されている。例えば、構成を簡略化したものとし
て、固定光学部にビームスプリッタと半導体位置センサ
とを搭載し、可動光学部に反射プリズムを搭載した位置
検出手段(移動位置検出手段)がある。
にアクセス動作させる際、可動光学部を高速かつ正確に
位置決めするためには、可動光学部の移動位置、すなわ
ち集光ビームの光ディスク上での位置を検出する必要が
あることから、様々な可動光学部の移動位置検出手段が
提案されている。例えば、構成を簡略化したものとし
て、固定光学部にビームスプリッタと半導体位置センサ
とを搭載し、可動光学部に反射プリズムを搭載した位置
検出手段(移動位置検出手段)がある。
【0006】図13はこの簡略型の位置検出手段が搭載
された分離光学方式の光ピックアップを示す。図におい
て、固定光学部20には半導体レーザ1等が搭載されて
いる。また、可動光学部21は図示しないリニアモータ
により、図中zで示されるディスク(光ディスク)14
の半径方向に移動可能になっている。なお、ディスク1
4の表面に直角な方向をy、y方向およびz方向のいず
れにも直角な方向をxで示してある。以下にこの光ピッ
クアップの概略動作を説明する。
された分離光学方式の光ピックアップを示す。図におい
て、固定光学部20には半導体レーザ1等が搭載されて
いる。また、可動光学部21は図示しないリニアモータ
により、図中zで示されるディスク(光ディスク)14
の半径方向に移動可能になっている。なお、ディスク1
4の表面に直角な方向をy、y方向およびz方向のいず
れにも直角な方向をxで示してある。以下にこの光ピッ
クアップの概略動作を説明する。
【0007】固定光学部20内の半導体レーザ1から出
射された光ビームは、コリメートレンズ2によって平行
光にされ、続いて整形プリズム3によって円形ビームに
された後、偏光ビームスプリッター4によって反射光L
1と透過光L2とに分離される。そして透過光L2は、固
定光学部20から可動光学部21に向けて、可動光学部
21の移動軸の方向、すなわちz方向に向かう。
射された光ビームは、コリメートレンズ2によって平行
光にされ、続いて整形プリズム3によって円形ビームに
された後、偏光ビームスプリッター4によって反射光L
1と透過光L2とに分離される。そして透過光L2は、固
定光学部20から可動光学部21に向けて、可動光学部
21の移動軸の方向、すなわちz方向に向かう。
【0008】可動光学部21に導かれた透過光L2は、
立ち上げ45°ミラー11によって光路をy方向に変更
され、続いて、対物レンズ12によって上方のディスク
14の情報記録面に集光された後、該情報記録面によっ
て反射される。この反射光は、再び対物レンズ12を透
過し、立ち上げ45°ミラー11によって光路を90°
変更された後、再び固定光学部20内の偏光ビームスプ
リッター4に入射し、一部が反射されて、ウォーラスト
ンプリズム5、スポットレンズ6等を通過してディレク
ター7上に集光される。
立ち上げ45°ミラー11によって光路をy方向に変更
され、続いて、対物レンズ12によって上方のディスク
14の情報記録面に集光された後、該情報記録面によっ
て反射される。この反射光は、再び対物レンズ12を透
過し、立ち上げ45°ミラー11によって光路を90°
変更された後、再び固定光学部20内の偏光ビームスプ
リッター4に入射し、一部が反射されて、ウォーラスト
ンプリズム5、スポットレンズ6等を通過してディレク
ター7上に集光される。
【0009】一方、反射光L1は、一部が半導体レーザ
1の光出力を制御する自動出力制御装置(APC)用の
光検出器9に入射し、残りが反射ミラー8によって可動
光学部21の方向へ移動位置検出用の光ビームL1′と
して反射される。この反射光L1′は、可動光学部21
の移動軸に平行なz方向の光ビームであり、可動光学部
21に搭載された反射プリズム13によって反射されて
再び固定光学部20に戻ってくる。
1の光出力を制御する自動出力制御装置(APC)用の
光検出器9に入射し、残りが反射ミラー8によって可動
光学部21の方向へ移動位置検出用の光ビームL1′と
して反射される。この反射光L1′は、可動光学部21
の移動軸に平行なz方向の光ビームであり、可動光学部
21に搭載された反射プリズム13によって反射されて
再び固定光学部20に戻ってくる。
【0010】ここで反射プリズム13は、その反射光が
可動光学部21の移動軸に対してx方向に傾斜するよう
に、反射面がディスク14の表面に平行な面内で傾斜し
たウエッジプリズムになっている。そのため、反射プリ
ズム13で反射された光は、固定光学部20内の半導体
位置センサ10に角度を持って入射する。
可動光学部21の移動軸に対してx方向に傾斜するよう
に、反射面がディスク14の表面に平行な面内で傾斜し
たウエッジプリズムになっている。そのため、反射プリ
ズム13で反射された光は、固定光学部20内の半導体
位置センサ10に角度を持って入射する。
【0011】図14は上記位置検出手段の検出原理を示
す。半導体位置センサ10は、x方向の位置検出を行う
1次元のセンサである。半導体位置センサ10には、反
射プリズム13で反射された光が、可動光学部21の移
動軸に対してx方向に傾斜して入射する。そのため、半
導体位置センサ10に入射する光の傾斜角度をθとする
と、可動光学部21がz方向に距離lだけ移動したとき
は、半導体位置センサ10ではl×tanθだけ光ビー
ムがx方向に移動する。従って、半導体位置センサ10
の出力信号から、可動光学部21のz方向の位置が検出
される。
す。半導体位置センサ10は、x方向の位置検出を行う
1次元のセンサである。半導体位置センサ10には、反
射プリズム13で反射された光が、可動光学部21の移
動軸に対してx方向に傾斜して入射する。そのため、半
導体位置センサ10に入射する光の傾斜角度をθとする
と、可動光学部21がz方向に距離lだけ移動したとき
は、半導体位置センサ10ではl×tanθだけ光ビー
ムがx方向に移動する。従って、半導体位置センサ10
の出力信号から、可動光学部21のz方向の位置が検出
される。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな可動光学部の位置検出手段では、図15に示すよう
に、可動光学部21にy軸回りの回転ずれが生じると、
反射プリズム13で反射された光の傾斜角度θが変化す
る。そのため、半導体位置センサ10での受光位置がx
方向に移動し、可動光学部21の検出位置に誤差が生じ
る。一般に、可動光学部21と固定光学部20内の半導
体位置センサ10は部品の配置上、最接近した場合でも
ある程度は離れているため、離隔距離が長くなればなる
程、光ビームのシフト量は大きくなり、それに伴って位
置信号の誤差も大きくなる。
うな可動光学部の位置検出手段では、図15に示すよう
に、可動光学部21にy軸回りの回転ずれが生じると、
反射プリズム13で反射された光の傾斜角度θが変化す
る。そのため、半導体位置センサ10での受光位置がx
方向に移動し、可動光学部21の検出位置に誤差が生じ
る。一般に、可動光学部21と固定光学部20内の半導
体位置センサ10は部品の配置上、最接近した場合でも
ある程度は離れているため、離隔距離が長くなればなる
程、光ビームのシフト量は大きくなり、それに伴って位
置信号の誤差も大きくなる。
【0013】本発明は上記従来技術の問題点を解決する
ものであり、その目的は、分離光学方式の光ピックアッ
プにおける可動光学部の回転ずれの影響を排除でき、該
可動光学部の位置を高精度に検出できる光ピックアップ
を提供することにある。
ものであり、その目的は、分離光学方式の光ピックアッ
プにおける可動光学部の回転ずれの影響を排除でき、該
可動光学部の位置を高精度に検出できる光ピックアップ
を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明の光ピックアップ
は、光源及びディスクからの反射光を検出する光検出部
を備えた固定光学部と、光ビーム偏向手段及び対物レン
ズを備え、該ディスクの半径方向に移動可能になった可
動光学部に分離され、該可動光学部の位置検出手段を備
えた光ピックアップであって、該位置検出手段が、該光
源からの光ビームを該対物レンズに入射する光ビームと
は異なる方向に分離するビームスプリッターと、該異な
る方向に分離された光ビームのうち、該可動光学部に導
かれる光ビームを該固定光学部側に反射する反射手段
と、反射された光ビームを、該可動光学部の移動軸に対
して異なる方向に傾斜した2つの光ビームに分離する分
離手段と、該2つの光ビームを受光し、それぞれの位置
を検出する2つのセンサとを具備しており、そのことに
より上記目的が達成される。
は、光源及びディスクからの反射光を検出する光検出部
を備えた固定光学部と、光ビーム偏向手段及び対物レン
ズを備え、該ディスクの半径方向に移動可能になった可
動光学部に分離され、該可動光学部の位置検出手段を備
えた光ピックアップであって、該位置検出手段が、該光
源からの光ビームを該対物レンズに入射する光ビームと
は異なる方向に分離するビームスプリッターと、該異な
る方向に分離された光ビームのうち、該可動光学部に導
かれる光ビームを該固定光学部側に反射する反射手段
と、反射された光ビームを、該可動光学部の移動軸に対
して異なる方向に傾斜した2つの光ビームに分離する分
離手段と、該2つの光ビームを受光し、それぞれの位置
を検出する2つのセンサとを具備しており、そのことに
より上記目的が達成される。
【0015】好ましくは、前記反射手段及び分離手段
を、前記可動光学部に設けられた1つのウェッジプリズ
ムで構成する。
を、前記可動光学部に設けられた1つのウェッジプリズ
ムで構成する。
【0016】また、好ましくは、前記反射手段として、
前記可動光学部に設けられた平面ミラーを用い、前記分
離手段として、前記固定光学部に設けた回折格子を用い
る。
前記可動光学部に設けられた平面ミラーを用い、前記分
離手段として、前記固定光学部に設けた回折格子を用い
る。
【0017】また、好ましくは、前記反射手段として、
前記可動光学部に設けられた平面ミラーを用い、前記分
離手段として、前記固定光学部に設けたウェッジプリズ
ムを用いる。
前記可動光学部に設けられた平面ミラーを用い、前記分
離手段として、前記固定光学部に設けたウェッジプリズ
ムを用いる。
【0018】また、好ましくは、前記2つのセンサを前
記固定光学部に設ける。
記固定光学部に設ける。
【0019】また、好ましくは、前記2つのセンサを前
記可動光学部に設ける。
記可動光学部に設ける。
【0020】また、本発明の光ピックアップは、光源及
びディスクからの反射光を検出する光検出部を備えた固
定光学部と、光ビーム偏向手段及び対物レンズを備え、
該ディスクの半径方向に移動可能になった可動光学部に
分離され、該可動光学部の位置検出手段を備えた光ピッ
クアップであって、該位置検出手段が、該光源からの光
ビームを該対物レンズに入射する光ビームとは異なる方
向に分離するビームスプリッターと、該異なる方向に分
離された光ビームのうち、該可動光学部に導かれる光ビ
ームをその移動軸に対して傾斜して該固定光学部側に反
射する2つの面で構成された反射手段と、該光ビームを
受光し、その位置を検出するセンサとを具備しており、
そのことにより上記目的が達成される。
びディスクからの反射光を検出する光検出部を備えた固
定光学部と、光ビーム偏向手段及び対物レンズを備え、
該ディスクの半径方向に移動可能になった可動光学部に
分離され、該可動光学部の位置検出手段を備えた光ピッ
クアップであって、該位置検出手段が、該光源からの光
ビームを該対物レンズに入射する光ビームとは異なる方
向に分離するビームスプリッターと、該異なる方向に分
離された光ビームのうち、該可動光学部に導かれる光ビ
ームをその移動軸に対して傾斜して該固定光学部側に反
射する2つの面で構成された反射手段と、該光ビームを
受光し、その位置を検出するセンサとを具備しており、
そのことにより上記目的が達成される。
【0021】また、本発明の光ピックアップは、光源及
びディスクからの反射光を検出する光検出部を備えた固
定光学部と、光ビーム偏向手段及び対物レンズを備え、
該ディスクの半径方向に移動可能になった可動光学部に
分離され、該可動光学部の位置検出手段を備えた光ピッ
クアップであって、該位置検出手段が、該光源からの光
ビームを該対物レンズに入射する光ビームとは異なる方
向に分離するビームスプリッターと、該異なる方向に分
離された光ビームのうち、該可動光学部に導かれる光ビ
ームをその移動軸に対して傾斜して該固定光学部に反射
する反射手段と、該可動光学部に設けられ、該光ビーム
を受光し、その位置を検出するセンサとを具備してお
り、そのことにより上記目的が達成される。
びディスクからの反射光を検出する光検出部を備えた固
定光学部と、光ビーム偏向手段及び対物レンズを備え、
該ディスクの半径方向に移動可能になった可動光学部に
分離され、該可動光学部の位置検出手段を備えた光ピッ
クアップであって、該位置検出手段が、該光源からの光
ビームを該対物レンズに入射する光ビームとは異なる方
向に分離するビームスプリッターと、該異なる方向に分
離された光ビームのうち、該可動光学部に導かれる光ビ
ームをその移動軸に対して傾斜して該固定光学部に反射
する反射手段と、該可動光学部に設けられ、該光ビーム
を受光し、その位置を検出するセンサとを具備してお
り、そのことにより上記目的が達成される。
【0022】
【作用】上記の構成によれば、可動光学部の移動軸に対
して異なる方向に傾斜した2つの光ビームが固定光学部
に入射するので、可動光学部の移動位置が変化すると、
2つの半導体位置センサにおける受光位置が異なる方向
へ移動する。一方、分離された2つの光ビームを含む平
面内で可動光学部が回転ずれを起こした場合は、2つの
半導体位置センサにおける受光位置は同じ方向へ移動す
る。そのため、2つの半導体位置センサにおける受光位
置の変化から可動光学部の移動位置が検出されるように
しておけば、可動光学部の回転ずれによる受光位置変化
は互いに打ち消し合う。従って、検出された移動位置
は、可動光学部の回転ずれの影響を受けない。
して異なる方向に傾斜した2つの光ビームが固定光学部
に入射するので、可動光学部の移動位置が変化すると、
2つの半導体位置センサにおける受光位置が異なる方向
へ移動する。一方、分離された2つの光ビームを含む平
面内で可動光学部が回転ずれを起こした場合は、2つの
半導体位置センサにおける受光位置は同じ方向へ移動す
る。そのため、2つの半導体位置センサにおける受光位
置の変化から可動光学部の移動位置が検出されるように
しておけば、可動光学部の回転ずれによる受光位置変化
は互いに打ち消し合う。従って、検出された移動位置
は、可動光学部の回転ずれの影響を受けない。
【0023】
【実施例】以下に本発明の実施例を説明する。
【0024】(実施例1)図1に本発明光ピックアップ
実施例1を示す。この光ピックアップの位置検出手段以
外の構成は、上記図13の従来例の光ピックアップの構
成と同様であるので、対応する部分に同一の番号を付
し、詳細な説明は省略する。
実施例1を示す。この光ピックアップの位置検出手段以
外の構成は、上記図13の従来例の光ピックアップの構
成と同様であるので、対応する部分に同一の番号を付
し、詳細な説明は省略する。
【0025】固定光学部20内の半導体レーザ1から出
射した光は、コリメートレンズ2によって平行光にさ
れ、整形プリズム3によって円形ビームに整形された
後、偏光ビームスプリッタ4によって反射光L1と透過
光L2に分離される。透過光L2は、固定光学部20から
可動光学部21に導かれ、ディスク14上に情報記録面
に集光される。一方、反射光L1は、一部がAPC用の
光検出器9に入射され、残りが反射ミラー8によって可
動光学部21の方向へ移動位置検出用の光ビームとして
反射される。
射した光は、コリメートレンズ2によって平行光にさ
れ、整形プリズム3によって円形ビームに整形された
後、偏光ビームスプリッタ4によって反射光L1と透過
光L2に分離される。透過光L2は、固定光学部20から
可動光学部21に導かれ、ディスク14上に情報記録面
に集光される。一方、反射光L1は、一部がAPC用の
光検出器9に入射され、残りが反射ミラー8によって可
動光学部21の方向へ移動位置検出用の光ビームとして
反射される。
【0026】可動光学部21は、ディスク14の半径方
向、すなわちz方向に移動する。この移動は、図示しな
いリニアモータにより行われる。反射ミラー8によって
反射された光は、可動光学部21の移動軸に平行なz方
向の光ビームである。可動光学部21に入射したこの光
ビームは、可動光学部21に搭載されたウエッジプリズ
ム15によって固定光学部20の方向へ反射される。ウ
エッジプリズム15は、入射光をディスク14の表面に
平行な面内で、可動光学部21の移動軸の方向に対して
異なる方向(+x方向,−x方向)に等角度θで傾斜し
た2つの反射光L3、L4に分離して反射させる。そし
て、2つの反射光L3 、L4は、固定光学部20に搭載
された2つの半導体位置センサ10a、10bにそれぞ
れ入射する。
向、すなわちz方向に移動する。この移動は、図示しな
いリニアモータにより行われる。反射ミラー8によって
反射された光は、可動光学部21の移動軸に平行なz方
向の光ビームである。可動光学部21に入射したこの光
ビームは、可動光学部21に搭載されたウエッジプリズ
ム15によって固定光学部20の方向へ反射される。ウ
エッジプリズム15は、入射光をディスク14の表面に
平行な面内で、可動光学部21の移動軸の方向に対して
異なる方向(+x方向,−x方向)に等角度θで傾斜し
た2つの反射光L3、L4に分離して反射させる。そし
て、2つの反射光L3 、L4は、固定光学部20に搭載
された2つの半導体位置センサ10a、10bにそれぞ
れ入射する。
【0027】図2は可動光学部21の移動位置の検出原
理を示す。また、図3は可動光学部21の回転ずれの影
響が排除される原理を示す。2つの半導体位置センサ1
0a,10bは、いずれもx方向の位置検出を行う1次
元のセンサであって、受光位置がxの正方向へ移動する
と、どちらの出力も増加するようになっている。
理を示す。また、図3は可動光学部21の回転ずれの影
響が排除される原理を示す。2つの半導体位置センサ1
0a,10bは、いずれもx方向の位置検出を行う1次
元のセンサであって、受光位置がxの正方向へ移動する
と、どちらの出力も増加するようになっている。
【0028】今、図2に示すように、可動光学部21が
ディスク14の内周から外周側へ距離lだけ移動した場
合を仮定すると、反射光L3は半導体位置センサ10a
上で正の方向へl×tanθだけ移動する。一方、反射
光L4は半導体位置センサ10b上で同じ量だけ負の方
向へ移動する。そのため、半導体位置センサ10a、1
0bからの出力を差動増幅器30で演算処理すると、2
l×tanθに相当する出力が得られ、この出力から可
動光学部21の移動位置が検出される。
ディスク14の内周から外周側へ距離lだけ移動した場
合を仮定すると、反射光L3は半導体位置センサ10a
上で正の方向へl×tanθだけ移動する。一方、反射
光L4は半導体位置センサ10b上で同じ量だけ負の方
向へ移動する。そのため、半導体位置センサ10a、1
0bからの出力を差動増幅器30で演算処理すると、2
l×tanθに相当する出力が得られ、この出力から可
動光学部21の移動位置が検出される。
【0029】また、図3に示すように、可動光学部21
がy軸回りの回転ずれを起こした場合は、反射光L3、
L4 のいずれもが、半導体位置センサ10a、10b上
で同じ方向へほぼ同じ量だけ移動する。そのため、差動
増幅器30からの出力は殆ど変化しない。従って、可動
光学部21の検出位置は、可動光学部21の回転ずれの
影響を殆ど受けることがない。従って、高精度の移動位
置の検出が可能になる。
がy軸回りの回転ずれを起こした場合は、反射光L3、
L4 のいずれもが、半導体位置センサ10a、10b上
で同じ方向へほぼ同じ量だけ移動する。そのため、差動
増幅器30からの出力は殆ど変化しない。従って、可動
光学部21の検出位置は、可動光学部21の回転ずれの
影響を殆ど受けることがない。従って、高精度の移動位
置の検出が可能になる。
【0030】(実施例2)図4は本発明光ピックアップ
の実施例2を示す。本実施例2では、光ビームの分離手
段として、上記のウェッジプリズム15に代えて、固定
光学部20から可動光学部21の移動軸に略平行に出射
される光ビームL1の光路中に配置された透過型回折格
子16を用いている。
の実施例2を示す。本実施例2では、光ビームの分離手
段として、上記のウェッジプリズム15に代えて、固定
光学部20から可動光学部21の移動軸に略平行に出射
される光ビームL1の光路中に配置された透過型回折格
子16を用いている。
【0031】透過型回折格子16は、入射光をディスク
14の表面に平行な面内で、可動光学部21の移動軸の
方向に対して異なる方向(+x方向,−x方向)に等角
度θで傾斜した+1次光L3′と−1次光L4′とに分離
する。+1次光L3′と−1次光L4′は、可動光学部2
1に搭載された平面ミラー17によって反射されて、固
定光学部20内の半導体位置センサ10a、10bにそ
れぞれ入射する。平面ミラー17は、可動光学部21の
移動軸に対して直角に配置されている。また、半導体位
置センサ10a、10bは、いずれもx方向の位置検出
を行う1次元のセンサであり、それぞれの出力は図示さ
れない差動増幅器で演算処理される。
14の表面に平行な面内で、可動光学部21の移動軸の
方向に対して異なる方向(+x方向,−x方向)に等角
度θで傾斜した+1次光L3′と−1次光L4′とに分離
する。+1次光L3′と−1次光L4′は、可動光学部2
1に搭載された平面ミラー17によって反射されて、固
定光学部20内の半導体位置センサ10a、10bにそ
れぞれ入射する。平面ミラー17は、可動光学部21の
移動軸に対して直角に配置されている。また、半導体位
置センサ10a、10bは、いずれもx方向の位置検出
を行う1次元のセンサであり、それぞれの出力は図示さ
れない差動増幅器で演算処理される。
【0032】本実施例2においても、上記第1実施例と
同様に、差動増幅器の出力から可動光学部21の移動位
置が検出され、しかも、その検出位置は、可動光学部2
1の回転ずれの影響を殆ど受けない。
同様に、差動増幅器の出力から可動光学部21の移動位
置が検出され、しかも、その検出位置は、可動光学部2
1の回転ずれの影響を殆ど受けない。
【0033】透過型回折格子16を、図5および図6に
示すような透過型ウエッジプリズム18a、18bに変
更しても同様の効果を得ることができる。
示すような透過型ウエッジプリズム18a、18bに変
更しても同様の効果を得ることができる。
【0034】(実施例3)図7は本発明光ピックアップ
の実施例3を示す。また、図8に可動光学部21の回転
ずれの影響が排除される原理を示す。本実施例3では、
可動光学部21に入射された移動位置検出用の光ビーム
を、反射プリズム19に反射させて固定光学部20に戻
す構成をとっている。
の実施例3を示す。また、図8に可動光学部21の回転
ずれの影響が排除される原理を示す。本実施例3では、
可動光学部21に入射された移動位置検出用の光ビーム
を、反射プリズム19に反射させて固定光学部20に戻
す構成をとっている。
【0035】反射プリズム19は、所定の角度を持って
対向する2つの反射面19a、19bを有し、可動光学
部21の移動軸に平行な入射光を反射面19a、19b
で2回反射させて、移動軸に対して傾斜した反射光とす
る。この反射光は固定光学部20内の半導体位置センサ
10に入射され、その出力から可動光学部21の移動位
置が検出される。
対向する2つの反射面19a、19bを有し、可動光学
部21の移動軸に平行な入射光を反射面19a、19b
で2回反射させて、移動軸に対して傾斜した反射光とす
る。この反射光は固定光学部20内の半導体位置センサ
10に入射され、その出力から可動光学部21の移動位
置が検出される。
【0036】可動光学部21が回転ずれを起こした場合
は、反射プリズム19の反射面19a、19bが同方向
に同じ量だけ傾斜するため、一方の反射面19aの光軸
移動が他方の反射面19bの傾斜で吸収される。そのた
め、反射プリズム19からの反射光の角度は変化しな
い。従って、本実施例においても、可動光学部21の検
出位置が、その回転ずれの影響を受けない。
は、反射プリズム19の反射面19a、19bが同方向
に同じ量だけ傾斜するため、一方の反射面19aの光軸
移動が他方の反射面19bの傾斜で吸収される。そのた
め、反射プリズム19からの反射光の角度は変化しな
い。従って、本実施例においても、可動光学部21の検
出位置が、その回転ずれの影響を受けない。
【0037】(実施例4)図9は本発明光ピックアップ
実施例4を示す。また、図10は可動光学部の回転ずれ
の影響が排除される原理を示す。本実施例4では、固定
光学部20から移動位置検出用の光ビームを、可動光学
部21の移動軸に対してx方向に傾斜させて出射させる
構成をとっている。そして、その光ビームを可動光学部
21に搭載した半導体位置センサ10で受光している。
実施例4を示す。また、図10は可動光学部の回転ずれ
の影響が排除される原理を示す。本実施例4では、固定
光学部20から移動位置検出用の光ビームを、可動光学
部21の移動軸に対してx方向に傾斜させて出射させる
構成をとっている。そして、その光ビームを可動光学部
21に搭載した半導体位置センサ10で受光している。
【0038】このような構成によれば、半導体位置セン
サ10の出力から可動光学部21の移動位置が検出され
ると共に、可動光学部21が回転ずれを起こしても半導
体位置センサ10での受光位置は変化しない。従って、
可動光学部21の検出位置が、その回転ずれの影響を受
けない。
サ10の出力から可動光学部21の移動位置が検出され
ると共に、可動光学部21が回転ずれを起こしても半導
体位置センサ10での受光位置は変化しない。従って、
可動光学部21の検出位置が、その回転ずれの影響を受
けない。
【0039】ただし、本実施例4では、可動光学部21
のx方向の位置ずれが、可動光学部21の検出位置に影
響する。これを除去するためには、図11に示すよう
に、可動光学部21に入射される光ビームを、異なる方
向に同じ角度で傾斜した2つのビームに分離し、それぞ
れを半導体位置センサ10a、10bに入射して、各出
力を図示されない差動増幅器で演算処理する。
のx方向の位置ずれが、可動光学部21の検出位置に影
響する。これを除去するためには、図11に示すよう
に、可動光学部21に入射される光ビームを、異なる方
向に同じ角度で傾斜した2つのビームに分離し、それぞ
れを半導体位置センサ10a、10bに入射して、各出
力を図示されない差動増幅器で演算処理する。
【0040】そうすると、図12に示すように、可動光
学部21がx方向に位置ずれを起こしても、半導体位置
センサ10a、10bでの受光位置で同じ方向へほぼ同
じ量だけ移動するため、差動増幅器からの出力は殆ど変
化しない。すなわち、上記の実施例1および実施例2に
おいて、可動光学部21の回転ずれの影響が排除される
のと同じ原理で、可動光学部21のx方向の位置ずれに
よる影響が排除され、高精度の移動位置検出が可能にな
る。
学部21がx方向に位置ずれを起こしても、半導体位置
センサ10a、10bでの受光位置で同じ方向へほぼ同
じ量だけ移動するため、差動増幅器からの出力は殆ど変
化しない。すなわち、上記の実施例1および実施例2に
おいて、可動光学部21の回転ずれの影響が排除される
のと同じ原理で、可動光学部21のx方向の位置ずれに
よる影響が排除され、高精度の移動位置検出が可能にな
る。
【0041】
【発明の効果】本発明の光ピックアップは、このよう
に、いずれも分離光学方式の光ピックアップにおける可
動光学部の回転ずれの影響を相殺することにより、その
影響が可動光学部の検出位置に及ぶのを防止することが
できる。これにより常に安定した状態で、可動光学部の
移動位置を高精度に検出できる。従って、高速かつ正確
なアクセス動作が可能になるので、光ピックアップの信
頼性を格段に向上できる。
に、いずれも分離光学方式の光ピックアップにおける可
動光学部の回転ずれの影響を相殺することにより、その
影響が可動光学部の検出位置に及ぶのを防止することが
できる。これにより常に安定した状態で、可動光学部の
移動位置を高精度に検出できる。従って、高速かつ正確
なアクセス動作が可能になるので、光ピックアップの信
頼性を格段に向上できる。
【図1】本発明の光ピックアップの実施例1を示す概略
構成図。
構成図。
【図2】実施例1の光ピックアップにおける可動光学部
の移動位置の検出原理を示す模式図。
の移動位置の検出原理を示す模式図。
【図3】実施例1の光ピックアップにおける可動光学部
の回転ずれの影響が排除される原理を示す模式図。
の回転ずれの影響が排除される原理を示す模式図。
【図4】本発明光ピックアップの実施例2を示す模式
図。
図。
【図5】実施例2の光ピックアップにおけるビーム分離
手段の他の例を示す模式図。
手段の他の例を示す模式図。
【図6】実施例2の光ピックアップにおけるビーム分離
手段の更に他の例を示す模式図。
手段の更に他の例を示す模式図。
【図7】本発明光ピックアップの実施例3を示す模式
図。
図。
【図8】実施例3の光ピックアップにおける可動光学部
の回転ずれの影響が排除される原理を示す模式図。
の回転ずれの影響が排除される原理を示す模式図。
【図9】本発明光ピックアップの実施例4を示す模式
図。
図。
【図10】実施例4の光ピックアップにおける可動光学
部の回転ずれの影響が排除される原理を示す模式図。
部の回転ずれの影響が排除される原理を示す模式図。
【図11】実施例4の光ピックアップにおける他の実施
例を示す模式図。
例を示す模式図。
【図12】図11に示す光ピックアップにおける可動光
学部の回転ずれの影響が排除される原理を示す模式図。
学部の回転ずれの影響が排除される原理を示す模式図。
【図13】可動光学部の移動位置を検出する位置検出手
段を備えた分離光学方式の光ピックアップの従来例を示
す概略構成図。
段を備えた分離光学方式の光ピックアップの従来例を示
す概略構成図。
【図14】従来例における可動光学部の移動位置検出原
理を示す模式図。
理を示す模式図。
【図15】従来例における可動光学部の回転ずれの影響
を示す模式図。
を示す模式図。
1 半導体レーザ 4 偏光ビームスプリッタ 8 反射ミラー 10、10a、10b 半導体位置センサ 15 ウエッジプリズム(ビーム分離手段) 16 透過型回折格子(ビーム分離手段) 18a、18b 透過型ウエッジプリズム(ビーム分離
手段) 19 反射プリズム(ビーム反射手段) 19a、19b 反射面 20 固定光学部 21 可動光学部
手段) 19 反射プリズム(ビーム反射手段) 19a、19b 反射面 20 固定光学部 21 可動光学部
Claims (7)
- 【請求項1】 光源及びディスクからの反射光を検出す
る光検出部を備えた固定光学部と、光ビーム偏向手段及
び対物レンズを備え、該ディスクの半径方向に移動可能
になった可動光学部に分離され、該可動光学部の位置検
出手段を備えた光ピックアップであって、 該位置検出手段が、 該光源からの光ビームを該対物レンズに入射する光ビー
ムとは異なる方向に分離するビームスプリッターと、 該異なる方向に分離された光ビームのうち、該可動光学
部に導かれる光ビームを該固定光学部側に反射する反射
手段と、 反射された光ビームを、該可動光学部の移動軸に対して
異なる方向に傾斜した2つの光ビームに分離する分離手
段と、 該2つの光ビームを受光し、それぞれの位置を検出する
2つのセンサとを具備する光ピックアップ。 - 【請求項2】 前記反射手段及び分離手段が、前記可動
光学部に設けられた1つのウェッジプリズムで構成され
ている請求項1記載の光ピックアップ。 - 【請求項3】 前記反射手段が前記可動光学部に設けら
れた平面ミラーであり、前記分離手段が前記固定光学部
に設けた回折格子である請求項1記載の光ピックアッ
プ。 - 【請求項4】 前記反射手段が前記可動光学部に設けら
れた平面ミラーであり、前記分離手段が前記固定光学部
に設けたウェッジプリズムである請求項1記載の光ピッ
クアップ。 - 【請求項5】 前記2つのセンサが前記固定光学部に設
けられている請求項1記載の光ピックアップ。 - 【請求項6】 光源及びディスクからの反射光を検出す
る光検出部を備えた固定光学部と、光ビーム偏向手段及
び対物レンズを備え、該ディスクの半径方向に移動可能
になった可動光学部に分離され、該可動光学部の位置検
出手段を備えた光ピックアップであって、 該位置検出手段が、 該光源からの光ビームを該対物レンズに入射する光ビー
ムとは異なる方向に分離するビームスプリッターと、 該異なる方向に分離された光ビームのうち、該可動光学
部に導かれる光ビームをその移動軸に対して傾斜して該
固定光学部側に反射する2つの面で構成された反射手段
と、 該光ビームを受光し、その位置を検出するセンサとを具
備する光ピックアップ。 - 【請求項7】 光源及びディスクからの反射光を検出す
る光検出部を備えた固定光学部と、光ビーム偏向手段及
び対物レンズを備え、該ディスクの半径方向に移動可能
になった可動光学部に分離され、該可動光学部の位置検
出手段を備えた光ピックアップであって、 該位置検出手段が、 該光源からの光ビームを該対物レンズに入射する光ビー
ムとは異なる方向に分離するビームスプリッターと、 該異なる方向に分離された光ビームのうち、該可動光学
部に導かれる光ビームをその移動軸に対して傾斜して該
固定光学部に反射する反射手段と、 該可動光学部に設けられ、該光ビームを受光し、その位
置を検出するセンサとを具備する光ピックアップ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5318392A JP3006987B2 (ja) | 1993-12-17 | 1993-12-17 | 光ピックアップ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5318392A JP3006987B2 (ja) | 1993-12-17 | 1993-12-17 | 光ピックアップ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07176056A true JPH07176056A (ja) | 1995-07-14 |
JP3006987B2 JP3006987B2 (ja) | 2000-02-07 |
Family
ID=18098644
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5318392A Expired - Fee Related JP3006987B2 (ja) | 1993-12-17 | 1993-12-17 | 光ピックアップ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3006987B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100604014B1 (ko) * | 2004-06-21 | 2006-07-24 | 엘지전자 주식회사 | 홀로그래픽 데이터 저장 시스템 |
-
1993
- 1993-12-17 JP JP5318392A patent/JP3006987B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100604014B1 (ko) * | 2004-06-21 | 2006-07-24 | 엘지전자 주식회사 | 홀로그래픽 데이터 저장 시스템 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3006987B2 (ja) | 2000-02-07 |
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Date | Code | Title | Description |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19991111 |
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