JPH07165639A - フルオロベンゼン誘導体 - Google Patents
フルオロベンゼン誘導体Info
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Abstract
し、Jは−CH2CH2−又は単結合を表わし、nは0又
は1の整数を表わし、Xは水素原子又はフッ素原子を表
わし、Yはフッ素原子又はトリフルオロメチル基を表わ
し、シクロヘキサン環はトランス配置である。)で表わ
される化合物。 【効果】 この化合物は、他の液晶材料との相溶性に優
れ、誘電異方性が正で非常に大きく、比抵抗が高く、電
圧保持率も高いので、低電圧駆動が要求される液晶表示
素子、特にアクティブマトリックス駆動表示素子の構成
材料として有用である。
Description
として有用な、新規なフルオロベンゼン誘導体である液
晶化合物、及びそれを含有する液晶組成物に関する。
して、各種測定機器、自動車用パネル、ワープロ、電子
手帳、プリンター、コンピューター、テレビ等に用いら
れるようになっている。液晶表示方式としては、その代
表的なものにTN(捩れネマチック)型、STN(超捩
れネマチック)型、DS(動的光散乱)型、GH(ゲス
ト・ホスト)型あるいはFLC(強誘電性液晶)等が知
られているが、このうち現在最もよく用いられているの
はTN型及びSTN型である。また駆動方式としても従
来のスタティック駆動からマルチプレックス駆動が一般
的になり、更に単純マトリックス方式、最近ではアクテ
ィブマトリックス方式が実用化されている。これらのう
ち、アクティブマトリックス方式によると、最も高画質
の表示が可能であり、視野角が広く、高精細化、カラー
化が容易で、動画表示も可能であるので、今後の液晶表
示方式の主流になると考えられている。
いられる液晶材料としては、通常の液晶表示と同様に、
種々の特性が要求されているが、特に(1)比抵抗が高
く、電圧の保持率に優れること、(2)しきい値電圧
(Vth)が低いこと、(3)液晶相の温度範囲が広いこ
と、(4)応答性に優れることが重要である。
(1)
を、Δεは誘電率異方性をそれぞれ表わす。)で表わさ
れるが、この式からわかるようにしきい値電圧を低くす
るためには液晶材料の弾性定数を小さくするか、あるい
は誘電率異方性を大きくする必要がある。
くするためには、主としてシアノ基を有する化合物が用
いられてきたが、シアノ基を有する化合物を用いると液
晶組成物の高い比抵抗値や高い電圧保持率を得ることは
困難であった。そのため、誘電率異方性を大きくするた
めに、シアノ基に代えて、4−フルオロフェニル基や
3,4−ジフルオロフェニル基のようにフッ素原子が用
いられてきている。
率異方性はシアノ基を有する化合物と比較するとかなり
小さく、従って充分低いしきい値電圧の液晶組成物を得
ることはかなり困難であった。
性が大きく、しきい値電圧を低下させることのできる化
合物として、例えば3,4,5−トリフルオロフェニル
基を有する化合物が報告されている。(特開平2−23
3626号公報に記載)しかしながら、該公報に記載さ
れている液晶化合物の誘電率異方性は+10程度であ
り、シアノ系の化合物と比べるとまだ充分大きいとは言
えない。
きくするためには、3,4,5−トリフルオロフェニル
基を有する液晶化合物において、他のフェニル基の同一
位置にフッ素原子を更に導入することが考えられる。
5’−ペンタフルオロビフェニル骨格を有する式(A)
際液晶学会、A−P32、於ピサ)それによると、式
(A)の化合物は+25もの大きい誘電率異方性を有し
ている。更に、本発明者らは、4−置換−2,6,
3’,4’,5’−ペンタフルオロビフェニル骨格を有
する式(B)
きい値電圧を低下させることを見いだした。しかしなが
ら、上記の式(A)及び式(B)の化合物は、母体液晶
との相溶性の点で問題があるので液晶組成物に添加でき
る量が制限され、これら化合物の電気光学的特性を充分
に発現させることは困難であった。
しきい値電圧を大きく低下させることのできる化合物と
して式(C)
(C)の化合物は屈折率異方性(Δn)が大きく、低い
Δnが要求されるアクティブマトリックス駆動用として
は、その添加量は制限される。
動用の材料として、母体液晶との相溶性に優れ、誘電率
異方性が大きく、しかも液晶組成物のしきい値電圧を低
下させ、比抵抗と電圧保持率を高くする実用的化合物は
知られていなかった。
する課題は、母体液晶との相溶性に優れ、誘電率異方性
が非常に大きく、液晶組成物のしきい値電圧を低下さ
せ、比抵抗と電圧保持率を大きくする化合物を提供する
ことにある。
動が可能なアクティブマトリックス駆動に適した液晶組
成物を提供することにある。
決するために、一般式(I)
ル基を表わすが、2〜7の直鎖状アルキル基が好まし
い。Jは−CH2CH2−又は単結合を表わすが、単結合
が好ましい。nは0又は1の整数を表わし、Xは水素原
子又はフッ素原子を表わすが、フッ素原子が好ましい。
Yはフッ素原子又はトリフルオロメチル基を表わすが、
フッ素原子が好ましい。シクロヘキサン環はトランス配
置である。)で表わされる化合物を提供する。
は、例えば、以下のようにして製造することができる。
ヘキサン環の配置は一般式(I)におけると同じ意味を
表わし、Q及びQ’は各々独立的に、沃素原子又は臭素
原子を表わす。) 第1段階:一般式(II)の化合物を銅とパラジウム等
触媒の存在下、2−メチル−3−ブチン−2−オールと
反応させることにより、一般式(III)の化合物を製
造する。 第2段階:一般式(III)の化合物を水酸化ナトリウ
ム等の塩基と反応させ、一般式(IV)の化合物を製造
する。 第3段階:一般式(IV)の化合物を銅とパラジウム等
触媒の存在下、一般式(V)の化合物と反応させ、一般
式(VI)の化合物を製造する。 第4段階:一般式(VI)の化合物をパラジウムカーボ
ン等の触媒の存在下に接触還元することにより、本発明
の一般式(I)の化合物を製造する。
ば、次の製造方法に従って製造することができる。
サン環の配置は一般式(I)におけると同じ意味を表わ
し、Q及びQ’は前述と同じ意味を表わす。) 第1段階:一般式(VII)の化合物をマグネシウムと
反応させてグリニャール試剤とした後、一般式(VII
I)の化合物と反応させ、一般式(IX)の化合物を製
造する。 第2段階:一般式(IX)の化合物を酸触媒の存在下に
脱水し、一般式(X)の化合物を製造する。 第3段階:一般式(X)の化合物をパラジウムカーボン
等の触媒の存在下に接触還元した後、塩基の存在下に異
性化し、一般式(XI)の化合物を製造する。 第4段階:一般式(XI)の化合物を過沃素酸の存在
下、沃素と反応させるか、鉄の存在下、臭素と反応させ
るか、あるいは、ニトロ化し、還元してアミノ基とした
後、ジアゾ分解により、沃素又は臭素化することによ
り、一般式(V)の化合物を製造する。また、特に、X
=フッ素原子である場合には、一般式(XI)の化合物
をブチルリチウム等を用いてリチオ化した後、沃素等の
ハロゲンと反応させることにより、一般式(V)の化合
物を製造することもできる。
この一般式(V)の化合物を用いて、以下のようにして
も製造することができる。
ヘキサン環の配置は一般式(I)におけると同じ意味を
表わし、Q及びQ’は前述と同じ意味を表わす。) 第1段階:一般式(V)の化合物をブチルリチウム等を
用いてリチオ化した後、N,N−ジメチルホルムアミド
と反応させるか、オルトギ酸エステルと反応させ、加水
分解させることにより一般式(XII)の化合物を製造
する。 第2段階:一般式(XII)の化合物を式(XIII)
の化合物と反応させた後、加水分解することにより一般
式(XIV)の化合物を製造する。 第3段階:一般式(II)の化合物をマグネシウムと反
応させてグリニャール試剤とした後、一般式(XIV)
の化合物と反応させることにより一般式(XV)の化合
物を製造する。 第4段階:一般式(XV)の化合物を酸触媒の存在下、
脱水することにより、一般式(XVI)の化合物を製造
する。 第5段階:一般式(XVI)の化合物をパラジウムカー
ボン等の触媒の存在下、接触還元することにより本発明
の一般式(I)の化合物を製造する。
る液晶性化合物の代表的なものの例を第1表に示す。
相を、Iは等方性液体相を各々表わす。相転移温度は数
字の左側と右側の相との間の転移温度を表わし、例え
ば、Cr115 Nは結晶相とネマチック相との間の転
移温度が115℃であることを表わす。) 本発明の一般式(I)の化合物は、他のネマチック液晶
化合物との混合物の状態で、特にTN型あるいはSTN
型といった電界効果型表示セルの材料として、好適に使
用することができる。しかも非常に大きい誘電率異方性
を有するにもかかわらず、分子内にシアノ基やエステル
結合などの強い極性基が存在しないので、大きい比抵抗
と高い電圧保持率を得ることが容易である。そのため、
アクティブマトリックス駆動用液晶材料の構成成分とし
て特に適しており、本発明は一般式(I)の化合物を含
有する液晶組成物をも提供する。
有する液晶組成物は、以下に示すように優れた特徴を有
する。粘性が低く、高速応答性に優れたアクティブマト
リックス用組成物である母体液晶(a)
℃であり、誘電率異方性は+4.8である。また、この
組成物をセル厚4.5μmのTNセルに封入して液晶素
子を作製し、そのしきい値電圧を測定したところ、1.
88Vであった。
第1表中の(No.1)
調製したところ、TNIは73℃と低下したが、誘電率異
方性は+7.5と非常に大きくなり、同様にして液晶素
子を作製してしきい値電圧を測定したところ、1.20
Vと大きく低下した。
(a)70重量%からなる液晶組成物を調製しようとし
たところ、析出物が生じたため諸特性を測定することは
できなかった。
の化合物の添加量を調整したところ、式(B)の化合物
の添加量は15重量%が限度であった。この式(B)の
化合物15重量%及び母体液晶(a)85重量%からな
る液晶組成物は、しきい値電圧は1.47Vまでしか低
下しなかった。
0重量%からなる液晶組成物を調製したところ、TNIは
123℃まで上昇した。誘電率異方性は+6.3と大き
くなり、同様にして液晶素子を作製してしきい値電圧を
測定したところ、TNIが7℃も上昇したにもかかわら
ず、1.68Vと母体液晶(a)に比べて、0.20V
も低下した。
を用いることにより、Vthの低いアクティブマトリック
ス用液晶組成物を容易に得ることができる。さて、この
ように一般式(I)で表わされる化合物と混合すること
により、液晶組成物として使用することのできるネマチ
ック液晶化合物の好ましい代表例としては、例えば、4
−置換安息香酸4−置換フェニルエステル、4−置換シ
クロヘキサンカルボン酸4−置換フェニルエステル、4
−置換シクロヘキサンカルボン酸4’−置換ビフェニリ
ルエステル、4−(4−置換シクロヘキサンカルボニル
オキシ)安息香酸4−置換フェニルエステル、4−(4
−置換シクロヘキシル)安息香酸4−置換フェニルエス
テル、4−(4−置換シクロヘキシル)安息香酸4−置
換シクロヘキシルエステル、4,4’−置換ビフェニ
ル、1−(4−置換フェニル)−4−置換シクロヘキサ
ン、4,4”−置換ターフェニル、1−(4’−置換ビ
フェニリル)−4−置換シクロヘキサン、1−(4−置
換シクロヘキシル)−4−(4−置換フェニル)シクロ
ヘキサン、2−(4−置換フェニル)−5−置換ピリミ
ジン、2−(4−置換ビフェニリル)−5−置換ピリミ
ジン、1−(4−置換シクロヘキシル)−2−(4−置
換シクロヘキシル)エタン、1−(4−置換シクロヘキ
シル)−2−(4−置換フェニル)エタン、1−[4−
(4−置換シクロヘキシル)シクロヘキシル]−2−
(4−置換フェニル)エタン、1−[4−(4−置換フ
ェニル)シクロヘキシル]−2−(4−置換シクロヘキ
シル)エタン、1−(4−置換フェニル)−2−(4−
置換フェニル)エチン、1−[4−(4−置換シクロヘ
キシル)]−2−(4−置換フェニル)エチン等を挙げ
ることができる。
は、4,4’−置換ビフェニル、1−(4−置換フェニ
ル)−4−置換シクロヘキサン、4,4”−置換ターフ
ェニル、1−(4’−置換ビフェニリル)−4−置換シ
クロヘキサン、1−(4−置換シクロヘキシル)−4−
(4−置換フェニル)シクロヘキサン、1−(4−置換
シクロヘキシル)−2−(4−置換シクロヘキシル)エ
タン、1−(4−置換シクロヘキシル)−2−(4−置
換フェニル)エタン、1−[4−(4−置換シクロヘキ
シル)シクロヘキシル]−2−(4−置換フェニル)エ
タン、1−[4−(4−置換フェニル)シクロヘキシ
ル]−2−(4−置換シクロヘキシル)エタン、1−
(4−置換フェニル)−2−(4−置換フェニル)エチ
ン、1−[4−(4−置換シクロヘキシル)]−2−
(4−置換フェニル)エチン等が好ましい。
説明する。しかしながら、本発明はこれらの実施例に限
定されるものではない。 (実施例1) 1−(トランス−4−プロピルシクロヘ
キシル)−4−[2−(3,4,5−トリフルオロフェ
ニル)エチル]−3,5−ジフルオロベンゼンの合成 (1) 1−(3,5−ジフルオロフェニル)−4−プ
ロピルシクロヘキセンの合成
ン10mlに懸濁し、3,5−ジフルオロ−1−ブロモ
ベンゼン50.0gのテトラヒドロフラン200ml溶
液をテトラヒドロフランが穏やかに還流を続ける速度で
滴下した。滴下終了後、更に1時間室温で攪拌した。こ
の溶液に、4−プロピルシクロヘキサノン29.0gの
テトラヒドロフラン80ml溶液を室温で30分間滴下
し、更に室温で1時間攪拌した。10%塩酸を弱酸性に
なるまで加え、反応生成物をトルエン300mlで抽出
し、有機層を飽和食塩水で洗浄し、無水硫酸ナトリウム
で乾燥し、溶媒を溜去した。得られた油状物をトルエン
300mlに溶解し、p−トルエンスルホン酸1水和物
2.0gを加え、3時間加熱還流させた。室温まで放冷
し、飽和炭酸水素ナトリウム水溶液、水、飽和食塩水で
順次洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥し、溶媒を溜去
し、1−(3,5−ジフルオロフェニル)−4−プロピ
ルシクロヘキセン48.6gを得た。 (2) 1−(トランス−4−プロピルシクロヘキシ
ル)−3,5−ジフルオロベンゼンの合成
ロフェニル)−4−プロピルシクロヘキセン48.6g
を酢酸エチル250mlに溶解し、5%パラジウムカー
ボン5gを加え、水素圧3気圧で、3時間反応させた。
触媒を濾別し、溶媒を溜去した後、N,N−ジメチルホ
ルムアミド250mlに溶解し、t−ブトキシカリウム
24.3gを加え、室温で3時間攪拌した。水250m
lを加え、反応生成物をヘキサン200mlで抽出し、
有機層を水、飽和食塩水で順次洗浄し、無水硫酸ナトリ
ウムで乾燥した。溶媒を溜去し、シリカゲルカラムクロ
マトグラフィー(溶媒:ヘキサン)を用いて精製して、
1−(トランス−4−プロピルシクロヘキシル)−3,
5−ジフルオロベンゼン30.2gを得た。 (3) 1−(トランス−4−プロピルシクロヘキシ
ル)−3,5−ジフルオロ−4−ヨードベンゼンの合成
ロピルシクロヘキシル)−3,5−ジフルオロベンゼン
14.8gをテトラヒドロフラン80mlに溶解し、−
50℃以下に冷却した。−50℃以下を保つ速度でn−
ブチルリチウムヘキサン溶液(1.68mol/l)4
5mlを滴下した。次に、沃素17.4gのテトラヒド
ロフラン180ml溶液を−50℃以下を保つ速度で滴
下し、更に−50℃以下で30分間攪拌した。水50m
lを加え室温に戻し、反応生成物をヘキサン200ml
で抽出した。有機層を10%亜硫酸水素ナトリウム水溶
液、水、飽和食塩水で順次洗浄し、無水硫酸ナトリウム
で乾燥し、溶媒を溜去した後、シリカゲルカラムクロマ
トグラフィー(溶媒:ヘキサン)を用いて精製して、1
−(トランス−4−プロピルシクロヘキシル)−3,5
−ジフルオロ−4−ヨードベンゼン22.0gを得た。 (4) 4−(3,4,5−トリフルオロフェニル)−
2−メチル−3−ブチン−2−オールの合成
ンゼン300gと2−メチル−3−ブチン−2−オール
144gをN,N−ジメチルホルムアミド900ml及
びトリエチルアミン300mlに溶解した。この溶液に
ヨウ化銅(I)1.4gとジクロロ−ビス(トリフェニ
ルホスフィン)パラジウム(II)5.0gを加え、8
0℃で30分加熱攪拌した。室温まで放冷し、水1.2
lを加え、反応生成物をヘキサン1.4lで抽出し、有
機層を水、飽和食塩水で順次洗浄し、更に無水硫酸ナト
リウムで乾燥した。溶媒を溜去し、蒸留により精製
(b.p.94〜100℃/1mmHg)し、4−
(3,4,5−トリフルオロフェニル)−2−メチル−
3−ブチン−2−オール275gを得た。 (5) 1−エチニル−3,4,5−トリフルオロベン
ゼンの合成
フルオロフェニル)−2−メチル−3−ブチン−2−オ
ール50gに水酸化カリウム0.23gを加え80℃で
3時間加熱攪拌した。室温まで放冷し、そのまま蒸留に
より精製(138℃/760mmHg)し、1−エチニ
ル−3,4,5−トリフルオロベンゼン22.2gを得
た。 (6) 1−[2,6−ジフルオロ−4−(トランス−
4−プロピルシクロヘキシル)フェニルエチニル]−
3,4,5−トリフルオロベンゼンの合成
ロピルシクロヘキシル)−3,5−ジフルオロ−4−ヨ
ードベンゼン10.0gと上記(5)で得た1−エチニ
ル−3,4,5−トリフルオロベンゼン5.2gを、ト
リエチルアミン30ml及びN,N−ジメチルホルムア
ミド30mlに溶解した。ヨウ化銅(I)0.1gとジ
クロロ−ビス(トリフェニルホスフィン)パラジウム
(II)0.4gを加え、3時間加熱還流させた。室温
まで放冷した後、水100mlを加え、反応生成物をト
ルエン100mlで抽出し、更に有機層を水、飽和食塩
水で順次洗浄し、無水硫酸ナトリウムで乾燥した。溶媒
を溜去した後、シリカゲルカラムクロマトグラフィー
(溶媒:ヘキサン)を用いて精製して、1−[2,6−
ジフルオロ−4−(トランス−4−プロピルシクロヘキ
シル)フェニル]エチニル−3,4,5−トリフルオロ
ベンゼン10.4gを得た。 (7) 1−(トランス−4−プロピルシクロヘキシ
ル)−4−[2−(3,4,5−トリフルオロフェニ
ル)エチル]−3,5−ジフルオロベンゼンの合成
ロ−4−(トランス−4−プロピルシクロヘキシル)フ
ェニル]エチニル−3,4,5−トリフルオロベンゼン
4.6gを酢酸エチル50mlに溶解し、5%パラジウ
ムカーボン0.5gを加え、水素圧3気圧で、8時間反
応させた。触媒を濾別し、溶媒を溜去した。エタノール
から再結晶させて、4−(トランス−4−プロピルシク
ロヘキシル)−1−[2−(3,4,5−トリフルオロ
フェニル)エチル]−2,6ジフルオロベンゼン3.6
gを得た。 融点:78℃ (実施例2) 1−[トランス−4−(トランス−4−
プロピルシクロヘキシル)シクロヘキシル]−4−[2
−(3,4,5−トリフルオロフェニル)エチル]−
3,5−ジフルオロベンゼンの合成
キサノンに代えて、4−(トランス−4−プロピルシク
ロヘキシル)シクロヘキサノンを用いた以外は実施例1
と同様にして、1−[トランス−4−(トランス−4−
プロピルシクロヘキシル)シクロヘキシル]−4−[2
−(3,4,5−トリフルオロフェニル)エチル]−
3,5−ジフルオロベンゼンを得た。 相転移温度:115℃(Cr→N) 170℃(N−
I) (実施例3) 液晶組成物の調製(1) 低粘性で高速応答性に優れたアクティブマトリックス用
液晶組成物(a)
誘電率異方性(Δε)及びセル厚4.5μmのTNセル
に封入して作製した素子の20℃におけるしきい値電圧
(Vth)を測定したところ以下の通りであった。
1)
調製し、同様にして、TN-I、Δε及びVthを測定した
ところ以下の通りであった。 TN-I: 73.2℃ Δε: +7.5 Vth: 1.23V 従って、(No.1)の化合物を添加することにより、
誘電率異方性が大きく、しきい値電圧の低い液晶組成物
を容易に得られることが明らかである。 (実施例4) 液晶組成物の調製(2) 組成物(a)80重量%及び実施例2の(No.2)
調製し、同様にして、TN-I、Δε及びVthを測定した
ところ以下の通りであった。 TN-I: 123℃ Δε: +6.3 Vth: 1.68V 従って、(No.2)の化合物を添加することにより、
しきい値電圧の低い液晶組成物を容易に得られることが
明らかである。
物は、他の液晶材料との相溶性に優れ、分子内にシアノ
基やエステル結合などの強い極性基が存在しないので、
高い比抵抗と電圧保持率が得られ、また非常に大きい誘
電率異方性を示すので、液晶組成物の構成成分として使
用することにより、そのしきい値電圧を大きく低下させ
ることが可能である。従って、各種液晶表示素子、特に
アクティブマトリックス駆動液晶表示素子用液晶材料と
して適している。
Claims (4)
- 【請求項1】 一般式(I) 【化1】 (式中、Rは炭素原子数1〜10のアルキル基を表わ
し、Jは−CH2CH2−又は単結合を表わし、nは0又
は1の整数を表わし、Xは水素原子又はフッ素原子を表
わし、Yはフッ素原子又はトリフルオロメチル基を表わ
し、シクロヘキサン環はトランス配置である。)で表わ
される化合物。 - 【請求項2】 Xがフッ素原子である請求項1記載の化
合物。 - 【請求項3】 Yがフッ素原子である請求項2記載の化
合物。 - 【請求項4】 請求項1記載の一般式(I)で表わされ
る化合物を含有する液晶組成物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5315402A JPH07165639A (ja) | 1993-12-15 | 1993-12-15 | フルオロベンゼン誘導体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5315402A JPH07165639A (ja) | 1993-12-15 | 1993-12-15 | フルオロベンゼン誘導体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07165639A true JPH07165639A (ja) | 1995-06-27 |
Family
ID=18064964
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5315402A Pending JPH07165639A (ja) | 1993-12-15 | 1993-12-15 | フルオロベンゼン誘導体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07165639A (ja) |
-
1993
- 1993-12-15 JP JP5315402A patent/JPH07165639A/ja active Pending
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