JPH07159462A - アナログ信号の測定方法 - Google Patents
アナログ信号の測定方法Info
- Publication number
- JPH07159462A JPH07159462A JP30902293A JP30902293A JPH07159462A JP H07159462 A JPH07159462 A JP H07159462A JP 30902293 A JP30902293 A JP 30902293A JP 30902293 A JP30902293 A JP 30902293A JP H07159462 A JPH07159462 A JP H07159462A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- signal waveform
- level
- signal
- arithmetic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Abstract
(57)【要約】
【目的】 特定の処理を施された被測定信号波形を１周
期分取込むことで、処理内容を測定し、被測定信号波形
の歪みも同時に検出する。 【構成】 被測定信号波形をサンプリング周波数ｆSに
て取り込んだデータ列に２乗する演算工程１と、平方根
を取る演算工程２と、演算工程２後のデータ列の大小関
係より並べ替えを行う演算工程３と、演算工程１、演算
工程２、演算工程３後のデータ列より特定領域の面積を
算出する演算工程４と、算出値と理論値の比較を行う演
算工程５とを順次実行し、算出した特定領域の面積Ａ、
Ｂ、ＣとレベルＶ1，Ｖ4、シグナルグランドＶ3を用い
て被測定信号波形の良、不良を判定する。
期分取込むことで、処理内容を測定し、被測定信号波形
の歪みも同時に検出する。 【構成】 被測定信号波形をサンプリング周波数ｆSに
て取り込んだデータ列に２乗する演算工程１と、平方根
を取る演算工程２と、演算工程２後のデータ列の大小関
係より並べ替えを行う演算工程３と、演算工程１、演算
工程２、演算工程３後のデータ列より特定領域の面積を
算出する演算工程４と、算出値と理論値の比較を行う演
算工程５とを順次実行し、算出した特定領域の面積Ａ、
Ｂ、ＣとレベルＶ1，Ｖ4、シグナルグランドＶ3を用い
て被測定信号波形の良、不良を判定する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、アナログ信号の測定に
関するものである。
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図８に被測定信号波形を示す。同図にお
いて、Ｗ1は理想的正弦波に特定の処理（特定のレベル
の絶対値より被測定信号波形レベルの絶対値が大きい場
合には、被測定信号波形を出力する。また、小さい場合
には、小さくなり始めたところから一定の時間後に、被
測定信号波形のシグナルグランドにレベルを固定す
る。）を施した被測定信号波形、Ｌ1はハイレベル側リ
ミットレベル、Ｌ2はローレベル側リミットレベル、Ｖ3
は被測定信号波形のシグナルグランド、Ｖ1およびＶ2は
Ｗ1のレベルの絶対値がＬ1およびＬ2のレベルの絶対値
より小さくなり始めたレベル、時間Ｔ1およびＴ2はレベ
ルＶ1およびＶ2の点から被測定信号波形のレベルを保持
する時間である。
いて、Ｗ1は理想的正弦波に特定の処理（特定のレベル
の絶対値より被測定信号波形レベルの絶対値が大きい場
合には、被測定信号波形を出力する。また、小さい場合
には、小さくなり始めたところから一定の時間後に、被
測定信号波形のシグナルグランドにレベルを固定す
る。）を施した被測定信号波形、Ｌ1はハイレベル側リ
ミットレベル、Ｌ2はローレベル側リミットレベル、Ｖ3
は被測定信号波形のシグナルグランド、Ｖ1およびＶ2は
Ｗ1のレベルの絶対値がＬ1およびＬ2のレベルの絶対値
より小さくなり始めたレベル、時間Ｔ1およびＴ2はレベ
ルＶ1およびＶ2の点から被測定信号波形のレベルを保持
する時間である。
【０００３】同図の被測定信号波形Ｗ1には以下三つの
測定項目がある。一つめは時間Ｔ1および同Ｔ2、二つめ
はレベルＶ1および同Ｖ2で時間の測定を開始する。時間
Ｔ1および同Ｔ2を経過した時点で測定を終了し、そのと
きのシグナルグランドＶ3を測定する。この方法でシグ
ナルグランドＶ3のレベルを測定できると同時に、時間
Ｔ1および同Ｔ2を保証することができる。また別の方法
として、レベルＶ1および同Ｖ2で時間の測定を開始し、
被測定信号波形Ｗ1のレベルがシグナルグランドＶ3にな
った時点で測定を終了する。これらの工程により時間Ｔ
1および同Ｔ2の時間を測定することができ、レベルＶ1
および同Ｖ2を保証することができる。
測定項目がある。一つめは時間Ｔ1および同Ｔ2、二つめ
はレベルＶ1および同Ｖ2で時間の測定を開始する。時間
Ｔ1および同Ｔ2を経過した時点で測定を終了し、そのと
きのシグナルグランドＶ3を測定する。この方法でシグ
ナルグランドＶ3のレベルを測定できると同時に、時間
Ｔ1および同Ｔ2を保証することができる。また別の方法
として、レベルＶ1および同Ｖ2で時間の測定を開始し、
被測定信号波形Ｗ1のレベルがシグナルグランドＶ3にな
った時点で測定を終了する。これらの工程により時間Ｔ
1および同Ｔ2の時間を測定することができ、レベルＶ1
および同Ｖ2を保証することができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】図９に図８には見られ
ない大きな歪みを持った被測定信号波形を示す。同図に
おいて、Ｗ2は歪み成分を持った被測定信号波形、Ｄ1，
Ｄ2，Ｄ3およびＤ4は被測定信号波形Ｗ2が持つ歪み成分
である。
ない大きな歪みを持った被測定信号波形を示す。同図に
おいて、Ｗ2は歪み成分を持った被測定信号波形、Ｄ1，
Ｄ2，Ｄ3およびＤ4は被測定信号波形Ｗ2が持つ歪み成分
である。
【０００５】従来の測定で同図の被測定信号波形Ｗ2を
測定すると、シグナルグランドＶ3、時間Ｔ1および同Ｔ
2の測定はできるが、同図のような被測定信号波形の歪
みＤ1，Ｄ2，Ｄ3およびＤ4が検出できず、被測定信号波
形Ｗ2が被測定信号波形Ｗ1とあたかも同じ品質の被測定
信号波形と判断してしまう問題があり、レベルＶ1，Ｖ2
およびシグナルグランドＶ3のレベルを検出するための
電圧計も複数個必要となり、測定系の構成が大変複雑に
なってしまうという問題もあった。また、被測定信号波
形の品質を保証しようとした場合、歪みＤ1，Ｄ2，
Ｄ3、およびＤ4を検出のための測定を別に行う必要があ
り、複数のテストを行うためにテスト効率が低下してし
まうという問題があった。
測定すると、シグナルグランドＶ3、時間Ｔ1および同Ｔ
2の測定はできるが、同図のような被測定信号波形の歪
みＤ1，Ｄ2，Ｄ3およびＤ4が検出できず、被測定信号波
形Ｗ2が被測定信号波形Ｗ1とあたかも同じ品質の被測定
信号波形と判断してしまう問題があり、レベルＶ1，Ｖ2
およびシグナルグランドＶ3のレベルを検出するための
電圧計も複数個必要となり、測定系の構成が大変複雑に
なってしまうという問題もあった。また、被測定信号波
形の品質を保証しようとした場合、歪みＤ1，Ｄ2，
Ｄ3、およびＤ4を検出のための測定を別に行う必要があ
り、複数のテストを行うためにテスト効率が低下してし
まうという問題があった。
【０００６】本発明は上記の問題に鑑み、被測定信号波
形１周期分の取込みで時間Ｔ1，Ｔ2、レベルＶ1，Ｖ2お
よびシグナルグランドＶ3の測定を行い、被測定信号波
形Ｗ2の歪みも同時に測定することを目的とする。
形１周期分の取込みで時間Ｔ1，Ｔ2、レベルＶ1，Ｖ2お
よびシグナルグランドＶ3の測定を行い、被測定信号波
形Ｗ2の歪みも同時に測定することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明のアナログ信号の測定方法は、被測定信号波
形を特定領域の面積と特定のレベルに変換するための演
算工程１、演算工程２、演算工程３および演算工程４を
有し、前出演算工程処理後の値と理論値との比較を行
い、時間Ｔ1，Ｔ2、レベルＶ1〜Ｖ3、および歪みを算出
する工程とを備えている。
に、本発明のアナログ信号の測定方法は、被測定信号波
形を特定領域の面積と特定のレベルに変換するための演
算工程１、演算工程２、演算工程３および演算工程４を
有し、前出演算工程処理後の値と理論値との比較を行
い、時間Ｔ1，Ｔ2、レベルＶ1〜Ｖ3、および歪みを算出
する工程とを備えている。
【０００８】
【作用】本発明では被測定信号波形の特定領域の面積と
特定レベルを演算処理により時間Ｔ1，Ｔ2、レベル
Ｖ1，Ｖ2、およびシグナルグランドＶ3を算出するた
め、被測定信号波形１周期分のサンプリングデータの取
込みで測定することができる。演算処理によって得た特
定領域の面積と理論値の特定領域の面積を比較すること
で、特定時間内に被測定信号波形に現れた歪みＤ1，
Ｄ2，Ｄ3、およびＤ4も検出することができる。
特定レベルを演算処理により時間Ｔ1，Ｔ2、レベル
Ｖ1，Ｖ2、およびシグナルグランドＶ3を算出するた
め、被測定信号波形１周期分のサンプリングデータの取
込みで測定することができる。演算処理によって得た特
定領域の面積と理論値の特定領域の面積を比較すること
で、特定時間内に被測定信号波形に現れた歪みＤ1，
Ｄ2，Ｄ3、およびＤ4も検出することができる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明のアナログ信号の評価方法の一
実施例について、図面を参照しながら説明する。
実施例について、図面を参照しながら説明する。
【００１０】図１は本発明の演算処理過程における演算
処理３後の被測定信号波形である。図１の説明を詳しく
行うには演算処理過程に沿って説明しなくてはならな
い。よって次図２より本実施例の説明を行う。
処理３後の被測定信号波形である。図１の説明を詳しく
行うには演算処理過程に沿って説明しなくてはならな
い。よって次図２より本実施例の説明を行う。
【００１１】図２はサンプリング周波数ｆSで取込んだ
被測定信号波形を示す。Ｗ1は理想的正弦波に特定の処
理を施した被測定信号波形、Ｖ3は被測定信号波形Ｗ1の
シグナルグランド、Ｖ1およびＶ2は被測定信号波形Ｗ1
のレベルの絶対値がリミットレベルＬ1および同Ｌ2のレ
ベルの絶対値より小さくなり始めたレベル、時間Ｔ1お
よび同Ｔ2はレベルＶ1および同Ｖ2の点から被測定信号
波形Ｗ1のレベルを保持する時間、またレベルＶ4はレベ
ルＶ1より時間Ｔ1経過したときのレベル、Ｘ1およびＸ2
は被測定信号波形Ｗ1のレベルの絶対値がＬ1およびＬ2
のレベルの絶対値より大きくなり始めたレベルである。
被測定信号波形を示す。Ｗ1は理想的正弦波に特定の処
理を施した被測定信号波形、Ｖ3は被測定信号波形Ｗ1の
シグナルグランド、Ｖ1およびＶ2は被測定信号波形Ｗ1
のレベルの絶対値がリミットレベルＬ1および同Ｌ2のレ
ベルの絶対値より小さくなり始めたレベル、時間Ｔ1お
よび同Ｔ2はレベルＶ1および同Ｖ2の点から被測定信号
波形Ｗ1のレベルを保持する時間、またレベルＶ4はレベ
ルＶ1より時間Ｔ1経過したときのレベル、Ｘ1およびＸ2
は被測定信号波形Ｗ1のレベルの絶対値がＬ1およびＬ2
のレベルの絶対値より大きくなり始めたレベルである。
【００１２】同図において、被測定信号波形Ｗ1は、リ
ミットレベルＬ1より低くなったレベルＶ1から時間Ｔ1
後レベルＶ3に固定された状態になり、その後リミット
レベルＬ2より低くなったＸ2に達するとレベルＶ3より
解放されることを示し、リミットレベルＬ2より高くな
ったレベルＶ2から時間Ｔ2後、レベルＶ3に固定された
状態となり、その後リミットレベルＬ1より高くなった
レベルＸ1に達すると、シグナルグランドＶ3より解放さ
れることを示している。
ミットレベルＬ1より低くなったレベルＶ1から時間Ｔ1
後レベルＶ3に固定された状態になり、その後リミット
レベルＬ2より低くなったＸ2に達するとレベルＶ3より
解放されることを示し、リミットレベルＬ2より高くな
ったレベルＶ2から時間Ｔ2後、レベルＶ3に固定された
状態となり、その後リミットレベルＬ1より高くなった
レベルＸ1に達すると、シグナルグランドＶ3より解放さ
れることを示している。
【００１３】図３は、前出図２の被測定信号波形Ｗ1を
構成するサンプリングデータをサンプリングデータそれ
ぞれの項について２乗する演算工程１と、２乗されたデ
ータそれぞれの項について平方根を取る演算工程２を実
施した結果を示す。同図において、ａ1，ｂ1，ｃ1，
ａ2，ｂ2およびｃ2はそれぞれの区間での特定領域の面
積を示す。
構成するサンプリングデータをサンプリングデータそれ
ぞれの項について２乗する演算工程１と、２乗されたデ
ータそれぞれの項について平方根を取る演算工程２を実
施した結果を示す。同図において、ａ1，ｂ1，ｃ1，
ａ2，ｂ2およびｃ2はそれぞれの区間での特定領域の面
積を示す。
【００１４】図１は演算工程１、演算工程２および演算
工程３後の被測定信号波形を示す。同図において、Ａ、
ＢおよびＣはそれぞれの区間での特定領域の面積を示
す。同図の波形は、前出図３の波形データ列をレベルの
大きなデータより降順で並び換える演算工程３を実施し
た結果である。つづいて演算工程４により図３の示す複
数の領域の面積を個々に算出する。算出した結果より、
面積Ａは前出図３の面積ａ1と同ａ2の和であり、面積Ｃ
は前出図３の面積ｃ1と同ｃ2と同ｃ3との和である。よ
って残された面積Ｂは、前出図３の面積ｂ1と同ｂ2の和
となる。このとき、領域Ｂのデータ列第１項のレベルが
リミットレベルＬ1および同Ｌ2の絶対値と等しくなる。
また、面積Ｂを求めることにより、時間（Ｔ1＋Ｔ2）お
よび面積Ｂの区間での被測定信号波形Ｗ1の歪みを検出
することができる。算出された面積と理論値の面積との
比較を行う演算工程５を実施することにより良、不良を
判別することができる。
工程３後の被測定信号波形を示す。同図において、Ａ、
ＢおよびＣはそれぞれの区間での特定領域の面積を示
す。同図の波形は、前出図３の波形データ列をレベルの
大きなデータより降順で並び換える演算工程３を実施し
た結果である。つづいて演算工程４により図３の示す複
数の領域の面積を個々に算出する。算出した結果より、
面積Ａは前出図３の面積ａ1と同ａ2の和であり、面積Ｃ
は前出図３の面積ｃ1と同ｃ2と同ｃ3との和である。よ
って残された面積Ｂは、前出図３の面積ｂ1と同ｂ2の和
となる。このとき、領域Ｂのデータ列第１項のレベルが
リミットレベルＬ1および同Ｌ2の絶対値と等しくなる。
また、面積Ｂを求めることにより、時間（Ｔ1＋Ｔ2）お
よび面積Ｂの区間での被測定信号波形Ｗ1の歪みを検出
することができる。算出された面積と理論値の面積との
比較を行う演算工程５を実施することにより良、不良を
判別することができる。
【００１５】図４は被測定信号波形Ｗ1を演算工程１、
演算工程２を施さずに直接演算工程３を実施した結果を
示す。同図は演算工程３処理後の波形であり、前出図２
の被測定信号波形Ｗ1を構成するサンプリングデータを
サンプリングデータ列のレベルの大きなデータより降順
で並び換えた結果である。
演算工程２を施さずに直接演算工程３を実施した結果を
示す。同図は演算工程３処理後の波形であり、前出図２
の被測定信号波形Ｗ1を構成するサンプリングデータを
サンプリングデータ列のレベルの大きなデータより降順
で並び換えた結果である。
【００１６】図５は演算工程３、演算工程２後の被測定
信号波形を示す。同図は、前出図４を構成する波形デー
タ列をそれぞれの項について２乗する演算工程１と、２
乗されたデータそれぞれについて平方根を取る演算工程
２を実施した結果を示す。
信号波形を示す。同図は、前出図４を構成する波形デー
タ列をそれぞれの項について２乗する演算工程１と、２
乗されたデータそれぞれについて平方根を取る演算工程
２を実施した結果を示す。
【００１７】図６は前出図４波形データ列と前出図５の
波形データ列をそれぞれの項について平均値を算出した
結果を示す。同図より時間Ｔ1は容易に得ることがで
き、前出時間（Ｔ1＋Ｔ2）から時間Ｔ1を減算すること
によって時間Ｔ2も導き出すことができる。
波形データ列をそれぞれの項について平均値を算出した
結果を示す。同図より時間Ｔ1は容易に得ることがで
き、前出時間（Ｔ1＋Ｔ2）から時間Ｔ1を減算すること
によって時間Ｔ2も導き出すことができる。
【００１８】図７は前出図９の歪み成分を持つ被測定信
号波形Ｗ2を、演算工程１、演算工程２、演算工程３の
順で演算処理した結果である。同図において、Ｖ4は理
想状態での理想的正弦波に特定の処理を施した後出力で
きる最低のレベル、Ｄ、Ｅ、およびＦは同図におけるそ
れぞれの面積を示し、Ｇは面積（Ｄ＋Ｅ）と、理論値よ
り算出できる面積（Ａ＋Ｂ）の面積差である。よって、
面積Ｇは歪み成分を表す領域となる。
号波形Ｗ2を、演算工程１、演算工程２、演算工程３の
順で演算処理した結果である。同図において、Ｖ4は理
想状態での理想的正弦波に特定の処理を施した後出力で
きる最低のレベル、Ｄ、Ｅ、およびＦは同図におけるそ
れぞれの面積を示し、Ｇは面積（Ｄ＋Ｅ）と、理論値よ
り算出できる面積（Ａ＋Ｂ）の面積差である。よって、
面積Ｇは歪み成分を表す領域となる。
【００１９】以上の通り本発明の通り演算を行うと、同
図のようにレベルＶ1，Ｖ2を始めシグナルグランド
Ｖ3、時間（Ｔ1＋Ｔ2）、面積Ｄ〜Ｆの全てにおいて被
測定信号波形Ｗ2の不良を検出することができる。
図のようにレベルＶ1，Ｖ2を始めシグナルグランド
Ｖ3、時間（Ｔ1＋Ｔ2）、面積Ｄ〜Ｆの全てにおいて被
測定信号波形Ｗ2の不良を検出することができる。
【００２０】よって、以上の工程を経て、レベルＶ1，
Ｖ2、シグナルグランドＶ3、時間Ｔ1，Ｔ2、歪みＤ1〜
Ｄ4を演算により算出できることがわかる。
Ｖ2、シグナルグランドＶ3、時間Ｔ1，Ｔ2、歪みＤ1〜
Ｄ4を演算により算出できることがわかる。
【００２１】
【発明の効果】本発明によれば被測定信号波形を１周期
分だけサンプリングすることで測定時間を従来の方法よ
り短縮し、取り込んだサンプリングデータより面積とレ
ベルを算出し、その値を用いて判定を行うため、きわめ
て高精度で効率のよい評価方法を導くことができる。
分だけサンプリングすることで測定時間を従来の方法よ
り短縮し、取り込んだサンプリングデータより面積とレ
ベルを算出し、その値を用いて判定を行うため、きわめ
て高精度で効率のよい評価方法を導くことができる。
【図１】本発明の一実施例における演算工程１、演算工
程２、演算工程３を実施後の波形を示す図
程２、演算工程３を実施後の波形を示す図
【図２】本発明の一実施例におけるサンプリング周波数
ｆSで取込んだ被測定信号波形を示す図
ｆSで取込んだ被測定信号波形を示す図
【図３】本発明の一実施例における演算工程１、演算工
程２を実施後の波形を示す図
程２を実施後の波形を示す図
【図４】本発明の一実施例における演算工程１、演算工
程２を施さず、演算工程３を実施後の波形を示す図
程２を施さず、演算工程３を実施後の波形を示す図
【図５】本発明の一実施例における演算工程３を実施
後、演算工程１、演算工程２を実施した波形を示す図
後、演算工程１、演算工程２を実施した波形を示す図
【図６】本発明の一実施例における演算工程３、演算工
程１、演算工程２を実施後、演算工程５を実施した波形
を示す図
程１、演算工程２を実施後、演算工程５を実施した波形
を示す図
【図７】本発明の一実施例における歪みを持った波形を
演算工程１、演算工程２、演算工程３の順で演算を実施
した結果を示す図
演算工程１、演算工程２、演算工程３の順で演算を実施
した結果を示す図
【図８】従来の方法による測定を示す図
【図９】歪みを持った波形を示す図
Ｗ1 被測定信号波形 Ｗ2 歪み成分を持つ被測定信号波形 Ｄ1〜Ｄ4 歪み Ｖ1，Ｖ2 レベル Ｖ3 レベル（シグナルグランド） Ｔ1，Ｔ2 時間 Ｌ1，Ｌ2 リミットレベル Ｘ1，Ｘ2 レベル判定点 Ａ〜Ｇ 領域 ａ1 領域 ｂ1，ｂ2 領域 ｃ1〜ｃ3 領域 Ｖ4 理論値
Claims (1)
- 【請求項１】 サンプリング周波数ｆSにて被測定信号
波形を取り込む工程と、前記工程により取り込まれたデ
ータ列と、前記データ列を２乗する演算工程１と、平方
根を取る演算工程２と、前記演算工程２後のデータ列の
大小関係より並べ替えを行う演算工程３と、前出の演算
工程１、演算工程２、演算工程３後のデータ列より特定
領域の面積を算出する演算工程４と、前出演算工程４に
より算出された面積と理論値の面積同士の比較を行う演
算工程５とを備えたことを特徴とするアナログ信号の測
定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30902293A JPH07159462A (ja) | 1993-12-09 | 1993-12-09 | アナログ信号の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30902293A JPH07159462A (ja) | 1993-12-09 | 1993-12-09 | アナログ信号の測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07159462A true JPH07159462A (ja) | 1995-06-23 |
Family
ID=17987940
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30902293A Pending JPH07159462A (ja) | 1993-12-09 | 1993-12-09 | アナログ信号の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07159462A (ja) |
-
1993
- 1993-12-09 JP JP30902293A patent/JPH07159462A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2003177160A (ja) | 電気信号評価方法 | |
| JP2865842B2 (ja) | ディジタル信号の重み付け処理装置 | |
| JPH0718746B2 (ja) | 回転体の異常検出装置 | |
| JPH0645941A (ja) | 検査装置 | |
| JPH07159462A (ja) | アナログ信号の測定方法 | |
| JP3139803B2 (ja) | インパルス応答測定装置 | |
| JP4385523B2 (ja) | 半導体装置の動作試験装置および動作試験方法 | |
| CN103217575B (zh) | 信号敏感数据压缩 | |
| JP3755025B2 (ja) | 探索型の信号検出装置、信号検出方法、信号検出プログラム及びそのプログラムを記録した記録媒体 | |
| JP3554445B2 (ja) | 異音判定装置 | |
| JP2004045052A (ja) | 画像データ検査装置および画像データ検査方法 | |
| CN112730634B (zh) | 一种混凝土缺陷检测方法及系统 | |
| JPH0823312A (ja) | 信号処理装置 | |
| JP2601849Y2 (ja) | Ｌｓｉテスタ | |
| JPS6170473A (ja) | 波形解析装置 | |
| JP2720225B2 (ja) | 磁気ディスクテスターのエラー検査方式 | |
| JP2999108B2 (ja) | 超音波探傷信号の波形ピーク連続検出方法及び検出装置 | |
| JPH10285616A (ja) | ビデオ品質自動測定方法及び装置 | |
| JP3170815B2 (ja) | 磁気再生波形のレベル判定装置 | |
| JPS60173482A (ja) | 異常波形検査装置 | |
| JP2002071447A (ja) | パルス音判定方法 | |
| JP2002286774A (ja) | 信号対ノイズ比測定方法及び信号対ノイズ比測定装置 | |
| JP2003066120A (ja) | 検査装置および検査方法 | |
| JPS6134101B2 (ja) | ||
| JP3261804B2 (ja) | 振動解析装置 |