JPH07159127A - 寸法検査方法および寸法検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、被検査物の寸法を検査する寸法検
査方法に関し、被検査物をつかむ部分にゲージを設けて
同一画面上にゲージと被検査物とが納まるようにして当
該ゲージの画素数と被検査物の画素数とから合格・不合
格を検査し、従来のズームレンズを使用可、予め較正す
る必要を無くし、かつ光源の位置や光量やカメラ焦点距
離の変化による影響を無くし、精度良好に被検査物の寸
法の合格・不合格を検査することを目的とする。 【構成】 被検査物１と近傍に配置したゲージ３との両
者を一緒にカメラ４によって撮影して画像を生成し、こ
の生成された画像上で、ゲージ３の画素数と被検査物１
の画素数とから合格・不合格を検査するように構成す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、被検査物の寸法を検査
する寸法検査方法および寸法検査装置に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】従来、立体形状例えば円柱状の被検査物
の寸法検査する場合、バキュームハンドラ４２に円柱状
の被検査物４３を吸着させる。次に、この吸着させた被
検査物４３をカメラで撮影してその画像を図８に示すよ
うに表示し、当該画面上でこの被検査物４３の左から右
に向け走査し、白から黒、黒から白に変わる両者の点の
差の画素数Ｎを求める。次に、カメラの倍率などによる
１画素に相当する予め求めておいた定数Ｋを、被検査物
の直径に相当する画素数Ｎに乗算して実際の被検査物の
直径を算出する。この算出した被検査物の直径が規格値
の範囲内のときに合格、範囲外のときに不合格と検査し
ていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】従来は、上述したよう
にカメラで撮影した画像上で被検査物の測定しようとす
る画素数を求め、この画素数に予め求めておいた定数を
乗算して実際の被検査物の寸法を算出して合格・不合格
を検査していたため、以下の問題が発生していた。

【０００４】（１） ズームレンズを使用した場合、そ
の都度、定数を算出したり、倍率を入力して当該倍率で
実際の被測定物の寸法を算出したりしなければならず、
操作が煩雑であると共に、精度が良くないという問題が
あった。

【０００５】（２） 被検査物を照射する光源の位置や
光量が変化すると、画面上における被検査物の画素数が
変化してしまい、その都度、一定になるように露出調整
をしなければならないという問題があった。

【０００６】（３） カメラの焦点距離が変化すると、
（１）と同様に倍率の変化として現れて被検査物の画像
上の画素数が変化してしまうので、その都度、焦点合わ
せを行なう煩雑性が生じてしまうという問題があった。

【０００７】以上のように煩雑な操作および被測定物の
測定精度が劣化してしまうことを解消することが望まれ
ている。本発明は、これらの問題を解決するために、被
検査物をつかむ部分にゲージを設けて同一画面上にゲー
ジと被検査物とが納まるようにして当該ゲージの画素数
と被検査物の画素数とから合格・不合格を検査し、従来
のズームレンズを使用可、予め較正する必要を無くし、
かつ光源の位置や光量やカメラ焦点距離の変化による影
響を無くし、精度良好に被検査物の寸法の合格・不合格
を検査することを目的としている。

【０００８】

【課題を解決するための手段】図１は、本発明の原理構
成図を示す。図１において、被検査物１は、寸法を検査
して合格か非合格かを判定するものである。

【０００９】ハンドラ２は、被検査物１をつかむもので
ある。このハンドラ２の一部にゲージ３となる所定寸法
の部分が設けられている。ゲージ３は、被検査物１の寸
法を測定する際の基準となる寸法を持ったゲージであっ
て、ここでは、ハンドラ２の一部を所定寸法に予め加工
したものである。

【００１０】カメラ４は、被検査物１およびゲージ３を
一緒に撮影して画像を生成するものである。検査手段５
は、カメラ４からの画像中のケージ３の画素数をもとに
被検査物１の画像数から寸法を算出して規定内のときに
合格、規定外のときに不合格と判定したり、上限値およ
び下限値のゲージ３の画素数内に被検査物１の画素数が
あったときに合格、無かったときに不合格と判定したり
などするものである。

【００１１】

【作用】本発明は、図１に示すように、カメラ４が被検
査物１と近傍に配置したゲージ３との両者を一緒に撮影
した画像を生成し、検査手段５がこの生成された画像上
でゲージ３の画素数をもとに被検査物１の画素数から実
寸法を算出して規格内のときに合格、規格外のときに不
合格と検査するようにしている。

【００１２】また、カメラ４が被検査物１と近傍に配置
した当該被検査物１の寸法の上限値および下限値のゲー
ジ３との両者を一緒に撮影して画像を生成し、検査手段
５が生成された画像上で上限値および下限値のゲージ３
のそれぞれの画素数の範囲内に、被検査物１の画素数が
存在したときに合格、画素数が存在しないときに不合格
と検査するようにしている。

【００１３】また、図３に示すように、検査手段５が画
像上で被検査物１およびゲージ３の寸法を測定する予め
設定されたウィンドウ６内で白から黒あるいは黒から白
に変化する部分の座標を算出してその差から被検査物１
およびゲージ３の画素数を測定するようにしている。

【００１４】従って、被検査物１をつかむハンドラ２に
ゲージ３を設けて同一画面上にゲージ３と被検査物１と
が納まるようにして当該ゲージ３の画素数と被検査物１
の画素数とから合格・不合格を検査することにより、従
来のズームレンズの使用可、予め較正する必要を無く
し、かつ光源の位置や光量やカメラ焦点距離の変化によ
る影響を受けることなく、精度良好に被検査物１の合格
・不合格を検査することが可能となった。

【００１５】

【実施例】次に、図２および図３を用いて本発明の実施
例の構成および動作を順次詳細に説明する。

【００１６】図２は、本発明の動作説明フローチャート
を示す。これは、図３のモニタ上の画像に示すように、
ハンドラ２の先端部分に設けたゲージ３をもとに、被検
査物１の寸法を検査する場合のフローチャートである。

【００１７】図２において、Ｓ１は、カメラ撮影する。
これは、図１のカメラ４がハンドラ２の先端のゲージ３
と被検査物１を一緒に撮影して画像を生成する。Ｓ２
は、モニタ上に表示する。これは、Ｓ１で撮影した画像
を、例えば図３の実線で示すようにハンドラ２の先端の
ゲージ３および被検査物１をモニタ上に表示する。

【００１８】Ｓ３は、ゲージの左側ウィンドウ内におい
て、左から右に走査して白から黒に変わる座標値を探
す。これは、図３に示すように、画像上でゲージ３の左
端に設定された点線のウィンドウ６１内で、左から右に
走査して白から黒に変わる座標を探して求めることを複
数の走査線について行なう。

【００１９】Ｓ４は、Ｓ３で求めた複数の座標値の平均
値ＸＬを算出する。Ｓ５は、同様に、右側のウィンドウ
内についても座標値を探して平均値ＸＲを算出する。こ
れらＳ４およびＳ５によって、ゲージ３の左側の座標Ｘ
Ｌおよび右側の座標ＸＲがそれぞれ算出されたこととな
る。

【００２０】Ｓ６は、被検査物１について同様に各ウィ
ンドウ内で座標値を探して平均値ＡＬ、ＡＲを算出す
る。Ｓ７は、ゲージの画素数算出する。これは、Ｓ４、
Ｓ５で算出したゲージ３の右側の座標値ＸＲから左側の
座標値ＸＬを減算した（ＸＲ−ＸＬ）を画素数として算
出する。

【００２１】Ｓ８は、被検査物の画素数算出する。これ
は、Ｓ６で算出した被検査物１の右側の座標値ＡＲから
左側の座標値ＡＬを減算した（ＡＲ−ＡＬ）を画素数と
して算出する。

【００２２】Ｓ９は、被検査物１の実測値を算出する。
これは、Ｓ７およびＳ８で求めた値をもとに図示の下記
の式によって被検査物１の実測値を算出する。 実測値＝｛（ＡＲ−ＡＬ）／（ＸＲ−ＸＬ）｝×（ゲージの実長） （式１） Ｓ１０は、被検査物が規格値内か判別する。ＹＥＳの場
合には、被検査物１が規格内で合格したので、Ｓ１１で
被検査物１を組み立てる。一方、ＮＯの場合には、被検
査物１が規格外で不合格であったので、Ｓ１２で規格外
として排出する。

【００２３】以上によって、被検査物１を真空吸着する
先端の部分の規定寸法のゲージ３を設けておき、カメラ
４で被検査物１と一緒にゲージ３を撮影して画像を生成
し、この生成した画像上で予め設定したウィンドウ内を
走査してゲージ３の寸法を画素数で算出し、この算出し
たゲージ３の画素数をもとに、予め設定されたウィンド
ウ内を走査して算出した画素数を較正した実測値を（式
１）で算出する。この算出した実測値が規格値内のとき
に合格と判定して組立を行い、一方、規格外のときに不
合格として排出する。これらにより、同一画像内のゲー
ジ３の画素数をもとに被検査物１の寸法検査を行なうた
め、カメラ４の倍率や焦点のずれ、照明の明るさなどの
影響を受けることなく、正確に被検査物１の寸法を実測
して寸法検査することが可能となる。

【００２４】図３は、本発明のモニタ上の表示概略図を
示す。これは、図１のカメラ４でハンドラ２の先端部分
のゲージ３および被検査物１を撮影してモニタ上に表示
したものである。ここで、点線の枠は、予め設定したウ
ィンドウ６であって、ここでは、ウィンドウ６１からウ
ィンドウ６８によって構成され、走査して白から黒に変
化する点の座標値を求め、ゲージ３および被検査物１の
寸法を測定するためのものである。

【００２５】（１） ゲージ３の寸法測定： Ｘ方向の寸法測定は、ウィンドウ６１内で左から右
に走査して白から黒に変わる点の座標値を複数ラインに
ついて求めてその平均値をＸＬとして算出する。同様
に、ウィンドウ６２内で右から左に走査して白から黒に
変わる点の座標値を複数ラインについて求めてその平均
値をＸＲとして算出する。ゲージ３のＸ方向の寸法は、
（ＸＲ−ＸＬ）として算出する。

【００２６】 Ｙ方向の寸法測定は、ウィンドウ６３
内で下から上に走査して白から黒に変わる点の座標値を
複数ラインについて求めてその平均値をＹＵとして算出
する。同様に、ウィンドウ６４内で上から下に走査して
白から黒に変わる点の座標値を複数ラインについて求め
てその平均値をＹＤとして算出する。ゲージ３のＹ方向
の寸法は、（ＹＤ−ＹＵ）として算出する。

【００２７】（２） 被検査物１の寸法測定： Ｘ方向の寸法測定は、ウィンドウ６５内で左から右
に走査して白から黒に変わる点の座標値を複数ラインに
ついて求めてその平均値をＡＬとして算出する。同様
に、ウィンドウ６６内で右から左に走査して白から黒に
変わる点の座標値を複数ラインについて求めてその平均
値をＡＲとして算出する。被検査物１のＸ方向の寸法
は、（ＡＲ−ＡＬ）として算出する。

【００２８】 Ｙ方向の寸法測定は、ウィンドウ６７
内で下から上に走査して白から黒に変わる点の座標値を
複数ラインについて求めてその平均値をＢＵとして算出
する。同様に、ウィンドウ６８内で上から下に走査して
白から黒に変わる点の座標値を複数ラインについて求め
てその平均値をＢＤとして算出する。被検査物１のＹ方
向の寸法は、（ＢＤ−ＢＵ）として算出する。

【００２９】（３） （１）および（２）で算出した結
果から、被検査物１の寸法は下記のようになる。 ・被検査物１のＸ方向の実測値＝ ｛（ＡＲ−ＡＬ）／（ＸＲ−ＸＬ）｝×（ゲージのＸ方向実長）（式２） ・被検査物１のＹ方向の実測値＝ ｛（ＢＤ−ＢＵ）／（ＹＤ−ＹＵ）｝×（ゲージのＹ方向実長）（式３） 次に、図４から図６を用いて本発明の他の実施例の構成
および動作を順次詳細に説明する。

【００３０】図４は、本発明の他の動作説明フローチャ
ートを示す。これは、図５のモニタ上の画像に示すよう
に、ハンドラ２の先端部分に設けた上限値および下限値
を持つ２つのゲージ３を設けておき、被検査物１の画素
数がこれらの範囲のときに合格、範囲外のときに不合格
とする場合のフローチャートである。

【００３１】図４において、Ｓ２１は、カメラ撮影す
る。これは、図１のカメラ４がハンドラ２の先端のゲー
ジ３と被検査物１を一緒に撮影して画像を生成する。Ｓ
２２は、モニタ上に表示する。これは、Ｓ２１で撮影し
た画像を、例えば図５の実線で示すようにハンドラ２の
先端のゲージ３および被検査物１をモニタ上に表示す
る。

【００３２】Ｓ２３は、ハンドラ２の上段左側のウィン
ドウ内において、左から右に走査して白から黒に変わる
座標値を探す。これは、図５に示すように、画像上でゲ
ージ３の左端に設定された点線のウィンドウ７１内で、
左から右に走査して白から黒に変わる座標を探して求め
ることを複数の走査線について行なう。

【００３３】Ｓ２４は、Ｓ２３で求めた複数の座標値の
平均値Ｌ１Ｌを算出する。Ｓ２５は、同様に、上段右側
のウィンドウ内で座標値を探して平均値Ｌ１Ｒを算出す
る。これらＳ２４およびＳ２５によって、ゲージ３の上
段の左側の座標Ｌ１Ｌおよび右側の座標Ｌ１Ｒがそれぞ
れ算出されたこととなる。

【００３４】Ｓ２６は、ハンドラの下段のウィンドウに
ついても同様に平均値（Ｌ２Ｌ、Ｌ２Ｒ）を算出する。
Ｓ２７は、被検査物１のウィンドウについても同様に平
均値（Ｌ３Ｌ、Ｌ３Ｒ）を算出する。

【００３５】Ｓ２８は、規格上限値の画素数を求める。
これは、規格の上限値の画素数として、Ｓ２４およびＳ
２５でそれぞれ算出したＬ１Ｒ、Ｌ１Ｌの差の（Ｌ１Ｒ
−Ｌ１Ｌ）として算出する。

【００３６】Ｓ２９は、規格下限値の画素数を求める。
これは、規格の下限値の画素数として、Ｓ２６で算出し
たＬ２Ｒ、Ｌ２Ｌの差の（Ｌ２Ｒ−Ｌ２Ｌ）として算出
する。

【００３７】Ｓ３０は、被検査物１の画素数を求める。
これは、被検査物１の画素数として、Ｓ２７で算出した
Ｌ３Ｒ、Ｌ３Ｌの差の（Ｌ３Ｒ−Ｌ３Ｌ）として算出す
る。Ｓ３１は、規格内か判別する。これは、図示の下記
の式で表される、被検査物１の画素数が上限値と下限値
の画素数の範囲内にあるか判別する。

【００３８】 （Ｌ２Ｒ−Ｌ２Ｌ）≦（Ｌ３Ｒ−Ｌ３Ｌ）≦（Ｌ１Ｒ−Ｌ１Ｌ） （式１１） Ｓ３１のＹＥＳの場合には、被検査物１が上限値と下限
値の範囲内で合格したので、Ｓ３２で被検査物１を組み
立てる。一方、Ｓ３１でＮＯの場合には、被検査物１が
上限値と下限値の範囲外で不合格であったので、Ｓ３３
で規格外として排出する。

【００３９】以上によって、被検査物１を真空吸着する
先端の部分の上限値および下限値の２つのゲージ３を設
けておき、カメラ４で被検査物１と一緒にこれら２つの
ゲージ３を撮影して画像を生成し、この生成した画像上
で予め設定したウィンドウ内を走査して２つのゲージ３
の寸法を画素数で算出し、この算出した２つの上限値お
よび下限値のゲージ３の画素数の範囲内に被検査物１の
画素数が存在したときに合格と判定して組立、存在しな
いときに不合格と判定して排出する。これらにより、同
一画像内の２つの上限値および下限値のゲージ３の画素
数の範囲内に、被検査物１の画素数が存在するかの比較
を行なって合格／不合格を判定するため、カメラ４の倍
率や焦点のずれ、照明の明るさなどに影響を受けること
なく、正確に被検査物１の寸法が上限値と下限値の範囲
内にあるかを正確かつ簡単な比較計算で迅速に検査する
ことが可能となる。

【００４０】図５は、本発明のモニタ上の他の表示概略
図を示す。これは、図１のカメラ４でハンドラ２の先端
部分の上限値および下限値を持つ２つのゲージ３および
被検査物１を撮影してモニタ上に表示したものである。
ここで、点線の枠は、予め設定したウィンドウ６であっ
て、ここでは、ウィンドウ７１からウィンドウ７６によ
って構成され、走査して白から黒に変化する点の座標値
を求め、２つのゲージ３および被検査物１の画素数を算
出するためのものである。

【００４１】（１） 上限値のゲージ３の画素数の測
定：ウィンドウ７１内で左から右に走査して白から黒に
変わる点の座標値を複数ラインについて求めてその平均
値をＬ１Ｌとして算出する。同様に、ウィンドウ７２内
で右から左に走査して白から黒に変わる点の座標値を複
数ラインについて求めてその平均値をＬ１Ｒとして算出
する。上限値のゲージ３の画素数は、（Ｌ１Ｒ−Ｌ１
Ｌ）として算出する。

【００４２】（２） 下限値のゲージ３の画素数の測
定：同様に、ウィンドウ７３内で左から右に走査して白
から黒に変わる点の座標値を複数ラインについて求めて
その平均値をＬ２Ｌとして算出する。同様に、ウィンド
ウ７４内で右から左に走査して白から黒に変わる点の座
標値を複数ラインについて求めてその平均値をＬ２Ｒと
して算出する。下限値のゲージ３の画素数は、（Ｌ２Ｒ
−Ｌ２Ｌ）として算出する。

【００４３】（３） 被検査物１の画素数の測定：同様
に、ウィンドウ７５内で左から右に走査して白から黒に
変わる点の座標値を複数ラインについて求めてその平均
値をＬ３Ｌとして算出する。同様に、ウィンドウ７６内
で右から左に走査して白から黒に変わる点の座標値を複
数ラインについて求めてその平均値をＬ３Ｒとして算出
する。被検査物１の画素数は、（Ｌ３Ｒ−Ｌ３Ｌ）とし
て算出する。

【００４４】（４） （１）から（３）で算出した結果
から、（式１１）を満足するときに合格と判定、満足し
ないときに不合格と判定、即ち被検査物１の画素数が上
限値のゲージ３の画素数よりも小さく、かつ下限値のゲ
ージ３の画素数よりも大きいときに規定値内であって合
格と判定し、それ以外のときは規定値外であって不合格
と判定する。

【００４５】図６は、本発明の他の説明図を示す。ここ
では、ハンドラ（真空吸着ハンドラ）２の先端に円柱の
上限値のゲージ２（φＤＨ、直径がＤＨ）と、円柱の下
限値のゲージ２（φＤＬ、直径がＤＬ）とを設け、その
先に真空吸着で被検査物１（φＤ、直径がＤ）をつかん
で、カメラ４によって撮影してそのときの画像をモニタ
上に表示したものである。被検査物１が円柱であったの
で、上限値および下限値の２つのゲージ２を円柱にして
ほぼ軸を合わせて真空吸着するように軸合わせしている
ので、既述したようにして、極めて高精度に被検査物１
の画素数が上限値と下限値のゲージ２の画素数の範囲内
に存在するか否かを判別し、検査の合格／不合格を判定
することが可能となる。

【００４６】図７は、本発明の寸法検査装置の構成図を
示す。図６の（ａ）は上面図を示し、図６の（ｂ）は正
面図を示す。これは、被検査物１である部品をボウルフ
ィーダで並べて搬送し、パーツフィーダユニット上の直
進フィーダで一列に並べて直進させる。そして、ピック
アップユニット内で、回転する回転台上のゲージ３付き
のハンドラ２によって部品を真空吸着し、図中で半時計
方向に回転し、センタリングユニットによって部品とハ
ンドラ２のセンタリングを行った後、ライトで照明され
たカメラ４の撮影位置に移動する。この撮影位置にきた
ときにカメラ４で部品およびハンドラ２のゲージ３の部
分の画像を撮影して取り込み、モニタ上に表示すると共
に、既述したように、ゲージ３の画素数をもとに部品
（被検査物１）の画素数が規格値内で合格か規格値外で
不合格かを判定する。そして、合格の場合には部品が回
転してワーク回収箱（良品）の位置にきたときに真空吸
着を外して落とし、一方、不合格の場合には部品が更に
回転してワーク回収箱（不良品）の位置にきたときに真
空吸着を外して落とす。これにより、多数の部品の寸法
が規定の範囲内か検査して合格品と不合格品に精度良好
にエラー無く分けることが可能となる。

【００４７】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
被検査物１をつかむハンドラ２にゲージ３を設けて同一
画面上にゲージ３と被検査物１とが納まるようにして当
該ゲージ３の画素数と被検査物１の画素数から合格・不
合格を検査する構成を採用しているため、正確に被検査
物１の寸法が規定範囲内のときに合格、規定範囲外のと
きに不合格と検査することができる。これらにより、 （１） 同一画像上のゲージ３と被検査物１とを比較し
て規定範囲内で合格か、規定範囲外で不合格かを検査し
ているため、高精度かつ再現性良好に検査することがで
きる。

【００４８】（２） 倍率が変化するズームレンズを使
用しても従来のように倍率を補正する必要がなく、正確
に被検査物１の合否を検査できる。 （３） 被検査物１を照明する光源の位置や光量変化に
より、従来は大幅にエラーが発生したが、本発明では被
検査物１とゲージ３とが同一画像上であって両者の画像
が同じように変化するので、これらの影響を受けること
がなく、正確に合否を検査できる。

【００４９】（４） カメラの焦点距離の変化により、
従来は大幅に画像の大きさが変化してエラーが発生した
が、本発明では被検査物１とゲージ３とが同一画像上で
あって両者の画像が同じように変化するので、これらの
影響を受けることなく、正確に合否を検査できる。

【００５０】（５） 被検査物１の寸法が規定範囲内で
合格か、規定範囲外で不合格かを検査するのに、同一画
像上のゲージ３の寸法（画素数）をもとに同一画像上の
被検査物１の寸法（画素数）を較正したり、両者を比較
したりするという簡単な演算処理で正確に検査すること
が可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理構成図である。

【図２】本発明の動作説明フローチャートである。

【図３】本発明のモニタ上の表示概念図である。

【図４】本発明の他の動作説明フローチャートである。

【図５】本発明のモニタ上の他の表示概念図である。

【図６】本発明の他の説明図である。

【図７】本発明の寸法検査装置の構成図である。

【図８】従来技術の説明図である。

【符号の説明】

１：被検査物 ２：ハンドラ ３：ゲージ ４：カメラ ５：検査手段 ６、６１から６８、７１から７６：ウィンドウ

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】被検査物の寸法を検査する寸法検査方法に
   おいて、 被検査物（１）と近傍に配置したゲージ（３）との両者
   を一緒にカメラ（４）によって撮影して画像を生成し、
   この生成された画像上で、上記ゲージ（３）の画素数を
   もとに、被検査物（１）の画素数から実寸法を算出して
   規格内のときに合格、規格外のときに不合格と検査する
   ことを特徴とする寸法検査方法。
2. 【請求項２】被検査物の寸法を検査する寸法検査装置に
   おいて、 被検査物（１）をつかむと共に当該つかむ部分に寸法の
   判明したゲージ（３）を持つハンドラ（２）と、 このハンドラ（２）が被検査物（１）をつかんだ状態
   で、被検査物（１）および上記ゲージ（３）の両者を一
   緒に撮影して画像を生成するカメラ（４）と、 この生成された画像上で、上記ゲージ（３）の画素数を
   もとに、被検査物（１）の画素数から実寸法を算出して
   規格内のときに合格、規格外のときに不合格と検査する
   検査手段（５）とを備えたことを特徴とする寸法検査装
   置。
3. 【請求項３】被検査物の寸法を検査する寸法検査方法に
   おいて、 被検査物（１）と近傍に配置した当該被検査物（１）の
   寸法の上限値および下限値のゲージ（３）との両者を一
   緒にカメラ（４）によって撮影して画像を生成し、この
   生成された画像上で、上記上限値および下限値のゲージ
   （３）のそれぞれの画素数の範囲内に、被検査物（１）
   の画素数が存在したときに合格、被検査物（１）の画素
   数が存在しないときに不合格と検査することを特徴とす
   る寸法検査方法。
4. 【請求項４】被検査物の寸法を検査する寸法検査装置に
   おいて、 被検査物（１）をつかむと共に当該つかむ部分に寸法の
   上限値および下限値の判明したゲージ（３）を持つハン
   ドラ（２）と、 このハンドラ（２）が被検査物（１）をつかんだ状態
   で、被検査物（１）および上記ゲージ（３）の両者を一
   緒に撮影して画像を生成するカメラ（４）と、 この生成された画像上で、上記上限値および下限値のゲ
   ージ（３）のそれぞれの画素数の範囲内に、被検査物
   （１）の画素数が存在したときに合格、被検査物（１）
   の画素数が存在しないときに不合格と検査する検査手段
   （５）とを備えたことを特徴とする寸法検査装置。
5. 【請求項５】上記画像上で被検査物（１）およびゲージ
   （３）の画素数を測定する予め設定したウィンドウ
   （６）を設け、このウィンドウ（６）内で白から黒ある
   いは黒から白に変化する部分の座標を算出してその差か
   ら被検査物（１）およびゲージ（３）の画素数を測定す
   ることを特徴とする請求項１から請求項４記載の寸法検
   査方法および寸法検査装置。