JPH04328455A - はんだ付け検査装置 - Google Patents

はんだ付け検査装置

Info

Publication number
JPH04328455A
JPH04328455A JP3098418A JP9841891A JPH04328455A JP H04328455 A JPH04328455 A JP H04328455A JP 3098418 A JP3098418 A JP 3098418A JP 9841891 A JP9841891 A JP 9841891A JP H04328455 A JPH04328455 A JP H04328455A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reliability
soldering
data
reliability probability
statistical database
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3098418A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2734225B2 (ja
Inventor
Masahiko Uno
真彦 宇野
Satoshi Hori
堀 聡
Tatsunori Hibara
火原 辰則
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP3098418A priority Critical patent/JP2734225B2/ja
Publication of JPH04328455A publication Critical patent/JPH04328455A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2734225B2 publication Critical patent/JP2734225B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Image Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、実装部品組立におけ
る電子部品等の電気機器のはんだ付け状態をテレビ画像
情報を介して検査する装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】この種従来のはんだ付け検査装置として
例えば、特開平1−155248号公報に開示されたも
のがある。これは、はんだ付け部に光またはレーザをあ
ててテレビカメラで撮像し、その画像情報から特徴量を
抽出して良否を判定するものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
はんだ付け検査装置においては、その良否の判定を所定
のしきい値を用いた二者択一的な方法で行っている。即
ち、特徴量として検出した値が一つでもそのしきい値を
越えると当該はんだ付け部を不良と判断する。一般に、
検査の見逃しや虚報は、このしきい値付近に集中するこ
とから、従来の二者択一的判定方式では信頼性の高い検
査結果が得にくいという問題点があった。この発明は以
上のような問題点を解消するためになされたもので、検
査結果に対する信頼性が高く実用性が高いはんだ付け検
査装置を得ることを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】この発明に係るはんだ付
け検査装置は、画像情報から各はんだ付け部毎に複数の
特徴量を抽出する特徴量抽出部、特徴量およびその良否
についての統計データを記憶する統計データベース、こ
の統計データベースの記憶データを基に各特徴量毎の検
出データから信頼性確率を求め更に全特徴量について合
成した合成信頼性確率を計算する信頼性確率計算部、お
よびこの信頼性確率計算部の出力から当該はんだ付け部
の判定を行う判定部を備えたものである。請求項2に係
るものは、更に上記判定部からの出力を統計データベー
スにフィードバックし、上記統計データベースの記憶デ
ータの更新を行う学習手段を備えたものである。
【0005】
【作用】この発明では単一のデータから判定するのでは
なく、全特徴量について合成した合成信頼性確率を基に
良否の判定を行う。請求項2のものでは、学習手段によ
り、統計データベースの記憶データが逐次更新され、よ
り正確な信頼性確率従って判定結果が得られる。
【0006】
【実施例】図1はこの発明の一実施例によるはんだ付け
検査装置を示す構成図である。図において、1は電子部
品の検査対象であるはんだ付け部、2はこのはんだ付け
部1を照明する照明手段、3ははんだ付け部1を撮像す
るテレビカメラ、4はテレビカメラ3からの画像情報を
記憶する画像メモリ、5は画像メモリ4に記憶された情
報から当該はんだ付け部1に係る複数の特徴量を抽出す
る特徴量抽出部で、ここで特徴量としては例えば、光学
的に判別できる面積、境界点の座標位置、特定の標定軸
方向の長さ等が選定され、これらについての検出値のデ
ータが信頼性確率計算部6へ送出される。7は信頼性確
率計算部6での計算の根拠データを記憶する統計データ
ベースで、信頼性確率計算部6とあわせその動作内容の
詳細は後述する。8は信頼性確率計算部6からのデータ
を基に検査の結論としての判定を行う判定部で、この実
施例では、良品、不良品、判定保留の3種類の判定結果
9を出力する。10は判定結果9を統計データベース7
にフィールドバックして統計データベース7の記憶デー
タの更新を行う学習手段である。
【0007】次に図2に示すフローチャートをも参照し
て動作について説明する。先ず、はんだ付け部1に照明
手段2によって照明をあて、テレビカメラ3で撮像する
。撮像された画像は画像メモリ4に取り込まれ(ステッ
プS1)、特徴量抽出部5によって特徴量が複数個抽出
される(ステップS2)。ここで、特徴量は、上述した
ように有意なものであればいくら多くとっても良く多い
方が望ましい。次にステップS3に進み、各特徴量Xi
(i=1〜N)毎に設定されたしきい値αxi(i=1
〜N)を越えているか否かを判別する。従来は、この結
果を判定結果と直結する方式が採用されていたが、この
実施例ではこれを確率的に扱う。
【0008】先ず、ステップS3の判別が“YES”、
即ち  X>αx  が成立するときは、当該特徴量X
については擬不良品とし、その信頼性は確率mを統計デ
ータベース7に予め記憶されているデータを基に以下の
ように設定する。 m(N)=m(不良品)=nbb/Nbm(G)=m(
良品)=0 m(U)=m(不良品、良品)=nbg/Nbここで、
Nbは擬不良品と判別された数で、nbbはその内の真
の不良品、nbgは真の良品であり(Nb=nbb+n
bg)、予め同様のしきい値αxで判別された多数のは
んだ付け部についての良、不良観察結果から得られるデ
ータで統計データベース7に記憶されている。 また、m(N)、m(G)はそれぞれ不良品、良品とし
ての度合を示す確率、m(U)は不良品とも良品とも見
られることを示す確率で、判定保留を示す確率と考えて
よい。
【0009】同様に、ステップS3の判別が“NO”、
即ち  X≦αxが成立するときは、当該特徴量Xにつ
いては擬良品とし、その信頼性確率mを以下のように設
定する。 m(N)=m(不良品)=0 m(G)=m(良品)=ngg/Ng m(U)=m(不良品、良品)=ngb/Ngここで、
Ngは擬良品と判別された数で、nggはその内の真の
良品、ngbは真の不良品であり、Ng=ngg+ng
bが成立する。
【0010】以上がステップS4であり、次に各特徴量
についての信頼性確率mを合成して合成信頼性確率Mを
計算するステップS5に進む。この合成の具体的な方法
としては、例えば、シェーファー(Shafer)のア
  マスマティカル  セオリー  オブ  エビデン
ス( a mathematical theory 
of evidence( Princeton 19
76 ))に見られるデンプスター( Dempste
r )の結合則(数1)を用いる。
【数1】
【0011】数1は2個の特徴量についての信頼性確率
mを合成して合成信頼性確率Mを得る式で、特徴量が3
個以上ある場合は、順次この合成計算を繰り返して行え
ばよい。上式の適用について若干解説すると、左辺M(
A)は不良品、良品および保留の確率に応じてそれぞれ
M(N)、M(G)およびM(U)を求めることになる
。また、右辺分子はいわゆる積集合を求めるので、例え
ば、不良品(N)についての信頼性確率mを合成する場
合には、m1(N)・m2(N)、m1(N)・m2(
U)、m1(U)・m2(N)、m1(U)・m2(U
)の和を計算することになる。更に、分母右辺はいわゆ
る空集合を求めるもので、例えば、上述の例の場合には
、m1(G)・m2(G)を計算することになる。
【0012】以上のようにして計算された合成信頼性確
率M(N)、M(G)、M(U)は判定部8に送出され
、ここで判定の処理を行い判定結果9として出力する。 例えば、N、G、U各別にしきい値を設定しておき、そ
の値を越えれば、不良品、良品、判定保留とするように
してもよく、また、M(N)があるしきい値より大きけ
れば不良品、そうでなければ良品とするようにしてもよ
い。また、学習手段10を設けたので、判定結果9とそ
れに関する特徴量が統計データベース7にフィードバッ
クされデータの更新が行われるので、信頼性が高められ
る。なお、フィードバックするデータの中には誤りのも
のもあり得るので、これをいわゆる教師信号でチェック
し、取り除くようにしてもよい。なお、以上では、はん
だ付け部をその検査対象としたが、この明細書における
“はんだ付け部”は、電気機器の溶接部等、同種の手段
により、その良否を判別する種々の検査対象をも含むも
のとする。
【0013】
【発明の効果】この発明は、以上のように、特徴量を確
率的に扱って判定を行うようにしたので、はんだ付け検
査の誤判定が減少し検査の信頼性を高めることができる
。また、所定の学習手段を備えることにより、検査の実
行に応じて統計データが更新され信頼性の向上が図れる
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例によるはんだ付け検査装置
を示す構成図である。
【図2】図1の装置の動作を説明するフローチャートで
ある。
【符号の説明】
1  はんだ付け部 3  テレビカメラ 5  特徴量抽出部 6  信頼性確率計算部 7  統計データベース 8  判定部 9  判定結果 10  学習手段 X  特徴量 m  信頼性確率 M  合成信頼性確率

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  電気機器のはんだ付け部をテレビカメ
    ラで撮像しその画像情報から上記はんだ付け部の良否を
    判定するはんだ付け検査装置において、上記画像情報か
    ら各はんだ付け部毎に複数の特徴量を抽出する特徴量抽
    出部、特徴量およびその良否についての統計データを記
    憶する統計データベース、この統計データベースの記憶
    データを基に各特徴量毎の検出データから信頼性確率を
    求め更に全特徴量について合成した合成信頼性確率を計
    算する信頼性確率計算部、およびこの信頼性確率計算部
    の出力から当該はんだ付け部の判定を行う判定部を備え
    たことを特徴とするはんだ付け検査装置。
  2. 【請求項2】  判定部からの出力を統計データベース
    にフィードバックし、上記統計データベースの記憶デー
    タの更新を行う学習手段を備えたことを特徴とする請求
    項1記載のはんだ付け検査装置。
JP3098418A 1991-04-30 1991-04-30 はんだ付け検査装置 Expired - Fee Related JP2734225B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3098418A JP2734225B2 (ja) 1991-04-30 1991-04-30 はんだ付け検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3098418A JP2734225B2 (ja) 1991-04-30 1991-04-30 はんだ付け検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04328455A true JPH04328455A (ja) 1992-11-17
JP2734225B2 JP2734225B2 (ja) 1998-03-30

Family

ID=14219277

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3098418A Expired - Fee Related JP2734225B2 (ja) 1991-04-30 1991-04-30 はんだ付け検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2734225B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007139621A (ja) * 2005-11-18 2007-06-07 Omron Corp 判定装置、判定装置の制御プログラム、および判定装置の制御プログラムを記録した記録媒体
JP2010249547A (ja) * 2009-04-10 2010-11-04 Denso Corp 外観検査装置及び外観検査方法
JP2020107098A (ja) * 2018-12-27 2020-07-09 オムロン株式会社 画像判定装置、画像判定方法及び画像判定プログラム

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007139621A (ja) * 2005-11-18 2007-06-07 Omron Corp 判定装置、判定装置の制御プログラム、および判定装置の制御プログラムを記録した記録媒体
JP4645422B2 (ja) * 2005-11-18 2011-03-09 オムロン株式会社 判定装置、判定装置の制御プログラム、および判定装置の制御プログラムを記録した記録媒体
JP2010249547A (ja) * 2009-04-10 2010-11-04 Denso Corp 外観検査装置及び外観検査方法
JP2020107098A (ja) * 2018-12-27 2020-07-09 オムロン株式会社 画像判定装置、画像判定方法及び画像判定プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
JP2734225B2 (ja) 1998-03-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100775437B1 (ko) 패턴검사장치및그방법
US7545977B2 (en) Image processing apparatus for analysis of pattern matching failure
US5033015A (en) Automated system for testing an imaging sensor
US20020168099A1 (en) Image searching defect detector
JP2000057349A (ja) 欠陥の分類方法およびその装置並びに教示用データ作成方法
JP2007087210A (ja) 画像補正装置、パターン検査装置、画像補正方法、及び、パターン欠陥検査方法
CN113554645B (zh) 基于wgan的工业异常检测方法和装置
US20020051561A1 (en) Image processing apparatus, image processing method, and recording medium recording image processing program
JPH04328455A (ja) はんだ付け検査装置
JPH08254501A (ja) 外観検査方法及び装置
JP3869554B2 (ja) 検査データ作成方法及び装置及びこれを用いた部品実装基板外観検査装置
KR20080028278A (ko) 전기 회로 소자의 광학 검사 시스템 및 방법
CN115861161A (zh) 机器学习系统、学习数据收集方法以及存储介质
JP2002093875A (ja) 半導体装置のパターンの危険箇所情報の評価方法
JPH09264856A (ja) 物品外観検査装置
WO2022059135A1 (ja) エラー要因の推定装置及び推定方法
JP2647502B2 (ja) パターン比較検査方法および装置
JPH07504978A (ja) 製品の検査方法
JP3372014B2 (ja) エンジン外付け部品の誤欠品検査装置
JPH1164235A (ja) 実装部品自動検査システムおよび実装部品検査基準設定装置および実装部品検査基準設定方法
JP2747396B2 (ja) 電子部品の外観検査装置
JPH0310107A (ja) 濃淡パターンマッチングによる検査方法
WO2023095505A1 (ja) 自動欠陥分類装置
US10475178B1 (en) System, method and computer program product for inspecting a wafer using a film thickness map generated for the wafer
JP2023050857A (ja) 画像検査方法、及び画像検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees