JPH07151765A - 自動分析装置 - Google Patents

自動分析装置

Info

Publication number
JPH07151765A
JPH07151765A JP4875093A JP4875093A JPH07151765A JP H07151765 A JPH07151765 A JP H07151765A JP 4875093 A JP4875093 A JP 4875093A JP 4875093 A JP4875093 A JP 4875093A JP H07151765 A JPH07151765 A JP H07151765A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
value
automatic analyzer
reaction
level sensor
cell
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4875093A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Wakatake
孝一 若竹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nittec KK
Eisai Co Ltd
Original Assignee
Nittec KK
Eisai Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nittec KK, Eisai Co Ltd filed Critical Nittec KK
Priority to JP4875093A priority Critical patent/JPH07151765A/ja
Publication of JPH07151765A publication Critical patent/JPH07151765A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 自動分析装置の種々の故障原因を、自動分析
装置自らチェックする機能を自動分析装置に持たせるこ
とで、性能の維持を図ると共に、「再検査」の発生を極
力少なくし、以って、測定結果に対する信頼性を大幅に
向上させる。 【構成】 自動分析装置を、サンプル量および試薬量の
確認値や反応セルのブランク測定値,反応温度誤差値,
吸引ピペットの液面センサー異常値,光源ランプの異常
及び洗浄水の残量等を検出し、これらの検出値を表示装
置に表示すると共に、各検出値が閾値を超えたときに、
警告を発するように構成した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、生化学的分析や免疫
学的分析等を行なう自動分析装置に係り、特に、自動分
析装置の故障を早期に発見すると共に、測定結果に対す
る信頼性を大幅に向上させ、所謂「再検査」の発生を極
力減少させることができ、かつ、分析条件等を容易に変
更する機能も備えた自動分析装置に関する。
【0002】
【従来技術とその課題】周知のように、生化学的分析や
免疫学的分析等を行なう自動分析装置は、非常に複雑、
かつ、精密に形成されており、例えば、サンプル量や試
薬量及び反応温度の調整誤差、或は、設置場所の環境に
よって、同一機種であっても測定値に差が出ることが多
く、また、計量シリンジの漏れによるサンプル量や試薬
量の突発的なバラツキや、吸引吸引ピペットの動作異
常、反応温度異常、光源ランプの異常及び残存洗浄液に
よる希釈等の故障による測定値の異常も問題となる。
【0003】このような性能のバラツキを起こす原因の
追及と修理は、従来、保守点検要員が納入先の依頼によ
って納入現場で故障の修理や異常の調整を行っているの
が現状であり、この場合における故障の原因は、上記し
たように非常に多岐にわたるため、修理や調整に時間が
かかるばかりか、このような故障原因等を看過したまま
測定した場合には、測定精度が均一化せず、検体に起因
する真の異常値と自動分析装置に起因する異常値とを明
確に判別することができないため、本来「再検査」の必
要がない、即ち、検体に起因する異常値も当該自動分析
装置で「再検査」を行なわなければならなくなり、時間
的なロスに加え、ランニングコストも嵩む等、非常に多
くの問題を有していた。
【0004】また、従来の自動分析装置では、例えば、
分析条件を変更したり、新しい試薬の再現性をテストす
る場合には、分析条件プログラムやモード等を変更する
のに究めて高度な専門知識を必要とし、かつ、変更作業
にも多大の労力と費用を必要とする、という問題を有し
ていた。
【0005】この発明は、かかる現状に鑑み創案された
ものであって、その目的とするところは、自動分析装置
の構成から派生する種々の故障原因を、自動分析装置自
らチェックする機能を自動分析装置に持たせることで、
「再検査」の発生を極力少なくし、以って、測定結果に
対する信頼性を大幅に向上させることができるととも
に、分析条件等を容易に変更することができる自動分析
装置を提供しようとするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明に係る自動分析装置にあっては、サンプル
量および試薬量の確認値や反応セルのブランク測定値,
反応温度誤差値,吸引ピペットの液面センサー異常値,
光源ランプの異常及び洗浄水の残量等を検出し、これら
の検出値を表示装置に表示すると共に、各検出値が閾値
を超えたときに、警告を発するように構成したことを特
徴とするものである。
【0007】また、この発明にあっては、反応温度誤差
値や分析条件の変更,プログラムの特定箇所の変更,キ
ャリーオーバーテストおよび電気回路のチェックを外部
コンピュータ或はICカードで行なうことを特徴とする
ものである。
【0008】
【実施例】以下、添付図面に示す一実施例に基き、この
発明を詳細に説明する。
【0009】この実施例に係る自動分析装置は、機構的
には、公知の各種自動分析装置と同様に、複数個の反応
容器Sが保持されてなる反応テーブルTが、サンプリン
グ位置,試薬分注位置,光学測定位置,洗浄位置或は反
応容器廃棄位置へと間欠移送されるように構成されてお
り、また、サンプリング装置,試薬分注装置,光学測定
装置,洗浄装置及び反応テーブル駆動装置等も、公知の
自動分析装置と同様に構成されているので、その詳細な
説明をここでは省略する。
【0010】そして、本実施例に係る自動分析装置は、
上記機構に加え、サンプル量の確認やセルブランク測定
管理,シリンジの漏れの検出,吸引ピペットの液面セン
サー異常,洗浄水の残量監視,分析条件の変更設定,プ
ログラムの特定箇所の変更,測定データの精度管理,キ
ャリーオーバーテストおよび電気回路のチェック等、凡
そ自動分析装置を円滑に稼動させ、測定データに対する
信頼性を確保するために必要な各種機能を備えて構成さ
れている。
【0011】サンプル量の確認は、吸引ピペット1に配
設された液面センサー2からの情報に基づきマイクロプ
ロセッサ(MPU)などで構成された制御装置がこれを
監視し、異常があった場合には、その旨をCRT等で構
成されてなる表示装置に表示し、或は、プリンターでプ
リントアウトし、さらには、アラームで知らせるように
構成されている。このサンプル量の確認は、例えば、本
出願人が先に提案した特公平3ー55792号や特開昭
62ー168055号等に開示された公知の各種手段を
適用できるので、その詳細な説明をここでは省略する。
【0012】セルブランク測定は、全ての反応容器Sに
対し、毎回光学的に測定され、これらの検出値は、上記
制御装置に記憶された後、表示装置に表形式で、或は、
プロット図で表示され、かつ、プリントアウトされる。
このプロット図は、測定毎に重ねて表示してもよく、こ
の場合には、測定毎に色を異ならしめて表示させるのが
望ましい。尚、セルブランク測定を光学的に行なう手段
については公知であるので、その詳細な説明をここでは
省略する。
【0013】また、上記制御装置は、毎回測定されるセ
ルブランク値の変動幅が、予めプログラムされている許
容変動値を超えた場合には、比較回路でこれを判別し、
その旨を記憶した後、これを表示し或はコメントと共に
プリントアウトし、必要に応じてアラームで知らせるよ
うに構成されている。
【0014】このようにして測定されたセルブランク値
の変動幅が、予めプログラムされている許容変動値(閾
値)を超えた場合、上記制御装置は、当該反応容器Sを
使用しないように指令を出し、このパスされた反応容器
番号は、制御装置に記憶され、かつ、表示或はプリント
アウトされる。このように構成することで、自動分析装
置の故障原因を突き止めることが容易となる。
【0015】シリンジの漏れの検出は、配管繋ぎ目部の
液漏れを検知し、配管内に気泡が混入しているか否かを
検出することで行なわれるもので、分注精度の低下を監
視する。
【0016】このような機構としては、図2に示すよう
に、配管3内に電極4を配置して、インピーダンス(容
量抵抗誘導)で検出するか、図3に示すように、配管1
の一部に測定光透過部5で形成し、この測定光透過部5
に近赤外線Hを照射して気泡の存在を確認するように構
成することができる。この気泡は、主としてシリンジと
プライヤーとの間隙からの漏れにより多く発生する。近
赤外線以遠の赤外線領域で水による吸収があり、空気で
は吸収されないので、水と気泡の近赤外線吸収レベルを
監視することで、容易に気泡の混入をチェックすること
ができ、また、混入量は、配管径と測定部における気泡
の通過速度と時間で計量することができる。
【0017】そして、気泡の混入及び混入量が確認され
た場合には、その旨を制御装置に記憶した後、これを表
示し或はコメントと共にプリントアウトし、必要に応じ
てアラームで知らせるように構成する。
【0018】吸引ピペットの液面センサー異常検出回路
は、吸引ピペット1と液面センサー電極2との間に水滴
が付着して導通した場合、吸引ピペット1が液面に着く
前に吸引ピペット1が液面に到達したと誤って判断し、
吸引ピペット1が液面まで降りない状態を検出するもの
で、制御装置は、この導通状態を表示装置に表示し或は
コメントと共にプリントアウトし、必要に応じてアラー
ムで知らせるように構成されている。
【0019】測定データの精度管理回路は、制度管理物
質を同一条件で測定した前回値と比較することで、その
異常を検知するもので、予めプログラムされている許容
変動値(閾値)を超えた場合には、その旨を記憶し、こ
れを表示装置にプロット図態様で表示し或はコメントと
共にプリントアウトし、必要に応じてアラームで知らせ
るように構成されている。勿論、この場合には、上記制
御装置が検出値を閾値内に戻すように、例えば、自動的
に補正するように構成することもできる。
【0020】また、この測定データの精度管理回路は、
反応タイムコース中の任意の範囲を測定後に自由に設定
して計算できるように構成されており、当該自動分析装
置における最適測定範囲を選択できるように構成されて
いる。このように構成することで、新たな試薬の再現性
を当該自動分析装置で検討する場合等に極めて有力な手
段となる。
【0021】洗浄水の残量確認回路は、洗浄水のオーバ
ーフローや洗浄工程が終了した後、反応容器S内に洗浄
液が残っていないかを判別するもので、洗浄機構の最終
段位置に配設された公知の電極、或は、公知の光学装置
によって測定され、上記反応容器S内に洗浄液が残って
いる場合には、当該反応容器Sの使用をパスさせ、この
パスされた反応容器番号は、制御装置に記憶され、か
つ、表示或はプリントアウトされる。また、この洗浄液
の残存情報が複数本続けて確認された場合には、その旨
を表示し、或は、プリンターでプリントアウトし、また
は、アラームで警告した後、新たな分析作業を止めるよ
うにする。
【0022】温度調節管理回路は、反応テーブルTの温
度を感熱センサーの温度検知素子でリアルタイムに測定
し、この検出値が予めプログラムされている許容変動値
(閾値)を超えた場合には、その旨を記憶し、これを表
示装置に表示し或はコメントと共にプリントアウトし、
必要に応じてアラームで知らせるように構成されてい
る。勿論、この場合には、制御装置が反応テーブルTの
温度を閾値内に戻すように自動的に発熱量を制御するよ
うに構成することもできる。
【0023】また、この自動分析装置には、複数の設定
温度(例えば、30℃と37℃)のいずれかに変更する
温度制御ソフト変更スイッチ(以下、温度選択スイッチ
という。)6が配設されている。従来、この温度変更
は、自動分析装置の製造時に一定温度に設定されるた
め、後にこれを変更することは殆ど不可能であり、非常
に不便であったが、本実施例のように構成することで、
制御ソフトを選択するだけで、容易に温度の変更を行な
うことができる。
【0024】分析条件の設定変更は、従来、自動分析装
置のキー電気回路操作でしか行なうことができなかった
が、この実施例に係る自動分析装置では、制御装置に分
析条件変更回路を設け、外部コンピュータからの通信操
作で各種分析条件の表示や分析項目の入力を行なうこと
ができるように構成する。そのため、本実施例では、分
析条件変更回路に、図1に示すように、外部接続端子7
を接続して構成している。また、ICカードに入力され
た分析条件、例えば、検体ID番号毎に特定分析項目の
分析条件を変更している場合、当該自動分析装置が分析
条件を自動的に変更したかを確認できるように、本実施
例では、図1に示すように、ICカードリーダ8も配設
されている。このICカードリーダ8の構成は、公知の
ものと同様であるので、その詳細な説明をここでは省略
する。
【0025】プログラムの特定箇所の変更回路は、分析
条件等が設定されたプログラムの分析条件設定箇所の中
で、ユーザ側からの要求で変更を必要とする言語や項目
名、或は、表示色を異ならせ、または、点滅等、予め特
定しておくことにより、させて知らしめるように構成さ
れており、変更作業を迅速に行なうことができるように
構成されている。
【0026】キャリーオーバーテスト回路は、分注ピペ
ットや撹拌体及び反応セルの洗浄精度を確認するための
もので、濃度の異なるコントロール血清等を使用して特
定項目を分析し、この分析順序を決める複数種類のモー
ドを選択できるように構成すると共に、その分析順序に
よる基準データ値を予め制御装置に記憶させておき、上
記検出値と基準値とを比較させることで、洗浄精度を判
別できるように構成されている。
【0027】電気回路のチェック回路は、外部CPU或
はICカードからのチェック指令による電気回路動作を
リアルタイムに分析装置の表示装置に表示し、電気回路
のチェックを簡便に行なうことができるように構成し
て、保守をより簡便化することができるように構成され
ている。
【0028】尚、この発明では、上記全ての機能を自動
分析装置に配設するのではなく、必要に応じて適宜組み
合わせて構成することもできることは勿論である。
【0029】
【発明の効果】この発明に係る自動分析装置は、以上説
明したように、自動分析装置の種々の故障原因を、自動
分析装置自らがチェックし是正する機能を自動分析装置
に持たせることで、性能の維持を図ると共に、「再検
査」の発生を極力少なくすることができ、以って、測定
結果に対する信頼性を大幅に向上させることができると
ともに、分析条件等を容易に変更することができる等の
優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例に係る自動分析装置の概略
的な構成を示すブロック図である。
【図2】同自動分析装置に配設されるシリンジの漏れ検
出機構の概略的な一構成例を示す説明図である。
【図3】同自動分析装置に配設されるシリンジの漏れ検
出機構のたの概略的な構成例を示す説明図である。
【符号の説明】
S 反応容器 T 反応テーブル 1 吸引ピペット 2 液面センサー 3 配管 4 電極 5 測定光透過部 6 温度選択スイッチ 7 外部接続端子 8 ICカードリーダ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 サンプル量および試薬量の確認値や反応
    セルのブランク測定値,反応温度誤差値,吸引ピペット
    の液面センサー異常値,光源ランプの異常および洗浄水
    の残量等を検出し、これらの検出値を表示装置に表示す
    るとともに、各検出値が閾値を超えたときに、警告を発
    するように構成されてなる自動分析装置。
  2. 【請求項2】 反応温度誤差値や分析条件の変更,プロ
    グラムの特定箇所の変更,キャリーオーバーテストおよ
    び電気回路のチェックを外部コンピュータ或はICカー
    ドで行なうことを特徴とする自動分析装置。
JP4875093A 1993-02-16 1993-02-16 自動分析装置 Pending JPH07151765A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4875093A JPH07151765A (ja) 1993-02-16 1993-02-16 自動分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4875093A JPH07151765A (ja) 1993-02-16 1993-02-16 自動分析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07151765A true JPH07151765A (ja) 1995-06-16

Family

ID=12811965

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4875093A Pending JPH07151765A (ja) 1993-02-16 1993-02-16 自動分析装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07151765A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009085616A (ja) * 2007-09-27 2009-04-23 Olympus Corp 自動分析装置及び自動分析装置における液体試料の分注制御方法
JP2013024567A (ja) * 2011-07-14 2013-02-04 Toshiba Corp 自動分析装置
EP2023147A3 (en) * 2007-07-30 2013-07-03 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2023147A3 (en) * 2007-07-30 2013-07-03 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analyzer
JP2009085616A (ja) * 2007-09-27 2009-04-23 Olympus Corp 自動分析装置及び自動分析装置における液体試料の分注制御方法
JP2013024567A (ja) * 2011-07-14 2013-02-04 Toshiba Corp 自動分析装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1512974B1 (en) Automatic analysis device, measurement device, and measurement result management method
JP3726919B2 (ja) サンプルプローブ詰まり検出方法及び検出回路
CN109557292B (zh) 校准方法
US20090222213A1 (en) Automatic analyzer
EP3933533B1 (en) Apparatus for diagnosing in vitro instruments
JP2000097946A (ja) 自動分析装置
US7169357B2 (en) Automatic chemical analyzer
US20120282137A1 (en) Automatic analyzer
JPH0627743B2 (ja) 自動分析装置
JP2017129460A (ja) 自動分析装置、光源異常検出方法及びプログラム
JPH07151765A (ja) 自動分析装置
US20150369831A1 (en) Automatic analysis apparatus
JP5860643B2 (ja) 自動分析装置
JP7462048B2 (ja) 診断分析器および品質管理方法
JP2005127757A (ja) 自動分析装置
JPH03110475A (ja) 自動分析装置
EP4155736A1 (en) Adaptive light barrier processing
JP2004028670A (ja) 自動分析装置等の分析準備・終了作業代行の遠隔支援システム
JPH01305361A (ja) 自動化学分析装置
KR0137697B1 (ko) 자동시험장치에서 계측기를 이용한 부품 에러 자동탐지 장치 및 그 방법
JPH0627118A (ja) 自動分析装置
JPS63138267A (ja) 再検査コストチエツク装置
JPH072970U (ja) 自動分析装置