JPH07151683A - ガス濃度測定処理装置 - Google Patents

ガス濃度測定処理装置

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JPH07151683A
JPH07151683A JP32616593A JP32616593A JPH07151683A JP H07151683 A JPH07151683 A JP H07151683A JP 32616593 A JP32616593 A JP 32616593A JP 32616593 A JP32616593 A JP 32616593A JP H07151683 A JPH07151683 A JP H07151683A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】振幅変調による2倍波成分を打ち消すための調
整が不要で、測定精度の高いガス濃度測定処理装置を提
供する。 【構成】2倍波直交復調部1で得られた、ガスが無い状
態の同相・直交成分をそれぞれレジスタ33,36に記憶し
ておき、ガスが有る状態の同相・直交成分とベクトル処
理部3でベクトル演算して2倍波の振幅値を求め、基本
波振幅抽出部2からの基本波の振幅値との比を除算部4
で演算してガス濃度の測度を得るようにしている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、メタンガスや炭酸ガ
スなどのガスの濃度を、それぞれのガス固有の吸収スペ
クトルを利用することで高精度に測定するガス検出器に
於いて用いられるガス濃度測定処理装置に係り、特に周
波数変調法を用いたガス濃度測定処理装置に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】ガスには、それぞれガス分子固有の吸収
スペクトルが有り、レーザをこの吸収スペクトルの存在
する周波数で発振させることでガスの濃度を測定すると
いう試みは1965年にムーア(C.B.Moore) によって初めて
行われた。この原理を以下に簡単に述べる。ガスの吸収
スペクトルは、そのガス分子の振動エネルギーに従って
様々な周波数に於いて極小値を持つが、そのうちの1つ
を取り出すと図5に示されるような一般にローレンツ型
と呼ばれる特性になる。図5の横軸は周波数、縦軸は透
過率であり、この吸収スペクトルの極小値の周波数fc
における透過率は、ガスの濃度が高くなるにつれて小さ
くなる。従って、fc の発振周波数を持つレーザ光をガ
スに照射して、その透過された信号を光検出器で受け電
気信号に変換し、透過率の変化量を算出すると、その透
過率の変化量がガスの濃度に比例するガス濃度の測度と
なるので、この測度に予め濃度の分かっているガスを測
定する等して求めた係数を掛けることでガスの濃度を測
定することができる。
【0003】この原理に着目し発展させたものとして2
波長差分方式と周波数変調方式があり、これら2つの方
式が現在ではレーザを用いたガス濃度測定の主流となっ
ている。2波長差分方式についての詳細な説明及び実験
結果は、 ・K.Uehara: Appl. Phys. B, Vol.38, No.1, pp.37--4
0, 1985. ・田井秀男、山本和成、阿部健、植木孝、田中弘明、上
原喜代治:計測自動制御学会論文集24, pp.452--458, 19
88. ・田井秀男、田中弘明、上原喜代治: 光学,Vol.19, No.
4, pp.238--244,1990. に開示されている。
【0004】また、周波数変調方式についての詳細な説
明及び実験結果は、 ・D.T.Cassidy: Appl. Opt., Vol.27, No.3, pp.610--6
14, 1988. 田井秀男、松浦正行、田中弘明、上原喜代治:光学,Vol.
19, No.9,pp.616--619, 1990. に開示されている。
【0005】初めに、2波長差分方式について説明し、
その後で本発明に関わる周波数変調方式について説明す
る。図8に2波長差分方式を用いたガス検出器のブロッ
ク図を示す。図8で、周波数切り替え器60はレーザ10の
発振周波数をガスセル20のガスの吸収スペクトルで透過
率が極小となる周波数fc とガスの吸収スペクトルが存
在しない周波数fnを切り替えるためのものである。光
検出器50で電気信号に変換された信号は、レーザ10の発
振周波数fc 、fnを切り替えることで図5のように透
過率が変わるので振幅値が変わり、その振幅の差が透過
率の変化量となりガスの濃度の測度となる。
【0006】ここで、一般の応用としてはレーザ10から
光検出器50までの光路長は可変とした方が都合がよい。
例えば、ガスの中を通るレーザ光の光路長が長いほど透
過率の変化が大きくなり高精度にガスの濃度測定を行う
ことができるので多重反射型のガスセルを選択したり、
持ち運びの容易さから小さなガスセルを選択したりする
場合があるからである。光路長が長くなるとレーザ光が
発散したり周囲の塵などの影響でレーザ光が減衰するの
で、ガス濃度測定処理装置90への入力信号の振幅が小さ
くなる。その結果、透過率の変化を表す振幅の差が小さ
くなり、ガス濃度測定処理装置90の出力値から換算され
るガスの濃度の値が減少するといった問題が生じる。上
で述べた問題が生じないようにするため、その振幅の差
をガスの吸収スペクトルのない周波数の時の振幅で除算
するという手法が取られている。また、ガスの中を通る
レーザ光の光路長にその振幅の差は比例することになる
から、濃度に換算するときは光路長で除算が行われる。
このようにして求められたガス濃度の測度に適当な比例
定数を掛けることで、光路長に依存せずにガスの濃度が
求まる。
【0007】この2波長差分方式では、光検出器50で電
気信号に変換されガス濃度測定処理装置90への入力とな
る信号は直流の信号となるので、オペアンプのドリフト
などで生じた直流のオフセット成分を除去できないた
め、高精度にガスの濃度検出ができないという欠点があ
る。また、外来光の干渉により高精度にガスの濃度検出
ができないといった欠点もある。この欠点を改善するた
めに考案されたのが次に述べる周波数変調方式である。
この方式は直流のオフセット成分や外来光がが存在して
もガスの濃度測定に悪影響を及ぼさないように、交流成
分の信号だけでガスの濃度測定を行えるようにしたもの
である。
【0008】図6に周波数変調方式の原理図を示す。中
心周波数をfc として、変調周波数fm でレーザを周波
数変調し、被測定ガスに照射する。ガスの吸収スペクト
ルはローレンツ型と呼ばれる特性を示し、離調周波数に
対してほぼ2次関数となるので、光検出器で電気信号に
変換された信号には、変調周波数の2倍の周波数の信号
(以後、この信号を2倍波信号という)が含まれる。2
倍波信号の振幅値は、ガスの濃度が高くなると透過率が
低くなるので大きくなり、ガスの濃度の測度となり適当
な比例定数を掛けることでガスの濃度に換算できる。
【0009】以下で、2波長差分方式の説明で述べたこ
とと同様に周波数変調方式で光路長の影響をキャンセル
する方法について述べる。レーザを周波数変調するため
には電流制御を行わなければならない。この電流制御を
行いfm という周波数で周波数変調を掛けると、fm と
いう周波数で自動的に振幅変調も掛かる。このため、光
検出器で電気信号に変換された信号には振幅変調によっ
て生じたfm という周波数の信号も含まれる(以後、こ
の信号を基本波信号という)。この基本波信号を利用し
て、2倍波信号の振幅値を基本波信号の振幅値で除算す
ることで、光路長が長くなることにより生じるレーザ光
の発散あるいは周囲の塵などの影響をキャンセルするこ
とができ、この値がガスの濃度の測度となる。
【0010】ここで、実際には周波数変調を行うための
信号には回路素子の非線形性によって、どうしても歪み
が含まれてしまうので、ガスがガスセルに無い場合でも
2倍波信号の成分が生じるといった問題が起こる。この
2倍波成分が、ガスをガスセルに注入した時のガスの吸
収スペクトルにより生じる2倍波成分と相殺あるいは重
ね合わされたりしてガス濃度の測定誤差の原因となる。
【0011】図9は従来の周波数変調方式を用いたガス
検出器を示すブロック図である。上で述べた振幅変調に
より生じる2倍波成分を除去するために従来の周波数変
調を用いたガス検出器では、2倍波抑圧器80をつけてガ
スセルにガスが無い状態で、周波数変調器70の出力信号
に前記2倍波抑圧器80からの周波数2fm の出力信号を
加算し、2倍波抑圧器80の出力信号の振幅と位相を手動
で少しずつ調整し、2倍波の振幅値Bを0となるように
校正するといった手法が用いられている。このようにし
て校正した後で、ガスセル20にガスを注入し、ガス濃度
測定処理装置100 では光検出器50で電気信号に変換され
た信号を受け、基本波振幅抽出部101 と2倍波振幅抽出
部102 で基本波信号と2倍波信号の振幅を求めて、2倍
波信号の振幅Bを基本波信号の振幅Aで除算すると、ガ
ス濃度の測度が得られ、適当な比例定数を掛けることで
ガスの濃度が測定できる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】周波数変調法を用いて
ガスの濃度を高精度に測定するには、ガスセルに注入し
たガスの吸収スペクトルにより生じる2倍波の振幅値を
正確に求める必要がある。しかしながら、振幅変調によ
りガスセルにガスが無い状態でも2倍波成分が生じ、こ
の成分が、ガスセルに注入したガスの吸収スペクトルに
より生じる2倍波成分と相殺あるいは重ね合わさること
で2倍波の振幅値に誤差が加わりガスの濃度測定が高精
度に行えなくなる。
【0013】従来法では、振幅変調によって生じる2倍
波を打ち消すために図9の2倍波抑圧器80の出力の振幅
と位相の値を手動で調整する必要があり、この調整のた
めに数分の時間が必要となっていた。また、測定精度は
前記調整の出来具合に影響されるが、この2倍波の振幅
値を基本波の振幅値と比較すると基本波の振幅値はかな
り大きな値となるので、基本波の影響で2倍波の振幅値
が変動してしまい、手動で2倍波成分が最小となるよう
に調整するのは非常に困難である。本発明の目的は、振
幅変調により生じる2倍波成分を打ち消すための振幅と
位相の調整の必要が無く、測定精度の高いガス濃度測定
処理装置を提供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】包絡線検波をすることと
すれば、同相・直交成分が求まり、光検出器で電気信号
に変換された信号からガスセルにガスの無い状態で振幅
変調により生じる2倍波信号のベクトルとガスセルにガ
ス注入後の振幅変調により生じる2倍波信号を含んだ2
倍波信号のベクトルとが推定できること、また、DSP(Di
gital Signal Processor) 等でデジタル処理もできるこ
とに着目し、これらのベクトルを用いることでガスの吸
収スペクトルによって生じた真の2倍波信号を抽出する
ようにした。
【0015】そして、第1の発明では、前記ガスセルに
ガスの無い状態で振幅変調により生じる2倍波信号のベ
クトルとガスセルにガス注入後の振幅変調により生じる
2倍波信号を含んだ2倍波信号のベクトルとから演算に
より真の2倍波信号の振幅を求めるようにし、第2の発
明では、ガスセルにガスの無い状態で振幅変調により生
じる2倍波信号のベクトルの位相と振幅とから、逆位相
の2倍波信号を生成し入力信号に加算して振幅変調によ
り生じる2倍波信号を除去することとした。
【0016】
【作用】この原理についての詳細な説明を下記で行う。
光検出器で電気信号に変換された信号をDSP で処理する
ためにLPF(Low Pass Filter)で高調波成分を除去すると
ADコンバータで標本化した信号は
【0017】
【数1】
【0018】と表すことができる。ただし、第1項は基
本波成分、第2項は2倍波成分、第3項は白色雑音成分
であり、fm は基本波の周波数、fs はサンプリングレ
ート、θとφは初期位相である。ここで、簡単に数1を
表すために
【0019】
【数2】
【0020】と置くと数1は
【0021】
【数3】
【0022】と書き直すことができる。まず、2倍波の
振幅Bを求めるために、ローカルの周波数を2倍波の周
波数として周波数推移を行い、理想的なLPF(ILPF) で高
調波成分を除去すると
【0023】
【数4】
【0024】となる。ただし、BI およびBQ はそれぞ
れ直交復調後の同相成分および直交成分である。しか
し、現実には理想的なLPF は実現不能であり、基本波の
振幅値Aは2倍波の振幅値Bと比較すると非常に大きな
値となるために、一般のLPF では数4の振幅Aをもつ高
調波成分の影響で2倍波の振幅値Bはかなり変動してし
まう。そこで、周波数推移された信号をまずLPF に通し
その後で前記高調波成分を十分に減衰させるために
【0025】
【数5】
【0026】なるインパルス応答を持つ櫛形フィルタに
通す。ここで、Mは任意の整数、G.C.M.(fs,fm )は
fs とfm の最大公約数である。このようにLPF と櫛形
フィルタを縦続接続しこれらのフィルタに周波数推移さ
れた信号を通すことで、前記高調波成分は除去され、理
想的なLPF とほぼ同程度の出力を得ることができ、2倍
波の同相成分BI と直交成分BQ をほぼ一定の値で得る
ことができる。なお、前記櫛形フィルタを設けたほうが
上述の理由で精度が上がるが、設けなくても本発明の効
果は得られる。ガスセルにガスの無い状態の入力信号に
対する2倍波の同相成分および直交成分をそれぞれBIe
およびBQeとし、ガスセルにガス注入後の入力信号に対
する2倍波の同相成分および直交成分をそれぞれBIfお
よびBQfとする。これらの同相・直交成分のベクトル図
を図7に示す。図7でガスの吸収スペクトルにより生じ
た真の2倍波の振幅は
【0027】
【数6】
【0028】で求められる。また、基本波に対してはロ
ーカルの周波数を基本波の周波数として周波数推移を行
い、前記櫛形フィルタ(CF)で高調波成分を除去し
【0029】
【数7】
【0030】ノルムをとることで
【0031】
【数8】
【0032】となり、基本波の振幅Aが得られる。この
ようにして求められた2倍波の振幅値Pを基本波の振幅
値Aで除算することで位相敏感検波と同程度の精度でガ
スの濃度の測度が求まり、適当な比例定数を掛けること
でガスの濃度に換算できる。
【0033】
【実施例】被測定ガスがメタンガスである場合の実施例
を以下で述べる。レーザはメタンガスの吸収スペクトル
で透過率が極小となる波長1.6538μmの所に中心周波数
を設定し、周波数変調の変調周波数fm を 32.5kHzに設
定し、最大周波数偏移を半値全幅で周波数変調が掛かる
ように設定し、サンプリングレートfs を変調周波数f
m の8倍の260kHzに設定した。また、数7において、M
=1として、数10のフィルタをN=8で実現した。演
算処理を行うためのDSP としてテキサス・インスツルメ
ンツ社のTMS320C25を使用した。
【0034】以下で第1及び第2の発明それぞれの実施
例について説明する。実施例1(第1の発明)のガス濃
度測定処理装置のブロック図を図3に示す。図3に示さ
れる2倍波直交復調部1では、入力信号s(n) を受け、
その入力信号は乗算器11でローカル信号14〔2cos(4π
fm n/fs )〕と乗算され、LPF12 でフィルタリング
され、櫛形フィルタ13で高調波成分が除去され2倍波の
同相成分が出力される。また、前記入力信号は、乗算器
15で前記ローカル信号14と直交するローカル信号18〔2
sin(4πfm n/fs )〕と乗算され、LPF16 でフィル
タリングされ数5のインパルス応答を持つ櫛形フィルタ
17で高調波成分が除去され、その結果2倍波の直交成分
が出力される。
【0035】基本波振幅抽出部2では、前記入力信号s
(n) を受け、その信号は乗算器21でローカル信号25〔2
cos(2πfm n/fs )〕と乗算され、LPF22 でフィル
タリングされ、櫛形フィルタ23で高調波成分が除去さ
れ、その結果基本波の同相成分が得られ、この同相成分
は乗算器24で2乗され加算器31に出力される。また、前
記入力信号s(n) は、乗算器26で前記ローカル信号25と
直交するローカル信号30〔2sin(2πfm n/fs )〕
と乗算され、LPF27 でフィルタリングされ櫛形フィルタ
28で高調波成分が除去され、その結果基本波の直交成分
が得られ、この直交成分は乗算器29で2乗され加算器31
に出力される。前記基本波の同相成分と基本波の直交成
分は加算器31で加算され、平方根器32で平方根演算が行
われ、基本波の振幅値Aが出力される。
【0036】ベクトル処理部3では、前記2倍波の同相
成分と2倍波の直交成分を受け、その2倍波の同相成分
はガスセルにガスが無い場合はレジスタ33に保存され、
ガスセルにガスを注入後は加算器34に出力され、レジス
タ33の値が減算され、その結果は乗算器35で2乗され加
算器39に出力される。また、前記2倍波の直交成分はガ
スセルにガスが無い場合はレジスタ36に保存され、ガス
セルにガスを注入後は加算器37に出力され、レジスタ36
の値が減算され、その結果は乗算器38で2乗され加算器
39に出力される。乗算器35、38で2乗された値は加算器
39で加算され、平方根器40で平方根演算が行われ2倍波
の振幅値Pが出力される。除算部4では、前記基本波の
振幅値Aと前記2倍波の振幅値Pを受け取り、除算器41
で前記振幅値Pを前記振幅値Aで除算した値をガスの濃
度の測度として出力する。
【0037】実施例2(第2の発明)のガス濃度測定処
理装置のブロック図を図4に示す。実施例2は実施例1
のベクトル処理部3の代わりに2倍波歪除去信号発生部
6を設け、2倍波歪除去信号を入力信号に加算するよう
にしている他は実施例1と同じである。ただし、実施例
1のベクトル処理部3の一部はノルム演算部5として図
4には示されている。実施例2は、ガスセルにガスが無
い状態の測定では、手動でスイッチ7を開いておく。そ
のため、ガスが無い状態での入力信号は乗算器8を変換
されずに通過し、その入力信号は実施例1と同様に2倍
波直交復調部1で処理され、同相成分SI と直交成分S
Q が得られる。
【0038】前記同相成分SI は乗算器51で2乗され、
また、前記直交成分SQ は乗算器52で2乗され、これら
の2乗された値は加算器53で加算され、その加算された
出力は、平方根器54で平方根演算が行われ、その結果、
ガスが無い状態のときに半導体レーザの非線形特性によ
って生ずる2倍波歪みの振幅値Qが得られる。前記同相
成分SI 、直交成分SQ 及び振幅値Qは位相算出器61と
2倍波歪除去信号生成部62とで成る2倍波歪除去信号発
生部6に送られる。前記位相算出器61は前記同相成分S
I と前記直交成分SQ とを受け、逆正接演算を行い、ガ
スが無い状態での入力信号と2倍波直交復調部1の同相
のローカル信号との位相差φを出力する。2倍波歪除去
信号生成部62は前記振幅値Pと位相差φとを受けて2倍
波歪除去信号〔Qcos(4πfm n/fs +π+φ)〕を
出力する。この信号はスイッチ7が閉じても保持され
る。
【0039】ガスセルにガスが有る状態の測定では、手
動でスイッチ7を閉じておくので、入力信号は加算器8
で2倍波歪除去信号と加算され、2倍波直交復調部1で
処理され、同相成分SI1と直交成分SQ1が得られる。前
記同相成分SI1は乗算器51で2乗され、また、前記直交
成分SQ1は乗算器52で2乗され、これらの2乗された値
は加算器53で加算され、その加算された出力は、平方根
器54で平方根演算が行われ、その結果、ガスの吸収スペ
クトル特性によって生じた真の2倍波の振幅値Pが得ら
れる。また、前記ガスが有る状態の入力信号は、基本波
振幅抽出部2で処理され、基本波の振幅値Aが得られ
る。除算器41では、前記振幅値Pと前記振幅値Aを受
け、振幅値Pを振幅値Aで除算した値を出力する。この
出力された値に所定の係数を掛けることでガスの濃度が
求まる。
【0040】第1または第2の発明によれば、前記実施
例1,2のようにDSP を用いてガス濃度測定処理を行う
ことで回路の小型化、低コスト化でき、また、包絡線検
波で扱う信号は、従来の装置に用いられている位相敏感
検波に比べて低周波であるので周囲の温度環境等に動作
が依存せず安定な測定を行うことができる。ここで、測
定精度について従来の装置と比較すると、従来の装置で
は、ガス無しで校正をしないと−30dB、校正をする
と−40dB程度であり、ガスの濃度に換算すると数十
ppmの誤差が含まれる。一方、本発明の装置では濃度
に換算した誤差は数ppm程度である。
【0041】
【発明の効果】本発明のガス濃度測定処理装置は、ガス
が無い状態で振幅変調により生ずる2倍波信号のベクト
ルとガスが有る状態で得られる2倍波信号のベクトルと
から真の2倍波信号の振幅値Pを得る、または、ガスが
無い状態で振幅変調により生ずる2倍波信号のベクトル
の振幅値Qと位相差φとから2倍波歪除去信号を生成し
てガスが有る状態で得られる2倍波信号に加算して真の
2倍波信号の振幅値Pを得ることとしたから、従来の装
置のように振幅変調により生じる2倍波を打ち消すため
に2倍波抑圧器の出力の振幅と位相の値を手動で調整す
るというような必要がない。また、手動で調整するのは
限界があり、どうしても誤差が含まれてしまうが、本発
明では信号処理理論に基づき自動で振幅変調により生じ
る2倍波の影響を除去しているので、従来法に比べて高
精度にガスの濃度測定を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の発明のガス濃度測定処理装置のブロック
図。
【図2】第2の発明のガス濃度測定処理装置のブロック
図。
【図3】実施例1のガス濃度測定処理装置のブロック
図。
【図4】実施例2のガス濃度測定処理装置のブロック
図。
【図5】ガスの吸収スペクトルを示す図。
【図6】周波数変調方式の原理図。
【図7】ガスが無い状態とガスが有る状態の2倍波信号
の同相・直交成分のベクトル図。
【図8】2波長差分方式を用いたガス検出器のブロック
図。
【図9】従来の周波数変調方式を用いたガス検出器のブ
ロック図。
【符号の説明】
1 2倍波直交復調部 2 基本波振幅抽出部 3 ベクトル処理部 4 除算部 5 ノルム演算部 6 2倍波歪除去信号発生部 7 スイッチ 8 加算器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の周波数(fm )で振幅変調及び周
    波数変調された光を被測定ガスに入射して得られた、該
    被測定ガスの吸収特性を帯びた光信号の基本波信号(周
    波数fm )と2倍波信号(周波数2fm )とからガス濃
    度を測定するガス濃度測定処理装置において、 被測定ガスが無い状態と被測定ガスが有る状態の、それ
    ぞれ前記入力信号を受け2倍波信号の同相・直交成分を
    出力する2倍波直交復調部(1)と、 被測定ガスが有る状態の前記入力信号を受け、基本波の
    振幅を求めて出力する基本波振幅抽出部(2)と、 前記2倍波直交復調部から出力される被測定ガスが無い
    状態の2倍波信号の直交・同相成分と、被測定ガスが有
    る状態の2倍波信号の直交・同相成分を受け、ベクトル
    演算を行いノルムを求めて出力するベクトル処理部
    (3)と、 前記基本波振幅抽出部から出力される振幅と前記ベクト
    ル処理部から出力されるノルムとを受けて、該ノルムを
    前記振幅で除算した値を求めて、ガス濃度の測度として
    出力する除算部(4)とで成る信号処理部を有すること
    を特徴とするガス濃度測定処理装置。
JP5326165A 1993-11-30 1993-11-30 ガス濃度測定処理装置 Expired - Lifetime JP3051809B2 (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009264814A (ja) * 2008-04-23 2009-11-12 Fuji Electric Systems Co Ltd 多成分用レーザ式ガス分析計
JP2012026830A (ja) * 2010-07-22 2012-02-09 Shimadzu Corp ガス濃度測定装置
EP3945306A1 (en) * 2020-07-31 2022-02-02 Yokogawa Electric Corporation Gas analysis system and gas analysis method

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009264814A (ja) * 2008-04-23 2009-11-12 Fuji Electric Systems Co Ltd 多成分用レーザ式ガス分析計
JP2012026830A (ja) * 2010-07-22 2012-02-09 Shimadzu Corp ガス濃度測定装置
EP3945306A1 (en) * 2020-07-31 2022-02-02 Yokogawa Electric Corporation Gas analysis system and gas analysis method
JP2022026879A (ja) * 2020-07-31 2022-02-10 横河電機株式会社 ガス分析システム及びガス分析方法
CN114062286A (zh) * 2020-07-31 2022-02-18 横河电机株式会社 气体分析系统及气体分析方法
US11650155B2 (en) 2020-07-31 2023-05-16 Yokogawa Electric Corporation Gas analysis system and gas analysis method
CN114062286B (zh) * 2020-07-31 2024-04-02 横河电机株式会社 气体分析系统及气体分析方法

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