JPH07150338A - 透明導電膜 - Google Patents

透明導電膜

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JPH07150338A
JPH07150338A JP29710193A JP29710193A JPH07150338A JP H07150338 A JPH07150338 A JP H07150338A JP 29710193 A JP29710193 A JP 29710193A JP 29710193 A JP29710193 A JP 29710193A JP H07150338 A JPH07150338 A JP H07150338A
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JP
Japan
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film
crystal
conductive film
transparent conductive
ito
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP29710193A
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English (en)
Inventor
Masayuki Kamei
雅之 亀井
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AG Technology Co Ltd
Original Assignee
AG Technology Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【構成】立方晶酸化ジルコニウムの単結晶の基体1上に
形成される酸化インジウムを含む透明導電膜4であっ
て、該透明導電膜4の3本の結晶軸は該単結晶基体1の
3本の結晶軸とそれぞれ平行であることを特徴とする透
明導電膜。 【効果】結晶方位が揃っており、比抵抗が多結晶膜より
改善され、さらに電気特性、エッチング特性などに異方
性を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は液晶パネル等に不可欠な
透明電極に最適な透明導電膜に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、酸化インジウムを含む透明導電膜
(以下、ITOという)は多結晶あるいは非晶質(ガラ
ス、樹脂など)の基体上にスパッタリング法、蒸着法、
塗布法などの成膜方法を用いて形成することが一般的で
あった。しかしこれらの方法で得られるITO膜は結晶
方位がランダムであり、結晶方位の揃ったITOを得る
ことはできなかった。
【0003】ITO薄膜の電気特性等を改善し、より低
抵抗な薄膜を得ることはディスプレーの応答速度などの
高速化などにつながるため非常に重要である。しかしな
がら従来得られていたITO薄膜の結晶は基板面内でラ
ンダムな配向(多結晶)を示しており、この結晶方位の
乱れにより膜の比抵抗がを十分下げることができないと
考えられている。また多結晶のITOに関しては、結晶
が一方向に揃っていないため電気特性、エッチング特性
等に異方性を付加することができなかった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、電気特性、
エッチング特性が改善された透明導電膜の提供を目的と
する。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、立方晶酸化ジ
ルコニウムの単結晶の基体上に形成される酸化インジウ
ムを含む透明導電膜であって、該透明導電膜の3本の結
晶軸は該単結晶基体の3本の結晶軸とそれぞれ平行であ
ることを特徴とする透明導電膜を提供するものである。
【0006】本発明においては、立方晶酸化ジルコニウ
ムの単結晶(以下、YSZ単結晶という)を基体として
用いることが重要である。本発明におけるYSZ単結晶
は、安定化のため、0.01〜50重量%の酸化イット
リウムを含む立方晶酸化ジルコニウムの単結晶であるこ
とが好ましい。
【0007】本発明における酸化インジウムを含む透明
導電膜は例えば酸化インジウムを主成分とし、これにド
ーパントとして酸化錫を含むインジウム−酸化錫物(I
TO)である。かかるITO膜の成膜に用いる手法は任
意であるが、蒸着法、スパッタリング法、塗布法、固相
法などが良いITOの結晶が得られるため好ましい。
【0008】ITO膜の3本の結晶軸とYSZ単結晶基
体の3本の結晶軸とがそれぞれ平行になることは下記の
ように表現することができる。図1は単結晶YSZの
(100)面を光学研磨して基体として用いた場合のY
SZ基体とその上に作製されるITO膜の結晶の側面の
模式図、図2は上面の模式図である。図1および2の中
で、1はYSZの基体、2はYSZの単位格子、3はY
SZの(100)面、4はITO膜、5はITOの単位
格子であり、6はITOの(400)面である。ITO
の(400)面がYSZの(100)面と平行に成長す
る。YSZの格子定数は0.51nmであり、ITOの格子定
数は1.01nmである。YSZ単結晶の結晶面の研磨
方向を変化させることで任意の結晶面が成長した結晶方
位の揃ったITOを得ることができる。例えばYSZ基
板の(111)面を研磨して使用した場合、ITOはそ
の(222)面を基板面平行に成長させることができ
る。
【0009】
【作用】本発明においてYSZの単結晶基体は、その格
子定数がITO結晶の格子定数の半分にほぼ等しいた
め、ITOの結晶を安定な状態で基体の単結晶の方向に
束縛して成長させる作用がある。その結果単結晶基体と
同じ結晶の方位を有する結晶方位の揃ったITO膜を基
体上に成長させることが可能になる。なおYSZはIT
Oとの格子定数のマッチングが極めて良いためYSZ単
結晶基体の表面を操作することで、任意の成長方位を有
するITO結晶を得ることが可能である。
【0010】このようにITOの結晶方位を揃えること
で、結晶粒界を飛躍的に減少させることができ、その結
果ITO膜の比抵抗を下げる作用がある。またこのよう
なITO膜においては結晶が揃っているため、従来不可
能であった異方性を膜に付加することが可能になる。
【0011】
【実施例】通常のDCマグネトロンスパッタリング法を
用いて(400)面を光学研磨したYSZ単結晶基板上
にITO膜を成膜した。ターゲットの組成はIn2O3 (1
0wt%SnO2)であり、基板温度200℃、酸素分圧2
mTorr である。このITO膜の結晶の配向方向を調べる
ためX線極図形法(Pole figure法) による評価を行なっ
た。図3、4にそれぞれこのITO膜の(400)、
(222)面についての極図形を示す。(400)面の
極図形は点状にステレオ投影図の中心に観測され、(2
22)面の極図形は点状に4つ、面内回転角90度ごと
に観測される。このことは図1および2に示したように
ITO膜がYSZ単結晶に束縛されて結晶方位を揃えて
成長していることを示している。これを反映してこの膜
の電気特性は比抵抗1.5×10-4Ω・cm(移動度4
1cm2 /V.sec)と優れたものであった。
【0012】比較のために同一の成膜条件で通常のガラ
ス基板上に作製したITO膜の(400)、(222)
面についての極図形をそれぞれ図5、6に示す。図5に
示した(400)の極図形は大きな円となり、図6に示
した(222)の極図形はリング状となる。これはこの
ITO膜の結晶が図7(側面図)および図8(上面図)
に示したように結晶の配向が乱れていることを示してい
る。また膜の電気特性も比抵抗2.0×10-4Ω・cm
(移動度38cm2 /V.sec)と結晶方位の揃った
ITO膜より劣っていることがわかる。
【0013】
【発明の効果】本発明の透明導電膜は、結晶方位が揃っ
ており、比抵抗が多結晶膜より改善され、さらに電気特
性、エッチング特性などに異方性を有するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかるITO膜の結晶の側面の模式図
【図2】本発明にかかるITO膜の結晶の上面の模式図
【図3】本発明にかかるITO膜の結晶の(400)面
の極図形
【図4】本発明にかかるITO膜の結晶の(222)面
の極図形
【図5】ガラス基体上に作製されるITO膜の結晶の
(400)面の極図形
【図6】ガラス基体上に作製されるITO膜の結晶の
(222)面の極図形
【図7】ガラス基体上に作製されるITO膜の結晶の側
面の模式図
【図8】ガラス基体上に作製されるITO膜の結晶の上
面の模式図
【符号の説明】
1:YSZ基体 2:YSZ単位格子 3:YSZの(100)面 4:ITO膜 5:ITO単位格子 6:ITOの(400)面 7:ガラス基体

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】立方晶酸化ジルコニウムの単結晶の基体上
    に形成される酸化インジウムを含む透明導電膜であっ
    て、該透明導電膜の3本の結晶軸は該単結晶基体の3本
    の結晶軸とそれぞれ平行であることを特徴とする透明導
    電膜。
  2. 【請求項2】前記単結晶は、0.01〜50重量%の酸
    化イットリウムを含む立方晶酸化ジルコニウムの単結晶
    であることを特徴とする請求項1記載の透明導電膜。
JP29710193A 1993-11-26 1993-11-26 透明導電膜 Withdrawn JPH07150338A (ja)

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