JPH0714922Y2 - サーフェイスマウント半導体素子の測定用アダプタ - Google Patents
サーフェイスマウント半導体素子の測定用アダプタInfo
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- JPH0714922Y2 JPH0714922Y2 JP1988007254U JP725488U JPH0714922Y2 JP H0714922 Y2 JPH0714922 Y2 JP H0714922Y2 JP 1988007254 U JP1988007254 U JP 1988007254U JP 725488 U JP725488 U JP 725488U JP H0714922 Y2 JPH0714922 Y2 JP H0714922Y2
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- JP
- Japan
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- Expired - Lifetime
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1988007254U JPH0714922Y2 (ja) | 1988-01-22 | 1988-01-22 | サーフェイスマウント半導体素子の測定用アダプタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1988007254U JPH0714922Y2 (ja) | 1988-01-22 | 1988-01-22 | サーフェイスマウント半導体素子の測定用アダプタ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01112479U JPH01112479U (US07223432-20070529-C00017.png) | 1989-07-28 |
JPH0714922Y2 true JPH0714922Y2 (ja) | 1995-04-10 |
Family
ID=31212111
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1988007254U Expired - Lifetime JPH0714922Y2 (ja) | 1988-01-22 | 1988-01-22 | サーフェイスマウント半導体素子の測定用アダプタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0714922Y2 (US07223432-20070529-C00017.png) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5877051U (ja) * | 1981-11-16 | 1983-05-24 | 富士通株式会社 | Icアダプタ |
JPS58138078U (ja) * | 1982-03-12 | 1983-09-17 | 株式会社明電舎 | Ic用試験端子装置 |
-
1988
- 1988-01-22 JP JP1988007254U patent/JPH0714922Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH01112479U (US07223432-20070529-C00017.png) | 1989-07-28 |
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