JPH0714863A - 半導体処理装置 - Google Patents

半導体処理装置

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JPH0714863A
JPH0714863A JP5153384A JP15338493A JPH0714863A JP H0714863 A JPH0714863 A JP H0714863A JP 5153384 A JP5153384 A JP 5153384A JP 15338493 A JP15338493 A JP 15338493A JP H0714863 A JPH0714863 A JP H0714863A
Authority
JP
Japan
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heating
lead frame
transfer
holder
heater
Prior art date
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Pending
Application number
JP5153384A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Numajiri
一男 沼尻
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH0714863A publication Critical patent/JPH0714863A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、半導体ペレットがエポキシ性接着剤
により接着されたリードフレームに対して熱硬化処理を
施すマウントキュア装置において、処理能力を低下する
ことなく、小型化やインライン化に対応できるようにす
ることを最も主要な特徴とする。 【構成】たとえば、積層ヒータ部12のヒータホルダ1
2aに対し、複数の熱板12bを縦方向に所定の間隔を
設けて配列する。また、各熱板12bごとに加熱ヒータ
12cを用意するとともに、それぞれの加熱処理時に発
生する揮発成分を排気するためのダクトカバー12eを
設ける。そして、この積層ヒータ部12の各熱板12b
と搬送ベルト11との間で、移送機構13を用いてリー
ドフレームLFの移送を行うことで、最小の設置スペー
スで、一度に複数枚のリードフレームを枚葉処理する構
成となっている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、たとえば熱硬化性接
着剤により接着された半導体チップをリードフレーム上
に固着させるマウントキュア作業を行うマウントキュア
装置などの半導体処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のマウントキュア作業は、たとえば
図2に示すように、オーブン1内にマガジン2を収納
し、この回りに加熱源3からの熱風をプロペラ4により
循環させることで、マガジン2内のリードフレームを加
熱処理(熱硬化処理)するようになっている。
【0003】この場合、たとえば図3に示すように、マ
ガジン2内には前処理にてエポキシ性接着剤により半導
体ペレットの接着された複数のリードフレームLFが積
層状態で格納され、このマガジン単位でのバッチ処理に
より、一度に複数のリードフレームLFに対して熱硬化
処理を施すことが可能となっている。
【0004】しかしながら、上記の方式においては、温
度制御された熱風を循環させることで、複数のマガジン
2を同時に加熱するのが一般的となっていたため、複数
のマガジン2を同時に処理することによるオーブン1内
の加熱条件の不均一、昇温時間が長い、接着剤から発生
する揮発成分によりペレットが汚染されるといった欠点
があった。
【0005】また、マガジンを加熱源に沿って移動させ
ることでマウントキュア作業を自動化したマウントキュ
ア装置も実現されているが、このマガジン単位の自動処
理においても、上記した方式と同様の問題があった。
【0006】一方、フレーム単位での枚葉処理によりマ
ウントキュア作業を自動化してなる装置も開発されてい
る。この装置は、枚葉処理とすべく加熱源を個別化し、
この個別化された個々の熱板を平面的に配列するととも
に、それぞれに温度制御された熱板(加熱ポジション)
上を処理時間にあわせてリードフレームが間欠移送され
るようにすることで、フレーム単位で加熱処理を行うよ
うにしたものである。
【0007】しかし、この方式の場合、マガジン単位で
の処理におけるさまざまな不具合を解決できるものの、
処理時間が長くなると加熱ポジションの増加が必要とな
って装置が大型化するなど、小型化やインライン化に適
さないといった欠点があった。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記したように、従来
においては、フレーム単位での枚葉処理とした場合、マ
ガジン単位での処理における加熱条件の不均一、昇温時
間が長い、接着剤から発生する揮発成分によりペレット
が汚染されるなどの不具合を解決できるものの、小型化
やインライン化に適さないなどの問題があった。そこ
で、この発明は、処理能力を低下することなく、小型・
軽量化が図れ、インライン化に好適な半導体処理装置を
提供することを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、この発明の半導体処理装置にあっては、半導体チ
ップを熱硬化性接着剤により接着したリードフレームに
対して熱硬化処理を施すものにおいて、前記リードフレ
ームを搬送する搬送手段と、この搬送手段で搬送される
前記リードフレームを載置し、フレーム単位で加熱処理
を行うべく上下方向に配列してなる複数の加熱源、およ
び前記各加熱源での加熱処理で発生する揮発成分を排気
する排気口を有する加熱手段と、この加熱手段の各加熱
源と前記搬送手段との間で前記リードフレームの移送を
行う移送手段とから構成されている。
【0010】
【作用】この発明は、上記した手段により、最少の設置
スペースで多くのリードフレームを枚葉処理できるよう
になるため、装置の大型化を招くことなく、効率の良い
処理が可能となるものである。
【0011】
【実施例】以下、この発明の一実施例について図面を参
照して説明する。図1は、本発明にかかるマウントキュ
ア装置の概略構成を示すものである。すなわち、このマ
ウントキュア装置は、たとえばリードフレームLFを搬
送する搬送手段としての搬送ベルト11、この搬送ベル
ト11上を搬送されてくる前記リードフレームLFに対
して熱硬化処理を施す積層ヒータ部12、およびこの積
層ヒータ部12と前記搬送ベルト11との間で前記リー
ドフレームLFの移送を行う移送手段としての移送機構
13からなっている。
【0012】搬送ベルト11は、前処理にて熱硬化性接
着剤としてのエポキシ性接着剤などにより半導体ペレッ
ト(図示していない)の接着されたリードフレームLF
を図示矢印方向に搬送し、この未処理のリードフレーム
LFを前記積層ヒータ部12に供給するとともに、この
積層ヒータ部12にて処理された処理済みのリードフレ
ームLFを受け取って、ボンディングなどの後処理に送
るものである。
【0013】搬送ベルト11は、途中の、前記移送機構
13の移送位置にて順次停止され、未処理のリードフレ
ームLFの前記積層ヒータ部12への移送、または処理
済みのリードフレームLFの前記積層ヒータ部12から
の移送が行われるようになっている。
【0014】なお、この実施例の場合、前記リードフレ
ームLFの移送を、後述する移送機構13に設けられた
載置バーの上下動作により行うようになっているため、
この載置バーの動作範囲を避けるようにして前記搬送ベ
ルト11が張られている。
【0015】積層ヒータ部12は、ヒータホルダ12
a、このホルダ12a内の上下方向に所定の間隔を有し
て配列された加熱源としての複数の熱板12b、それぞ
れの熱板12bを個々に加熱すべく上記ホルダ12aの
側面に設けられた加熱ヒータ12c、このヒータ12c
の加熱による各熱板12bの温度を検出すべく上記ホル
ダ12aの側面に設けられた温度検出器12d、および
加熱処理時に発生する前記接着剤からの揮発成分をそれ
ぞれ排気すべく上記ホルダ12aの後部に設けられた排
気口としてのダクトカバー12eから構成されている。
【0016】熱板12bのそれぞれは、前記搬送ベルト
11上を搬送されてくる前記リードフレームLFを個々
に取り込んで載置し、フレーム単位での加熱処理を行う
もので、前記加熱ヒータ12cおよび温度検出器12d
により任意の設定温度に制御できるようになっている。
【0017】なお、この実施例の場合、前記リードフレ
ームLFの熱板12b上への載置および熱板12b上か
らの取り出しを、前記搬送ベルト11との間でリードフ
レームLFの移送を行う移送機構13に設けられた載置
バーによって行うようになっているため、それぞれの熱
板12bには、載置バーの移動用の溝121 が設けられ
ている。
【0018】また、ダクトカバー12eは、それぞれの
熱板12bによって仕切られた空間ごとに設けられるよ
うにしている。移送機構13は、前記の載置バー13a
が取り付けられた載置ホルダ13b、この載置ホルダ1
3bを移送ガイド13cに沿って前後(図示矢印a方
向)に動作させるための移送ネジ13d、この移送ネジ
13dを駆動する移送モータ13e、上記移送ガイド1
3cがガイドされるとともに、前記移送ネジ13dを駆
動する移送モータ13eが取り付けられた移送ホルダ1
3f、この移送ホルダ13fを昇降ガイド13gに沿っ
て上下(図示矢印b方向)に動作させるための昇降ネジ
13h、およびこの昇降ネジ13hを駆動する昇降モー
タ13iからなっている。
【0019】次に、上記した構成における動作について
説明する。たとえば、未処理のリードフレームLFは、
搬送ベルト11によって移送機構13の移送位置まで搬
送され、そこで停止される。
【0020】すると、昇降モータ13iが回転されて昇
降ネジ13hが駆動され、昇降ガイド13gに沿って移
送ホルダ13fが所定の位置まで上昇される。そして、
この移送ホルダ13fの上昇によって、載置ホルダ13
bが所定の位置まで上昇されることにより、搬送ベルト
11上のリードフレームLFが載置バー13aによって
持ち上げられて、積層ヒータ部12の所定の熱板12b
の載置位置のすこし上で停止される。
【0021】この後、移送モータ13eが回転されて移
送ネジ13dが駆動され、移送ガイド13cに沿って載
置ホルダ13bが所定の位置まで前進される。この場
合、載置バー13a上に移されたリードフレームLF
は、積層ヒータ部12内の、載置すべき熱板12bの上
面より少し浮いた位置に保持される。
【0022】ついで、昇降モータ13iが先とは逆に回
転されて昇降ネジ13hが駆動され、昇降ガイド13g
に沿って移送ホルダ13fが所定の位置まで下降され
る。そして、この移送ホルダ13fの下降によって、載
置ホルダ13bが所定の位置まで下降されることによ
り、載置バー13aが熱板12b上の溝121 内に挿入
される。
【0023】これにより、リードフレームLFが載置バ
ー13a上より取り上げられて、積層ヒータ部12の所
定の熱板12b上に載置される。こうして、熱板12b
上にリードフレームLFが載置されると、移送モータ1
3eが先とは逆に回転されて移送ネジ13dが駆動さ
れ、移送ガイド13cに沿って載置ホルダ13bが所定
の位置まで後退される。
【0024】この結果、熱板12b上に載置されたリー
ドフレームLFはそのまま残り、載置バー13aのみが
熱板12b上の溝121 内を通って積層ヒータ部12の
外へ移動される。
【0025】そして、昇降モータ13iがさらに回転さ
れて昇降ネジ13hが駆動され、昇降ガイド13gに沿
って移送ホルダ13fが所定の位置まで下降されること
により、載置ホルダ13bが所定の位置まで下降され
て、載置バー13aが搬送ベルト11上の移送位置にて
停止される。
【0026】このようにして、積層ヒータ部12内の熱
板12b上に載置されたリードフレームLFは、前記加
熱ヒータ12cおよび温度検出器12dによる任意の設
定温度により、直接的に加熱処理される。
【0027】このとき、加熱処理で発生する揮発成分
は、ヒータホルダ12aの後部に設けられたダクトカバ
ー12eより排気される。そして、所定の処理時間が経
過した後、加熱処理の終了したリードフレームLFは、
熱板12b上より取り出され、搬送ベルト11によって
後段の処理に送られる。
【0028】すなわち、処理済みのリードフレームLF
は、積層ヒータ部12の所定の熱板12b上より、上記
した移送機構13の動作とは逆の動作によって取り出さ
れ、移送位置にて搬送ベルト11上に戻される。
【0029】そして、この搬送ベルト11によって図示
矢印方向に搬送され、図示していないボンディングなど
の後処理に送られる。このようにして、搬送ベルト11
で搬送されるリードフレームLFを、移送機構13をシ
ーケンシャルに制御して積層ヒータ部12の各熱板12
bに供給/排出することで、加熱処理のサイクル動作が
行われる。
【0030】上記したように、最少の設置スペースで多
くのリードフレームを枚葉処理できるようにしている。
すなわち、加熱源としての複数の熱板を縦方向に配列
し、それぞれの熱板ごとに加熱処理と排気処理とが行え
るようにしている。これにより、設置スペースの最少化
を図りつつ、フレーム単位での枚葉処理を実現できるよ
うになるため、装置の大型化を招くことなく、効率の良
い処理が可能となる。したがって、処理能力を低下する
ことなく、装置の小型・軽量化を図ることができ、イン
ライン化に対しても容易に対応できるものである。
【0031】しかも、複数の熱板を上下に配列した構造
とすることで、ヒータの断線トラブルなどに対しては、
それ以外の熱板を使用することによって処理の継続が可
能となり、装置の稼働率を大幅に向上できる。
【0032】また、個々の熱板の処理温度を個別に制御
することで、処理時間や加熱温度の異なる処理を並行的
に処理できるようになるなど、多様な加熱処理に柔軟に
対応できる。
【0033】さらに、個別の熱板による仕切り構造とす
ることで、加熱処理時に発生する揮発成分を効果的に排
気できるようになるため、揮発成分による汚染などの悪
影響を排除できる。
【0034】なお、上記実施例においては、搬送ベルト
と積層ヒータ部との間のリードフレームの移送を、載置
バーでの保持により行うように構成したが、これに限ら
ず、たとえばリードフレームを真空吸着することで移送
するように構成することも可能である。
【0035】また、載置バーのみを昇降動作させるもの
に限らず、相対動作として、たとえば載置バーを一定の
高さに固定し、積層ヒータ部側を上下方向に移動させる
ようにしても良い。
【0036】また、熱板へのリードフレームの供給/排
出動作を、移送機構に変えて市販のロボットにより行わ
せるようにしても良い。また、積層ヒータ部内の個々の
熱板により加熱処理を行う場合に限らず、載置する熱板
を順に変更して加熱処理を段階的に行うことも可能であ
る。
【0037】また、積層ヒータ部にシャッタなどを設け
て密閉状態を形成できるようにすることで、加熱処理時
に不活性ガス雰囲気を作ることも可能である。また、ダ
クトカバーを積層ヒータ部の後部に設けるようにした
が、ホルダの側面に設けるようにしても良い。
【0038】さらに、それぞれの熱板を個々の加熱ヒー
タにより直に加熱する場合に限らず、たとえばヒータホ
ルダに加熱ヒータを取り付け、ホルダからの熱伝導によ
りそれぞれの熱板を加熱するようにすることもできる。
その他、この発明の要旨を変えない範囲において、種々
変形実施可能なことは勿論である。
【0039】
【発明の効果】以上、詳述したようにこの発明によれ
ば、処理能力を低下することなく、小型・軽量化が図
れ、インライン化に好適な半導体処理装置を提供でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例にかかるマウントキュア装
置の構成の概略を示す斜視図。
【図2】従来技術とその問題点を説明するために示すオ
ーブンの側断面図。
【図3】同じく、マガジンの概略構成を示す斜視図。
【符号の説明】
11…搬送ベルト(搬送手段)、12…積層ヒータ部
(加熱手段)、12a…ヒータホルダ、12b…熱板
(加熱源)、12c…加熱ヒータ、12d…温度検出
器、12e…ダクトカバー(排気口)、13…移送機構
(移送手段)、13a…載置バー、13d…移送ネジ、
13e…移送モータ、13f…移送ホルダ、13h…昇
降ネジ、13i…昇降モータ、LF…リードフレーム。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体チップを熱硬化性接着剤により接
    着したリードフレームに対して熱硬化処理を施す装置に
    おいて、 前記リードフレームを搬送する搬送手段と、 この搬送手段で搬送される前記リードフレームを載置
    し、フレーム単位で加熱処理を行うべく上下方向に配列
    してなる複数の加熱源、および前記各加熱源での加熱処
    理で発生する揮発成分を排気する排気口を有する加熱手
    段と、 この加熱手段の各加熱源と前記搬送手段との間で前記リ
    ードフレームの移送を行う移送手段とを具備したことを
    特徴とする半導体処理装置。
  2. 【請求項2】 前記加熱手段は、前記各加熱源ごとに任
    意の処理温度を設定できることを特徴とする請求項1に
    記載の半導体処理装置。
JP5153384A 1993-06-24 1993-06-24 半導体処理装置 Pending JPH0714863A (ja)

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JP5153384A JPH0714863A (ja) 1993-06-24 1993-06-24 半導体処理装置

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JP5153384A JPH0714863A (ja) 1993-06-24 1993-06-24 半導体処理装置

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JPH0714863A true JPH0714863A (ja) 1995-01-17

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JP5153384A Pending JPH0714863A (ja) 1993-06-24 1993-06-24 半導体処理装置

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JP (1) JPH0714863A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100925772B1 (ko) * 2007-10-22 2009-11-11 (주)아이콘 반도체 칩본딩의 큐어링공정 및 이를 위한 큐어오븐장치
KR20130122398A (ko) * 2012-04-30 2013-11-07 삼성전자주식회사 멀티 스택 큐어 시스템 및 그 운전 방법

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JP2013232638A (ja) * 2012-04-30 2013-11-14 Samsung Electronics Co Ltd マルチスタックキュアシステム及びその運転方法

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